JPH047831A - 基体乾燥方法及び基体乾燥装置 - Google Patents

基体乾燥方法及び基体乾燥装置

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JPH047831A
JPH047831A JP10920590A JP10920590A JPH047831A JP H047831 A JPH047831 A JP H047831A JP 10920590 A JP10920590 A JP 10920590A JP 10920590 A JP10920590 A JP 10920590A JP H047831 A JPH047831 A JP H047831A
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JP
Japan
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substrate
pure water
waterdrops
eliminated
tank
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Application number
JP10920590A
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English (en)
Inventor
Shuji Ito
伊藤 周二
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Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 r産業上の利用分野〕 本発明は、半導体のシリコン基板、フォトマスク、液晶
パネルのガラス基板等の洗浄後の乾燥方法及び装置に関
する。
[従来の技術] 従来、純水から基体を微低速で引き上げていくことによ
り、純水の表面張力を利用して基体に付着する水滴を極
力排出し、残った水分を基体の熱容量、あるいは熱風、
ヒーター等の補助手段により乾燥する方式が提案され、
実施されている。
(特開昭56−1614311.(特開昭60−223
130)、(特開昭6l−270399)、(特開昭6
3−67735) 治具と基体接触部においてエア吸引をおこなうことによ
り水滴を除去する方法(特開昭63−294979)も
提案されているが、基体全領域での水滴除去は困難であ
る。
〔発明が解決しようとする課題1 しかしながら、前述の従来技術では、表面張力の大きい
純水を用いて引き上げ乾燥をおこなうため1表面が疎水
性である基体の場合、引き上げ条件等を変更しても水滴
が除去されずに基体に残留してしまう・この残留水分の
ある状態で基体を、基体の熱容量、あるいは熱風、ヒー
ター等で乾燥すると、シミ、ムラ等が発生し、基体を汚
してしまう。又、熱による乾燥は、乾燥時間が長くかか
ってしまう。
本発明はこの様な問題点を解決するもので、その目的と
するところは、純水引き上げ乾燥方法のみでは除去でき
なかった水滴を、吸引ノズルを近接し、吸引により残留
水滴を完全に除去する方法、及び装置を提供することに
ある。
[課題を解決するための手段] 本発明の基体乾燥方法及び基体乾燥装置は、純水槽から
基体を微低速で引き上げていくことにより、純水の表面
張力を利用して基体に付着する水滴を極力排去し、更に
前記基体に吸引ノズルを近接し、吸引により残留水滴を
完全に除去することを特徴とする。
又、上記乾燥方法に及いて、基体と吸引ノズルを相対的
かつ連続的に移動することも特徴とする。
[作 用] 基体を表面張力の大きい純水から微低速で引き上げてい
くと、表面張力の作用により、かなりの水は除去ができ
る。しかし疎水性の大ぎい基体では、疎水面上に純水が
水滴として残留してしまう、基体に接触しない程度に吸
引ノズルを近接させ、残留した水滴を吸引すると、表面
張力の大きい純水は球状化して転がる様に移動し、除去
することができる。
[実 施 例] 以下に本発明の実施例を図面にもとづいて説明する。第
1図において、純水は純水槽lに純水供給パイプ3より
供給され、槽内を流動する。純水槽1に純水が満たされ
ると、槽上部の切欠きを通して純水はあふれ、オーバー
フローした純水は、オーバーフロー槽2を受け、排水バ
イブ4より排出される。一方基体7は治具5にセットさ
れており、これをロボットアーム9に取り付は上下動を
おこなう。
基体の引き上げ時は、まず基体を純水槽に完全に沈めた
状態から、毎秒1〜l Ommという微低速で引き上げ
、純水の表面張力を利用して基体表面(ご付着する水滴
を極力排去する。
更に残留する水滴は、吸引ノズル6よりポンプ7を用い
て吸引し2、排出する。
純水引き上げで残留する水滴は、基体上に球状に存在し
ており、吸引することにより、容易に基体から離れるこ
とができる。
[発明の効果] この様に本発明は2段で純水を除去する機構となってお
り、疎水性の強い基体等で、純水引き上げ法だけでは除
去できない水滴も完全に除去することが可能となった。
又、水滴が残らないため、シミ、ムラ等の発生がなく、
基体の乾燥品質が大巾に向上した。
・・排水バイブ ・治具 ・・吸引ノズル ・・ポンプ ・・基体 ・・ロボットアーム 以上 出願人 セイコーエプソン株式会社 代理人 弁理士 鈴 木 喜三部(他1名)
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の基体乾燥方式の概略図。 純水槽 ・・オーバーフロー槽 3・・・紹水バイブ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)純水槽から基体を微低速で引き上げていくことに
    より、純水の表面張力を利用して基体に付着する水滴を
    極力排去し、更に前記基体に、吸引ノズルを近接し、吸
    引により残留水滴を完全に除去することを特徴とする基
    体乾燥方法。
  2. (2)請求項1記載の基体乾燥方法に及いて、基体と吸
    引ノズルを相対的かつ連続的に移動することを特徴とす
    る基体乾燥装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5697391A (en) * 1993-08-18 1997-12-16 Sony Corporation Method for making a color filter
US6231639B1 (en) 1997-03-07 2001-05-15 Metaullics Systems Co., L.P. Modular filter for molten metal
WO2008065809A1 (fr) * 2006-11-30 2008-06-05 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. Appareil de traitement et jig de traitement de surface

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