JPH0482036A - 光ディスクの製造方法および該製造方法に用いる製造装置 - Google Patents
光ディスクの製造方法および該製造方法に用いる製造装置Info
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- JPH0482036A JPH0482036A JP19836090A JP19836090A JPH0482036A JP H0482036 A JPH0482036 A JP H0482036A JP 19836090 A JP19836090 A JP 19836090A JP 19836090 A JP19836090 A JP 19836090A JP H0482036 A JPH0482036 A JP H0482036A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
光ディスクの製造方法に関し、
レジスト液塗布、および該レジスト膜の露光、現像工程
や、該レジスト膜上に金属膜をメツキするメツキ工程を
不要とし、工程数を短縮して容易に短時間にスタンパが
形成できるような光ディスクの製造方法を目的とし、 基板上に光ビームの照射により結晶相が変化する金属膜
を被着した後、 該金属膜に光ビームを所定のパターンで選択的に照射し
、該金属膜をエツチングして該金属膜に所定の凹凸パタ
ーンを設けて原盤を形成し、該原盤上に光硬化型樹脂を
介して透明基板を設置し、前記原盤表面の金属膜の凹凸
パターンを前記光硬化型樹脂に転写した後、前記透明基
板側より光を照射して前記光硬化型樹脂を硬化し、〔産
業上の利用分野] 本発明は光ディスクの製造方法に関する。
や、該レジスト膜上に金属膜をメツキするメツキ工程を
不要とし、工程数を短縮して容易に短時間にスタンパが
形成できるような光ディスクの製造方法を目的とし、 基板上に光ビームの照射により結晶相が変化する金属膜
を被着した後、 該金属膜に光ビームを所定のパターンで選択的に照射し
、該金属膜をエツチングして該金属膜に所定の凹凸パタ
ーンを設けて原盤を形成し、該原盤上に光硬化型樹脂を
介して透明基板を設置し、前記原盤表面の金属膜の凹凸
パターンを前記光硬化型樹脂に転写した後、前記透明基
板側より光を照射して前記光硬化型樹脂を硬化し、〔産
業上の利用分野] 本発明は光ディスクの製造方法に関する。
円形状の透明基板の表面に情報を記録した凹凸パターン
を有する透明プラスチック層を形成し、その上に光反射
層を設けてCD、 CD−ROM等の光ディスクが形成
されている。
を有する透明プラスチック層を形成し、その上に光反射
層を設けてCD、 CD−ROM等の光ディスクが形成
されている。
従来、このような光ディスクを形成するには、第4図(
a)に示すように透明なガラス円板1上にレジスト膜2
を塗布し、この上にレーザ光を選択的に所定のパターン
で照射して信号を記録した後、露光現像してレジスト膜
の表面に凹凸パターンを形成して記録情報とする。
a)に示すように透明なガラス円板1上にレジスト膜2
を塗布し、この上にレーザ光を選択的に所定のパターン
で照射して信号を記録した後、露光現像してレジスト膜
の表面に凹凸パターンを形成して記録情報とする。
次いでこの凹凸状のパターンを有するレジスト膜上にニ
ンケル(N])、或いはコバルト(CO)等の金属薄膜
3を蒸着して、この薄膜を電極としてNiの金属電解メ
ツキ層を形成し、このメツキ層を剥がしてスタンバとす
る。そしてこのスタンパを射出成形機の金型に設置する
。
ンケル(N])、或いはコバルト(CO)等の金属薄膜
3を蒸着して、この薄膜を電極としてNiの金属電解メ
ツキ層を形成し、このメツキ層を剥がしてスタンバとす
る。そしてこのスタンパを射出成形機の金型に設置する
。
そして第4図ら)に示すように、前記した金型に?容融
したポリカーボネイトのようなプラスチック樹脂4を射
出して円板状の形状とすると共に、スタンバの表面の凹
凸情報を転写する。
したポリカーボネイトのようなプラスチック樹脂4を射
出して円板状の形状とすると共に、スタンバの表面の凹
凸情報を転写する。
そしてこのプラスチック樹脂の表面にアルミニウム(A
f)、或いは金(Au)等の光反射膜5を蒸着、或いは
スパッタ法で形成する。そしてこの上にレジスト膜のよ
うな紫外線硬化型樹脂を保護膜6として塗布した後、硬
化して光ディスクを形成している。
f)、或いは金(Au)等の光反射膜5を蒸着、或いは
スパッタ法で形成する。そしてこの上にレジスト膜のよ
うな紫外線硬化型樹脂を保護膜6として塗布した後、硬
化して光ディスクを形成している。
然し、上記した従来の方法では、スタンパを形成するの
にレジスト液の塗布、塗布したレジスト膜の露光および
現像工程、またレジスト膜上の金属の蒸着、およびメツ
キ工程等多数の製造工程を必要とし、上記スタンバの製
造に長時間を要し、またレジスト液の管理、或いはメツ
キ液の濃度管理等、煩雑な管理作業を必要とする等の問
題がある。
にレジスト液の塗布、塗布したレジスト膜の露光および
現像工程、またレジスト膜上の金属の蒸着、およびメツ
キ工程等多数の製造工程を必要とし、上記スタンバの製
造に長時間を要し、またレジスト液の管理、或いはメツ
キ液の濃度管理等、煩雑な管理作業を必要とする等の問
題がある。
本発明は上記した問題点を解決し、前記レジスト液の塗
布、露光、現像工程、或いは蒸着、或いはメツキ工程等
の煩雑な工程を除去し、簡単な工程で容易に短時間に光
ディスクが得られるような光ディスクの製造方法を目的
とする。
布、露光、現像工程、或いは蒸着、或いはメツキ工程等
の煩雑な工程を除去し、簡単な工程で容易に短時間に光
ディスクが得られるような光ディスクの製造方法を目的
とする。
上記目的を達成する本発明の光ディスクの製造方法は、
基板上に光ビームの照射により結晶相が変化する金属膜
を被着した後、 該金属膜に光ビームを所定のパターンで選択的に照射し
、該金属膜をエツチングして該金属膜に所定の凹凸パタ
ーンを設けて原盤を形成し、該原盤上に光硬化型樹脂を
介して透明基板を設置し、前記原盤表面の金属膜の凹凸
パターンを前記光硬化型樹脂に転写した後、前記透明基
板側より光を照射して前記光硬化型樹脂を硬化し、該硬
化した樹脂上に光反射膜を被着形成する。
基板上に光ビームの照射により結晶相が変化する金属膜
を被着した後、 該金属膜に光ビームを所定のパターンで選択的に照射し
、該金属膜をエツチングして該金属膜に所定の凹凸パタ
ーンを設けて原盤を形成し、該原盤上に光硬化型樹脂を
介して透明基板を設置し、前記原盤表面の金属膜の凹凸
パターンを前記光硬化型樹脂に転写した後、前記透明基
板側より光を照射して前記光硬化型樹脂を硬化し、該硬
化した樹脂上に光反射膜を被着形成する。
また前記透明基板を金属膜の凹凸パターンを転写する材
料と同一材料の紫外線硬化型樹脂とする。
料と同一材料の紫外線硬化型樹脂とする。
更には前記光硬化型樹脂上に形成された光反射膜上に更
に紫外線硬化型樹脂層を形成して保護膜とする。
に紫外線硬化型樹脂層を形成して保護膜とする。
また上記光デイクスの製造方法に用いる製造装置は、基
板処理容器内に上記光ディスクの製造方法の諸工程を実
施する手段を一括して配置し、前記基板をスピンドル上
に設置した状態で、前記基板に上記諸工程を連続して処
理可能とする。
板処理容器内に上記光ディスクの製造方法の諸工程を実
施する手段を一括して配置し、前記基板をスピンドル上
に設置した状態で、前記基板に上記諸工程を連続して処
理可能とする。
更に上記光ディスクの製造方法に用いる製造装置は、上
記基板を真空状態で処理する手段を備えた真空容器と、
該真空容器に隣接して上記基板を非真空状態で処理する
手段を備えた非真空容器とを設け、該容器間を基板が移
送可能とする。
記基板を真空状態で処理する手段を備えた真空容器と、
該真空容器に隣接して上記基板を非真空状態で処理する
手段を備えた非真空容器とを設け、該容器間を基板が移
送可能とする。
インジウム(In)とアンチモン(Sb)より成るイン
ジウム・アンチモン(InSb)の合金薄膜はsbの割
合が55〜65原子%となると、レーザ光を選択的に照
射して加熱すると、加熱領域が閃亜鉛鉱型結晶構造の結
晶相に変化する。そしてアルゴン(Ar)等のガスによ
るスパッタエツチングによってエツチングすると、レー
ザ光を照射しない領域よりもエツチングされる速度が低
下して、エツチングされ難くなる。
ジウム・アンチモン(InSb)の合金薄膜はsbの割
合が55〜65原子%となると、レーザ光を選択的に照
射して加熱すると、加熱領域が閃亜鉛鉱型結晶構造の結
晶相に変化する。そしてアルゴン(Ar)等のガスによ
るスパッタエツチングによってエツチングすると、レー
ザ光を照射しない領域よりもエツチングされる速度が低
下して、エツチングされ難くなる。
このようにInとsbが所定の原子%で合金化した薄膜
は加熱により選択的に結晶相が変化する。
は加熱により選択的に結晶相が変化する。
このことを利用して、透明ガラス円板よりなる基板上に
前記InSbの合金薄膜よりなる金属膜を形成し、これ
に選択的にレーザ光を照射してスバ、。
前記InSbの合金薄膜よりなる金属膜を形成し、これ
に選択的にレーザ光を照射してスバ、。
タエッチングすると凹凸形状を有する金属膜のパターン
が形成できる。
が形成できる。
この凹凸パターンが形成された金属膜上に紫外線硬化型
樹脂を介して透明基板を設置し、この透明基板側より紫
外線を照射することで凹凸形状を有する光硬化樹脂膜が
得られ、その上にArやAuの光反射膜および紫外線硬
化型樹脂のレジスト膜を保護膜として塗布すると、煩雑
なレジスト液の管理や、レジスト膜上に金属膜をメツキ
するような煩雑な工程を採らずに光ディスクが短時間に
容易に形成できる。
樹脂を介して透明基板を設置し、この透明基板側より紫
外線を照射することで凹凸形状を有する光硬化樹脂膜が
得られ、その上にArやAuの光反射膜および紫外線硬
化型樹脂のレジスト膜を保護膜として塗布すると、煩雑
なレジスト液の管理や、レジスト膜上に金属膜をメツキ
するような煩雑な工程を採らずに光ディスクが短時間に
容易に形成できる。
また本発明の方法によれば、高価で大設置面積を必要と
する射出成形機を用いずに、あらかじめ平坦な表面を有
する透明プラスチック円板を準備しておき、これを紫外
線硬化型樹脂を介して、前記形成されたInSb合金薄
膜よりなる金属スタンバに押し当てて、透明プラスチッ
ク円板側より紫外線を照射することでスタンバの金属膜
表面の凹凸情報を上記紫外線硬化型樹脂に転写すること
ができる。
する射出成形機を用いずに、あらかじめ平坦な表面を有
する透明プラスチック円板を準備しておき、これを紫外
線硬化型樹脂を介して、前記形成されたInSb合金薄
膜よりなる金属スタンバに押し当てて、透明プラスチッ
ク円板側より紫外線を照射することでスタンバの金属膜
表面の凹凸情報を上記紫外線硬化型樹脂に転写すること
ができる。
以下、図面を用いて本発明の実施例につき詳細に説明す
る。
る。
第1図(a)に示すように、外径が130mmで、厚さ
が1 、2+n+Ilのガラス円板より成る基板11に
Inが35、sbが65原子%のInSbの合金薄膜よ
り成る金属膜12を110nmの厚さにスパッタ法を用
いて被着形成する。
が1 、2+n+Ilのガラス円板より成る基板11に
Inが35、sbが65原子%のInSbの合金薄膜よ
り成る金属膜12を110nmの厚さにスパッタ法を用
いて被着形成する。
次いでこのガラス円板より成る基板11を、周速1.4
m/secで回転し、半導体レーザ光源13より波長が
780nmのレーザ光をレンズ14で絞って照射し、C
Dフォーマットの信号でレーザビーム15を強度変調し
、InSbの合金薄膜より成る金属膜12に照射した。
m/secで回転し、半導体レーザ光源13より波長が
780nmのレーザ光をレンズ14で絞って照射し、C
Dフォーマットの信号でレーザビーム15を強度変調し
、InSbの合金薄膜より成る金属膜12に照射した。
この半導体レーザ光源の照射電力は、ディスクのガラス
円板よりなる基板表面で8m!Iで有り、このディスク
のガラス円板よりなる基板表面には塵が付着しないよう
にカバーガラス16が取りつけられている。このカバー
ガラスはInSbの合金薄膜より成る金属膜の表面に接
触しても良く、或いは空隙を設けて直接接触しないよう
にしても良い。
円板よりなる基板表面で8m!Iで有り、このディスク
のガラス円板よりなる基板表面には塵が付着しないよう
にカバーガラス16が取りつけられている。このカバー
ガラスはInSbの合金薄膜より成る金属膜の表面に接
触しても良く、或いは空隙を設けて直接接触しないよう
にしても良い。
後者のようにすると記録時のレーザ光源の電力は小さく
て済む。
て済む。
その後、第1図〔1〕)に示すようにカバーガラスを除
去し、スパッタエンチング容器17内にガラス円板より
成る基板11を基板設置台のスピンドル35上に設置す
る。
去し、スパッタエンチング容器17内にガラス円板より
成る基板11を基板設置台のスピンドル35上に設置す
る。
そして該基板と該基板に対可するステンレス、或いは銅
の対向電極18との間で高電圧を印加して放電を起こさ
せ、該容器内に導入したArガスより成るエツチングガ
スをプラズマ状としてInSbの合金薄膜より成る金属
膜12に衝突させる。
の対向電極18との間で高電圧を印加して放電を起こさ
せ、該容器内に導入したArガスより成るエツチングガ
スをプラズマ状としてInSbの合金薄膜より成る金属
膜12に衝突させる。
このスパッタエツチングに用いるエンチングガスはAr
ガスを用いたが、Arガスにヘリウム(l(e )ガス
、或いはネオン(Ne)ガスを添加しても、多少エツチ
ング効率が変化するのみで支障は無い。
ガスを用いたが、Arガスにヘリウム(l(e )ガス
、或いはネオン(Ne)ガスを添加しても、多少エツチ
ング効率が変化するのみで支障は無い。
そしてArガスのガス圧を3mmtorr 、スパッタ
電力が200−で約60secエツチングしたところ、
第1図(C)に示すように基板11上のInSbの合金
薄膜より成る金属膜12の表面が凹凸形状となった。
電力が200−で約60secエツチングしたところ、
第1図(C)に示すように基板11上のInSbの合金
薄膜より成る金属膜12の表面が凹凸形状となった。
これはInSbの合金薄膜にレーザ光を照射することで
、該合金薄膜の結晶構造が変化し、そのレーザ光の照射
領域のエツチング速度が低下したため、レーザ光を照射
した部分と照射しなかった部分とでエツチング速度に差
を生し、凹凸ができたものと考えられる。
、該合金薄膜の結晶構造が変化し、そのレーザ光の照射
領域のエツチング速度が低下したため、レーザ光を照射
した部分と照射しなかった部分とでエツチング速度に差
を生し、凹凸ができたものと考えられる。
レーザ光を照射していない部分のInSb合金薄膜を完
全にエンチングした後、この円板状の基板をスパッタエ
ツチング容器より取り出し、図示しないが転写装置に設
置し、この装置内で上記合金薄膜より成る金属膜12の
凹凸形状を転写する。
全にエンチングした後、この円板状の基板をスパッタエ
ツチング容器より取り出し、図示しないが転写装置に設
置し、この装置内で上記合金薄膜より成る金属膜12の
凹凸形状を転写する。
そして上記金属膜12と円板状のガラスの基板11とで
原盤11Aを形成する。
原盤11Aを形成する。
この転写装置に於いて、第1図FC)に示すよう乙こ表
面が平坦な透明なポリメチルメタアクリレイト(PMM
A)の円板状の透明基板19を別途準備する。この円板
状の透明基板は外径が120mmで、厚さが1.2 a
nで表面には接着強化剤(東亜合成化学社製、商品名、
UV3514)が塗布されてプライマー処理の下塗り処
理が施されている。
面が平坦な透明なポリメチルメタアクリレイト(PMM
A)の円板状の透明基板19を別途準備する。この円板
状の透明基板は外径が120mmで、厚さが1.2 a
nで表面には接着強化剤(東亜合成化学社製、商品名、
UV3514)が塗布されてプライマー処理の下塗り処
理が施されている。
この円板状の透明基板19を、前記凹凸が形成された合
金薄膜よりなる金属膜12を有する相変化媒体付の円板
状のガラスの基板11に、紫外線で硬化する光硬化型樹
脂(三菱油化社製、商品名;5A1002)21を介し
て接着する。
金薄膜よりなる金属膜12を有する相変化媒体付の円板
状のガラスの基板11に、紫外線で硬化する光硬化型樹
脂(三菱油化社製、商品名;5A1002)21を介し
て接着する。
そして透明基板19側より矢印に示すように紫外線を照
射して、紫外線で硬化する光硬化型樹脂21を硬化させ
る。そして上記PMMAよりなる透明基板19を、合金
薄膜より成る金属膜から剥離して金属膜12の凹凸が転
写された光硬化型樹脂21を透明基板19側に形成する
。
射して、紫外線で硬化する光硬化型樹脂21を硬化させ
る。そして上記PMMAよりなる透明基板19を、合金
薄膜より成る金属膜から剥離して金属膜12の凹凸が転
写された光硬化型樹脂21を透明基板19側に形成する
。
更にこの透明基板を金(Au)のスパッタ装置(図示せ
ず)内に設置し、第1図(d)に示すように50nmO
Au層より成る光反射膜22を形成し、次いで最後に紫
外線で硬化する光硬化型樹脂を塗布して保護膜23を形
成して光ディスクを形成する。
ず)内に設置し、第1図(d)に示すように50nmO
Au層より成る光反射膜22を形成し、次いで最後に紫
外線で硬化する光硬化型樹脂を塗布して保護膜23を形
成して光ディスクを形成する。
このようにして形成した光ディスクをCDプレーヤに設
置して信号(音楽)を再生したところ、通常と同じよう
に信号の再生ができた。
置して信号(音楽)を再生したところ、通常と同じよう
に信号の再生ができた。
また本実施例の代わりに、前記形成したAuの光反射膜
の代わりにAf被被膜50nm被着して光反射膜として
形成し、前記実施例と同様な成形を行って光ディスクを
形成しても、上記と同様に問題無く音楽を再生できる光
ディスクが形成できた。
の代わりにAf被被膜50nm被着して光反射膜として
形成し、前記実施例と同様な成形を行って光ディスクを
形成しても、上記と同様に問題無く音楽を再生できる光
ディスクが形成できた。
また本実施例に用いたPMMAの透明基板19の代わり
にガラス基板をディスク円板として用い、かつ合金薄膜
より成る金属膜12との隙間を1.2画とし、紫外線で
硬化する光硬化型樹脂を充填して硬化させた。その後、
硬化した光硬化型樹脂を金属膜より剥離して光硬化型樹
脂のみを取り出して基板とし、この後、前記した実施例
と同し工程で光ディスクを形成した。このようにしても
問題無く音楽情報を再生できた。
にガラス基板をディスク円板として用い、かつ合金薄膜
より成る金属膜12との隙間を1.2画とし、紫外線で
硬化する光硬化型樹脂を充填して硬化させた。その後、
硬化した光硬化型樹脂を金属膜より剥離して光硬化型樹
脂のみを取り出して基板とし、この後、前記した実施例
と同し工程で光ディスクを形成した。このようにしても
問題無く音楽情報を再生できた。
また本発明の方法を実施するための装置としては第2図
に示すように、1個の基板処理容器31内部に、半導体
レーザ光源13、光硬化型樹脂塗布装置33、対向電極
18、光反射膜形成用の八!、或いはAuのターゲット
36、スピンドル35に設置した基板11等を設け、光
硬化型樹脂の塗布工程、基板とPMMA樹脂の透明基板
との圧着工程、光硬化型樹脂への光照射工程、硬化した
光硬化型樹脂を合金薄膜より成る金属膜より剥離する剥
離工程、光反射膜形成工程、保護膜形成工程が連続して
行える装置を用いて形成する。
に示すように、1個の基板処理容器31内部に、半導体
レーザ光源13、光硬化型樹脂塗布装置33、対向電極
18、光反射膜形成用の八!、或いはAuのターゲット
36、スピンドル35に設置した基板11等を設け、光
硬化型樹脂の塗布工程、基板とPMMA樹脂の透明基板
との圧着工程、光硬化型樹脂への光照射工程、硬化した
光硬化型樹脂を合金薄膜より成る金属膜より剥離する剥
離工程、光反射膜形成工程、保護膜形成工程が連続して
行える装置を用いて形成する。
また本実施例の方法を実施するだめの装置としては第3
図に示すように、InSbの合金薄膜形成や、該合金薄
膜のスパッタエツチング等のように真空雰囲気内で作業
する工程に必要な対向電極18、光反射膜形成用のター
ゲット36等を備えた真空容器41と、該容器に隣接し
て、半導体レーザ光源13や、光硬化型樹脂塗布装置3
3を備え、前記1nSb合金薄膜のレーザ照射工程、光
硬化型樹脂塗布工程、該樹脂の光照射工程等を行い得る
非真空容器42とを設け、該容器41.42間を透明ガ
ラス円板より成る基板11が自動的に搬送される装置を
用いて形成しても良い。
図に示すように、InSbの合金薄膜形成や、該合金薄
膜のスパッタエツチング等のように真空雰囲気内で作業
する工程に必要な対向電極18、光反射膜形成用のター
ゲット36等を備えた真空容器41と、該容器に隣接し
て、半導体レーザ光源13や、光硬化型樹脂塗布装置3
3を備え、前記1nSb合金薄膜のレーザ照射工程、光
硬化型樹脂塗布工程、該樹脂の光照射工程等を行い得る
非真空容器42とを設け、該容器41.42間を透明ガ
ラス円板より成る基板11が自動的に搬送される装置を
用いて形成しても良い。
上記したInSb合金薄膜は予め多数準備することがで
きる。そのため、新しい情報が入った光ディスクを形成
する場合には、InSb合金薄膜よりなる金属膜を有す
る円板状のガラス基板に、半導体レーザ光を照射して直
接データを書き込んでスバ、ンタエッチングし、それを
原盤、かつスタンパとする。そして紫外線で硬化する光
硬化型樹脂を介して、前記スタンパ上にPMMAよりな
る透明基板を設置し、該透明基板側より紫外線を照射す
ると、従来に於けるような大規模で高価な樹脂の射出成
形Hzを必要とせず、工程を短縮して短時間に完成した
光ディスクが形成できる。
きる。そのため、新しい情報が入った光ディスクを形成
する場合には、InSb合金薄膜よりなる金属膜を有す
る円板状のガラス基板に、半導体レーザ光を照射して直
接データを書き込んでスバ、ンタエッチングし、それを
原盤、かつスタンパとする。そして紫外線で硬化する光
硬化型樹脂を介して、前記スタンパ上にPMMAよりな
る透明基板を設置し、該透明基板側より紫外線を照射す
ると、従来に於けるような大規模で高価な樹脂の射出成
形Hzを必要とせず、工程を短縮して短時間に完成した
光ディスクが形成できる。
このようにすれば製造工程、製造装置が簡単で有るので
、多数の品種の光ディスクを容易に短時間に低コストで
製造することができる。
、多数の品種の光ディスクを容易に短時間に低コストで
製造することができる。
以上の説明から明らかなように本発明によれば、簡単な
方法で短時間で種々の記録情報を有する光ディスクが容
易に形成できる効果がある。
方法で短時間で種々の記録情報を有する光ディスクが容
易に形成できる効果がある。
また本発明により形成したスタンパとPMMAよりなる
透明基板との間に紫外線で硬化する光硬化型樹脂を介在
させてスタンパの凹凸形状を転写するので、従来の方法
に於けるように大規模で高価な樹脂の射出成形装置を必
要とせず、簡単な装置で短時間に容易に光ディスクが形
成できる効果がある。
透明基板との間に紫外線で硬化する光硬化型樹脂を介在
させてスタンパの凹凸形状を転写するので、従来の方法
に於けるように大規模で高価な樹脂の射出成形装置を必
要とせず、簡単な装置で短時間に容易に光ディスクが形
成できる効果がある。
第1図(a)より第1図(d)迄は、本発明の光ディス
クの製造方法の一実施例の説明図、 第2図、および第3図は本発明の方法に用いる装置の模
式図、 第4図(a)、および第4図(b)は従来の光ディスク
の製造方法を示す断面図である。 図において、 11は基板、11Aは原盤、12は金属膜、13は半導
体レーザ光源、14はレンズ、15はレーザビーム、1
6はカバーガラス、17はスパッタエツチング容器、1
8は対向電極、19は透明基板、21は光硬化型樹脂、
22は光反射膜、23は保護膜、31は基板処理容器、
33は光硬化型樹脂塗布装置、35はスピンドル、36
はターゲット、41は真空容器、42は非真空容器を示
す。 〔) (b) )F’76BMJデ’<17s’j&!131q−大〕
きRすqffQrA第1 11 (flFll) 第 図 (fへ2) A需慝e亀(入地12弔い1値量司l爽弐″の$必朗へ
1はに閉(・311^隷べ閏 第3図 徒未^芝T欧〕褐鴨Ω支δ5ハ米IJ牟面7鎮4図
クの製造方法の一実施例の説明図、 第2図、および第3図は本発明の方法に用いる装置の模
式図、 第4図(a)、および第4図(b)は従来の光ディスク
の製造方法を示す断面図である。 図において、 11は基板、11Aは原盤、12は金属膜、13は半導
体レーザ光源、14はレンズ、15はレーザビーム、1
6はカバーガラス、17はスパッタエツチング容器、1
8は対向電極、19は透明基板、21は光硬化型樹脂、
22は光反射膜、23は保護膜、31は基板処理容器、
33は光硬化型樹脂塗布装置、35はスピンドル、36
はターゲット、41は真空容器、42は非真空容器を示
す。 〔) (b) )F’76BMJデ’<17s’j&!131q−大〕
きRすqffQrA第1 11 (flFll) 第 図 (fへ2) A需慝e亀(入地12弔い1値量司l爽弐″の$必朗へ
1はに閉(・311^隷べ閏 第3図 徒未^芝T欧〕褐鴨Ω支δ5ハ米IJ牟面7鎮4図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 〔1〕基板(11)上に光ビームの照射により結晶相が
変化する金属膜(12)を被着した後、 該金属膜(12)に光ビームを所定のパターンで選択的
に照射し、該金属膜をエッチングして該金属膜に所定の
凹凸パターンを設けて原盤(11A)を形成し、 該原盤(11A)上に光硬化型樹脂(21)を介して透
明基板(19)を設置し、前記原盤(11A)表面の金
属膜(12)の凹凸パターンを前記光硬化型樹脂(21
)に転写し、前記透明基板(19)側より光を照射して
前記光硬化型樹脂(21)を硬化し、 該硬化した光硬化型樹脂(21)上に光反射膜(22)
を被着形成することを特徴とする光ディスクの製造方法
。 〔2〕前記透明基板(19)を金属膜の凹凸パターンを
転写する材料と同一材料の紫外線硬化型樹脂で形成した
ことを特徴とする請求項〔1〕記載の光ディスクの製造
方法。 〔3〕前記光硬化型樹脂(21)上に形成された光反射
膜(22)上に更に紫外線硬化型樹脂層を形成して保護
膜(23)としたことを特徴とする請求項〔1〕、或い
は〔2〕に記載の光ディスクの製造方法。 〔4〕請求項〔1〕記載の光ディスクの製造方法の諸工
程を実施する手段(13、18、33、36)を基板処
理容器(31)内に一括して配置し、前記基板(11)
をスピンドル(35)上に設置した状態で、前記基板に
上記諸工程を連続して処理可能としたことを特徴とする
光ディスクの製造装置。 〔5〕請求項〔1〕記載の光ディスクの製造方法に用い
る装置に於いて、 上記基板を真空状態で処理する手段(18、36)を備
えた真空容器(41)と、該真空容器(41)に隣接し
て上記基板を非真空状態で処理する手段(13、33)
を備えた非真空容器(42)とを設け、該容器間を基板
が移送可能としたことを特徴とする光ディスクの製造装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19836090A JPH0482036A (ja) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | 光ディスクの製造方法および該製造方法に用いる製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19836090A JPH0482036A (ja) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | 光ディスクの製造方法および該製造方法に用いる製造装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0482036A true JPH0482036A (ja) | 1992-03-16 |
Family
ID=16389816
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19836090A Pending JPH0482036A (ja) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | 光ディスクの製造方法および該製造方法に用いる製造装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0482036A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006310874A (ja) * | 2005-04-29 | 2006-11-09 | Philips Lumileds Lightng Co Llc | Rgb熱隔離基板 |
KR100830872B1 (ko) * | 2006-10-16 | 2008-05-21 | 삼성전기주식회사 | 광디스크 및 그 제조 방법 |
JP2008523637A (ja) * | 2004-12-14 | 2008-07-03 | ソウル オプト−デバイス カンパニー リミテッド | 複数の発光セルを有する発光素子及びそれを搭載したパッケージ |
CN107815662A (zh) * | 2017-12-08 | 2018-03-20 | 苏州矩阵光电有限公司 | 一种薄膜转移装置及其使用方法 |
-
1990
- 1990-07-24 JP JP19836090A patent/JPH0482036A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008523637A (ja) * | 2004-12-14 | 2008-07-03 | ソウル オプト−デバイス カンパニー リミテッド | 複数の発光セルを有する発光素子及びそれを搭載したパッケージ |
JP2006310874A (ja) * | 2005-04-29 | 2006-11-09 | Philips Lumileds Lightng Co Llc | Rgb熱隔離基板 |
KR100830872B1 (ko) * | 2006-10-16 | 2008-05-21 | 삼성전기주식회사 | 광디스크 및 그 제조 방법 |
CN107815662A (zh) * | 2017-12-08 | 2018-03-20 | 苏州矩阵光电有限公司 | 一种薄膜转移装置及其使用方法 |
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