JPH0481668A - プリント基板の検査装置およびピッチ変換基板 - Google Patents
プリント基板の検査装置およびピッチ変換基板Info
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- JPH0481668A JPH0481668A JP2196566A JP19656690A JPH0481668A JP H0481668 A JPH0481668 A JP H0481668A JP 2196566 A JP2196566 A JP 2196566A JP 19656690 A JP19656690 A JP 19656690A JP H0481668 A JPH0481668 A JP H0481668A
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 25
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Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明はプリント基板の検査装置に関するものである。
従来は、被検査電極が所望のパターンにプリント配線さ
れた被検査プリント基板の各被検査電極間の導通絶縁を
検査するプリント基板の検査装置においては、前記被検
査電極の配置のピッチはその被検査プリント基板の仕様
によって任意のパターンとなるのに対し、計測部のプロ
ーブ電極は種々の仕様の被検査プリント基板に対応する
ために規格化された固定的な配置となっているので、両
者のピッチを整合させるためのピッチ変換手段が必要と
なる。 そのための装置の一つにスプリングプローブを用いたプ
リント基板の検査装置があり、それは、ピッチ変換用治
具ピンによって計測の電極と被検査プリント基板の電極
のピッチとの変換を行う構成のものであった。これは、
ピンを傾斜させることによって、電極の位置を変換して
いた。しかし、これでは傾斜角を大きくすると接触不十
分となるので、計測の電極と被検査プリント基板の電極
のピッチとはあまり大きく変換することはできなかった
。このとき、計測部の電極の配置のピッチは通常２．５
４ ｍｍピッチの格子状に配設されており、例えば、有
効検査範囲か３２０ｍｍＸ ３２０ｍｍとすると約１万
６千ポイントの電極が必要であり、４００ｍｍＸ ４８
０ｍｍでは約３万ポイントの電極を必要とする。 このようなプリント基板の検査装置は高価になるという
問題かあった。 また、ピンの傾斜を変えることではピン先の位置調節範
囲は限られたものとなるので、計測部の電極の数即ちピ
ンの数を減らすことはできなかった。むしろ、被検査プ
リント基板の電極の密度が上がると計測部の電極の密度
も上げる必要があり、ますます計測部の電極数即ちピン
数が増大するという問題がある。 そこで、計測部と被検査プリント基板との間に、表面電
極と裏面電極との配置が異なる基板の電極どうしを対応
させて接続する構成のピッチ変換基板を挟装する装置も
あった。 即ち、両面プリント基板において、相互に接続された表
裏対になった電極を表と裏とで異なるピ。 ッチに配列し、これによって、ピッチを変換するもので
ある。 このとき、このピッチ変換基板の電極と計測用電極もし
くは被検査プリント基板の電極との接触を確実にするた
めに、感圧導電コムを表裏両面に挟装した構成の装置も
あった。
れた被検査プリント基板の各被検査電極間の導通絶縁を
検査するプリント基板の検査装置においては、前記被検
査電極の配置のピッチはその被検査プリント基板の仕様
によって任意のパターンとなるのに対し、計測部のプロ
ーブ電極は種々の仕様の被検査プリント基板に対応する
ために規格化された固定的な配置となっているので、両
者のピッチを整合させるためのピッチ変換手段が必要と
なる。 そのための装置の一つにスプリングプローブを用いたプ
リント基板の検査装置があり、それは、ピッチ変換用治
具ピンによって計測の電極と被検査プリント基板の電極
のピッチとの変換を行う構成のものであった。これは、
ピンを傾斜させることによって、電極の位置を変換して
いた。しかし、これでは傾斜角を大きくすると接触不十
分となるので、計測の電極と被検査プリント基板の電極
のピッチとはあまり大きく変換することはできなかった
。このとき、計測部の電極の配置のピッチは通常２．５
４ ｍｍピッチの格子状に配設されており、例えば、有
効検査範囲か３２０ｍｍＸ ３２０ｍｍとすると約１万
６千ポイントの電極が必要であり、４００ｍｍＸ ４８
０ｍｍでは約３万ポイントの電極を必要とする。 このようなプリント基板の検査装置は高価になるという
問題かあった。 また、ピンの傾斜を変えることではピン先の位置調節範
囲は限られたものとなるので、計測部の電極の数即ちピ
ンの数を減らすことはできなかった。むしろ、被検査プ
リント基板の電極の密度が上がると計測部の電極の密度
も上げる必要があり、ますます計測部の電極数即ちピン
数が増大するという問題がある。 そこで、計測部と被検査プリント基板との間に、表面電
極と裏面電極との配置が異なる基板の電極どうしを対応
させて接続する構成のピッチ変換基板を挟装する装置も
あった。 即ち、両面プリント基板において、相互に接続された表
裏対になった電極を表と裏とで異なるピ。 ッチに配列し、これによって、ピッチを変換するもので
ある。 このとき、このピッチ変換基板の電極と計測用電極もし
くは被検査プリント基板の電極との接触を確実にするた
めに、感圧導電コムを表裏両面に挟装した構成の装置も
あった。
前述の感圧型導電コムを用いたプリント基板の検査装置
の場合は、ピッチの変換は比較的自由に行えるが、計測
部の電極の配置を疎にすると、被検査プリント基板との
接触圧力が均一にならず、電極のない部分は接触圧力が
不十分になり被検査プリント基板との接触不良の原因に
なる。 なた、ピッチ変換基板の電極上に接触を確実にするため
に、突起を形成するとよいが、突起形成を化学メツキ法
ですると時間かかかるので好ましくない。
の場合は、ピッチの変換は比較的自由に行えるが、計測
部の電極の配置を疎にすると、被検査プリント基板との
接触圧力が均一にならず、電極のない部分は接触圧力が
不十分になり被検査プリント基板との接触不良の原因に
なる。 なた、ピッチ変換基板の電極上に接触を確実にするため
に、突起を形成するとよいが、突起形成を化学メツキ法
ですると時間かかかるので好ましくない。
本発明にかかるプリント基板の検査装置においては、複
数の検査用電極を備えた計測部と、前記検査用電極に対
応する位置に配置された表電極と前記被検査電極と対応
する位置に配置された裏電極とこれらの表裏両電極を接
続する導体とを備えたピッチ変換基板と、前記検査用電
極はスプリングプローブと、スプリングプローブの周り
の絶縁性弾性部材と、ピッチ変換基板の電極上に形成さ
れた半球状突起とを備えるという手段を講じた。 そして、本発明にかかるピッチ変換基板においてはその
電極上に溶融ハンダ法によって半球状突起を形成した。
数の検査用電極を備えた計測部と、前記検査用電極に対
応する位置に配置された表電極と前記被検査電極と対応
する位置に配置された裏電極とこれらの表裏両電極を接
続する導体とを備えたピッチ変換基板と、前記検査用電
極はスプリングプローブと、スプリングプローブの周り
の絶縁性弾性部材と、ピッチ変換基板の電極上に形成さ
れた半球状突起とを備えるという手段を講じた。 そして、本発明にかかるピッチ変換基板においてはその
電極上に溶融ハンダ法によって半球状突起を形成した。
上記構成により、本発明にかかるプリント基板の検査装
置においては、 バッファーピンのピッチを広げてもその間にある弾性体
にの為に、接触圧力は均一に保たれる。また、この面の
感圧型導電コムは不要となる。 また、ピッチ変換基板によりピッチを自在に変えること
かできるので、従来に比して少ない個数のスプリングプ
ローブを効率よく被検査プリント基板の電極に接続する
ことかできる。よって、スプリングプローブの間隔は充
分ひろく取ることかできる。
置においては、 バッファーピンのピッチを広げてもその間にある弾性体
にの為に、接触圧力は均一に保たれる。また、この面の
感圧型導電コムは不要となる。 また、ピッチ変換基板によりピッチを自在に変えること
かできるので、従来に比して少ない個数のスプリングプ
ローブを効率よく被検査プリント基板の電極に接続する
ことかできる。よって、スプリングプローブの間隔は充
分ひろく取ることかできる。
以下に本発明のプリント基板の検査装置の一例を図面に
基づいて詳説する。 第１図は上記実施例のプリント基板の検査装置の要部側
面断面図である。 図面において、 ■は被検査プリント基板、２はピッチ変換基板、３は方
向性感圧導電ゴムシート、４Ａ、 ４Ｂ、 ４Ｃ，
４Ｄはスプリングプローブ、５は絶縁性弾性体シート、
６はプローブ支持基板である。 被検査プリント基板１には表側のプリント配線１１と裏
側のプリント基板１２か設けられている。 ピッチ変換基板２の裏面には、前記被検査プリント基板
１の配線１１と対応する位置に電極２２がそれぞれ配設
され、ピッチ変換基板２の表面には、前記電極２２と接
続され且つスプリングプローブ４Ａ、４Ｃ，４Ｄと対応
する位置に設けられた電極２１がそれぞれ配設されてい
る。スプリングプローブ４Ｂはレジスト層に当接して不
使用である。表の電極２１と裏の電極２２はスルーホー
ル構成によって接続されているか、多層基板の構成を用
いても良いことはいうまでもない。 スプリングプローブ４Ａ、４Ｂ、４Ｃ，４Ｄは等間隔で
配置され、計測回路（図示せず）に接続されている。 方向性感圧導電ゴムシート３は、弾性を持つ絶縁部材３
１の中に表から裏へ弾性を持つ導線を多数配設した構造
であり、圧力を加えられると前記導線によって表側と裏
側とが確実に導通ずるようになる。 前記電極２２の下面には半球状の突起２３を形成し、前
記方向性感圧導電ゴムシート３との接触を確実にした。 なお、被検査プリント基板１の裏側には配線１２があり
、表側と同様に方向性感圧導電コムシートとピッチ変換
基板とスプリングプローブが備えられ、このスプリング
プローブは計測回路に接続されている。 このようにすると、被検査プリント基板１の所望の配線
１１を方向性感圧導電ゴムシート３の導線、突起２３、
電極２１，２２、スプリングプローブ４Ａ、４Ｃ，４Ｄ
を介して計測回路に接続することにより、各配線間の導
通／非導通状態を検査することかできるのである。 この時、前記ピッチ変換基板２によって、被検査プリン
ト基板１上の密な配線１１と、計測部の疎なスプリンタ
プローブ４Ａ、４Ｃ，４Ｄとを接続できるので、少ない
数のスプリングプローブで密な配線の被検査プリント基
板１を検査することができるのである。 このような構成により、バッファーピンの間隔を２．５
４ ｍｍから１０ｍｍピッチに広けると、縦３２ポイン
ト、横６４ポイントのベースとした場合は、３２０ｍｍ
Ｘ ６４０ｍｍの範囲の基板を検査することが可能とな
り、計測部に必要はポイント数は２０４８ポイントとな
る。表裏両面で約４千ポイントとなり、従来の３万ポイ
ントの約７分の１に低減できる。 また、ピッチ変換基板２上に設ける突起２３は、溶融ハ
ンダ法によって形成した。または、類ファインパターン
の場合は、半導体チップマウントのバンプの生成方法を
用いてこの突起物を形成することも可能である。ピッチ
変換基板の変換パターンをエツチング等によって形成し
た後、突起成形個所以外をハンダレジストで被覆してハ
ンダ層に浸ける操作だけで、片面全ての突起が形成され
るのである。更に、長時間の使用によって突起が磨滅し
た場合でも、上記工程によって容易に再生することがで
きる。 また、スプリングプローブの先端が検査不要の部分、例
えばプリント配線の上をレジストによって覆っている部
分等、に圧接されて前記レジストを剥がしてしまうこと
を防止するための、所定の部分のみ孔のあいたマスクフ
ィルムを介装しても良い。
基づいて詳説する。 第１図は上記実施例のプリント基板の検査装置の要部側
面断面図である。 図面において、 ■は被検査プリント基板、２はピッチ変換基板、３は方
向性感圧導電ゴムシート、４Ａ、 ４Ｂ、 ４Ｃ，
４Ｄはスプリングプローブ、５は絶縁性弾性体シート、
６はプローブ支持基板である。 被検査プリント基板１には表側のプリント配線１１と裏
側のプリント基板１２か設けられている。 ピッチ変換基板２の裏面には、前記被検査プリント基板
１の配線１１と対応する位置に電極２２がそれぞれ配設
され、ピッチ変換基板２の表面には、前記電極２２と接
続され且つスプリングプローブ４Ａ、４Ｃ，４Ｄと対応
する位置に設けられた電極２１がそれぞれ配設されてい
る。スプリングプローブ４Ｂはレジスト層に当接して不
使用である。表の電極２１と裏の電極２２はスルーホー
ル構成によって接続されているか、多層基板の構成を用
いても良いことはいうまでもない。 スプリングプローブ４Ａ、４Ｂ、４Ｃ，４Ｄは等間隔で
配置され、計測回路（図示せず）に接続されている。 方向性感圧導電ゴムシート３は、弾性を持つ絶縁部材３
１の中に表から裏へ弾性を持つ導線を多数配設した構造
であり、圧力を加えられると前記導線によって表側と裏
側とが確実に導通ずるようになる。 前記電極２２の下面には半球状の突起２３を形成し、前
記方向性感圧導電ゴムシート３との接触を確実にした。 なお、被検査プリント基板１の裏側には配線１２があり
、表側と同様に方向性感圧導電コムシートとピッチ変換
基板とスプリングプローブが備えられ、このスプリング
プローブは計測回路に接続されている。 このようにすると、被検査プリント基板１の所望の配線
１１を方向性感圧導電ゴムシート３の導線、突起２３、
電極２１，２２、スプリングプローブ４Ａ、４Ｃ，４Ｄ
を介して計測回路に接続することにより、各配線間の導
通／非導通状態を検査することかできるのである。 この時、前記ピッチ変換基板２によって、被検査プリン
ト基板１上の密な配線１１と、計測部の疎なスプリンタ
プローブ４Ａ、４Ｃ，４Ｄとを接続できるので、少ない
数のスプリングプローブで密な配線の被検査プリント基
板１を検査することができるのである。 このような構成により、バッファーピンの間隔を２．５
４ ｍｍから１０ｍｍピッチに広けると、縦３２ポイン
ト、横６４ポイントのベースとした場合は、３２０ｍｍ
Ｘ ６４０ｍｍの範囲の基板を検査することが可能とな
り、計測部に必要はポイント数は２０４８ポイントとな
る。表裏両面で約４千ポイントとなり、従来の３万ポイ
ントの約７分の１に低減できる。 また、ピッチ変換基板２上に設ける突起２３は、溶融ハ
ンダ法によって形成した。または、類ファインパターン
の場合は、半導体チップマウントのバンプの生成方法を
用いてこの突起物を形成することも可能である。ピッチ
変換基板の変換パターンをエツチング等によって形成し
た後、突起成形個所以外をハンダレジストで被覆してハ
ンダ層に浸ける操作だけで、片面全ての突起が形成され
るのである。更に、長時間の使用によって突起が磨滅し
た場合でも、上記工程によって容易に再生することがで
きる。 また、スプリングプローブの先端が検査不要の部分、例
えばプリント配線の上をレジストによって覆っている部
分等、に圧接されて前記レジストを剥がしてしまうこと
を防止するための、所定の部分のみ孔のあいたマスクフ
ィルムを介装しても良い。
このように、本発明のプリント基板の検査装置によれば
、広いピッチで配設したスプリングプローブを、ピッチ
変換基板によって、被検査プリント基板の密に配設され
たプリント配線の所望の個所に接続できるので、少ない
個数のスプリングプローブで高密度のプリント基板の検
査をすることができる。 また、スプリングプローブの個数を少なくすることがで
きるので、プリント基板の検査装置を低価格で提供でき
るという効果か得られる。 また、スプリングプローブとスプリンクプロブとの間に
は絶縁性の弾性部材を配設し、ピッチ変換基板を均一に
押圧するようにしたので、方向性感圧導電ゴムシート等
か無くても確実な接触が可能となるという効果が得られ
る。 さらに、ピッチ変換基板の電極に形成する突起は、溶融
ハンダの手段によって形成したので、滑らかな半球状の
突起か形成され、方向性感圧導電ゴムシートか無くても
確実な接触を実現することが可能となる。そして、その
突起が磨滅しても、溶融ハンダ法によって極めて容易に
再生することかできるので、維持費用を節減できるとい
う効果も得られる。
、広いピッチで配設したスプリングプローブを、ピッチ
変換基板によって、被検査プリント基板の密に配設され
たプリント配線の所望の個所に接続できるので、少ない
個数のスプリングプローブで高密度のプリント基板の検
査をすることができる。 また、スプリングプローブの個数を少なくすることがで
きるので、プリント基板の検査装置を低価格で提供でき
るという効果か得られる。 また、スプリングプローブとスプリンクプロブとの間に
は絶縁性の弾性部材を配設し、ピッチ変換基板を均一に
押圧するようにしたので、方向性感圧導電ゴムシート等
か無くても確実な接触が可能となるという効果が得られ
る。 さらに、ピッチ変換基板の電極に形成する突起は、溶融
ハンダの手段によって形成したので、滑らかな半球状の
突起か形成され、方向性感圧導電ゴムシートか無くても
確実な接触を実現することが可能となる。そして、その
突起が磨滅しても、溶融ハンダ法によって極めて容易に
再生することかできるので、維持費用を節減できるとい
う効果も得られる。
第１図は本発明のプリント基板の検査装置の要部を拡大
した断面側面図である。 １・・・被検査プリント基板、１１．１２・・・配線、
２・・・ピッチ変換基板、２１・・・表電極、２２・・
・裏電極、２３・・・半球状突起、４Ａ、４Ｂ、４Ｃ，
４Ｄ・・・スプリングプローブ（検査用電極、計測部）
、５・・・絶縁性弾性部材。 特許出願人 太洋工業株式会社
した断面側面図である。 １・・・被検査プリント基板、１１．１２・・・配線、
２・・・ピッチ変換基板、２１・・・表電極、２２・・
・裏電極、２３・・・半球状突起、４Ａ、４Ｂ、４Ｃ，
４Ｄ・・・スプリングプローブ（検査用電極、計測部）
、５・・・絶縁性弾性部材。 特許出願人 太洋工業株式会社
Claims (2)
- （１）被検査電極が所望のパターンにプリント配線され
た被検査プリント基板の各被検査電極間の導通絶縁を検
査するプリント基板の検査装置において、複数の検査用
電極を備えた計測部と、前記検査用電極に対応する位置
に配置された表電極と前記被検査電極と対応する位置に
配置された裏電極とこれらの表裏両電極を接続する導体
とを備えたピッチ変換基板と、前記検査用電極はスプリ
ングプローブと、スプリングプローブの周りの絶縁性弾
性部材と、ピッチ変換基板の電極上に形成された半球状
突起とを備えたことを特徴とするプリント基板の検査装
置。 - （２）ピッチ変換基板の電極上に溶融ハンダ法によって
半球状突起を形成したことを特徴とするプリント基板の
検査装置に用いるピツチ変換基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2196566A JPH0481668A (ja) | 1990-07-25 | 1990-07-25 | プリント基板の検査装置およびピッチ変換基板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2196566A JPH0481668A (ja) | 1990-07-25 | 1990-07-25 | プリント基板の検査装置およびピッチ変換基板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0481668A true JPH0481668A (ja) | 1992-03-16 |
Family
ID=16359869
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2196566A Pending JPH0481668A (ja) | 1990-07-25 | 1990-07-25 | プリント基板の検査装置およびピッチ変換基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0481668A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012150128A (ja) * | 2004-03-10 | 2012-08-09 | Wentworth Laboratories Inc | 微細回路用フレキシブル・スペース・トランスフォーマ・アセンブリ |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57205067U (ja) * | 1981-06-24 | 1982-12-27 | ||
| JPS59149070U (ja) * | 1983-03-25 | 1984-10-05 | 日本電気株式会社 | 印刷配線板の布線試験装置 |
| JPS6325564A (ja) * | 1986-06-30 | 1988-02-03 | シ−メンス、アクチエンゲゼルシヤフト | マイクロエレクトロニクスの被検査デバイス用電気的接触装置 |
| JPS6375876U (ja) * | 1986-11-06 | 1988-05-20 |
-
1990
- 1990-07-25 JP JP2196566A patent/JPH0481668A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57205067U (ja) * | 1981-06-24 | 1982-12-27 | ||
| JPS59149070U (ja) * | 1983-03-25 | 1984-10-05 | 日本電気株式会社 | 印刷配線板の布線試験装置 |
| JPS6325564A (ja) * | 1986-06-30 | 1988-02-03 | シ−メンス、アクチエンゲゼルシヤフト | マイクロエレクトロニクスの被検査デバイス用電気的接触装置 |
| JPS6375876U (ja) * | 1986-11-06 | 1988-05-20 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012150128A (ja) * | 2004-03-10 | 2012-08-09 | Wentworth Laboratories Inc | 微細回路用フレキシブル・スペース・トランスフォーマ・アセンブリ |
| JP2016026298A (ja) * | 2004-03-10 | 2016-02-12 | ウエントワース ラボラトリーズ，インコーポレイテッド | 微細回路用フレキシブル・スペース・トランスフォーマ・アセンブリ |
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