JPH0477397A - 硼化ランタン系単結晶とその育成法 - Google Patents
硼化ランタン系単結晶とその育成法Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は融液法による硼化ランタン(LaB、)系単結
晶の育成法に関する。
晶の育成法に関する。
(従来の技術及び解決しようとする課題)硼化ランタン
単結晶は、現在、寿命の長い高輝度電子放射材料として
、走査型電子顕?#鏡や電子描画装置などに利用されて
いる。この電子放射材料として用いる場合、純度の高い
高品質単結晶が必要である。
単結晶は、現在、寿命の長い高輝度電子放射材料として
、走査型電子顕?#鏡や電子描画装置などに利用されて
いる。この電子放射材料として用いる場合、純度の高い
高品質単結晶が必要である。
硼化ランタン単結晶の育成法としては、溶液法、気相法
、融液法などが知られているが、高純度な単結晶を育成
するには、育成温度が高い融液法が適している。
、融液法などが知られているが、高純度な単結晶を育成
するには、育成温度が高い融液法が適している。
融液法としては、アークベルヌーイ法、フローティング
・ゾーン法、ペデエスタル法があるが、高品質単結晶を
育成するにはフローティング・ゾーン法が適している。
・ゾーン法、ペデエスタル法があるが、高品質単結晶を
育成するにはフローティング・ゾーン法が適している。
従来、融液法による硼化ランタン単結晶の育成法におい
ては、単結晶の純度を高くするために、高純度の硼化ラ
ンタン原料が用いられてきた。しかし、この方法により
育成された単結晶中には多くの欠陥(例えば、粒界密度
で1030鳳/cm”)が存在するという欠点があった
。このため、高品質な部分を選び、電子放射材として使
用せざるを得ないのが実情である。
ては、単結晶の純度を高くするために、高純度の硼化ラ
ンタン原料が用いられてきた。しかし、この方法により
育成された単結晶中には多くの欠陥(例えば、粒界密度
で1030鳳/cm”)が存在するという欠点があった
。このため、高品質な部分を選び、電子放射材として使
用せざるを得ないのが実情である。
本発明は、上記従来技術の欠点を解消して、欠陥のない
良質な硼化ランタン単結晶を提供することを目的とする
ものである。
良質な硼化ランタン単結晶を提供することを目的とする
ものである。
(課題を解決するための手段)
前記課題を解決するため、本発明者らは、従来の融液法
において高純度の硼化ランタン原料を用いても単結晶中
に多くの欠陥が存在することに鑑みて、原料として、硼
化ランタン以外の材料を含有させることについて試みた
。その結果、硼化ランタンに硼化セリウムを含有させた
原料を使用したところ、単結晶中の粒界が減少すること
を見い出した。特に、直径1cmの単結晶を育成する場
合、30モル%以上の硼化セリウムを含有させると、全
く粒界を含まない完全性の高い単結晶を育成できること
を知見し、ここに本発明をなしたものである。
において高純度の硼化ランタン原料を用いても単結晶中
に多くの欠陥が存在することに鑑みて、原料として、硼
化ランタン以外の材料を含有させることについて試みた
。その結果、硼化ランタンに硼化セリウムを含有させた
原料を使用したところ、単結晶中の粒界が減少すること
を見い出した。特に、直径1cmの単結晶を育成する場
合、30モル%以上の硼化セリウムを含有させると、全
く粒界を含まない完全性の高い単結晶を育成できること
を知見し、ここに本発明をなしたものである。
すなわち、本発明は、化学式(La1−xCex)B6
(但し、0.01≦x≦0.50)を有することを特徴
とする硼化ランタン系単結晶を要旨とするものである。
(但し、0.01≦x≦0.50)を有することを特徴
とする硼化ランタン系単結晶を要旨とするものである。
また、その製造法は、硼化ランタン系単結晶を融液法に
よって育成するに際し、原料として、1〜50モル%の
硼化セリウム、又はセリウムの酸化物、水酸化物、塩化
物などを硼化セリウム換算で1〜50モル%含有する硼
化ランタンを使用することを特徴とするものである。
よって育成するに際し、原料として、1〜50モル%の
硼化セリウム、又はセリウムの酸化物、水酸化物、塩化
物などを硼化セリウム換算で1〜50モル%含有する硼
化ランタンを使用することを特徴とするものである。
以下に本発明を更に詳述する。
(作用)
本発明において用いられる単結晶育成法は融液法であり
、前述の如く種々の方法が可能であるが、フローティン
グ・ゾーン法(以下、rFZ法」という)は、大型で高
品位の単結晶が育成し易いので、好ましい。
、前述の如く種々の方法が可能であるが、フローティン
グ・ゾーン法(以下、rFZ法」という)は、大型で高
品位の単結晶が育成し易いので、好ましい。
第1図はFZ法育成炉の概念図であり、1は上軸、1′
は下軸、2.2′はホルダー、3は焼結棒(原料)、3
′は初期融帯保持用焼結棒又は種結晶、4は育成した単
結晶、5は融帯、6は高周波ワークコイルである。
は下軸、2.2′はホルダー、3は焼結棒(原料)、3
′は初期融帯保持用焼結棒又は種結晶、4は育成した単
結晶、5は融帯、6は高周波ワークコイルである。
原料としては、硼化ランタン粉末に硼化セリウム粉末を
1〜50モル%混合し、これに結合剤として少量の樟脳
を加えて、ラバープレス(2000kg/cm”)によ
り圧粉枠を作製する。この圧粉枠を真空中又は不活性ガ
ス雰囲気中で千数百℃に加熱して、原料焼結棒を作製す
る。
1〜50モル%混合し、これに結合剤として少量の樟脳
を加えて、ラバープレス(2000kg/cm”)によ
り圧粉枠を作製する。この圧粉枠を真空中又は不活性ガ
ス雰囲気中で千数百℃に加熱して、原料焼結棒を作製す
る。
なお、原料焼結棒としては、上記の如く硼化セリウム粉
末を使用する以外に、セリウムの酸化物、水酸化物、塩
化物などと硼素を、硼化セリウム換算で1〜50モル%
含有させることも可能である。
末を使用する以外に、セリウムの酸化物、水酸化物、塩
化物などと硼素を、硼化セリウム換算で1〜50モル%
含有させることも可能である。
得られた原料焼結棒3を上軸1にホルダー2を介してセ
ットし、下軸1′には、初期融帯保持用の焼結棒又は種
結晶3′をホルダー2′を介してセットする。次に原料
焼結棒3の下端を高周波ワークコイル6からの誘導加熱
により溶融させ、融帯5を形成させ、上軸lと下軸1′
をゆっくり下方に移動させて単結晶4を育成する。
ットし、下軸1′には、初期融帯保持用の焼結棒又は種
結晶3′をホルダー2′を介してセットする。次に原料
焼結棒3の下端を高周波ワークコイル6からの誘導加熱
により溶融させ、融帯5を形成させ、上軸lと下軸1′
をゆっくり下方に移動させて単結晶4を育成する。
その時の育成速度は0.2〜5cm/h、好ましくは0
.2〜2cIIl/hである。雰囲気は散気圧のアルゴ
ン又はヘリウムなどの不活性ガスが用いられる。
.2〜2cIIl/hである。雰囲気は散気圧のアルゴ
ン又はヘリウムなどの不活性ガスが用いられる。
これは、蒸発の抑制と高周波ワークコイル部分で発生す
る放電を防止するためである。
る放電を防止するためである。
かくして育成される単結晶は、化学式(La、。
Cex)Ba(但し、0.01≦x≦0.50)を有す
る硼化ランタン系単結晶である。ここで、Xが0゜01
未満では硼化セリウムを添加した効果が殆ど見られない
。すなわち、単結晶中の粒界密度の減少が実験誤差の中
に含まれてしまう程度である。
る硼化ランタン系単結晶である。ここで、Xが0゜01
未満では硼化セリウムを添加した効果が殆ど見られない
。すなわち、単結晶中の粒界密度の減少が実験誤差の中
に含まれてしまう程度である。
一方、セリウムを多量に添加すると、単結晶が脆くなる
。すなわち、x>O,,50の組成領域では、単結晶中
にクラックが発生することがあり、実用上好ましくない
。
。すなわち、x>O,,50の組成領域では、単結晶中
にクラックが発生することがあり、実用上好ましくない
。
溶融法による育成法としては、上述の高周波加熱による
FZ法に限らず、赤外線集中加熱によるFZ法も可能で
あり、更には、FZ法以外に、融液より引き上げる引き
上げ法、アーク・ベルソイ法、ペデスタル法も可能であ
り、それぞれの方法に適した原料調整を行う。
FZ法に限らず、赤外線集中加熱によるFZ法も可能で
あり、更には、FZ法以外に、融液より引き上げる引き
上げ法、アーク・ベルソイ法、ペデスタル法も可能であ
り、それぞれの方法に適した原料調整を行う。
次に本発明の実施例を示す。
(実施例)
硼化ランタン粉末に所定比(X=0.02.0゜05.
0.1.0.2.0.3.0.41.0.5)の硼化セ
リウム粉末を添加し混合した後、結合剤として樟脳を少
量加えて再び混合した。この混合物を直径12mmのゴ
ム袋に詰めて円柱状にし、これを2000 kg/ c
+++2のラバープレスして圧粉枠を得た。この圧粉枠
を真空中、1800℃で加熱して焼結棒を得た。
0.1.0.2.0.3.0.41.0.5)の硼化セ
リウム粉末を添加し混合した後、結合剤として樟脳を少
量加えて再び混合した。この混合物を直径12mmのゴ
ム袋に詰めて円柱状にし、これを2000 kg/ c
+++2のラバープレスして圧粉枠を得た。この圧粉枠
を真空中、1800℃で加熱して焼結棒を得た。
この焼結棒を第1図に示すFZ育成炉の上軸にホルダー
を介して固定し、下軸には(La□−xCeX)B6単
結晶を固定した。育成炉に7気圧のアルゴンを充填した
後、高周波コイルにより原料焼結棒の下端を溶かして初
期融帯を形成し、1cm/hで下方に移動させて、<1
00>方位に単結晶を育成した。
を介して固定し、下軸には(La□−xCeX)B6単
結晶を固定した。育成炉に7気圧のアルゴンを充填した
後、高周波コイルにより原料焼結棒の下端を溶かして初
期融帯を形成し、1cm/hで下方に移動させて、<1
00>方位に単結晶を育成した。
得られた単結晶は、直径1c+++、長さ7cmであっ
た。分析の結果、原料焼結棒と同じ組成を持つ単結晶が
育成され、蒸発による組成変化のないことが確認できた
。また、育成された単結晶中のセリウムの濃度は、始端
部を除き、全組成領域において一定となっていた。この
ことは、育成後固化した融帯と結晶終端部の分析から、
硼化ランタンと硼化セリウムの分配係数が1に近いこと
が判明し、融帯移動開始後すぐに定常状態になったため
である。
た。分析の結果、原料焼結棒と同じ組成を持つ単結晶が
育成され、蒸発による組成変化のないことが確認できた
。また、育成された単結晶中のセリウムの濃度は、始端
部を除き、全組成領域において一定となっていた。この
ことは、育成後固化した融帯と結晶終端部の分析から、
硼化ランタンと硼化セリウムの分配係数が1に近いこと
が判明し、融帯移動開始後すぐに定常状態になったため
である。
育成した単結晶の粒界密度は、結晶終端部の(100)
面を切り出し、鏡面研磨した後、エツチング(硝酸:水
=1:3の液で2〜3分)して測定した結果、第2図に
示すように、硼化ランタンに硼化セリウムを添加してゆ
くと粒界密度が減少し、30モル%以上添加すると粒界
がIl!察できなくなった。単結晶中に粒界が存在しな
い領域は、育成する結晶の直径に依存し、細くなる程、
広くなった。すなわち、20モル%の硼化セリウムを添
加した試料から直径6nu++の単結晶を育成した場合
、粒界が全く観察されなかった。
面を切り出し、鏡面研磨した後、エツチング(硝酸:水
=1:3の液で2〜3分)して測定した結果、第2図に
示すように、硼化ランタンに硼化セリウムを添加してゆ
くと粒界密度が減少し、30モル%以上添加すると粒界
がIl!察できなくなった。単結晶中に粒界が存在しな
い領域は、育成する結晶の直径に依存し、細くなる程、
広くなった。すなわち、20モル%の硼化セリウムを添
加した試料から直径6nu++の単結晶を育成した場合
、粒界が全く観察されなかった。
(発明の効果)
以上詳述したとおり、本発明によれば、欠陥のない良質
な硼化ランタン単結晶を提供することができ、敢えて高
純度硼化ランタン原料を使用しなくともよいので経済的
である。
な硼化ランタン単結晶を提供することができ、敢えて高
純度硼化ランタン原料を使用しなくともよいので経済的
である。
第1図はFZ育成炉の一例を説明する図、第2図は実施
例で得られた単結晶の粒界密度と硼化セリウム添加量の
関係を示す図である。 1・・・上軸、1′・・・下軸、2.2電ホルダー3・
・焼結棒(原料)、3′・・初期融帯保持用焼結棒又は
種結晶、4・・・育成した単結晶、5・・・融帯、6・
高周波ワークコイル。 第1図
例で得られた単結晶の粒界密度と硼化セリウム添加量の
関係を示す図である。 1・・・上軸、1′・・・下軸、2.2電ホルダー3・
・焼結棒(原料)、3′・・初期融帯保持用焼結棒又は
種結晶、4・・・育成した単結晶、5・・・融帯、6・
高周波ワークコイル。 第1図
Claims (3)
- (1)化学式(La_1_−_xCe_x)B_6(但
し、0.01≦x≦0.50)を有することを特徴とす
る硼化ランタン系単結晶。 - (2)硼化ランタン系単結晶を融液法によって育成する
に際し、原料として、1〜50モル%の硼化セリウムを
含有する硼化ランタンを使用することを特徴とする硼化
ランタン系単結晶の育成法。 - (3)硼化セリウムに代えて、セリウムの酸化物、水酸
化物又は塩化物と、硼素を所定比に混合したものを用い
る請求項2に記載の方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19167190A JPH0686357B2 (ja) | 1990-07-19 | 1990-07-19 | 硼化ランタン系単結晶とその育成法 |
US07/706,197 US5238527A (en) | 1990-07-19 | 1991-05-28 | Lanthanum boride type single crystal and method for growing the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19167190A JPH0686357B2 (ja) | 1990-07-19 | 1990-07-19 | 硼化ランタン系単結晶とその育成法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0477397A true JPH0477397A (ja) | 1992-03-11 |
JPH0686357B2 JPH0686357B2 (ja) | 1994-11-02 |
Family
ID=16278524
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19167190A Expired - Lifetime JPH0686357B2 (ja) | 1990-07-19 | 1990-07-19 | 硼化ランタン系単結晶とその育成法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0686357B2 (ja) |
-
1990
- 1990-07-19 JP JP19167190A patent/JPH0686357B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0686357B2 (ja) | 1994-11-02 |
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