JPH05119112A - Ｉｃモニタプローブ - Google Patents
ＩｃモニタプローブInfo
- Publication number
- JPH05119112A JPH05119112A JP3282435A JP28243591A JPH05119112A JP H05119112 A JPH05119112 A JP H05119112A JP 3282435 A JP3282435 A JP 3282435A JP 28243591 A JP28243591 A JP 28243591A JP H05119112 A JPH05119112 A JP H05119112A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- circuit board
- electronic circuit
- chip
- arm
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】プローブ本体４をアーム９上で電子回路基板１
と平行なＡ方向に移動させ、ＩＣチップ２と対応する位
置で固定ねじ５により固定する。プローブ調整部８の調
整ねじを回し、ＩＣチップ２のリード端子とプローブ本
体４のコンタクトピン３とが最適の接触圧で接触するよ
うに、アーム９と電子回路基板１のＢ方向の位置を決め
固定する。プローブ接続ピン６に測定機器を接続し、Ｉ
Ｃチップ２の状態を観測する。 【効果】電子回路基板の半田面側にプローブを装着し、
測定機器を接続することにより、電子回路基板の実装状
態に影響されることなくＩＣの電気的信号の観測を行え
る。
と平行なＡ方向に移動させ、ＩＣチップ２と対応する位
置で固定ねじ５により固定する。プローブ調整部８の調
整ねじを回し、ＩＣチップ２のリード端子とプローブ本
体４のコンタクトピン３とが最適の接触圧で接触するよ
うに、アーム９と電子回路基板１のＢ方向の位置を決め
固定する。プローブ接続ピン６に測定機器を接続し、Ｉ
Ｃチップ２の状態を観測する。 【効果】電子回路基板の半田面側にプローブを装着し、
測定機器を接続することにより、電子回路基板の実装状
態に影響されることなくＩＣの電気的信号の観測を行え
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＩＣチップの動作状態を
観測するＩＣモニタプローブに関し、特に電子回路基板
上に配設されたＩＣチップの電気的信号を半田面側より
観測するＩＣモニタプローブに関する。
観測するＩＣモニタプローブに関し、特に電子回路基板
上に配設されたＩＣチップの電気的信号を半田面側より
観測するＩＣモニタプローブに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種のＩＣの観測手段は、電子
回路基板に搭載されているＩＣのリード端子に実装面側
よりＩＣクリップを装着し、電気的信号を観測するもの
となっていた。
回路基板に搭載されているＩＣのリード端子に実装面側
よりＩＣクリップを装着し、電気的信号を観測するもの
となっていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のＩＣの
観測手段は、電子回路基板実装面側のＩＣリード端子に
ＩＣクリップを装着して行う為、被観測ＩＣ周辺に部品
やリード端子など観測する上で障害となる物が実装され
ている場合、ＩＣクリップが装着できず、ＩＣの動作状
態の観測が困難であるという問題点があった。
観測手段は、電子回路基板実装面側のＩＣリード端子に
ＩＣクリップを装着して行う為、被観測ＩＣ周辺に部品
やリード端子など観測する上で障害となる物が実装され
ている場合、ＩＣクリップが装着できず、ＩＣの動作状
態の観測が困難であるという問題点があった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明のＩＣモニタプロ
ーブは、電子回路基板上に実装されたＩＣチップのリー
ド端子位置に合せ複数のコンタクトピンを取り付けてな
るプローブ本体と、このプローブ本体を前記電子回路基
板の半田面側に移動自在に保持するアームと、前記コン
タクトピンと前記ＩＣチップのリード端子の接触圧を調
整するごとく前記アームを前記電子回路基板に固定する
プローブ調整部とを備えている。
ーブは、電子回路基板上に実装されたＩＣチップのリー
ド端子位置に合せ複数のコンタクトピンを取り付けてな
るプローブ本体と、このプローブ本体を前記電子回路基
板の半田面側に移動自在に保持するアームと、前記コン
タクトピンと前記ＩＣチップのリード端子の接触圧を調
整するごとく前記アームを前記電子回路基板に固定する
プローブ調整部とを備えている。
【０００５】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【０００６】図１は本発明の一実施例を示し、（ａ）は
全体の正面図、（ｂ）はプローブ調整部の断面図、
（ｃ）はプローブ本体の断面図である。
全体の正面図、（ｂ）はプローブ調整部の断面図、
（ｃ）はプローブ本体の断面図である。
【０００７】本実施例は電子回路基板１上に実装された
ＩＣチップ２のリード端子位置に合せて複数のコンタク
トピン３を取り付けており且つ固定ねじ５，プローブ接
続ピン６及びばね７を有するプローブ本体４と、このプ
ローブ本体４を電子回路基板１の半田面側に移動自在に
保持するアーム９と、コンタクトピン３とＩＣチップ２
のリード端子の接触圧を調整するごとくにアーム９を電
子回路基板１に固定するプローブ調整部８とを有してな
り、プローブ調整部８にはアーム９に設けたラック９ａ
と噛合う歯車１０ａがついた調整ねじ１０が設けられて
いる。
ＩＣチップ２のリード端子位置に合せて複数のコンタク
トピン３を取り付けており且つ固定ねじ５，プローブ接
続ピン６及びばね７を有するプローブ本体４と、このプ
ローブ本体４を電子回路基板１の半田面側に移動自在に
保持するアーム９と、コンタクトピン３とＩＣチップ２
のリード端子の接触圧を調整するごとくにアーム９を電
子回路基板１に固定するプローブ調整部８とを有してな
り、プローブ調整部８にはアーム９に設けたラック９ａ
と噛合う歯車１０ａがついた調整ねじ１０が設けられて
いる。
【０００８】このような本実施例の動作について説明す
る。電子回路基板１に実装されたＩＣチップ２の電気的
信号を観測する場合、固定ねじ５を調整し、プローブ本
体４をアーム９上で電子回路基板１と平行な矢印Ａ方向
にスライドさせ、ＩＣチップ２に対応する位置へ固定さ
せる。ＩＣチップ２のリード端子の半田付け部分にコン
タクトピン３を接触させる為、プローブ調整部８の調整
ねじ１０を回してアーム９をＩＣチップ２の位置に固定
すると同時に、電子回路基板１の面に垂直な矢印Ｂ方向
に移動させることにより、プローブ本体４が矢印Ｂ方向
に移動し、ＩＣチップ２のリード端子とプローブ本体４
のコンタクトピン３が接触し、電気的接続が行なわれ
る。その後、プローブ接続ピン６に測定機器を接続する
ことで電気的状態の観測が実現できる。即ち、図１
（ｂ）に示すように、調整ねじ１０を回すことにより、
プローブ調整部８内の歯車１０ａが回転し、ラック９ａ
を介してアーム９が垂直方向（Ｂ方向）に移動すること
で、ＩＣチップ２のリード端子とコンタクトピン３の電
気的接続を得、またその接触圧力を調整することができ
る。また図１（ｃ）に示すように固定ねじ５を調整して
プローブ本体４を目的のＩＣの位置に固定させ、ばね７
の力によりコンタクトピン３をＩＣチップ２のリード端
子側へ付勢し、接触圧力を一定に保つ。
る。電子回路基板１に実装されたＩＣチップ２の電気的
信号を観測する場合、固定ねじ５を調整し、プローブ本
体４をアーム９上で電子回路基板１と平行な矢印Ａ方向
にスライドさせ、ＩＣチップ２に対応する位置へ固定さ
せる。ＩＣチップ２のリード端子の半田付け部分にコン
タクトピン３を接触させる為、プローブ調整部８の調整
ねじ１０を回してアーム９をＩＣチップ２の位置に固定
すると同時に、電子回路基板１の面に垂直な矢印Ｂ方向
に移動させることにより、プローブ本体４が矢印Ｂ方向
に移動し、ＩＣチップ２のリード端子とプローブ本体４
のコンタクトピン３が接触し、電気的接続が行なわれ
る。その後、プローブ接続ピン６に測定機器を接続する
ことで電気的状態の観測が実現できる。即ち、図１
（ｂ）に示すように、調整ねじ１０を回すことにより、
プローブ調整部８内の歯車１０ａが回転し、ラック９ａ
を介してアーム９が垂直方向（Ｂ方向）に移動すること
で、ＩＣチップ２のリード端子とコンタクトピン３の電
気的接続を得、またその接触圧力を調整することができ
る。また図１（ｃ）に示すように固定ねじ５を調整して
プローブ本体４を目的のＩＣの位置に固定させ、ばね７
の力によりコンタクトピン３をＩＣチップ２のリード端
子側へ付勢し、接触圧力を一定に保つ。
【０００９】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、電子回路
基板の半田面側にプローブを装着し、測定機器を接続す
ることにより、電子回路基板の実装状態に影響されるこ
となくＩＣの電気的信号の観測を行える効果がある。
基板の半田面側にプローブを装着し、測定機器を接続す
ることにより、電子回路基板の実装状態に影響されるこ
となくＩＣの電気的信号の観測を行える効果がある。
【図１】本発明の一実施例を示し、（ａ）は全体の正面
図、（ｂ）はプローブ調整部の断面図、（ｃ）はプロー
ブ本体の断面図である。
図、（ｂ）はプローブ調整部の断面図、（ｃ）はプロー
ブ本体の断面図である。
１ 電子回路基板 ２ ＩＣチップ ３ コンタクトピン ４ プローブ本体 ５ 固定ねじ ６ プローブ接続ピン ７ ばね ８ プローブ調整部 ９ アーム １０ 調整ねじ
Claims (2)
- 【請求項１】 電子回路基板上に実装されたＩＣチップ
のリード端子位置に合せ複数のコンタクトピンを取り付
けてなるプローブ本体と、このプローブ本体を前記電子
回路基板の半田面側に移動自在に保持するアームと、前
記コンタクトピンと前記ＩＣチップのリード端子の接触
圧を調整するごとく前記アームを前記電子回路基板に固
定するプローブ調整部とを備えることを特徴とするＩＣ
モニタプローブ。 - 【請求項２】 前記プローブ調整部は前記アームに設け
たラックと噛合う歯車付きの調整ねじを有して前記接触
圧を調整するようになっていることを特徴とする請求項
１記載のＩＣモニタプローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3282435A JPH05119112A (ja) | 1991-10-29 | 1991-10-29 | Ｉｃモニタプローブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3282435A JPH05119112A (ja) | 1991-10-29 | 1991-10-29 | Ｉｃモニタプローブ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05119112A true JPH05119112A (ja) | 1993-05-18 |
Family
ID=17652381
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3282435A Pending JPH05119112A (ja) | 1991-10-29 | 1991-10-29 | Ｉｃモニタプローブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05119112A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115608718A (zh) * | 2022-11-07 | 2023-01-17 | 宁波晶创科技有限公司 | 一种晶片电清洗装置 |
-
1991
- 1991-10-29 JP JP3282435A patent/JPH05119112A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115608718A (zh) * | 2022-11-07 | 2023-01-17 | 宁波晶创科技有限公司 | 一种晶片电清洗装置 |
| CN115608718B (zh) * | 2022-11-07 | 2023-11-24 | 宁波晶创科技有限公司 | 一种晶片电清洗装置 |
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