JPH0515043Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0515043Y2 JPH0515043Y2 JP1986032068U JP3206886U JPH0515043Y2 JP H0515043 Y2 JPH0515043 Y2 JP H0515043Y2 JP 1986032068 U JP1986032068 U JP 1986032068U JP 3206886 U JP3206886 U JP 3206886U JP H0515043 Y2 JPH0515043 Y2 JP H0515043Y2
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- Japan
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- optical element
- light source
- receiving element
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- Expired - Lifetime
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 17
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本考案は、反射面の角度検出器に関し、より詳
しくはデイスク等の傾き(角度)検出器に関する
ものである。
しくはデイスク等の傾き(角度)検出器に関する
ものである。
[従来の技術]
従来この種の装置として、第5図に示すものが
あつた。1は光源で、3は受光素子で、4は反射
体である。
あつた。1は光源で、3は受光素子で、4は反射
体である。
第5図において、光源1からの光束は、反射体
4に当り、反射して受光素子3に入射し、反射体
4が点線で示した様に傾くと、光束も点線のよう
に傾き、受光素子3a,3bの出力変化が起り、
その出力差分によつて、反射体4の角度検出を行
う。
4に当り、反射して受光素子3に入射し、反射体
4が点線で示した様に傾くと、光束も点線のよう
に傾き、受光素子3a,3bの出力変化が起り、
その出力差分によつて、反射体4の角度検出を行
う。
[解決すべき問題点]
従来の装置は、以上のように構成されているの
で、光源1からの発散光束は一部のみを受光素子
3が受光するので、効率が悪く、外乱等による検
出誤差も大きかつた。
で、光源1からの発散光束は一部のみを受光素子
3が受光するので、効率が悪く、外乱等による検
出誤差も大きかつた。
また、反射体4と受光素子3との距離変動によ
り受光素子3の受光量変動が大きく検出感度変動
も大きかつた。
り受光素子3の受光量変動が大きく検出感度変動
も大きかつた。
さらに、反射体4が情報記録デイスクのような
場合には、回析光を長じ、この高次回析光の影響
を発散光では分離することができず、検出誤差要
因となつていた。
場合には、回析光を長じ、この高次回析光の影響
を発散光では分離することができず、検出誤差要
因となつていた。
その上第6図のように、光源1の分布が不均一
なことが多く、分布検出となつている為に検出誤
差が大きかつた。
なことが多く、分布検出となつている為に検出誤
差が大きかつた。
これは、反射体4の傾きによつて生じる分布移
動で受光素子3a,3bの出力変化が非線形とな
る為である。
動で受光素子3a,3bの出力変化が非線形とな
る為である。
[考案の目的]
本考案は、上記のような従来のものの欠点を除
去する為になされたもので、角度検出誤差の少な
い角度検出器を提供することを目的としている。
去する為になされたもので、角度検出誤差の少な
い角度検出器を提供することを目的としている。
[実施例]
以下この考案の一実施例を、第1図に基いて説
明する。第1図において1はLED等の光源、2
は一方向集光光学素子、3は受光素子、4は反射
体である。一方向集光光学素子2の軸と受光素子
3の分割線とは略一致している。光源1からの光
束は、一方向集光光学素子2たとえばシリンドリ
カルレンズによつて、集光力のある方向において
略平行光とされる。略平行光となつた光束は反射
体4に当り、反射され、再び一方向集光光学素子
2に入射し、受光素子3上で細長い線状5で結像
する。
明する。第1図において1はLED等の光源、2
は一方向集光光学素子、3は受光素子、4は反射
体である。一方向集光光学素子2の軸と受光素子
3の分割線とは略一致している。光源1からの光
束は、一方向集光光学素子2たとえばシリンドリ
カルレンズによつて、集光力のある方向において
略平行光とされる。略平行光となつた光束は反射
体4に当り、反射され、再び一方向集光光学素子
2に入射し、受光素子3上で細長い線状5で結像
する。
ここで第2図のように反射体4が一方向集光光
学素子2の軸と同一方向を軸6として、破線のよ
うにθ°だけ傾いた場合反射光は2θだけ傾き、受光
素子3上での像は破線のように Y=fc×TAN(2θ) だけずれることとなる、この為に受光素子3aと
3bの出力に差が生じ、この差分が反射体3の傾
きと対応し、角度検出できることとなる。
学素子2の軸と同一方向を軸6として、破線のよ
うにθ°だけ傾いた場合反射光は2θだけ傾き、受光
素子3上での像は破線のように Y=fc×TAN(2θ) だけずれることとなる、この為に受光素子3aと
3bの出力に差が生じ、この差分が反射体3の傾
きと対応し、角度検出できることとなる。
ここでfcは一方向集光光学素子2の焦点距離で
ある。
ある。
第3図は第2図で示された、受光素子3上での
結像のずれ状態を模図化したものであり、受光素
子3を上方から見た図である。
結像のずれ状態を模図化したものであり、受光素
子3を上方から見た図である。
[考案の変形例]
一方向集光光学素子2は第4図のようなシリン
ドリカルレンズをフレネル状とした、プラスチツ
ク成形品でもよい。図中7は、リードフレームで
ある。
ドリカルレンズをフレネル状とした、プラスチツ
ク成形品でもよい。図中7は、リードフレームで
ある。
また、光源1、受光素子3が透明樹脂8にモー
ルドされ、モールド面の一面が一方向集光光学素
子2により構成されているものでも同一の効果を
有する、すなわち、パツケージの一部に一方向集
光光学素子を構成しているのである。
ルドされ、モールド面の一面が一方向集光光学素
子2により構成されているものでも同一の効果を
有する、すなわち、パツケージの一部に一方向集
光光学素子を構成しているのである。
また、2分割受光素子33を追加して、光源1
に対して対象に配置し、効率を上げることもでき
る。
に対して対象に配置し、効率を上げることもでき
る。
一方向集光光学素子2と、光源1とのセンター
ずれがある場合、若しくは反射体4の初期設定が
傾いている場合には、検出器全体を結像線5と直
交方向にβだけ傾けると YY=fc×TAN(β) だけ結像がずれるので、検出器を傾けることによ
つて受光素子3の出力差初期設定を変えることが
できる。
ずれがある場合、若しくは反射体4の初期設定が
傾いている場合には、検出器全体を結像線5と直
交方向にβだけ傾けると YY=fc×TAN(β) だけ結像がずれるので、検出器を傾けることによ
つて受光素子3の出力差初期設定を変えることが
できる。
また、光源1からの光束が2度一方向集光光学
素子を通つて受光素子3に入射する場合を説明し
たが、反射体4の位置変化の少ない場合には、反
射体4からの反射光を直接受光素子3に受交して
角度検出しても同様な効果を得ることができる。
素子を通つて受光素子3に入射する場合を説明し
たが、反射体4の位置変化の少ない場合には、反
射体4からの反射光を直接受光素子3に受交して
角度検出しても同様な効果を得ることができる。
また、集光点近傍に受光素子3を配置できるの
で、受光効率がよく、効率的使用ができる。
で、受光効率がよく、効率的使用ができる。
また、従来の方法では、反射体4に位相格子
(たとえば光学式ビデオデイスク)があると、位
相格子の違いによつて、高次回折光の影響が異な
り、検出誤差となつたが、この考案によれば、一
次回折光が0次回折光と分離して結像する為に、
受光素子3を分割線方向に細長くすることによつ
て、0次回折光のみを検出することが可能であ
る。
(たとえば光学式ビデオデイスク)があると、位
相格子の違いによつて、高次回折光の影響が異な
り、検出誤差となつたが、この考案によれば、一
次回折光が0次回折光と分離して結像する為に、
受光素子3を分割線方向に細長くすることによつ
て、0次回折光のみを検出することが可能であ
る。
[考案の効果]
本考案によれば、光束が受光素子3に入射する
効率がよく、また分布の全体を取り込めるので、
部分的分布不均一の影響が受けにくくなる。これ
は、検出光が、略平行光となる為に反射体と、検
出器との距離によらず、検出感度が一定という効
果を有する。すなわち受光素子3上での光束の移
動量Yは Y=fc×TAN(2θ) となり、fcは一定であるから、受光素子3と、反
射体4との距離にはよらず、θだけに依存させる
ことができる。
効率がよく、また分布の全体を取り込めるので、
部分的分布不均一の影響が受けにくくなる。これ
は、検出光が、略平行光となる為に反射体と、検
出器との距離によらず、検出感度が一定という効
果を有する。すなわち受光素子3上での光束の移
動量Yは Y=fc×TAN(2θ) となり、fcは一定であるから、受光素子3と、反
射体4との距離にはよらず、θだけに依存させる
ことができる。
たとえば、fc=5mm、位相格子ピツチ1.6μm、
光源波長0.9μmとすると、0次回析光と、一次回
析光との結像位置間隔は2.8mmであり、受光素子
3の幅をこれ以下とすることによつて、高次回析
光の影響を受けない構成となる。
光源波長0.9μmとすると、0次回析光と、一次回
析光との結像位置間隔は2.8mmであり、受光素子
3の幅をこれ以下とすることによつて、高次回析
光の影響を受けない構成となる。
第1図、第2図、第3図、第4図は本発明の一
実施例及び説明図第5図は従来の装置の図、第6
図はその反射分布図、である。 1……光源、2……一方向集光光学素子、3…
…受光素子、4……反射体。
実施例及び説明図第5図は従来の装置の図、第6
図はその反射分布図、である。 1……光源、2……一方向集光光学素子、3…
…受光素子、4……反射体。
Claims (1)
- 光源と、2ケ以上に分割された受光面を有する
受光素子と、前記光源からの発散出射光を集光す
る一方向集光光学素子とを有し、前記一方向集光
光学素子は、前記光源と前記受光面の分割線を結
ぶ軸方向と、前記一方向集光光学素子の集光方向
に直交し前記光源からの光束を発散出射と成す前
記一方向集光光学素子の軸方向とを略一致して配
置されていることを特徴とする角度検出器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1986032068U JPH0515043Y2 (ja) | 1986-03-06 | 1986-03-06 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1986032068U JPH0515043Y2 (ja) | 1986-03-06 | 1986-03-06 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62145108U JPS62145108U (ja) | 1987-09-12 |
JPH0515043Y2 true JPH0515043Y2 (ja) | 1993-04-21 |
Family
ID=30838386
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1986032068U Expired - Lifetime JPH0515043Y2 (ja) | 1986-03-06 | 1986-03-06 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0515043Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0820233B2 (ja) * | 1987-12-14 | 1996-03-04 | シャープ株式会社 | ホトインタラプタ |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5992305A (ja) * | 1982-10-16 | 1984-05-28 | フエランテイ・ピ−エルシ− | 光を利用する測定装置 |
-
1986
- 1986-03-06 JP JP1986032068U patent/JPH0515043Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5992305A (ja) * | 1982-10-16 | 1984-05-28 | フエランテイ・ピ−エルシ− | 光を利用する測定装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS62145108U (ja) | 1987-09-12 |
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