JPH0575802A - レーザ光出力制御装置 - Google Patents

レーザ光出力制御装置

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JPH0575802A
JPH0575802A JP3234790A JP23479091A JPH0575802A JP H0575802 A JPH0575802 A JP H0575802A JP 3234790 A JP3234790 A JP 3234790A JP 23479091 A JP23479091 A JP 23479091A JP H0575802 A JPH0575802 A JP H0575802A
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JP
Japan
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laser light
light source
current
monitor voltage
drive current
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Application number
JP3234790A
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English (en)
Inventor
Hajime Yamazaki
一 山崎
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 レーザ光源1の光出力が所定の光量になるた
めの駆動電流を流す電流規制データを不揮発性メモリ1
0に記憶し、レーザ光源1を所定の電流で点灯している
ときのモニタ電圧を測定手段9により測定する。 【効果】 劣化判定時モニタ電圧を測定するため、ダイ
オードチップに静電気を印加することがなく安定した劣
化判定作業が可能になった。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、複写機、プリンタ、フ
ァクシミリ等の画像形成装置に用いられるレーザ光の出
力制御装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】画像形成装置にレーザ光源、例えばレー
ザダイオードを用いるレーザ光源を使用する場合、画面
上での光量を安定にするため、例えばレーザ光出力を一
定に保つために自動出力制御回路(APC回路)が用い
られる。
【0003】従来のAPC回路では、図2に示すよう
に、レーザ光源1、例えばレーザダイオード(レーザチ
ップ)1aとフォトダイオード1bを有するレーザ光源
1の駆動側に駆動電流源2により駆動電流IOPが供給さ
れ、レーザチップ1aから発光し、そのバックビームを
フォトダイオード1bが受けてレーザ光源1のモニタ側
にモニタ電流IM を流す。レーザ光源1のモニタ側には
抵抗器3が接続され、その抵抗器3により分圧されたモ
ニタ電圧VM =VCC−RIM (R:抵抗器3の抵抗値)
と基準電源4による基準電圧Vrとがコンパレータ5に
入力され、コンパレータ5の出力が制御部6、例えばC
PUに入力される。
【0004】制御部6からの出力はD/Aコンバータ7
を介して駆動電流源2に入力され、その際、制御部6よ
りのデジタル値はD/Aコンバータ7によるD/A変換
後のアナログ出力によって駆動電流源を制御して駆動電
流IOPの大きさを増減制御する。
【0005】制御部6から或るデジタル値をD/Aコン
バータ7へ出力し、そのときのモニタ電圧がコンパレー
タ5により基準電圧と比較され、その比較値が制御部に
入力される。制御部6からのデジタル出力値を変え、コ
ンパレータ5がON、OFFするように(反転するよう
に)してレーザ光源1による発光量のパワーメータによ
る測定値が一定になるように制御する。
【0006】この制御は、レーザダイオード1aが温度
環境もしくはそれ自身の劣化によって一定電流時の光出
力が容易に変わってしまうことを防ぐために行う。
【0007】レーザダイオード1aは静電気に弱く劣化
しやすく、図3に示すように、劣化後は曲線Aに示すよ
うな特性となり、曲線Bに示すような劣化前の正常時に
比べ、駆動電流IOPに対する光出力Poの関係が変わっ
てしまう。
【0008】レーザダイオード1aはレーザビームプリ
ンタの製造工程において静電気が印加すると劣化してし
まい、製品として組み上がったときには画像に悪影響を
及ぼすおそれがある。そこで工程の或る段階でレーザダ
イオード1aが劣化していないか確認を行っている。
【0009】従来は同一温度環境の下で一定光出力のと
きの駆動電流の増加量が、組付工程の最初の段階と、そ
の後の段階とである値を超えているか否かにより劣化判
定をしていた。その際駆動電流の変化量をみるためにレ
ーザダイオード(レーザチップ)1aに直列に接続され
た抵抗8の両端の電圧を作業者がテスタ9で測定し監視
していた。
【0010】従来の方法では、作業者がテスタをあてる
ときに静電気が発生することは避けられない。したがっ
てその静電気がレーザチップ1aに印加する恐れがあ
る。レーザ光源1はレーザチップ1aの方は特に静電気
に弱く劣化しやすい。
【0011】従って従来はレーザダイオードの劣化判定
の際に劣化させるという問題がある。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記の従来
の問題点を解消し、簡単且つ確実に劣化判定ができ、判
定自体によりレーザダイオードを劣化させることのない
レーザ光出力制御装置を提供することを課題としてい
る。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の課題
を、レーザ光源の駆動側に接続される駆動電流源と、該
駆動電流源に接続されるD/Aコンバータを介して前記
駆動電流源の駆動電流を制御する制御部と、前記レーザ
光源のモニタ側の出力であるモニタ電圧と予め定めた基
準電圧とを入力し、比較データを前記制御部に出力する
コンパレータとを有するレーザ光出力制御装置におい
て、前記レーザ光源の光出力が所定の光量になる電流規
制データを記憶する不揮発性メモリと、前記レーザ光源
のモニタ電圧を測定する測定手段とを有し、前記記憶さ
れた電流規制データに応じて前記制御部は前記駆動電流
を制御し、前記レーザ光源が所定の電流で点灯している
ときのモニタ電圧を前記測定手段により測定可能である
ことを特徴とするレーザ光出力制御装置により解決し
た。
【0014】
【作用】本発明により、制御部は不揮発性メモリより記
憶されているデジタルデータ、すわなち最初に一定の光
出力でレーザダイオードを光らせたときの駆動電流に相
当するデジタルデータが読み出され、駆動電流源の駆動
電流を読み出されたデータに基づいて制御する。そのと
きの光出力に対応したモニタ電圧を、例えばモニタ側に
接続された抵抗の両端の電圧をモニタ電圧を測定する測
定手段により測定し記録し、劣化判定時には同一温度環
境下て不揮発性メモリに記憶されたデジタル値を出力
し、そのときのモニタ電圧を測定手段により読み取り、
モニタ電圧減少量を劣化判定基準とする。
【0015】
【実施例】本発明の詳細を図に示す実施例に基づいて説
明する。
【0016】図1において、レーザ光源1、例えばレー
ザダイオード(レーザチップ)1aとフォトダイオード
1bを有するレーザ光源1の駆動側に駆動電流源2によ
り駆動電流IOPが供給され、レーザダイオード1aから
発光し、そのバックビームをフォトダイオード1bが受
けてレーザ光源1のモニタ側にモニタ電流IM を流す。
レーザ光源1のモニタ側には抵抗器3が接続され、その
抵抗器3により分圧されたモニタ電圧VM =VCC−RI
M (R:抵抗器3の抵抗値)と基準電源4による基準電
圧Vrとがコンパレータ5に入力され、コンパレータ5
の出力が制御部6、例えばCPUに入力される。
【0017】制御部6からの出力はD/Aコンバータ7
を介して駆動電流源2に入力され、その際、制御部6よ
りのデジタル値はD/Aコンバータ7によるD/A変換
後のアナログ出力によって駆動電流源を制御して駆動電
流IOPの大きさを増減制御する。
【0018】制御部6より或るデジタル値としての制御
信号を出し、駆動電流源2を駆動し、レーザ光源1の駆
動側に駆動電流IOPを流す。この駆動電流によりレーザ
チップ1aが点灯し、その光出力に応じてフォトダイオ
ード1bに、即ちレーザ光源1のモニタ側にモニタ電流
M が流れる。
【0019】モニタ電流IM に基づいて抵抗3により分
圧されたモニタ電圧VM をコンパレータ2において基準
電圧Vrと比較し、比較結果を制御部6に入力し、コン
パレータ5が反転するようにD/Aコンバータ7への出
力値を変えてレーザ出力光が一定にされる。コンパレー
タ5の出力は必要に応じて不揮発性メモリ(RAM)1
0に記憶される。
【0020】劣化判定時には、同一温度環境の下で、レ
ーザ光源が一定光出力をするとき、駆動電流の増加量が
組付工程の最初の段階と、その後の段階とで或る値を超
えていないかをみる。
【0021】組付の最初の段階で、一定の光出力でレー
ザ光源1を光らせたときの駆動電流IOPに相当する、C
PUから出力されているデジタル値を不揮発性メモリ1
0に記憶させる。そのときの光出力に対応するモニタ電
圧VM に対するVCC−VM =(R・IM )を作業者がモ
ニタ側に設けた抵抗3の両側間の電圧をテスタ等の測定
手段9により読みとり記憶しておく。劣化判定時には同
一温度環境下において不揮発性メモリ10に記憶された
デジタル値を出力し、制御部6(CPU6)、D/Aコ
ンバータ7、駆動電流源2を経て最初の段階と同一の駆
動電流IOPを流し、そのときのモニタ電圧を測定手段9
により読みとり、モニタ電圧減少量により劣化判定を行
う。
【0022】
【発明の効果】本発明により、劣化判定時にはレーザ光
源の駆動側ではなくモニタ側の抵抗においてモニタ電圧
を測定するので、テスタ等の測定手段を抵抗に接続して
もレーザ光源を静電的に劣化する恐れはなくなった。本
発明により初期の駆動電流IOPをもとに判定動作を行う
ので、既設のCPU等をそのまま使用でき、コストの上
昇を抑制することができる。
【0023】一旦駆動電流をロックしてしまうと、制御
部つまりCPUはフリーになるので、従来の劣化判定の
ようにCPUを常に動作させる必要がなくなり、CPI
は拘束されず、他の作業を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るレーザ光出力制御装置の説明図で
ある。
【図2】従来のレーザ光出力制御装置の説明図である。
【図3】レーザ光源の劣化による光出力と駆動電源の関
係の変化を示す図である。
【符号の説明】
1 レーザ光源 1a レーザチップ 1b フォトダイオード 2 駆動電流源 3 抵抗 4 基準電圧源 5 コンパレータ 6 制御部 7 D/Aコンパレータ 8 抵抗 9 テスタ(測定手段) 10 不揮発性メモリ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザ光源の駆動側に接続される駆動電
    流源と、該駆動電流源に接続されるD/Aコンバータを
    介して前記駆動電流源の駆動電流を制御する制御部と、
    前記レーザ光源のモニタ側の出力であるモニタ電圧と予
    め定めた基準電圧とを入力し、比較データを前記制御部
    に出力するコンパレータとを有するレーザ光出力制御装
    置において、前記レーザ光源の光出力が所定の光量にな
    る電流規制データを記憶する不揮発性メモリと、前記レ
    ーザ光源のモニタ電圧を測定する測定手段とを有し、前
    記記憶された電流規制データに応じて前記制御部は前記
    駆動電流を制御し、前記レーザ光源が所定の電流で点灯
    しているときのモニタ電圧を前記測定手段により測定可
    能であることを特徴とするレーザ光出力制御装置。
  2. 【請求項2】 前記レーザ光源の光出力が所定光量にな
    るように前記駆動電流を調整する第1段階と、前記駆動
    電流の初期データを電流規制データとして前記不揮発性
    メモリに記憶させる第2段階とその電流規制データに応
    じて前記レーザ光源を駆動時のモニタ電圧を測定し出力
    する第3段階とを順次行うことを特徴とする請求項1に
    記載のレーザ光出力制御装置。
JP3234790A 1991-09-13 1991-09-13 レーザ光出力制御装置 Pending JPH0575802A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012016840A (ja) * 2010-07-06 2012-01-26 Ricoh Co Ltd 光学装置および光学装置の制御方法、ならびに、画像形成装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012016840A (ja) * 2010-07-06 2012-01-26 Ricoh Co Ltd 光学装置および光学装置の制御方法、ならびに、画像形成装置
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