JPH05121487A - 半導体装置の実装構造および実装方法 - Google Patents

半導体装置の実装構造および実装方法

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JPH05121487A
JPH05121487A JP3306559A JP30655991A JPH05121487A JP H05121487 A JPH05121487 A JP H05121487A JP 3306559 A JP3306559 A JP 3306559A JP 30655991 A JP30655991 A JP 30655991A JP H05121487 A JPH05121487 A JP H05121487A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 キャップを用いることなく、所定の押圧力を
確保できる半導体装置の実装構造および実装方法を提供
する。 【構成】 本発明の半導体装置の実装構造は、固定枠1
に形成された押圧部11により集積回路2の突起電極4
が形成された面と反対の面に配設された弾性体3を圧縮
し、その反力により突起電極4配線パターンとの接続を
行うものである。また、本発明の半導体装置の実装方法
は、固定枠1の押圧部11と底部12との間に形成され
た空間に、突起電極4が形成された面と反対の面に弾性
体3を有する集積回路2が配線パターン5上に載置され
た液晶表示パネル6を挿入し、それにより弾性体3を圧
縮し、その反力により突起電極4と配線パターン5との
接続を行うものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体装置の実装構造お
よび実装方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、液晶表示装置やプリントヘッ
ドなどにおいて、基板上の配線パターンに、集積回路の
突起電極をリード(ワイヤ)を用いず直接接続する、い
わゆるフェイスダウン実装が用いられている。この実装
構造においては、集積回路全体が樹脂で固定されてい
る。しかるに、半導体装置の実装構造においては、複数
の半導体装置が密接して配列されているので、そのうち
の一個を交換する場合には、その集積回路を固定してい
る樹脂を加熱して溶かす必要がある。しかしながら、そ
の加熱の影響が他の集積回路に及んでしまうという問題
があった。
【0003】本件出願人は、かかる従来技術の問題点を
解消すべく、図2に示すように一方のガラス基板109
上に搭載される集積回路104と、この集積回路104
のパッド上に形成され、前記ガラス基板109上の配線
パターン106に圧接される突起電極105と、前記集
積回路104を覆い、その脚部が前記基板に接着される
キャップ102と、該キャップ102に設けられ、前記
集積回路104の背面を押圧して、前記突起電極105
と配線パターン106との圧接状態を保持する弾性体1
03とからなる半導体装置の実装構造を提案している
(特願平2ー39464号)。なお、図中、107は接
着剤、108は他方のガラス基板を示す。この一方のガ
ラス基板109と他方のガラス基板108の間に液晶が
封入され、液晶表示モジュ−ルが形成される。
【0004】しかしながら、前記実装構造においては、
集積回路104を配線パター106に押圧するための、
弾性体103を有するキャップ102が必要である。こ
のため、部品点数の増大とそれによる工数およびコスト
の増大を招いている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明はかかる従来技
術の問題点に鑑みなされたもので、キャップを用いるこ
となく、所定の押圧力を確保できる半導体装置の実装構
造および実装方法を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置の実
装構造は、基板上の配線パターンに集積回路の突起電極
を対向させて配設してなる半導体装置の実装構造であっ
て、前記集積回路が、突起電極の形成されている面と反
対の面に弾性部材を有しており、前記弾性部材が、半導
体装置を基体に固定する枠体に形成された押圧部材によ
り直接押圧されることにより、前記配線パターンと前記
突起電極との接続がなされることを特徴としている。
【0007】また、本発明の半導体装置の実装方法は、
基板上の配線パターンに集積回路の突起電極を対向させ
て配設して前記配線パターンと突起電極とを接続する半
導体装置の実装方法であって、 前記配線パターン上に載置された集積回路を有する基板
を枠体の押圧部材と底部との間に形成された空間に挿入
し、前記集積回路の突起電極が形成されている面と反対
の面に載置してある弾性部材を押圧部材により直接押圧
し、それにより前記配線パターンと突起電極とを接続す
ることを特徴としている。
【0008】
【作用】本発明の半導体装置の実装構造においては、キ
ャップを用いることなく所定の押圧力を確保することが
できる。また、本発明の半導体装置の実装方法において
は、キャップを用いることなく所定の押圧力を確保する
ことができるので、実装工程を簡略化できる。
【0009】
【実施例】以下、添付図面を参照しながら本発明の半導
体装置の実装構造の一実施例について説明するが、本発
明はかかる実施例のみに限定されるものではない。
【0010】図1は本発明の半導体装置の実装構造の一
実施例の概略図である。図において、1は半導体装置の
固定枠(以下、単に固定枠という)、2は集積回路、3
は弾性体、4は突起電極、5は配線パターン、6は一方
のガラス基板、7は他方のガラス基板を示す。この一方
のガラス基板6と他方のガラス基板7の間に液晶が封入
され、液晶表示モジュ−ルが形成される。
【0011】固定枠1はアルミニウム合金などの金属か
らなり、ねじにより液晶表示装置本体(図示せず)に取
り付けられている。固定枠1には押圧部材11が形成さ
れ、これにより固定枠1は変形ユの字形状を呈してい
る。押圧部材11の垂直部は、集積回路2の上面に配設
された弾性体3に所定の押圧力が生じるよう圧縮するこ
とができるだけの立上り高さを有するように形成する。
具体的には、使用される集積回路2、弾性体3、一方の
ガラス基板6、他方のガラス基板7などの厚みを考慮し
て適宜決定される。その一例を挙げれば、集積回路2の
厚みを0.4mm、一方のガラス基板6の厚みを1.1mm、弾
性体3の厚みを1.0mmとしたときに押圧部材11の垂直部
の高さを2.2mmにすると、弾性体3は1.0mmから0.7mmへ
と、30%圧縮されることになる。押圧部材11の水平
部は、弾性体3を覆いかつ他方のガラス基板7の所定範
囲を被覆できるだけの長さを有している。具体的には、
使用される集積回路2および他方のガラス基板7の被覆
範囲を考慮して適宜決定される。その一例を挙げれば、
集積回路の幅を5mmとし、一方のガラス基板6の配線領
域の幅を10mmとすれば、押圧部材11の水平部の長さは1
0mm程度である。押圧部材11の板厚は、弾性体3を
圧縮した場合に、所定の圧縮率が確保できるだけの剛性
を有するように選定する。具体的には、弾性体3の圧縮
率を考慮して適宜決定されるが、集積回路2の1個の突
起電極4当たり、30〜50gであるため、200ピン
の集積回路であれば6〜10kgの押圧力に耐えられる
程度あれば実用上問題はない。一方、固定枠1の底部1
2は、押圧部材11により発生するモーメントに耐えう
る強度を有するよう板厚および幅を選定する。具体的に
は、発生モーメントに応じて適宜決定されるが、(6〜
10kg)X10mm=60〜100kg・mmのモ−
メントに耐えられる程度あれば実用上問題はない。
【0012】弾性体3の材質としては、耐熱性およびコ
ストの点から、シリコ−ンゴムを用いるのが好ましい。
また、弾性体3の厚さは使用する材質に応じて適宜決定
される。その一例を挙げれば、シリコ−ンゴムでゴム硬
度40〜60のものを用いた場合は、100ピン程度の
集積回路のとき、圧縮率は30%程度である。
【0013】集積回路2、突起電極4、配線パターン
5、一方のガラス基板6および他方のガラス基板7は従
来と同様であるので、その構成の詳細な説明は省略す
る。
【0014】次に、本発明の半導体装置の実装方法につ
いて説明する。
【0015】まず、突起電極4が形成された面と反対側
の面に弾性体3が配設された集積回路2を、ガラス基板
6の配線パターン5上に位置合わせして載置する。この
とき、必要に応じて集積回路2を接着剤にて配線パター
ン5上に仮固定する。しかるのち、集積回路2が載置さ
れたガラス基板6を、固定枠1の押圧部材11と底部1
2の間に形成された空間に所定長さ挿入する。ついで、
弾性体3を所定量圧縮するために、押圧部材11を所定
量かしめる。このかしめは、当初、垂直方向に延在した
押圧部在11を横方向から力を加え、略直角に折り曲げ
ることにより行う。これにより弾性体3が圧縮され、そ
の反力により突起電極4が配線パターンに所定押圧力で
押し付けられ、突起電極4と配線パターン5との接続が
確保される。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように、本発明においては
キャップを用いず、固定枠に形成された押圧部材により
弾性体を圧縮しその反力により、突起電極と配線パター
ンの接続を行っているので、部品点数を削減でき、それ
により工数の削減ひいてはコストの削減ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の半導体装置の実装構造の一実施例の概
略図である。
【図2】本件出願人の先の提案にかかわる半導体装置の
実装構造の一実施例の概略図である。
【符号の説明】
1 固定枠 2 集積回路 3 弾性体 4 突起電極 5 配線パターン 6 一方のガラス基板 7 他方のガラス基板

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板上の配線パターンに集積回路の突起
    電極を対向させて配設してなる半導体装置の実装構造で
    あって、 前記集積回路が、突起電極の形成されている面と反対の
    面に弾性部材を有しており、前記弾性部材が、半導体装
    置を基体に固定する枠体に形成された押圧部材により直
    接押圧されることにより、前記配線パターンと前記突起
    電極との接続がなされることを特徴とする半導体装置の
    実装構造。
  2. 【請求項2】 基板上の配線パターンに集積回路の突起
    電極を対向させて配設して、前記配線パターンと突起電
    極とを接続する半導体装置の実装方法であって、 前記配線パターン上に載置された集積回路を有する基板
    を、枠体の押圧部材と底部との間に形成された空間に挿
    入し、前記集積回路の突起電極が形成されている面と反
    対の面に載置してある弾性部材を押圧部材により直接押
    圧し、それにより前記配線パターンと突起電極とを接続
    することを特徴とする半導体装置の実装方法。
JP3306559A 1991-10-26 1991-10-26 半導体装置の実装構造および実装方法 Withdrawn JPH05121487A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100409154C (zh) * 2003-09-17 2008-08-06 索尼株式会社 信息显示装置及其中用于支撑压电元件的支撑框架
JP2015056466A (ja) * 2013-09-11 2015-03-23 三菱電機株式会社 電子部品およびその実装方法

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6580613B2 (en) * 2001-07-17 2003-06-17 Infineon Technologies Ag Solder-free PCB assembly
US7716823B2 (en) * 2004-04-08 2010-05-18 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Bonding an interconnect to a circuit device and related devices
JP4621595B2 (ja) * 2006-01-11 2011-01-26 株式会社東芝 半導体装置の製造方法
CN102998846B (zh) * 2012-12-12 2016-03-30 深圳市华星光电技术有限公司 一种窄边框液晶模块及其胶框

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3409037A1 (de) * 1984-03-13 1985-09-19 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Elektrisches schaltgeraet
US4845842A (en) * 1987-11-25 1989-07-11 National Semiconductor Corporation Process for reducing lead sweep in integrated circuit packages

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100409154C (zh) * 2003-09-17 2008-08-06 索尼株式会社 信息显示装置及其中用于支撑压电元件的支撑框架
JP2015056466A (ja) * 2013-09-11 2015-03-23 三菱電機株式会社 電子部品およびその実装方法

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