JPH05129197A - 電子ビーム露光装置 - Google Patents

電子ビーム露光装置

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JPH05129197A
JPH05129197A JP3286199A JP28619991A JPH05129197A JP H05129197 A JPH05129197 A JP H05129197A JP 3286199 A JP3286199 A JP 3286199A JP 28619991 A JP28619991 A JP 28619991A JP H05129197 A JPH05129197 A JP H05129197A
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JP
Japan
Prior art keywords
deflection
electron beam
external noise
noise
exposure apparatus
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP3286199A
Other languages
English (en)
Inventor
Nobuyuki Yasutake
信幸 安武
Hisayasu Nishino
久泰 西野
Hiroshi Yasuda
洋 安田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】電子ビームの偏向量制御に影響する外乱(外来
ノイズ)をモニタし、大きな外乱の発生時には何等かの
対策を取り得るようにすることを目的とする。 【構成】露光データに基づいて偏向電圧または偏向電流
を生成する手段と、該偏向電圧または偏向電流に応じた
電界または磁界を発生して電子ビームを偏向する偏向電
極または偏向コイル、とを備え、偏向後の電子ビームに
よって試料表面に任意のパターンを形成する電子ビーム
露光装置において、前記偏向電圧または偏向電流の生成
に影響を与える外来ノイズを検出するノイズ検出手段
と、所定レベル以上の外来ノイズを検出すると、オペレ
ータに警報を発する警報手段と、を設けたことを特徴と
する電子ビーム露光装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電子ビームを利用して
例えば半導体集積装置の回路パターンをチップ上に描画
・形成する露光装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体集積回路等の微細パターンの形成
に好適な露光装置として、先鋭な電子ビームを利用する
電子ビーム露光装置が注目されている。電子ビーム露光
装置は、任意の露光データに基づいて偏向電圧を生成
し、この偏向電圧を偏向電極に与えることにより、電子
ビームを自在に偏向走査しながら、あたかも一筆書きの
ようにして試料(チップ)表面に任意の回路パターンを
形成するものである。
【0003】図5は、電子ビーム露光装置に装着するチ
ップの一例である。チップ1の4隅に付けられた矩形状
のマーク1a〜1dは、それぞれ位置合わせ用のマーク
であり、露光の始めに電子ビームを走査してこれらのマ
ーク1a〜1dの位置を検出し、各位置を基準位置とし
て保持しながら以降の露光動作を実行する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、かかる
従来の電子ビーム露光装置にあっては、露光の最初に検
出した基準位置に基づいて、その後の露光動作における
露光位置制御(すなわち電子ビームの偏向量制御)を行
う構成となっていたため、例えば外来ノイズの影響によ
って露光中の偏向量が一時的に不正確になった場合に
は、露光中のチップが不良品になるといった不具合があ
る。すなわち、図5のチップ1のサイズを5×5mm2
とし、このチップ1を1×1μm2の電子ビームで全面
塗りつぶし露光する場合には、電子ビームの照射回数が
25×106回ときわめて多くなり、そのうちの1回で
も位置ずれが発生すると当該チップが不良品になる。因
みに、電子ビームの位置ずれが1010回に1回発生した
とすると、400個に1個の割合で多くの不良チップが
発生することになる。
【0005】また、こうした不良チップは、露光完了後
の検査工程で発見できるものの、不良チップに対する無
駄な露光動作が費やされることから、露光コストの面で
も解決すべき課題がある。そこで、本発明は、電子ビー
ムの偏向量制御に影響する外乱(外来ノイズ)をモニタ
し、大きな外乱の発生時には何等かの対策を取り得るよ
うにすることを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するためその原理図を図1に示すように、露光データ
に基づいて偏向電圧または偏向電流を生成する手段と、
該偏向電圧または偏向電流に応じた電界または磁界を発
生して電子ビームを偏向する偏向電極または偏向コイ
ル、とを備え、偏向後の電子ビームによって試料表面に
任意のパターンを形成する電子ビーム露光装置におい
て、前記偏向電圧または偏向電流の生成に影響を与える
外来ノイズを検出するノイズ検出手段と、所定レベル以
上の外来ノイズを検出すると、オペレータに警報を発す
る警報手段と、を設けたことを特徴とする。
【0007】
【作用】本発明では、大きな外乱が発生すると警報が発
せられるので、例えば露光動作を中断する等の必要な対
策を取ることができ、無駄な露光動作を排除して露光コ
ストの上昇を抑えることができる。
【0008】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図2、図3は、本発明に係る電子ビーム露光装置
の第1実施例を示す図である。図2において、10はコ
ラムであり、コラム10は、電子銃11、アライメント
コイル12、ブランキング電極13、複数の電磁レンズ
コイル14〜16、偏向電極17、2次電子または反射
電子検出器18及びX−Yステージ19などを備え、電
子銃11からの電子ビーム20を収束、偏向してX−Y
ステージ19上の試料(チップ)21に照射し、露光デ
ータに応じた任意のパターンを試料21表面に形成す
る。
【0009】30は周辺回路群であり、周辺回路群30
は、電子銃11やアライメントコイル12及び電磁レン
ズコイル14〜16に必要な各種の駆動電圧を発生する
駆動電源回路31と、入出力装置32や記憶装置33及
び補助記憶34などとデータをやり取りしながら露光処
理に必要な様々な制御値を演算すると共に、必要なデー
タをバッファメモリ35に転送したり、ディジタルメモ
リ36から取り込んだり、あるいは後述の警報信号AL
Mを受け取ると予め定められた「ノイズ発生時の対策」
を実行するCPU37と、バッファメモリ35内のデー
タに従って露光パターンや各種の補正パターンを生成し
て出力するパターン発生・補正回路38と、パターン発
生・補正回路38の出力に従ってブランキング電極13
に与えるためのブランキング電圧を生成するブランキン
グ増幅器39と、パターン発生・補正回路38の出力に
従って偏向電極17に与えるための偏向電圧を生成する
偏向増幅器(偏向電圧生成手段)40と、検出器18か
らの信号を増幅する増幅器41と、ステージ19のX−
Y位置を検出する位置検出器42と、パターン発生・補
正回路38の出力と位置検出器42の出力に従ってステ
ージ19の移動位置を制御するステージ位置制御部43
と、該ステージ位置制御部43の出力に従ってステージ
19を駆動するステージ位置駆動機構部44と、外来ノ
イズモニタ回路45と、を備える。なお、上記の偏向電
極17については、静電偏向型を例としているが、これ
に限らず、電磁偏向型であってもよい。この場合、偏向
電極を偏向コイルと読み代えると共に、偏向電圧を偏向
電流と読み代えるものとする。
【0010】外来ノイズモニタ回路45はノイズ検出手
段及び警報手段としての機能を有し、図3にそのブロッ
ク構成を示すように、所定の測定点(P)におけるノイ
ズ成分(N)を増幅する増幅器45aと、該増幅器45
aの出力(NOUT)と所定の基準値(NREF)とをレベル
比較して「NOUT>RREF」のときに警報信号(ALM)
を発生するレベル検出回路45bと、増幅器45a及び
レベル検出回路45bに供給する電源電圧を発生する専
用電源回路45cと、を備える。
【0011】ここで、上記の測定点Pは、外来ノイズが
乗りやすい電源線や信号線などの線上であって、且つ、
パターン発生・補正回路38や偏向増幅器40などの偏
向電圧の生成に関与する回路の近傍の任意点である。ま
た外来ノイズとしては、例えば電子ビーム露光装置の近
くに設置された各種電気装置の電源オン/オフノイズや
電気溶接器及び自動車エンジン等の火花放電ノイズ等、
様々なものがあるが、要は電子ビームの偏向電圧を変動
させ得る大きなエネルギーをもつノイズ発生源の全てが
対象になる。
【0012】したがって、本実施例によれば、露光処理
中、測定点Pにおけるノイズレベルが継続的にモニタさ
れ、基準値を越える大きさのノイズレベルが検出される
と、警報信号ALMが発せられので、電子ビームの偏向
量制御に影響する程度の大きな外乱(外来ノイズ)が発
生した際には、例えば以下に列挙するの様々な対策の1
つを採用することができ、不良チップの適切な排除化を
図ることができる。
【0013】(対策1)パネルやディスプレイ上に警告
表示を行い、オペレータに通知する。中断するか否かは
オペレータが判断する。 (対策2)警告表示を行うと共に、直ちに露光処理を中
断する。 (対策3)露光処理を継続するが、警報信号の発生時に
露光中であったチップにマーク(例えば×マーク)を付
ける。装置をその都度止めないので、処理の流れがよ
い。
【0014】(対策4)露光処理を継続するが、警報信
号の発生時に露光中であったチップの識別情報(チップ
シリアルナンバ等)を不良チップデータとして記録す
る。 図4は、本発明に係る電子ビーム露光装置の第2実施例
を示す図である。なお、第1実施例と同じ構成要件には
同一符号を付してある。
【0015】本実施例では、電磁波的な外来ノイズをモ
ニターするための手段を備える。すなわち、図4におい
て、外来ノイズモニタ回路50は、ループ状のサーチコ
イル50aと、サーチコイル50aの誘起電流を電圧値
に変換して増幅する電流電圧増幅器50bと、増幅器5
0bの出力と所定の基準値とをレベル比較して基準値よ
りも出力が大きいときに警報信号(ALM)を発生する
レベル検出回路50cと、増幅器50b及びレベル検出
回路50cに供給する電源電圧を発生する専用電源回路
50dと、を備える。
【0016】サーチコイル50aはコラム10の近傍あ
るいはパターン発生・補正回路38や偏向増幅器の近傍
に配置される。このサーチコイル50aによって捕捉さ
れた電磁波的な各種外来ノイズのレベルが電子ビームの
偏向量制御に影響する程度に大きな場合には、警報信号
を発して前述の対策の1つを採用することができる。し
たがって、本実施例によっても、前記第1実施例と同様
な効果を得ることができる。
【0017】
【発明の効果】本発明によれば、電子ビームの偏向量制
御に影響する大きな外乱(外来ノイズ)の発生時には警
報を発するようにしたので、適切な対策を取ることがで
き、不良チップの排除化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理図である。
【図2】第1実施例の構成図である。
【図3】第1実施例の外来ノイズモニタ回路のブロック
図である。
【図4】第2実施例の構成図である。
【図5】電子ビーム露光装置に装着するチップの一例平
面図である。
【符号の説明】
17:偏向電極 21:試料 40:偏向増幅器(偏向電圧生成手段) 45:外来ノイズモニタ回路(ノイズ検出手段、警報手
段)

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】露光データに基づいて偏向電圧または偏向
    電流を生成する手段と、 該偏向電圧または偏向電流に応じた電界または磁界を発
    生して電子ビームを偏向する偏向電極または偏向コイ
    ル、とを備え、 偏向後の電子ビームによって試料表面に任意のパターン
    を形成する電子ビーム露光装置において、 前記偏向電圧または偏向電流の生成に影響を与える外来
    ノイズを検出するノイズ検出手段と、 所定レベル以上の外来ノイズを検出すると、オペレータ
    に警報を発する警報手段と、を設けたことを特徴とする
    電子ビーム露光装置。
  2. 【請求項2】所定レベル以上の外来ノイズを検出する
    と、前記パターンの形成動作を中止することを特徴とす
    る請求項1記載の電子ビーム露光装置。
  3. 【請求項3】所定レベル以上の外来ノイズを検出する
    と、パターン形成中の試料にマークをつけることを特徴
    とする請求項1記載の電子ビーム露光装置。
  4. 【請求項4】所定レベル以上の外来ノイズを検出する
    と、パターン形成中の試料の識別情報を記録することを
    特徴とする請求項1記載の電子ビーム露光装置。
JP3286199A 1991-10-31 1991-10-31 電子ビーム露光装置 Withdrawn JPH05129197A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016046432A (ja) * 2014-08-25 2016-04-04 株式会社ニューフレアテクノロジー 異常検出方法及び電子線描画装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016046432A (ja) * 2014-08-25 2016-04-04 株式会社ニューフレアテクノロジー 異常検出方法及び電子線描画装置

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Effective date: 19990107