JPH0485241A - スライスレベル設定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、複数の検出器の媒体検出の有無を判定するた
めのスライスレベル設定装置に関するものである。

（従来の技術） 各種プリンタにおいては、従来より印刷媒体の搬送状態
を把握するため等、種々の目的で複数の光学的検出器が
用いられている。例えば媒体搬送路上には光学的検出器
として複数の反射型センサが設けられており、これら反
射型センサからの信号により媒体が搬送路中のどの位置
にあるか等を検出するよう構成されている。

第２図はこのような反射型センサの媒体の有無を検出す
る検出回路の回路図である。

図において、反射型センサ１は発光ダイオード１ａとフ
ォトトランジスタ１ｂの組合わせからなり、発光ダイオ
ード１ａは抵抗２を介して電源電圧ＶＣＣが印加され、
フォトトランジスタ１ｂはそのコレクタがＶｃｃ端子に
接続され、エミッタは抵抗３を介して接地されている。

反射型センサ１の出力端子であるフォトトランジスタｌ
ｂのエミッタは比較器４の反転入力端子に接続されてい
る。

この比較器４の反転入力端子は、ＶＣＣ端子と接地端子
間に直列に接続された分圧抵抗５．６の接続点に接続さ
れ、基準電圧が印加されるよう構成されている。

また、比較器４の出力端子は抵抗７を介してｖｃｃ端子
に接続されていると共に、媒体検出端子８に接続されて
いる。

次に上記検出回路の動作を説明する。

先ず、媒体が反射型センサ１上に無い場合、反射型セン
サ１の出力レベルは「Ｌ」　（ローレベル）である。こ
こで比較器４の非反転入力端子には所定の基準電圧が印
加されており、従って比較器４の出力は「Ｈ」　（ハイ
レベル）となり、検出結果は媒体無しとなる。

次に、反射型センサ１上に媒体が有る場合は、反射型セ
ンサ１の出力レベルは「Ｈ」となるため、比較器４の出
力はｒＬＪとなり、検出結果が媒体有りとなる。

このように上記の検出回路は、媒体の有無を判定するた
めの基準電圧、即ちスライスレベルは固定値であり、こ
の固定値と反射型センサ１の出力とを比較して媒体の有
無を検出していた。

（発明が解決しようとする課題） しかしながら、反射型センサ１はその出力レベルが、素
子のばらつきや経年変化等によって一定であるとは言え
ないものである。このため固定されたスライスレベルで
は反射型センサ１の出力とのマージンが十分にとれない
場合があり、その結果、媒体検出動作が不安定になって
しまうといった問題があった。

本発明は以上の問題を解決するためになされたもので、
確実な媒体有無検出が行なえるスライスレベル設定装置
を提供することを目的とする。

（課題を解決するための手段） 本発明のスライスレベル設定装置は、媒体検出の有無に
よってその出力レベルが変化する複数の検出器と、媒体
無状態における前記複数の検出器のそれぞれの出力レベ
ルを検出し、これらの出力レベルに対応したスライスレ
ベルを設定する学習手段と、前記学習手段で設定された
それぞれのスライスレベルを格納する不揮発性メモリと
、前記学習手段でのスライスレベル設定後は、各々の検
出器に対応するスライスレベルを前記不揮発性メモリよ
り読み出して設定する設定手段とを設けたものである。

（作用） 本発明の装置は、学習手段が複数の検出器のそれぞれの
出力レベルを検出し、これらの出力レベルに対応したス
ライスレベルを各検出器側に設定する。また、設定した
スライスレベルは不揮発性メモリに格納され、通常動作
時は各検出器に対応したスライスレベルを不揮発性メモ
リから読み出して設定し、媒体の有無検出を行なう。

従って、各検出器の出力レベルにばらつきがあっても、
スライスレベルは各検出器に対応した値が設定されるた
め、各検出器毎の出力レベルとスライスレベルとの関係
は一定となる。また、スライスレベルは不揮発性メモリ
に格納されるため、媒体検出時に毎回学習動作を行なう
必要がない。

（実施例） 以下、本発明を図の実施例を用いて詳細に説明する。

第１図は、本発明のスライスレベル設定装置の実施例を
示すブロック図である。

図の装置は、複数の検出器１１−１〜１１−ｎと、学習
手段１２と、不揮発性メモリ１３と、設定手段１４とか
ら構成され、本実施例ではシリアルプリンタに適用して
いる。

複数の検出器ｉｌｌ〜１１−ｎはそれぞれ第２図に示し
た従来と同様に反射型センサで構成されている。

学習手段１２は、検出器１１−１〜１１−ｎの媒体無状
態におけるそれぞれの出力レベルを学習し、かつこれら
の出力レベルに対応したスライスレベルを決定する手段
であり、後述する選択器、比較器、基準電圧発生器、Ｃ
ＰＵ　（中央処理装置）の学習部から構成されている。

不揮発性メモリ１３は、学習手段１２で決定された複数
のスライスレベルを格納するメモリで、必要に応じてデ
ータが更新、読み出し可能になっており、装置の主電源
とは異なる別電源でバ・ンクアップされた半導体メモリ
等から構成されている。

設定手段１４は、学習手段１２でのスライスレベル設定
後、各々の検出器１ｌ−１−１１−ｎに対応するスライ
スレベルを不揮発性メモリ１３から読み出して設定する
手段で、後述する選択器とＣＰＵの設定部とで構成され
ている。

第３図は上記学習手段１２と設定手段１４との構成を具
体的に示すスライスレベル設定装置のブロック図である
。

即ち、第１図の学習手段１２は、選択器１５、比較器１
６、基準電圧発生器１７、ＣＰＵ１８内の学習部１８ａ
の構成に対し、設定手段１４は、選択器１５とＣＰＵ１
８内の設定部１８ｂの構成に対応している。

選択器１５は、検出器１１−１〜１１−ｎの出力なＣＰ
Ｕ　１８からの指令により選択的に比較器１６に出力す
る回路で、既知の選択回路から構成されている。

比較器１６は、選択器１５の出力と基準電圧発生器１７
からの出力電圧を比較し、その比較結果をＣＰＵ　１８
に出力する既知の比較回路から構成されている。

基準電圧発生器１７は、ＣＰＵ１８の指令に基づき所定
の基準電圧を発生し、その基準電圧を比較器１６に供給
する回路で、既知の電圧発生回路から構成されている。

次に上記構成のスライスレベル設定装置の動作について
説明する。

第４図はスライスレベル設定装置の動作を示すフローチ
ャートであり、同図（ａ）はスライスレベル学習時の動
作、同図（ｂ）は通常動作を示している。

検出器の交換後や媒体有無検出エラーの発生による装置
の点検時等、図示しない外部からの指令により学習モー
トが選択されると、ＣＰＵ１８の学習部１８ａは、全て
の検出器１１−１〜ｆｌ−ｎは現在媒体無状態であると
して動作を開始する。

先ず、学習部１８ａは検出器１１−１の出力を選択する
よう選択器１５に指令しくステップＳｌ）、選択器１５
は検出器１１−１を選択する（ステップＳ２）。

次に、学習部１８ａは、基準電圧発生器１７に対して基
準電圧の最低値を出力するよう指令する（ステップＳ３
）。

そして学習部１８ａは、比較器１６の出力を監視し、媒
体有状態であることを確認すると（ステップＳ４）、比
較器１６の出力が媒体無状態となるまで基準電圧発生器
１７に対し基準電圧を上昇させるよう指令する（ステッ
プＳ５）。

比較器１６の出力が媒体無状態となると、学習部１８ａ
はこの時点の基準電圧に対しマージン電圧αをプラスし
た値をスライスレベルとして設定し、この値を不揮発性
メモリ１３に格納する（ステップＳ６）。

第５図はこのようなスライスレベル設定動作の説明図で
ある。

即ち、基準電圧発生器１７より先ず最低値の基準電圧■
１を比較器１６に供給する。この基準電圧Ｖ、は各検出
器１ｌ−１−１１−ｎの媒体無状態出力電圧より十分低
い値に設定されているため比較器１６は媒体有となる。

次いで基準電圧を上昇させ、比較器１６の出力が媒体熱
になった時点の基準電圧■２からその検出器１１−１〜
ｌｉｎの媒体無状態出力電圧を検出し、この電圧値にマ
ージン電圧αをプラスしてスライスレベルを設定するも
のである。

従って、各検出器１１−１〜１１−ｎの出力電圧にばら
つきがあっても、各検出器１ｌ−１−１１−ｎに対応し
た正確なスライスレベルが設定される。

また、検出器１１−１のスライスレベルを不揮発性メモ
リ１３に格納すると、学習部１８ａは検出器１１−２の
スライスレベル設定動作を行なうよう指令する（ステッ
プＳ７）。これにより、上記スライスレベル設定動作を
検出器１１−ｎまで行ない、全ての検出器１１−１〜１
１−ｎのスライスレベルを学習し、これらの値を不揮発
性メモリ１３に格納する。

次に、スライスレベルが学習された後の通常動作の場合
、ＣＰ０１８の設定部１８ｂは、今、媒体検出を行なお
うとする検出器１１−１〜１１−ｎを選択すべく選択器
１５に指令しくステップ５ｌｌ）、同時に、対応する検
出器のスライスレベルを不揮発性メモリ１３から読み出
しくステップＳ　１２）　、基準電圧発生器１７に設定
する（ステップ５１３）。

その後は、通常の媒体有無検出を行ない（ステップ５１
４）、媒体の有無によって処理Ａ（ステップ５１５）又
は処理Ｂ（ステップ８１６）を行なう。

尚、上記実施例ではスライスレベル設定装置をシリアル
プリンタに適用した場合について説明したが、これに限
定されるものではなく、複数の検出器１１−１〜ｌｌｎ
で媒体の有無を検出する装置であれば同様の効果を奏す
ることができる。

更に、複数の検出器１ｌ−１−１１−ｎによる媒体の検
出も、光学的検出だけでなく、磁気的な検出器等であっ
ても良い。

また、不揮発性メモリ１３はバッテリでバックアップさ
れたメモリに限らず、装置の主電源が遮断されても記憶
内容が保持できるものであれば同様に用いることができ
る。

（発明の効果） 以上説明した本発明のスライスレベル設定装置によれば
、複数の検出器のスライスレベルを各検出器毎に設定す
るようにしたので、媒体の有無検出を正確に行なうこと
ができ、しかも設定値を不揮発性メモリに格納するよう
にしたため、毎回学習する必要もなく、正確かつ速やか
な媒体の有無検出を行なうことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のスライスレベル設定装置の実施例を示
すブロック図、第２図は従来のスライスレベル設定装置
の回路図、第３図は本発明のスライスレベル設定装置の
具体的な実施例を示すブロック図、第４図は本発明のス
ライスレベル設定装置の動作を示すフローチャート、第
５図は本発明のスライスレベル設定装置のスライスレベ
ル設定動作の説明図である。 １１−１〜１１−ｎ・・・検出器、１２・・・学習手段
、１３・・・不揮発性メモリ、１４−・・設定手段。 特許出願人　沖電気工業株式会社

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 媒体検出の有無によってその出力レベルが変化する複数
   の検出器と、 媒体無状態における前記複数の検出器のそれぞれの出力
   レベルを検出し、これらの出力レベルに対応したスライ
   スレベルを設定する学習手段と、前記学習手段で設定さ
   れたそれぞれのスライスレベルを格納する不揮発性メモ
   リと、 前記学習手段でのスライスレベル設定後は、各々の検出
   器に対応するスライスレベルを前記不揮発性メモリより
   読み出して設定する設定手段とを設けたことを特徴とす
   るスライスレベル設定装置。