JPH11274619A - レーザダイオード劣化検出装置 - Google Patents
レーザダイオード劣化検出装置Info
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- JPH11274619A JPH11274619A JP8957698A JP8957698A JPH11274619A JP H11274619 A JPH11274619 A JP H11274619A JP 8957698 A JP8957698 A JP 8957698A JP 8957698 A JP8957698 A JP 8957698A JP H11274619 A JPH11274619 A JP H11274619A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 レーザダイオードの劣化を簡単な回路で的確
に検出すること。 【解決手段】 コントローラ１がオートパワーコントロ
ール回路２に光出力制御指令ＬＯＣを出力し、レーザダ
イオードモデュール３のレーザダイオードＬＤの光出力
がＬＯＣに対応する値に制御される。モニタ電圧出力部
４は、レーザダイオードＬＤの駆動電流に比例したモニ
タ電圧を出力し、コンパレータＣＰが基準データ夏Ｖ0
と比較する。比較結果は、コントローラ１に出力され
る。初期状態で最大指令値ＬＯＣmax を出力させ、テス
タ６を使ってコンパレータＣＰの±入力端子間の電位差
を０ボルトに調整する。レーザダイオード劣化検出希望
時に検査プログラムを起動して劣化検出を実行する。プ
ログラムされている推移パターンに従ってＬＯＣを徐々
に増大させ、モニタ電圧が基準電圧を越えた時の指令値
ＬＯＣと最大指令値ＬＯＣmax の比から、劣化を評定す
る。
に検出すること。 【解決手段】 コントローラ１がオートパワーコントロ
ール回路２に光出力制御指令ＬＯＣを出力し、レーザダ
イオードモデュール３のレーザダイオードＬＤの光出力
がＬＯＣに対応する値に制御される。モニタ電圧出力部
４は、レーザダイオードＬＤの駆動電流に比例したモニ
タ電圧を出力し、コンパレータＣＰが基準データ夏Ｖ0
と比較する。比較結果は、コントローラ１に出力され
る。初期状態で最大指令値ＬＯＣmax を出力させ、テス
タ６を使ってコンパレータＣＰの±入力端子間の電位差
を０ボルトに調整する。レーザダイオード劣化検出希望
時に検査プログラムを起動して劣化検出を実行する。プ
ログラムされている推移パターンに従ってＬＯＣを徐々
に増大させ、モニタ電圧が基準電圧を越えた時の指令値
ＬＯＣと最大指令値ＬＯＣmax の比から、劣化を評定す
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はレーザダイオードの
劣化を検出する装置に関し、例えば各種のセンサ、情報
機器、音響・映像機器等において使用されているレーザ
ダイオードの劣化検出に用いることが出来る。
劣化を検出する装置に関し、例えば各種のセンサ、情報
機器、音響・映像機器等において使用されているレーザ
ダイオードの劣化検出に用いることが出来る。
【０００２】
【従来の技術】レーザダイオードは、小型のレーザ光源
として各種のセンサ、情報機器、音響・映像機器等に幅
広く使用されている。レーザダイオードは長寿命の光源
ではあるが、長期間に亙って使用すれば、劣化は避けら
れない。レーザダイオードが劣化して来ると、所定の光
出力を得るために必要な駆動電流が増大する。換言すれ
ば、レーザダイオードの劣化時には駆動電流を増大させ
なければ所定の光出力を維持出来なくなり、光出力の低
下を招く。
として各種のセンサ、情報機器、音響・映像機器等に幅
広く使用されている。レーザダイオードは長寿命の光源
ではあるが、長期間に亙って使用すれば、劣化は避けら
れない。レーザダイオードが劣化して来ると、所定の光
出力を得るために必要な駆動電流が増大する。換言すれ
ば、レーザダイオードの劣化時には駆動電流を増大させ
なければ所定の光出力を維持出来なくなり、光出力の低
下を招く。
【０００３】そこで、レーザダイオード劣化に伴う光出
力の低下を避けるために、レーザダイオードの光出力を
所定のレベルに保つように駆動電流を調整するオートパ
ワーコントロール回路を設けることが一般的となってい
る。そして、このオートパワーコントロール回路の利用
を前提に、レーザダイオードの駆動電流値を初期状態に
おける値と比較して増加量を求め、それに基づいてレー
ザダイオードの劣化検出を行なう手法が広く採用されて
いる。しかし、このような従来手法では、レーザダイオ
ードの駆動電流値を継続的に計測する必要があり、装置
構成を簡素化する上で有利とは言えない。
力の低下を避けるために、レーザダイオードの光出力を
所定のレベルに保つように駆動電流を調整するオートパ
ワーコントロール回路を設けることが一般的となってい
る。そして、このオートパワーコントロール回路の利用
を前提に、レーザダイオードの駆動電流値を初期状態に
おける値と比較して増加量を求め、それに基づいてレー
ザダイオードの劣化検出を行なう手法が広く採用されて
いる。しかし、このような従来手法では、レーザダイオ
ードの駆動電流値を継続的に計測する必要があり、装置
構成を簡素化する上で有利とは言えない。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、レーザダイ
オードの駆動電流を制御するオートパワーコントロール
回路に簡単な構成を付加するだけで的確にレーザダイオ
ードの劣化を検出することが出来るレーザダイオード劣
化検出装置を提供することにある。
オードの駆動電流を制御するオートパワーコントロール
回路に簡単な構成を付加するだけで的確にレーザダイオ
ードの劣化を検出することが出来るレーザダイオード劣
化検出装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明に係るレーザダイ
オード劣化検出装置は、制御部と、制御部からの制御指
令に基づいてレーザダイオードの光出力を制御出来る光
出力制御部と、レーザダイオードに流れる電流に対応し
たモニタ電圧を出力するモニタ電圧出力部と、モニタ電
圧と予め設定された基準電圧とを比較する比較部を備え
ている。
オード劣化検出装置は、制御部と、制御部からの制御指
令に基づいてレーザダイオードの光出力を制御出来る光
出力制御部と、レーザダイオードに流れる電流に対応し
たモニタ電圧を出力するモニタ電圧出力部と、モニタ電
圧と予め設定された基準電圧とを比較する比較部を備え
ている。
【０００６】そして、上記技術課題を解決するために、
制御部には、レーザダイオードに光出力変化を惹起させ
るように前記制御指令を出力する制御指令出力手段と、
光出力変化に伴う前記比較部の出力をチェックするチェ
ック手段と、光出力変化惹起時のチェック手段の出力と
の前記制御指令出力に基づいてレーザダイオードの劣化
を評定する劣化評定手段が設けられる。
制御部には、レーザダイオードに光出力変化を惹起させ
るように前記制御指令を出力する制御指令出力手段と、
光出力変化に伴う前記比較部の出力をチェックするチェ
ック手段と、光出力変化惹起時のチェック手段の出力と
の前記制御指令出力に基づいてレーザダイオードの劣化
を評定する劣化評定手段が設けられる。
【０００７】光出力変化の推移パターンは、予め制御部
内にプログラムされているいることが好ましい。典型的
な推移パターンを採用した形態に従えば、光出力変化が
相対的に低い光出力から相対的に高い光出力へ向かって
徐々に増大する推移で惹起されるように制御指令が制御
指令出力手段から出力される。そして、チェック手段
は、光出力変化の期間中に比較部の出力をチェックして
モニタ電圧が基準電圧を上回ったことを検出し、該検出
がなされた時点に対応する制御指令の大きさに基づいて
劣化評定手段がレーザダイオードの劣化を評定する。
内にプログラムされているいることが好ましい。典型的
な推移パターンを採用した形態に従えば、光出力変化が
相対的に低い光出力から相対的に高い光出力へ向かって
徐々に増大する推移で惹起されるように制御指令が制御
指令出力手段から出力される。そして、チェック手段
は、光出力変化の期間中に比較部の出力をチェックして
モニタ電圧が基準電圧を上回ったことを検出し、該検出
がなされた時点に対応する制御指令の大きさに基づいて
劣化評定手段がレーザダイオードの劣化を評定する。
【０００８】
【発明の実施の形態】図１は、本発明の実施形態に係る
レーザダイオード劣化検出装置を説明する全体構成図で
ある。同図において、符号１は制御部を構成するコント
ローラを表わしており、内部にＣＰＵ、メモリ、入出力
装置等を備えている。コントローラ１のメモリには、後
述するレーザダイオード劣化検出プログラムのデータが
格納されている。また、図示は省略したが、コントロー
ラ１には種々の外部装置として、ディスプレイ、プリン
タ、レーザダイオードを用いたセンサ等を含むシステム
全体のコントローラなどがアプリケーションに応じて接
続される。
レーザダイオード劣化検出装置を説明する全体構成図で
ある。同図において、符号１は制御部を構成するコント
ローラを表わしており、内部にＣＰＵ、メモリ、入出力
装置等を備えている。コントローラ１のメモリには、後
述するレーザダイオード劣化検出プログラムのデータが
格納されている。また、図示は省略したが、コントロー
ラ１には種々の外部装置として、ディスプレイ、プリン
タ、レーザダイオードを用いたセンサ等を含むシステム
全体のコントローラなどがアプリケーションに応じて接
続される。
【０００９】符号２は光出力制御部を構成するオートパ
ワーコントロール回路を表わしており、符号３は本実施
形態で劣化検出対象とされるレーザダイオードＬＤとそ
の光出力を検出するフォトダイオードＰＤを一体化した
レーザダイオードモデュールを表わしている。
ワーコントロール回路を表わしており、符号３は本実施
形態で劣化検出対象とされるレーザダイオードＬＤとそ
の光出力を検出するフォトダイオードＰＤを一体化した
レーザダイオードモデュールを表わしている。
【００１０】コントローラ１は、光出力制御指令ＬＯＣ
をオートパワーコントロール回路２に出力する。光出力
制御指令ＬＯＣは、レーザダイオードＬＤの光出力を制
御するための指令である。光出力制御指令ＬＯＣは、通
常運転時にはアプリケーションで要求される所定の光出
力を維持するための指令となり、レーザダイオードＬＤ
が急速に劣化する等の事態が発生しない限り、ほぼ一定
に保たれる。但し、後述するように、レーザダイオード
劣化検出プログラムが起動された場合には、該プログラ
ムの指定する推移パターンに従って、光出力制御指令Ｌ
ＯＣは短時間の間に変化する。
をオートパワーコントロール回路２に出力する。光出力
制御指令ＬＯＣは、レーザダイオードＬＤの光出力を制
御するための指令である。光出力制御指令ＬＯＣは、通
常運転時にはアプリケーションで要求される所定の光出
力を維持するための指令となり、レーザダイオードＬＤ
が急速に劣化する等の事態が発生しない限り、ほぼ一定
に保たれる。但し、後述するように、レーザダイオード
劣化検出プログラムが起動された場合には、該プログラ
ムの指定する推移パターンに従って、光出力制御指令Ｌ
ＯＣは短時間の間に変化する。
【００１１】レーザダイオードモデュール３のレーザダ
イオードＬＤとフォトダイオードＰＤには各々順方向及
び逆方向の直流バイアス（例えば、５Ｖ程度）がかけら
れており、通常運転時、レーザダイオード劣化検出プロ
グラム起動時のいずれにおいても、オートパワーコント
ロール回路２は、レーザダイオードＬＤの光出力を光出
力制御指令ＬＯＣで指定された値に一致させるようにレ
ーザダイオードＬＤに流れる電流（駆動電流）を制御す
る。なお、安全のために、駆動電流に上限を設けるため
のリミッタがオートパワーコントロール回路２に内蔵さ
れている。
イオードＬＤとフォトダイオードＰＤには各々順方向及
び逆方向の直流バイアス（例えば、５Ｖ程度）がかけら
れており、通常運転時、レーザダイオード劣化検出プロ
グラム起動時のいずれにおいても、オートパワーコント
ロール回路２は、レーザダイオードＬＤの光出力を光出
力制御指令ＬＯＣで指定された値に一致させるようにレ
ーザダイオードＬＤに流れる電流（駆動電流）を制御す
る。なお、安全のために、駆動電流に上限を設けるため
のリミッタがオートパワーコントロール回路２に内蔵さ
れている。
【００１２】符号４は、レーザダイオードＬＤに流れる
電流をモニタし、モニタ電圧として出力するために設け
られたモニタ電圧出力部４を表わしている。モニタ電圧
出力部４は、固定抵抗Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４及びオペアンプ
（演算増幅器）ＯＡを有している。固定抵抗Ｒ２、Ｒ３
の一端は、レーザダイオードＬＤの駆動電流に比例した
電圧がかかる固定抵抗Ｒ１の両端に接続され、各他端は
オペアンプ（演算増幅器）ＯＡの±各入力端子に接続さ
れている。
電流をモニタし、モニタ電圧として出力するために設け
られたモニタ電圧出力部４を表わしている。モニタ電圧
出力部４は、固定抵抗Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４及びオペアンプ
（演算増幅器）ＯＡを有している。固定抵抗Ｒ２、Ｒ３
の一端は、レーザダイオードＬＤの駆動電流に比例した
電圧がかかる固定抵抗Ｒ１の両端に接続され、各他端は
オペアンプ（演算増幅器）ＯＡの±各入力端子に接続さ
れている。
【００１３】オペアンプＯＡの反転側の入力端子には、
他端を接地した固定抵抗Ｒ４が更に接続される。このよ
うな回路構成により、レーザダイオードＬＤの駆動電流
は、オペアンプＯＡの出力端子にモニタ電圧に変換され
て出力される。このモニタ電圧は、レーザダイオードＬ
Ｄの駆動電流にほぼ比例する。
他端を接地した固定抵抗Ｒ４が更に接続される。このよ
うな回路構成により、レーザダイオードＬＤの駆動電流
は、オペアンプＯＡの出力端子にモニタ電圧に変換され
て出力される。このモニタ電圧は、レーザダイオードＬ
Ｄの駆動電流にほぼ比例する。
【００１４】モニタ電圧出力部４から出力されたモニタ
電圧は、比較部５で基準電圧と比較される。比較部５
は、コンパレータ（差動増幅器）ＣＰを備え、＋入力端
子にモニタ電圧が入力される一方、−入力端子には基準
電圧Ｖ0 が印加される。この基準電圧Ｖ0 は、適当な直
流電源に接続された可変抵抗ＶＲの抵抗値を調整するこ
とにより、調整可能となっている。なお、符号６は次に
述べるチューニンングの際に利用される補助ツールで、
チューニンング時にコンパレータ（差動増幅器）ＣＰの
±入力端子間の電位差を測定するために用いられる。
電圧は、比較部５で基準電圧と比較される。比較部５
は、コンパレータ（差動増幅器）ＣＰを備え、＋入力端
子にモニタ電圧が入力される一方、−入力端子には基準
電圧Ｖ0 が印加される。この基準電圧Ｖ0 は、適当な直
流電源に接続された可変抵抗ＶＲの抵抗値を調整するこ
とにより、調整可能となっている。なお、符号６は次に
述べるチューニンングの際に利用される補助ツールで、
チューニンング時にコンパレータ（差動増幅器）ＣＰの
±入力端子間の電位差を測定するために用いられる。
【００１５】次に、レーザダイオード劣化検出装置の作
動形態を説明する。ここでは、一例として、レーザダイ
オードＬＤの定格上の最大光出力をＬmax として、その
ａ％（例；ａ＝８０）以上の光出力が得られなくなった
場合に、これをレーザダイオードＬＤの劣化とみなすよ
うな劣化評定を行なうケースについて説明する。
動形態を説明する。ここでは、一例として、レーザダイ
オードＬＤの定格上の最大光出力をＬmax として、その
ａ％（例；ａ＝８０）以上の光出力が得られなくなった
場合に、これをレーザダイオードＬＤの劣化とみなすよ
うな劣化評定を行なうケースについて説明する。
【００１６】（１）チューニング（基準電圧Ｖ0 の設
定）；初期状態（レーザダイオードＬＤに劣化がないと
みなせる状態。通常は、そのレーザダイオードＬＤを初
めて使用する時）において、コントローラ１から最大の
指令値ＬＯＣmax を出力させる。これにより、レーザダ
イオードＬＤは定格上の最大光出力にほぼ等しい光出力
で発光する。そして、この状態における駆動電流に比例
したモニタ電圧がモニタ電圧出力部４から出力され、コ
ンパレータＣＰの＋入力端子に入力される。
定）；初期状態（レーザダイオードＬＤに劣化がないと
みなせる状態。通常は、そのレーザダイオードＬＤを初
めて使用する時）において、コントローラ１から最大の
指令値ＬＯＣmax を出力させる。これにより、レーザダ
イオードＬＤは定格上の最大光出力にほぼ等しい光出力
で発光する。そして、この状態における駆動電流に比例
したモニタ電圧がモニタ電圧出力部４から出力され、コ
ンパレータＣＰの＋入力端子に入力される。
【００１７】ここで、図１に示したように、テスタ６で
コンパレータＣＰの±入力端子間の電位差を測定しなが
ら、可変抵抗ＶＲの抵抗値を調整する。調整はコンパレ
ータＣＰの±入力端子間の電位差が０ボルトとなるよう
に行なう。以上でチューニングは完了する。
コンパレータＣＰの±入力端子間の電位差を測定しなが
ら、可変抵抗ＶＲの抵抗値を調整する。調整はコンパレ
ータＣＰの±入力端子間の電位差が０ボルトとなるよう
に行なう。以上でチューニングは完了する。
【００１８】（２）レーザダイオード劣化検出プログラ
ムによる劣化検出の実行；被検査対象とされるレーザダ
イオードＬＤについて、レーザダイオード劣化検出プロ
グラムによる劣化検出を実行する。ここで、被検査対象
とされるレーザダイオードＬＤは、使用履歴不明で良い
が、チューニング時のレーザダイオードＬＤと定格が同
じとみなせるものである必要はある。典型的には、チュ
ーニング時のレーザダイオードＬＤと同一アイテムであ
る（そのアイテムの新品状態時にチューニングを行なっ
た場合）。
ムによる劣化検出の実行；被検査対象とされるレーザダ
イオードＬＤについて、レーザダイオード劣化検出プロ
グラムによる劣化検出を実行する。ここで、被検査対象
とされるレーザダイオードＬＤは、使用履歴不明で良い
が、チューニング時のレーザダイオードＬＤと定格が同
じとみなせるものである必要はある。典型的には、チュ
ーニング時のレーザダイオードＬＤと同一アイテムであ
る（そのアイテムの新品状態時にチューニングを行なっ
た場合）。
【００１９】レーザダイオード劣化検出プログラムによ
る処理は、コントローラ１内で行なわれる。図２は、そ
の処理の概要を示したフローチャートである。各ステッ
プの要点は次の通りである。
る処理は、コントローラ１内で行なわれる。図２は、そ
の処理の概要を示したフローチャートである。各ステッ
プの要点は次の通りである。
【００２０】ステップＳ１：レーザダイオードＬＤの光
出力を最小にするような最小指令値ＬＯＣmin （０でな
い適当な設定値）をコントローラ１から出力させる。
出力を最小にするような最小指令値ＬＯＣmin （０でな
い適当な設定値）をコントローラ１から出力させる。
【００２１】ステップＳ２：コンパレータ５の出力ｃを
取り込む。
取り込む。
【００２２】ステップＳ３：コンパレータ５の出力ｃに
より、モニタ電圧の出力値Ｖmoniと基準電圧Ｖ0 の大小
比較を行なう。Ｖmoni＞Ｖ0 であれば、その時点におけ
る光出力を得るためにレーザダイオードＬＤに流れてい
る駆動電流が基準駆動電流を越えていることを表わして
いる。また、Ｖmoni≦Ｖ0 であればそうでないことを表
わしている。前者（Ｖmoni＞Ｖ0 ）の場合はステップＳ
６へ、後者（Ｖmoni≦Ｖ0 ）の場合はステップＳ４へ進
む。
より、モニタ電圧の出力値Ｖmoniと基準電圧Ｖ0 の大小
比較を行なう。Ｖmoni＞Ｖ0 であれば、その時点におけ
る光出力を得るためにレーザダイオードＬＤに流れてい
る駆動電流が基準駆動電流を越えていることを表わして
いる。また、Ｖmoni≦Ｖ0 であればそうでないことを表
わしている。前者（Ｖmoni＞Ｖ0 ）の場合はステップＳ
６へ、後者（Ｖmoni≦Ｖ0 ）の場合はステップＳ４へ進
む。
【００２３】ステップＳ４：コントローラ１から出力さ
せる指令値ＬＯＣを予め設定された１ランク分Δだけア
ップする。なお、１ランク分のアップ量Δは、適当な値
を予め設定しておく。例えば、Δ＝（ＬＯＣmax −ＬＯ
Ｃmin ）／２０とすれば、２０段階での光出力変化の惹
起がプログラムされる。
せる指令値ＬＯＣを予め設定された１ランク分Δだけア
ップする。なお、１ランク分のアップ量Δは、適当な値
を予め設定しておく。例えば、Δ＝（ＬＯＣmax −ＬＯ
Ｃmin ）／２０とすれば、２０段階での光出力変化の惹
起がプログラムされる。
【００２４】ステップＳ５：その時点における指令値Ｌ
ＯＣが最大指令値ＬＯＣmax であるかチェックし、イエ
スであればステップＳ８へ進み、ノーであればステップ
Ｓ２へ戻る。
ＯＣが最大指令値ＬＯＣmax であるかチェックし、イエ
スであればステップＳ８へ進み、ノーであればステップ
Ｓ２へ戻る。
【００２５】ステップＳ６：その時点における指令値Ｌ
ＯＣを記憶する。
ＯＣを記憶する。
【００２６】ステップＳ７：記憶された指令値ＬＯＣの
値ＬＯＣmemoについて、ＬＯＣmemo＞ＬＯＣmax ×（ａ
／１００）であるか否かを判断し、イエスであればステ
ップＳ８へ進み、ノーであればステップＳ９へ進む。
値ＬＯＣmemoについて、ＬＯＣmemo＞ＬＯＣmax ×（ａ
／１００）であるか否かを判断し、イエスであればステ
ップＳ８へ進み、ノーであればステップＳ９へ進む。
【００２７】ステップＳ８：レーザダイオードＬＤは、
劣化していないと評定する。評定結果は、必要に応じて
ディスプレイ等の外部装置へ出力する。なお、ＬＯＣme
moとＬＯＣmax の比を計算して記憶あるいは出力すれ
ば、劣化に至るまでどの程度の余裕があるかの判断指標
として利用出来る。
劣化していないと評定する。評定結果は、必要に応じて
ディスプレイ等の外部装置へ出力する。なお、ＬＯＣme
moとＬＯＣmax の比を計算して記憶あるいは出力すれ
ば、劣化に至るまでどの程度の余裕があるかの判断指標
として利用出来る。
【００２８】例えば、ＬＯＣmemo／ＬＯＣmax がａ／１
００に極めて近ければ、劣化が間近に迫っていることが
判る。
００に極めて近ければ、劣化が間近に迫っていることが
判る。
【００２９】ステップＳ９：レーザダイオードＬＤは、
劣化していると評定する。評定結果は、必要に応じてデ
ィスプレイ等の外部装置へ出力する。
劣化していると評定する。評定結果は、必要に応じてデ
ィスプレイ等の外部装置へ出力する。
【００３０】なお、ここでは光出力変化の推移パターン
として、最小値から最大値へ段階的に変化するものを採
用したが、他の推移パターン（例えば、最大値から最小
値へ段階的に変化するもの）を採用しても良い。
として、最小値から最大値へ段階的に変化するものを採
用したが、他の推移パターン（例えば、最大値から最小
値へ段階的に変化するもの）を採用しても良い。
【００３１】
【発明の効果】本発明によれば、レーザダイオードの駆
動電流を制御するオートパワーコントロール回路に簡単
な構成を付加するだけで的確にレーザダイオードの劣化
を検出することが出来る。
動電流を制御するオートパワーコントロール回路に簡単
な構成を付加するだけで的確にレーザダイオードの劣化
を検出することが出来る。
【図１】本発明の実施形態に係るレーザダイオード劣化
検出装置を説明する全体構成図である。
検出装置を説明する全体構成図である。
【図２】レーザダイオードの劣化検出プログラムの処理
を説明するフローチャートである。
を説明するフローチャートである。
１ コントローラ（制御部） ２ オートパワーコントロール回路（光出力制御部） ３ レーザダイオードモデュール ４ モニタ電圧出力部 ５ コンパレータ（比較部） ６ テスタ ＣＰ オペアンプ ＣＰ コンパレータ ＬＤ レーザダイオード ＰＤ フォトダイオード Ｒ１〜Ｒ５ 固定抵抗 ＶＲ 可変抵抗
Claims (3)
- 【請求項１】 制御部と、前記制御部からの制御指令に
基づいてレーザダイオードの光出力を制御出来る光出力
制御部と、前記レーザダイオードに流れる電流に対応し
たモニタ電圧を出力するモニタ電圧出力部と、前記モニ
タ電圧と予め設定された基準電圧とを比較する比較部を
備えたレーザダイオード劣化検出装置であって、 前記制御部は、前記レーザダイオードに光出力変化を惹
起させるように前記制御指令を出力する制御指令出力手
段と、 前記光出力変化に伴う前記比較部の出力をチェックする
チェック手段と、 前記光出力変化惹起時の前記チェック手段の出力及び前
記光出力変化惹起時の前記制御指令出力に基づいて、前
記レーザダイオードの劣化を評定する劣化評定手段を有
している、前記レーザダイオード劣化検出装置。 - 【請求項２】 前記光出力変化の推移パターンが予め前
記制御部内にプログラムされている、請求項１に記載さ
れたレーザダイオード劣化検出装置。 - 【請求項３】 前記光出力変化が相対的に低い光出力か
ら相対的に高い光出力へ向かって徐々に増大する推移で
惹起されるように前記制御指令が前記制御指令出力手段
から出力され、 前記チェック手段は、前記光出力変化の期間中に前記比
較部の出力をチェックして前記モニタ電圧が前記基準電
圧を上回ったことを検出し、 該検出がなされた時点に対応する前記制御指令の大きさ
に基づいて前記劣化評定手段が前記レーザダイオードの
劣化を評定する、請求項１または請求項２に記載された
レーザダイオード劣化検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8957698A JPH11274619A (ja) | 1998-03-19 | 1998-03-19 | レーザダイオード劣化検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8957698A JPH11274619A (ja) | 1998-03-19 | 1998-03-19 | レーザダイオード劣化検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11274619A true JPH11274619A (ja) | 1999-10-08 |
Family
ID=13974636
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8957698A Withdrawn JPH11274619A (ja) | 1998-03-19 | 1998-03-19 | レーザダイオード劣化検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11274619A (ja) |
-
1998
- 1998-03-19 JP JP8957698A patent/JPH11274619A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
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