JPH04743A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

Info

Publication number
JPH04743A
JPH04743A JP10204890A JP10204890A JPH04743A JP H04743 A JPH04743 A JP H04743A JP 10204890 A JP10204890 A JP 10204890A JP 10204890 A JP10204890 A JP 10204890A JP H04743 A JPH04743 A JP H04743A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor device
positioning
axis
main body
pushed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10204890A
Other languages
English (en)
Inventor
Tetsuji Miyamoto
宮本 哲次
Mitsuharu Ishibashi
光治 石橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP10204890A priority Critical patent/JPH04743A/ja
Publication of JPH04743A publication Critical patent/JPH04743A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、半導体装置の側面に大きさの異なる複数の
凹部を設けることにより、t%い位置決め精度および方
向の判別ができる半導体装置に関するものである。
〔従来の技術〕
第5図に従来の半導体装置を示す平面図、第6図は第5
図の半導体装置の正面図、第7図に第5図の半導体装置
を位置決めブロックにより画定した状get示す平面図
、第8図は第7図の状態の正面図である。図において、
12)ハ半導体装置本体、(31ニ外部リード、f6a
)、(6b)は駆動部、(7a)、(7b)はX−Z@
位置決めブロック、(8a)、(sb)はY軸位m決め
ブロック、(91ハ半導体装置の方向を示すノツチであ
る。
次に動作について説明する。Y軸位置決めブロック(8
a ) 、 (1)により外部リード1311に挟み込
むことで半導体装置本体(2)はX軸方向へ位置決めさ
れる。
次いで駆動部(6a)、(6b)によりz軸上方へ押上
げられたX−Z軸位置決めブロック’7a)、(7b)
の側壁で半導体装置本体(2)はX軸方向へ位置決めさ
れる。これと同時にX−Z軸位置決めブロック(7a)
、(7b)のL字型底面部により半導体装置本体:2)
は、Z軸方向についても固定される。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の半導体装置はその向きをノツチにより視覚的に判
別する目的で構成されているので、X軸方向への位置決
めは外部リード1に迭み込んで行わなけれげならず、挾
み込む力が強過ぎると外部リードに傷がついたF)K杉
するなどの問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので半導体装置本体の向きを判別するとともに外部
リードに傷をつけることなくx−y−z軸方向への位置
決めを同時に行うことができる半導体装置全提供するこ
とを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係る半導体装置に、そのri5′lさの判別
とX−Y−X軸方向への位置決めを同時に行うことが可
能な複数の凹部を備えたものである。
〔作用〕
この発明VCよる半導体装置は、その側壁に設けた互に
大きさの異なる2箇所の凹部へそれぞれ適合する凸状の
ピンを通すことによりX−Y方向へ位置決めされる。更
に上記ピン?押上げるとZa方向へも位置決めされる。
また、この時上記2箇所の凹部の大きさが異なる乏め半
導体装置本体の向きが逆の場合は上記ピンにより押上げ
られ異常検知することができる。
〔実FM列〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第1図は、半導体装置の平面図、第2図は第1図の半導
体装置の正面図、@3図は第1図の半導体装置を位置決
めピンによって固定した状!!!倉示す平面図、第4図
は第3図の状態の正面図である。図において21 、 
i31 、 (6a)、(ab)は第5図ないし第8図
の従来例に示した本のと同等であるので説明を省略する
。(la)、〔lb)は互に大きさの異る位置決め用凹
部、(4a)、(ab)は半導体装置のX−Y軸位置火
めビア、 (5a)、(5b)は2軸位置決めピンであ
る。駆動部C6a)、(6b)はX−Y軸位置火めビア
 r4a)、(4b)、 Z軸位1決めピン(5a)、
(5b)を駆罰し1位置決め用凹部(1a)は、第5図
の従来ダ]VC示すノツチ(9)と同等のものである。
置決め装置は、駆#J部(6a)、(6b)によりz軸
上万へと押上げられ1位置決め用凹部(la)、(lb
)とX−Y軸位置火めピン(sa)、(ab)がはめ合
いX−Y方向に位置決めされる。
更に駆#部(6a)、(6b)がX・Y軸位置火めピン
(4a)、(4b)及び2軸位置決めピン(sa)、r
sb) ′Ik押上げることにより半導体装置本体(!
)の底部が押上げられ、z軸方向へも位置決めされる。
この時、半導体装置本体(!1の向きが誤ってX軸方向
について逆にある場合、X−Y軸位置火めピンC4b)
によって半導体装置本体(!1は上方へと押上げられ、
向きに誤りがあることが検知される。
なお、上記実施例では位置決め用凹部(la)。
(lb)の形状に半円を用いたが三角形等の他の形状で
も同様の効果を奏する。
また、位置決め用凹部(la ) 、 (1o)は工T
Vカメラ等の自動検査装置の被検知用としても用いるこ
とができる。
〔発明の効果〕
以上のように、この発明によれば半導体装置本体に互に
大きさの異る複数の位置決め用凹部を備えたので、半導
体装置の位置決めが容易にでき、かつ、高い位71決め
摺度が得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図にこり)発明の一実施例による半導体装置を示す
平面図、第2図は第1図の半導体装置の正面図、第3図
は第1図の半導体装置を位置決めピンによって固定した
状態を示す平面図。 第4図は第3図の状態の正面図、第5図は従来の半導体
装置の平面図、第6図は第5図の半導体装置の正面図、
第7図に第5図の半導体装置を位−決めブロックにより
固定した状態ト示す平面図、第8図は第7図の状態の正
面図である。 図において、Ha)、(lb)は位置決め用凹部、2)
は半導体装置本体、131は外部リード、  (4a)
。 (4b)はX −Y@li置決めピン、  (5a)、
(5b)は2軸位置決めピン、r6a)、(6b)は駆
#11部である。 なお、図中、同一符号に同一 又は相当部分を不f0

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  半導体装置の方向を判別可能で、かつ、X・Y・Z軸
    方向の位置決めが容易にできる複数の凹部を備えたこと
    を特徴とする半導体装置。
JP10204890A 1990-04-17 1990-04-17 半導体装置 Pending JPH04743A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10204890A JPH04743A (ja) 1990-04-17 1990-04-17 半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10204890A JPH04743A (ja) 1990-04-17 1990-04-17 半導体装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04743A true JPH04743A (ja) 1992-01-06

Family

ID=14316886

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10204890A Pending JPH04743A (ja) 1990-04-17 1990-04-17 半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04743A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5657207A (en) * 1995-03-24 1997-08-12 Packard Hughes Interconnect Company Alignment means for integrated circuit chips
US9357233B2 (en) 2008-02-26 2016-05-31 Qualcomm Incorporated Video decoder error handling

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5657207A (en) * 1995-03-24 1997-08-12 Packard Hughes Interconnect Company Alignment means for integrated circuit chips
US9357233B2 (en) 2008-02-26 2016-05-31 Qualcomm Incorporated Video decoder error handling

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR920005809A (ko) 반도체 장치 제조공정
CN105789073A (zh) 接合卡盘、接合方法及包括接合卡盘的工具
JPS5984846U (ja) Icデバイス用ハンドリング装置
JPH04743A (ja) 半導体装置
JPH04330753A (ja) 半導体検査装置及び半導体検査方法
CN203967056U (zh) 一种晶圆定位装置
CN209029284U (zh) 一种吸附式键盘透光检测组件
JPS6150795A (ja) 産業用ロボツト
JP2005096788A (ja) ポケットサイズ可変トレイ
JP2552189Y2 (ja) チェンジキット取付け位置決め構造を有するチェンジキット及びベースの組合せ
JPH02185389A (ja) ロボットハンド
JPH05382U (ja) 作動部材へのツールの着脱構造
JP2006086253A (ja) 基板配置方向制御装置
JP2640690B2 (ja) 移動ステージ
JPS5819487Y2 (ja) プロ−ブ接触機構
JPH03115016A (ja) ワーク搬送機構
KR960002614B1 (ko) 신도 및 축도기
JPH0670241U (ja) ウエハカセット治具
JPS6229128A (ja) チップ部品の保持プレ−トへの插入方法およびそのための装填治具
JPS6042028Y2 (ja) 枠組装置
JPH0628813U (ja) フィルタスライダー及びその位置決め装置
JPS59121338A (ja) 印刷配線基板の露光装置
JPS5990508U (ja) ボ−ル盤用穴明位置設定装置
JPH0894779A (ja) 微小回転ステージ
Prusi et al. Flexible Gripper System for Small Optical Assemblies–Final Tests and Findings