JPH05106018A - 半田皮膜の形成方法 - Google Patents

半田皮膜の形成方法

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JPH05106018A
JPH05106018A JP29375291A JP29375291A JPH05106018A JP H05106018 A JPH05106018 A JP H05106018A JP 29375291 A JP29375291 A JP 29375291A JP 29375291 A JP29375291 A JP 29375291A JP H05106018 A JPH05106018 A JP H05106018A
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雅之 木曽
Hiroki Uchida
廣記 内田
Motonobu Kubo
元伸 久保
Teruyuki Hotta
輝幸 堀田
Tooru Kamitamari
徹 上玉利
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    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
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    • H05K3/3473Plating of solder

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  • Solid-Phase Diffusion Into Metallic Material Surfaces (AREA)
  • Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【構成】 銅又は銅合金素材(1)上に無電解錫めっき
皮膜(2)及び無電解鉛めっき皮膜(3)を順次形成し
た後、これらめっき皮膜(4)を加熱することによっ
て、両皮膜(2,3)を構成する金属を互いに拡散させ
て、半田皮膜を得る。 【効果】 ICパッケージ回路など、微細な銅又は銅合
金素材にウィスカーの発生を確実に防止した半田皮膜を
形成することができる。また、得られた皮膜は、均一微
細で良好な特性を有するものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電子部品回路などの銅
又は銅合金素材に半田皮膜を無電解めっき法により形成
する半田皮膜の形成方法に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来よ
り、ICとICパッケージとの回路接続方法として種々
の工法が提案,実施されているが、近年の細密化に伴っ
てICパッケージの回路素材として銅や銅合金が使用さ
れるようになってきている。このような銅、銅合金素材
からなる回路の表面処理として錫皮膜を形成することが
知られており、このように銅又は銅合金回路上に錫めっ
き皮膜を形成した電子部品が市販されている。
【0003】しかしながら、錫皮膜は、経時変化によっ
てウィスカーが発生し、このウィスカーにより回路がシ
ョートするおそれがある。そこで、ウィスカーの発生を
防止するため、錫と鉛との合金(半田)を無電解めっき
法により形成する方法もあるが、この場合、無電解法に
より半田めっきを行うと、析出粒度が粗くなり、所望の
特性が得られ難い。
【0004】本発明は、上記事情に鑑みなされたもの
で、電子部品回路などの微細な銅又は銅合金素材にウィ
スカーの発生を確実に防止することができ、しかも滑ら
かで良好な特性を有する半田皮膜を形成することができ
る半田皮膜の形成方法を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段及び作用】本発明者は、上
記目的を達成するため鋭意検討を行った結果、無電解錫
及び無電解鉛めっきをそれぞれ別に順次行って、無電解
錫めっき皮膜と無電解鉛めっき皮膜とからなる析出粒子
が均一微細な2層構造の無電解めっき皮膜を得、これを
加熱することにより、ウィスカーの発生を確実に防止し
得、しかも皮膜形成粒子の非常に細かい半田皮膜が得ら
れることを見出し、本発明を完成したものである。
【0006】即ち、本発明者は、無電解錫めっき皮膜及
び無電解鉛めっき皮膜をそれぞれ単独の無電解めっき浴
から形成する場合には、析出粒子の細かい滑らかなめっ
き皮膜が得られることに着目し、無電解錫及び無電解鉛
めっきをそれぞれ別に順次行うことにより、無電解錫め
っき皮膜と無電解鉛めっき皮膜とからなる2層構造の均
一微細な無電解めっき皮膜を得、これを加熱したとこ
ろ、錫及び鉛めっき皮膜同志が互いに拡散して良好に合
金化し、ウィスカーが発生することのない良好な半田皮
膜が得られたものである。
【0007】従って、本発明は、銅又は銅合金素材上に
無電解錫めっき皮膜及び無電解鉛めっき皮膜を順次形成
した後、これらめっき皮膜を加熱することにより、両皮
膜を構成する金属を互いに拡散させて、半田皮膜を得る
ことを特徴とする半田皮膜の形成方法を提供する。
【0008】以下、本発明ついて更に詳しく説明する。
本発明の半田皮膜の形成方法は、図1に示すように、無
電解錫めっき及び無電解鉛めっきを別々に順次行って、
銅又は銅合金素材1上に無電解錫めっき層2と無電解鉛
めっき層3とを積層状態に形成し、これらめっき皮膜
2,3からなる2層構造の処理皮膜4を加熱することに
より、これらめっき皮膜2,3を構成する金属を互いに
拡散させて、上記銅又は銅合金素材1上に半田めっき皮
膜を形成するものである。
【0009】この場合、上記無電解錫めっきは、第一錫
塩と、酸と、チオ尿素とを含む通常の無電解錫めっき浴
用いて通常のめっき条件で行うことができ、また上記無
電解鉛めっきも鉛塩と、酸と、チオ尿素とを含む通常の
無電解鉛めっき浴を用いて通常のめっき条件で行うこと
ができる。
【0010】ここで、この無電解めっき法による皮膜形
成は、まず無電解錫めっきを行って銅又は銅合金素材上
に錫めっき皮膜を形成した後、無電解鉛めっきを行って
錫めっき皮膜が下層、鉛めっき皮膜が上層である積層め
っき皮膜を形成する。これによりウィスカーの発生を確
実に防止した半田皮膜が得られるものである。
【0011】なお、上記無電解錫めっき又は無電解鉛め
っきを行う前に、必要に応じて素材1に脱脂、酸洗、エ
ッチング等の前処理を行うことができる。
【0012】また、上記無電解錫めっき皮膜2及び無電
解鉛めっき皮膜3の厚さは、それぞれ要求される半田皮
膜4の厚さや錫−鉛合金化比率により適宜選定される
が、通常IC回路等の素材1に半田皮膜4を形成する場
合は、無電解錫めっき皮膜2の厚さは0.5〜5μm、
特に0.7〜3μmとすることが好ましく、無電解鉛め
っき皮膜3の厚さは0.1〜3μmとすることが好まし
い。
【0013】ここで、半田皮膜4の錫−鉛合金化比率
は、上記無電解錫めっき皮膜2及び無電解鉛めっき皮膜
3の膜厚比を調節することにより容易にコントロールす
ることができる。従って、無電解錫めっき及び無電解鉛
めっきを行う際、それぞれのめっき時間を調節すること
により、容易に半田皮膜の錫−鉛合金化比率を調節する
ことができ、金属イオン濃度等を調節しなければならな
い一液型の無電解半田めっき浴を用いた場合に比べて極
めて容易にその合金化比率をコントロールすることがで
きる。
【0014】本発明方法においては、上記無電解錫めっ
き皮膜2と無電解鉛めっき皮膜3とからなる2層構造の
処理皮膜4を加熱して、上記無電解錫めっき皮膜2及び
無電解鉛めっき皮膜3中の金属を互いに拡散させること
により、半田めっき皮膜が形成される。この場合、加熱
温度は得ようとする半田皮膜の合金化比率に応じて適宜
選定される。また、この加熱拡散処理は、非酸化性雰囲
気下で行うことが好ましい。なお、電子機器の回路など
の後に加熱処理される素材に対して半田皮膜の形成を行
う場合には、各無電解めっき皮膜2,3を形成した後に
必ずしも加熱拡散処理を行う必要はなく、電子部品等の
接続加熱処理時に両めっき皮膜2,3の拡散を行うよう
にすることもできる。
【0015】本発明の半田皮膜の形成方法は、銅又は銅
合金で形成されたICの回路など、電子部品用微細回路
の表面処理に好適に採用されるものであるが、プリント
配線板などの他の電子部品やその他の銅、銅合金にも良
好に採用される。
【0016】
【実施例】以下、実施例,比較例を示して本発明を具体
的に説明するが、本発明は下記実施例に制限されるもの
ではない。
【0017】[実施例,比較例]樹脂基板上に形成した
銅回路を脱脂し、水洗し、酸洗し、水洗した後、エッチ
ングを施し、これを酸洗し、水洗した後下記組成の無電
解錫めっき浴中に2分間浸漬して銅回路上に厚さ1μm
の無電解錫めっき皮膜を形成した。
【0018】次いで、この錫めっき皮膜を水洗した後、
下記組成の無電解鉛めっき浴に基板を1分間浸漬して上
記無電解錫めっき皮膜上に厚さ0.2μmの無電解鉛め
っき皮膜を形成し、水洗して乾燥した。無電解錫めっき浴 ホウフッ化錫 20g/L ホウフッ酸 200g/L 次亜リン酸ナトリウム 50g/L チオ尿素 80g/L 非イオン性活性剤 1g/L 温度 70℃無電解鉛めっき浴 ホウフッ化鉛 20g/L ホウフッ酸 200g/L 次亜リン酸ナトリウム 50g/L チオ尿素 80g/L 非イオン性活性剤 1g/L 温度 70℃
【0019】得られた無電解錫めっき皮膜と、無電解鉛
めっき皮膜との2層からなる均一微細な表面処理皮膜を
230℃で10秒間加熱し、各層の金属を互いに拡散さ
せて錫−鉛合金化比率6:4、厚さ1μmの半田皮膜を
形成した。得られた半田皮膜は、光沢のある均一な皮膜
であった。
【0020】上記処理により半田皮膜を形成した回路部
品を温度25℃に保持した室内に放置し、ウィスカー発
生を調べた。結果を表1に示す。またこの場合、比較と
して厚さ0.7μmの無電解錫めっき皮膜を銅回路上に
形成した回路部品について同様にウィスカーの発生を調
べた。結果を表1に併記する。
【0021】
【表1】
【0022】表1の結果から明らかなように、無電解錫
めっき皮膜は、72時間経過後にウィスカーの発生が見
られ、その後もウィスカーの成長が確認された。これに
対し、本発明法による半田皮膜は336時間経過した後
もウィスカーの発生は見られなかった。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の半田皮膜
の形成方法によれば、ICパッケージ回路などの微細な
銅又は銅合金素材にウィスカーの発生を確実に防止する
ことができ、しかも細かい析出粒度で良好な特性を有す
る半田皮膜を形成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の半田皮膜の形成方法を説明する断面図
である。
【符号の説明】
1 銅又は銅合金素材 2 無電解錫めっき皮膜 3 無電解鉛めっき皮膜
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 堀田 輝幸 大阪府枚方市出口1丁目5番1号 上村工 業株式会社中央研究所内 (72)発明者 上玉利 徹 大阪府枚方市出口1丁目5番1号 上村工 業株式会社中央研究所内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 銅又は銅合金素材上に無電解錫めっき皮
    膜及び無電解鉛めっき皮膜を順次形成した後、これらめ
    っき皮膜を加熱することにより、両皮膜を構成する金属
    を互いに拡散させて、半田皮膜を得ることを特徴とする
    半田皮膜の形成方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006527660A (ja) * 2003-06-18 2006-12-07 ヒル・アンド・ミユラー・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング 二重壁金属管、金属帯および細片、および金属細片の被覆方法
DE102012017520A1 (de) * 2012-09-05 2014-03-06 Feindrahtwerk Adolf Edelhoff Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Zinnbeschichtung eines metallischen Substrats,Verfahren zur Härtung einer Zinnschicht, sowie Draht mit einer Zinnbeschichtung

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006527660A (ja) * 2003-06-18 2006-12-07 ヒル・アンド・ミユラー・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング 二重壁金属管、金属帯および細片、および金属細片の被覆方法
DE102012017520A1 (de) * 2012-09-05 2014-03-06 Feindrahtwerk Adolf Edelhoff Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Zinnbeschichtung eines metallischen Substrats,Verfahren zur Härtung einer Zinnschicht, sowie Draht mit einer Zinnbeschichtung
US9592533B2 (en) 2012-09-05 2017-03-14 Feindrahtwerk Adolf Edelhoff Gmbh & Co. Kg Process for tin coating a metallic substrate, process for hardening a tin layer and wire having a tin coating

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