JPH05100100A - X線顕微鏡 - Google Patents

X線顕微鏡

Info

Publication number
JPH05100100A
JPH05100100A JP3290766A JP29076691A JPH05100100A JP H05100100 A JPH05100100 A JP H05100100A JP 3290766 A JP3290766 A JP 3290766A JP 29076691 A JP29076691 A JP 29076691A JP H05100100 A JPH05100100 A JP H05100100A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
ray
vacuum container
capsule
rays
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3290766A
Other languages
English (en)
Inventor
Hisao Fujisaki
久雄 藤崎
Takashi Matsubara
隆 松原
Katsumi Sugizaki
克己 杉崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP3290766A priority Critical patent/JPH05100100A/ja
Publication of JPH05100100A publication Critical patent/JPH05100100A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 試料の交換作業を短時間にかつ簡易に行え、
試料カプセルの変形を防止しうるとともに、好気性の生
物試料を生きたままの状態で観察することを可能にする
X線顕微鏡を提供する。 【構成】 中空に形成され、内部をX線14が進行する
鏡筒用真空容器12を備えたX線顕微鏡10において、
X線14の経路を横切るように前記真空容器12の一部
を窪ませて凹部17を形成し、この凹部17の側壁にX
線14透過用の窓部材18を設け、さらに、観察用試料
21が収納された試料カプセル19を保持する保持手段
17を凹部17に設けた。これにより、試料カプセル1
9を大気圧下に置くことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、X線顕微鏡の改良に関
する。
【0002】
【従来の技術】医学や生物工学の分野では、通常の可視
光(波長λ=約 400nm〜 800nm) を用いる顕微鏡よりも
解像度が高く、それでいて、生きた試料(以下、生物試
料と言う)例えば、細胞、バクテリア、精子、染色体、
ミトコンドリア、べん毛などが見られる高解像度の顕微
鏡を要求する声が日増しに高まっている。その理由は、
高解像度の電子顕微鏡では、生物試料が見られないから
である。そこで、可視光に代えて波長λ=2〜5nmの軟
X線を用いるX線顕微鏡が開発されつつある。X線顕微
鏡の基本的な構成は、X線発生器、X線発生器から出射
したX線を集光して試料を照明するコンデンサー光学
系、試料を透過したX線を結像させる結像光学系、結像
光学系の結像位置に配置された撮像装置、X線発生器か
ら撮像装置までの光路を真空にするための鏡筒用真空容
器、及び該真空容器内を真空に排気するための排気系か
らなる。図6にX線顕微鏡の簡単な構造と光学系を示
す。図6において、X線発生器Gから出射したX線は、
コンデンサー光学系Cで集光されて試料カプセルBを照
明する。そして、試料カプセルBを透過したX線は、結
像光学系Iにより、試料の像を撮像装置K上に結像させ
る。像は、撮像装置で電気信号に変換されて外部に送信
され、一般には、モニタ装置(テレビ画面)M上に映し
だされる。X線発生器Gから撮像装置Kまでの光路長
は、例えば2m位ある。Rは鏡筒用真空容器で、Vは容
器R内を真空に排気するための排気系である。Hは、試
料カプセルBを保持する試料ホルダである。しかし、X
線顕微鏡は、まだ試作品の段階にある。
【0003】軟X線は、物質内を透過したとき物質によ
って吸収され、物質内の透過光路長(単位長さ)当たり
の吸収率すなわち線吸収係数は、物質の密度に比例し、
一般には波長が長くなるほど高くなる。図7に、いくら
かの物質の線吸収係数スペクトルを示す。このように物
質に応じて線吸収係数が異なることを利用して生物試料
を観察することができる。
【0004】ところで、軟X線は、空気の大部分を占め
る窒素によって吸収されてしまうので、X線発生器Gか
ら生物試料まで、生物試料から撮像装置Kまでを真空空
間(例えば、4.8 ×10-2Pa) にしなければならない。他
方、生物試料は真空空間では死んでしまうので、適当な
液体の媒質(例えば水、培養液、体液、生理食塩水な
ど)に浮遊させ、これを適当な容器に入れて保護する必
要がある。このような容器を一般に試料カプセルと呼
ぶ。初期の試料カプセルは、図8に示すように、リング
状のスペーサ51とこれを挟む一対のX線透過膜(例え
ば、厚さが0.05〜0.1 μm程度の窒化シリコン薄膜)5
2からなる。X線透過膜52は、基板53上に形成され
ている。また、シリコン基板53はX線を透過させない
ので中心部にX線透過用の開口53aを設けてある。ス
ペーサ51とこれを挟む一対のX線透過膜52で囲まれ
た空間は、試料室と呼ばれ、ここに“媒質とその中に浮
遊する生物試料”が満たされる。試料室は当然に真空空
間から隔離された密閉空間である。しかし、試料室は小
さく、かつ、X線透過膜52が薄いので、生物試料を含
む媒質を試料室に満たすとき、X線透過膜52を破壊し
がちである。そこで、スペーサ51の一部に貫通孔を設
けるか、スペーサ51をリング状ではなく、いくつかの
分割スペーサに分解し、各分割スペーサの間に隙間を設
ける(図9参照)ことにより、試料室を開放空間とする
試料カプセルが開発された(例えば、特願平1−33647
1) 。このような試料カプセルは、開放型試料カプセル
と呼ばれる。
【0005】開放型試料カプセルの試料室に“生物試料
を含む媒質”を満たすと、媒質の一部は外界に露出する
ので、一見すると、媒質はカプセル外に流出して失なわ
れると予見される。しかし、実際には、一対のX線透過
膜の間隔は非常に狭い(例えば、1〜10μm程度) の
で、媒質の表面張力により媒質はカプセルから外には流
出しない。
【0006】試料カプセルは、小さいので取扱が不便な
ことから、一般には試料ホルダに保持させ、これをX線
顕微鏡にセットする。試料ホルダは、大まかに言うと、
一般に、有底の円筒状を呈する主ホルダと円板状を呈す
る押さえホルダとの少なくとも2部材からなり、両部材
を接合すると両者の間に試料カプセルの「カプセル収納
室」が形成される。「カプセル収納室」は、試料カプセ
ルより大きく、そのため、試料カプセルの横方向に空間
を生じる。前記主ホルダと押さえホルダには、それぞれ
ほぼ中央にX線透過のための開口部がある。この開口部
を通ってX線が試料カプセルに入射し、出射する。前記
開放型試料カプセルでは、媒質が真空空間に触れる。そ
こで、試料ホルダは、試料カプセルを収納する「カプセ
ル収納室」が真空空間と隔離する構造を有するようにし
ている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】試料カプセルをそのま
ま使用する場合も、あるいは試料カプセルを「カプセル
収納室」に保持した試料ホルダを使用する場合にも、異
なる試料を見る場合には、その都度、X線顕微鏡にセッ
トし直さねばならない。この場合、試料カプセル又は試
料ホルダは、鏡筒用真空容器内の試料位置にセットしな
ければならない。従って、その都度、真空容器内の真空
を大気に戻し、セット後、再び真空に排気しなければな
らない。この作業は面倒であるばかりでなく、排気に時
間がかかると言う問題点があった。
【0008】また、前記試料は一般に大気圧下で前記試
料カプセルに収納し、その後で該試料カプセルあるいは
試料ホルダを真空容器内に設置する。そのため、設置後
に該容器内を真空にすると真空との圧力差によって前記
X線透過膜が外側(真空側)に撓んでしまい、X線の経
路上での非真空部が増加してしまった。その結果、X線
の吸収が増えて前記結像光学系に達するX線量が減少し
てしまった。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項1に記載した発明では、X線発生器、X線発
生器から出射したX線を集光して試料を照明するコンデ
ンサー光学系、試料を透過したX線を結像させる結像光
学系、結像光学系の結像位置に配置された撮像装置、X
線発生器から撮像装置までの光路を真空にするための鏡
筒用真空容器、および該真空容器内を真空に排気するた
めの排気系からなるX線顕微鏡において、前記鏡筒用真
空容器が前記X線の経路を横切るように窪んで形成され
た凹部を有し、該凹部に試料カプセルまたは該試料カプ
セルを保持した試料ホルダを収納する収納部を設け、該
収納部の側壁のX線透過位置にX線透過窓を設けたX線
顕微鏡を提供する。また、請求項2に記載した発明で
は、X線発生器、X線発生器から出射したX線を集光し
て試料を照明するコンデンサー光学系、試料を透過した
X線を結像させる結像光学系、結像光学系の結像位置に
配置された撮像装置、X線発生器から撮像装置までの光
路を真空にするための鏡筒用真空容器、および該真空容
器内を真空に排気するための排気系からなるX線顕微鏡
において、前記鏡筒用真空容器を、前記X線発生器およ
びコンデンサー光学系を含む第1の真空容器と、前記結
像光学系および撮像装置を含む第2の真空容器とに分割
し、これら各真空容器の分割面のX線透過位置にX線透
過窓を設け、前記第1の真空容器と第2の真空容器の間
に試料カプセルまたは該試料カプセルを保持した試料ホ
ルダを収納する収納部を設け、該収納部を構成する側壁
のX線透過位置にX線透過窓を設けたX線顕微鏡を提供
する。
【0010】
【作用】請求項1記載の発明では、真空容器の一部を窪
ませて凹部を形成し、この凹部に前記試料カプセルまた
は試料ホルダを収納する収納部を設けている。従って、
該収納部は大気圧下にあり、真空容器を開放することな
く前記試料カプセルまたは試料ホルダの交換作業が行え
る。請求項2記載の発明では、分割された真空容器間に
前記試料カプセルまたは試料ホルダを収納する収納部を
設けている。従って、該収納部は大気圧下にあり、真空
容器を開放することなく前記試料カプセルまたは試料ホ
ルダの交換作業が行える。この場合、真空容器と前記試
料カプセルまたは試料ホルダ間に大気が介在することに
なるが、前記収納部の厚さを前記試料カプセル又は試料
ホルダの厚さとほぼ等しく設定すれば問題はない。なぜ
なら、収納部をX線が透過するときのX線の光路長さは
僅かであるため、その光路中に存在する窒素は僅かでX
線が余り減衰しないからである。このように、本発明で
は前記収納部を真空にする必要がないので試料の交換作
業を短時間で行える。また、試料カプセルまたは試料ホ
ルダは常時大気圧下にあるため真空との気圧差により前
記X線透過膜が外側(真空側)に撓んでX線経路上での
非真空部が増加することもない。
【0011】以下、実施例により本発明をより具体的に
説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。
【0012】
【実施例】
−第1実施例− 図1は本発明によるX線顕微鏡の第1実施例を示す概略
断面図である。図において、10はX線顕微鏡であり、
このX線顕微鏡10は、X線発生器11と、鏡筒用真空
容器12と、撮像装置13および真空容器12内を真空
に排気するための排気系22とを備えている。X線14
はX線発生器11で発生され、回折格子を備えた集光用
ゾーンプレートからなるコンデンサー光学系15および
結像用ゾーンプレートからなる結像光学系16を介して
撮像装置13に至る経路を通って進行する。
【0013】真空容器12の中央部には、この容器12
の一部が内方に窪んで形成された凹部17が設けられて
いる。この凹部17は、その側壁部がX線14の経路を
横切るように、位置および深さが設定されている。ま
た、凹部17は、試料カプセル19をX線14の経路上
に臨ませるためにこの試料カプセル19を保持する収納
部も兼ねており、従って、この凹部17内に試料カプセ
ル19を挿入できるように、その幅および長さが設定さ
れている。
【0014】凹部17の側壁には、X線14の経路上に
相当する箇所にX線透過窓17aが一対形成され、これ
らX線透過窓17aには、X線14を透過する材質で形
成された窓部材18が、真空容器12内の気密を保持す
るようにそれぞれ嵌挿されている。X線14を透過する
窓部材18の材料としては、半導体装置と同様の工程で
形成される薄膜状のアモルファスSiN等がある。
【0015】凹部17には、観察用試料が収納される試
料カプセル19が保持されている(保持手段は図示せ
ず)。この試料カプセル19は、スペーサ19cとこれ
を挟む一対のX線透過膜20からなる。この透過膜20
は前記SiN等からなるが薄いのでシリコン基板19b
上に形成される。シリコン基板19bはX線を透過させ
ないので中心部にX線透過用の開口19aを設けてあ
る。一対のX線透過膜20とスペーサ19cの囲む空間
が試料室となり、ここに、例えば媒質とその中に浮遊す
る生物試料21が満たされている。
【0016】ここで使用する試料カプセルは、スペーサ
19cに該試料カプセルの上部が開放されるようにその
一部に適当な隙間を設けてある。または、前述の開放型
試料カプセルを用いても良い。なお、本実施例と請求の
範囲との対応において、凹部17は保持手段を構成して
いる。
【0017】以上のような構成のX線顕微鏡10におい
ては、X線発生器11で発生したX線14は、コンデン
サー光学系15により集光されて凹部17に至り、その
一方の窓部材18を通過して試料カプセル19に至る。
さらに、このX線14は、試料カプセル19の一方の窓
部材20および試料カプセル19の内部に収納された観
察用試料21を通過して他方の窓部材20から出射し、
凹部17の他方の窓部材18を通過して、再度、真空容
器12内を進行し、結像光学系16によりX線撮像装置
13上に結像される。従って、このX線撮像装置13上
に結像されたX線14を用いて試料カプセル19内に収
納された観察用試料21のX線像を観察することができ
る。
【0018】ここで、本実施例のX線顕微鏡10では、
凹部17の内部が大気に連通されているので、試料カプ
セル19を交換する際に真空容器を開閉する必要がな
い。従って、従来のように試料カプセル19を交換する
度に真空を破る、あるいは真空度を所定値にまで高め
る、といった作業が不要になり、試料カプセル19の交
換作業が短時間にかつ簡便に行える。
【0019】また、観察中においても、試料カプセル1
9は常時大気圧下にあるので、従来のように試料カプセ
ル19内外の気圧差により外方に撓んで窓部材20間の
距離が長くなる、といった現象が生じるおそれもない。
【0020】さらに、凹部17内部が大気に連通してい
るため、上述の実施例のように試料カプセル19の一部
を開口しておけば好気性の生物試料を生かしたまま観察
することができる、という利点もある。
【0021】しかも、試料カプセル19を外部に設けた
二次元移動機構で保持して二次元走査を行うことも容易
であり、これにより、走査型X線顕微鏡を容易に構成す
ることが可能になる。
【0022】−第二実施例− 図2は本発明によるX線顕微鏡の第2実施例を示す断面
図である。なお、以下の説明において、上述の第1実施
例と同様の構成要素については同一の符号を付し、その
説明を簡略化する。
【0023】本実施例と第1実施例との相違点は、真空
容器12の構造およびそれに伴う試料カプセル19の保
持構造にある。すなわち、本実施例では、X線14の経
路を横切るようにして、真空容器12が一対の仕切板3
0を介して2分割(符号12Aと12B)されており、
これら分割面たる仕切板30間には所定間隔がおかれて
いる。そして、仕切板30間には、観察用試料21が収
納された試料カプセル19またはこのカプセルを保持し
た試料ホルダを収納する収納部35が設けられている。
【0024】各仕切板30および収納部35には、X線
14の経路上に相当する箇所にX線透過窓30a、35
aが形成されているとともに、仕切板30のX線透過窓
30aには、X線14を透過する材質で形成された窓部
材31がそれぞれの真空容器12A、12Bの気密を保
持すべく嵌挿されている。
【0025】本実施例では、収納部35は仕切板30間
に設けられており、収納部35内部は常時大気に開放さ
れた状態にある。従って、本実施例によっても、上述の
第1実施例と同様の作用効果を得ることができる。
【0026】なお、本発明のX線顕微鏡は、その細部が
上述の実施例に限定されず、種々の変形例が可能であ
る。一例として、凹部または収納部に支持される試料カ
プセルの形状は、この試料カプセル内に収納される観察
用試料の性質に応じて選択される。図3に示す試料カプ
セル19は、嫌気性の生物試料のために試料室19の上
端開口を覆う蓋32を設けたものである。図4に示す試
料カプセル19は、図3の試料カプセルに加えて蓋32
を貫通する一対の管33を設け、試料カプセル19の雰
囲気気体を交換可能としたものである。図5に示す試料
カプセル19は、その上下端に管34を設け、試料21
の交換または溶液注入を可能としたものである。
【0027】また、上述の実施例では窓部材18、31
を単体で設けていたが、光学系に設けられたゾーンプレ
ートの支持膜と窓部材とを共用する構成であってもよ
い。
【0028】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、試料カプセルを真空容器の外側、すなわち大気中
に露出した状態で配置可能に構成したので、従来のよう
に試料カプセル交換の度に真空を破る、あるいは真空度
を所定値にまで高める、といった作業が不要になり、試
料カプセルの交換作業が短時間にかつ簡便に行える。ま
た、観察中においても、試料カプセルは常時大気圧下に
あるので、従来のように試料カプセル内外の気圧差によ
り外方に撓んで窓部材間の距離が長くなる、といった現
象が生じるおそれもない。さらに、試料カプセルの一部
を開口しておけば好気性の生物試料を生かしたまま観察
することができる、という利点もある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例であるX線顕微鏡を示す断
面図である。
【図2】本発明の第2実施例であるX線顕微鏡を示す断
面図である。
【図3】試料カプセルの他の例を示す断面図である。
【図4】図3と同様の図である。
【図5】図4と同様の図である。
【図6】従来のX線顕微鏡の一例を示す断面図である。
【図7】物質の線吸収係数スペクトルを示す図である。
【図8】従来の試料カプセルの一例を示す図である。
【図9】従来の試料カプセルの他の例を示す図である。
【符号の説明】
10 X線顕微鏡 11 X線発生器 12 真空容器 12A、12B 分割された真空容器 13 X線撮像装置 14 X線 17 凹部 18、20、31 窓部材 19 試料カプセル 21 観察用試料 22 排気系 30 仕切板 35 収納部 B 試料カプセル(51+52+53) H 試料ホルダ C コンデンサー光学系 I 結像光学系 K 撮像装置 R 鏡筒用真空容器 M モニタ装置 V 真空排気系 G X線発生器

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 X線発生器、X線発生器から出射したX
    線を集光して試料を照明するコンデンサー光学系、試料
    を透過したX線を結像させる結像光学系、結像光学系の
    結像位置に配置された撮像装置、X線発生器から撮像装
    置までの光路を真空にするための鏡筒用真空容器、およ
    び該真空容器内を真空に排気するための排気系からなる
    X線顕微鏡において、 前記鏡筒用真空容器が前記X線の経路を横切るように窪
    んで形成された凹部を有し、該凹部に試料カプセルまた
    は該試料カプセルを保持した試料ホルダを収納する収納
    部を設け、該収納部の側壁のX線透過位置にX線透過窓
    を設けたことを特徴とするX線顕微鏡。
  2. 【請求項2】 X線発生器、X線発生器から出射したX
    線を集光して試料を照明するコンデンサー光学系、試料
    を透過したX線を結像させる結像光学系、結像光学系の
    結像位置に配置された撮像装置、X線発生器から撮像装
    置までの光路を真空にするための鏡筒用真空容器、およ
    び該真空容器内を真空に排気するための排気系からなる
    X線顕微鏡において、 前記鏡筒用真空容器を、前記X線発生器およびコンデン
    サー光学系を含む第1の真空容器と、前記結像光学系お
    よび撮像装置を含む第2の真空容器とに分割し、これら
    各真空容器の分割面のX線透過位置にX線透過窓を設
    け、 前記第1の真空容器と第2の真空容器の間に試料カプセ
    ルまたは該試料カプセルを保持した試料ホルダを収納す
    る収納部を設け、該収納部を構成する側壁のX線透過位
    置にX線透過窓を設けたことを特徴とするX線顕微鏡。
JP3290766A 1991-10-09 1991-10-09 X線顕微鏡 Pending JPH05100100A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3290766A JPH05100100A (ja) 1991-10-09 1991-10-09 X線顕微鏡

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3290766A JPH05100100A (ja) 1991-10-09 1991-10-09 X線顕微鏡

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05100100A true JPH05100100A (ja) 1993-04-23

Family

ID=17760257

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3290766A Pending JPH05100100A (ja) 1991-10-09 1991-10-09 X線顕微鏡

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05100100A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5222113A (en) X-ray microscope
US6163590A (en) High resolution x-ray imaging of very small objects
CN105144337B (zh) 带电粒子束装置、试样观察方法、试样台、观察系统及发光部件
US4992662A (en) Multipurpose gaseous detector device for electron microscope
Quinn et al. The hard X-ray nanoprobe beamline at diamond light source
JP2001512568A (ja) 軟x線顕微透視装置
JP3610245B2 (ja) ガス雰囲気試料ホルダ
US4912737A (en) X-ray image observing device
JPH05100100A (ja) X線顕微鏡
JPH0588000A (ja) X線顕微鏡
JPH085800A (ja) X線顕微鏡
JP3359703B2 (ja) X線顕微鏡用試料容器及び試料保持方法
JPH07113680B2 (ja) 顕微鏡観察用試料容器
JP2003207466A5 (ja)
JP2890580B2 (ja) X線顕微鏡用試料カプセル
Fletcher et al. Soft x-ray contact microscopy using laser-generated plasma sources
JPH07333399A (ja) X線透過窓部材
JPH0784100A (ja) X線顕微鏡用試料容器
JPH05107400A (ja) 位置合わせの簡単なx線顕微鏡用の試料ホルダ
JPH03197838A (ja) X線顕微鏡用試料カプセル
JP2890579B2 (ja) X線顕微鏡用の試料ホルダ
JPH03295440A (ja) X線顕微鏡用試料容器
JPH075375A (ja) X線観察用の生体試料槽
JP2988058B2 (ja) X線顕微鏡用の試料ホルダ
JP3020460B2 (ja) 真空光学系構造