JPH0456167A - 密着型イメージセンサ - Google Patents
密着型イメージセンサInfo
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- JPH0456167A JPH0456167A JP2164567A JP16456790A JPH0456167A JP H0456167 A JPH0456167 A JP H0456167A JP 2164567 A JP2164567 A JP 2164567A JP 16456790 A JP16456790 A JP 16456790A JP H0456167 A JPH0456167 A JP H0456167A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は、密着型イメージセンサ、特にロッドレンズア
レイを用いないいわゆる完全密着型イメージセンサの構
造に関するものである。
レイを用いないいわゆる完全密着型イメージセンサの構
造に関するものである。
[従来の技術]
縮小投影光学系を用いたイメージセンサに代る密着型イ
メージセンサとして、従来、NIKKEIME−CHA
NICAL にッケイ メカニカル)1986−12−
1(日経マグロウヒル社、p、71〜78、(1986
))に記載されたものが知られている。
メージセンサとして、従来、NIKKEIME−CHA
NICAL にッケイ メカニカル)1986−12−
1(日経マグロウヒル社、p、71〜78、(1986
))に記載されたものが知られている。
上記文献に記載されているように、上記密着型イメージ
センサは原稿とほぼ同じ幅のイメージセンサの上にロッ
ドレンズアレイを用いて原稿を投影するので、縮小投影
光学系に比べて光路が大幅に短くなり、ファクシミリ等
における画像読取り装置の小型化が図れるという利点が
ある。
センサは原稿とほぼ同じ幅のイメージセンサの上にロッ
ドレンズアレイを用いて原稿を投影するので、縮小投影
光学系に比べて光路が大幅に短くなり、ファクシミリ等
における画像読取り装置の小型化が図れるという利点が
ある。
さらに、ロッドレンズアレイを用いない密着型イメージ
センサの開発も行われている。このようなイメージセン
サは、原稿を受光素子に直に接触させながら読取る方式
のものであり、完全密着型イメージセンサと呼ばれてい
る。上記完全密着型イメージセンサによれば、画像読取
り装置のより小型化及び製造コストの低減を図ることが
できる。
センサの開発も行われている。このようなイメージセン
サは、原稿を受光素子に直に接触させながら読取る方式
のものであり、完全密着型イメージセンサと呼ばれてい
る。上記完全密着型イメージセンサによれば、画像読取
り装置のより小型化及び製造コストの低減を図ることが
できる。
次に、その構造を添付の図面に基づいて説明する。
第2図(a)及び(b)は、上記文献記載の従来の完全
密着型イメージセンサの構成を示す図であり、第2図(
a)はその部分断面図、第2図(b)は部分平面図であ
る。
密着型イメージセンサの構成を示す図であり、第2図(
a)はその部分断面図、第2図(b)は部分平面図であ
る。
上記密着型イメージセンサは、透光性基板21上に共通
電極22、感光層23及び上部電極24が順次形成され
てなるセンサ部25を有している。
電極22、感光層23及び上部電極24が順次形成され
てなるセンサ部25を有している。
共通電極22は透光性基板21上に膜状に広く形成され
、遮光膜の役割も兼ねている。感光層23はa−8i等
によって形成され、上部電極24はITO等の透光性電
導膜によって形成されている。
、遮光膜の役割も兼ねている。感光層23はa−8i等
によって形成され、上部電極24はITO等の透光性電
導膜によって形成されている。
上部電極24はビット単位に多数個が横一列に配列され
、個々の上部電極24のほぼ中央部には感光層23及び
共通電極22を貫通して透光性基板21に達する透光窓
26が形成されている。各上部電極24には個別電極2
7か接続され、各個別電極27は感光層23上を経て外
部回路(図示せず)へ導出されている。センサ部25及
び個別電極27上には透光性保護膜28が形成されてい
る。
、個々の上部電極24のほぼ中央部には感光層23及び
共通電極22を貫通して透光性基板21に達する透光窓
26が形成されている。各上部電極24には個別電極2
7か接続され、各個別電極27は感光層23上を経て外
部回路(図示せず)へ導出されている。センサ部25及
び個別電極27上には透光性保護膜28が形成されてい
る。
このように構成された密着型イメージセンサにおいて、
透光性基板21の裏側に設けられた発光ダイオード(L
E D)等の光源29からほぼ直進した光は、透光性
基板21、透光窓26及び透光性保護膜28を経て原稿
30に達する。原稿30で反射した光は、透光性保護膜
28及び上部電極24を経て感光層23に入射し、光電
変換されることによって原稿30の読取りが行われる。
透光性基板21の裏側に設けられた発光ダイオード(L
E D)等の光源29からほぼ直進した光は、透光性
基板21、透光窓26及び透光性保護膜28を経て原稿
30に達する。原稿30で反射した光は、透光性保護膜
28及び上部電極24を経て感光層23に入射し、光電
変換されることによって原稿30の読取りが行われる。
読取りに際して、原稿30はローラ31の回転により移
動する。
動する。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、従来の密着型イメージセンサでは、上部
電極と個別電極とを異なる材料から形成しており、上記
各電極それぞれについて成膜と薄膜加工とを繰返さなけ
ればならず、製造コストか高くなることが避けられない
との問題があった。
電極と個別電極とを異なる材料から形成しており、上記
各電極それぞれについて成膜と薄膜加工とを繰返さなけ
ればならず、製造コストか高くなることが避けられない
との問題があった。
また、従来は上部電極をrTOなどの透明導電材料によ
り形成することが必要とされていたが、この場合には上
記材料の成膜及び薄膜加工には高度な技術を要する上、
透明であるが故に正常に加工されているか否かの検査が
困難であり、歩留りが極めて低下するおそれがあった。
り形成することが必要とされていたが、この場合には上
記材料の成膜及び薄膜加工には高度な技術を要する上、
透明であるが故に正常に加工されているか否かの検査が
困難であり、歩留りが極めて低下するおそれがあった。
本発明は、上記した従来技術の課題を解決するためにな
されたもので、その目的とするところは、実用上十分な
性能を有するとともに製造が容易で安価な密着型イメー
ジセンサを提供することにある。
されたもので、その目的とするところは、実用上十分な
性能を有するとともに製造が容易で安価な密着型イメー
ジセンサを提供することにある。
[課題を解決するための手段]
本発明の密着型イメージセンサは、透光性基板上に順次
形成された共通電極、感光層及び上部電極からなり、上
記共通電極から上部電極までを貫通する透光窓を有する
センサ部と、上記感光層上において上記上部電極と接続
され外部回路へ導出される個別電極と、上記センサ部及
び個別電極の上に形成された透光性保護膜とを備えた密
着型イメージセンサにおいて、上記上部電極と個別電極
とが同一の導電材料によって形成されていることを特徴
としている。
形成された共通電極、感光層及び上部電極からなり、上
記共通電極から上部電極までを貫通する透光窓を有する
センサ部と、上記感光層上において上記上部電極と接続
され外部回路へ導出される個別電極と、上記センサ部及
び個別電極の上に形成された透光性保護膜とを備えた密
着型イメージセンサにおいて、上記上部電極と個別電極
とが同一の導電材料によって形成されていることを特徴
としている。
また、上記構成を効果的なものとするためには、上部電
極を個別電極と同一の導電率の高い非透光性材料にて形
成することが好ましい。
極を個別電極と同一の導電率の高い非透光性材料にて形
成することが好ましい。
[作用]
本発明の密着型イメージセンサは上部電極と個別電極と
が同一の導電材料によって形成された構成を有している
。
が同一の導電材料によって形成された構成を有している
。
上記構成を有する本発明の密着型イメージセンサによれ
ば、上部電極を個別電極と同時に形成することができる
ので、製造工程が簡略化される。
ば、上部電極を個別電極と同時に形成することができる
ので、製造工程が簡略化される。
また、上記上部電極を個別電極と同一の高電導率を有す
る非透光性の導電材料にて形成することにより、上部電
極をITOなどの透明電導材料から形成する場合のよう
な高度な技術を必要とせず、製造が容易になる。
る非透光性の導電材料にて形成することにより、上部電
極をITOなどの透明電導材料から形成する場合のよう
な高度な技術を必要とせず、製造が容易になる。
上部電極が非透光性の導電材料から形成されている場合
には、従来例に比較してセンサ部の感光面積は減少する
ので、イメージセンサとして不利になることが考えられ
る。ところか、本発明者らの検討によれば、上部電極は
必ずしも透光性材料から形成されていなくとも、イメー
ジセンサとして実用上十分な性能が得られると考えられ
る。次に、上記検討について説明する。
には、従来例に比較してセンサ部の感光面積は減少する
ので、イメージセンサとして不利になることが考えられ
る。ところか、本発明者らの検討によれば、上部電極は
必ずしも透光性材料から形成されていなくとも、イメー
ジセンサとして実用上十分な性能が得られると考えられ
る。次に、上記検討について説明する。
第3図は、第2図に示す従来の密着型イメージセンサの
透光窓26の端面の拡大断面図である。
透光窓26の端面の拡大断面図である。
第3図において、第2図と同一の構成要素には同一の符
号を付し、詳しい説明は省略する。
号を付し、詳しい説明は省略する。
従来の密着型イメージセンサでは、透光窓26の端面が
共通電極22、感光層23及び上部電極24の各層から
なる階段状を呈し、共通電極22及び感光層23の一部
が上部電極24に覆われることなく露出している。上記
共通電極22、感光層23及び上部電極24が階段状を
呈するのは、上記各層が順次形成される際に後から形成
された層は先に形成されている層を過度に被覆しないこ
とが望ましく、加工精度を勘案して、通常は後から形成
される層はど先に形成されている層よりも狭い範囲に形
成されることによる。
共通電極22、感光層23及び上部電極24の各層から
なる階段状を呈し、共通電極22及び感光層23の一部
が上部電極24に覆われることなく露出している。上記
共通電極22、感光層23及び上部電極24が階段状を
呈するのは、上記各層が順次形成される際に後から形成
された層は先に形成されている層を過度に被覆しないこ
とが望ましく、加工精度を勘案して、通常は後から形成
される層はど先に形成されている層よりも狭い範囲に形
成されることによる。
本発明者らの検討によれば、透光窓26端面のの感光層
23の上記露出部分23aには原稿30からの反射光が
透光性保護膜を経たのち上部電極24を経ずに入射して
おり、しかも上記露出部分23aは透光窓26の中央部
に近く従って光源29にも近いために、光源29からほ
ぼ直進して原稿30にて反射された光のかなりの部分が
上記露出部分23aに入射していることが判明した。
23の上記露出部分23aには原稿30からの反射光が
透光性保護膜を経たのち上部電極24を経ずに入射して
おり、しかも上記露出部分23aは透光窓26の中央部
に近く従って光源29にも近いために、光源29からほ
ぼ直進して原稿30にて反射された光のかなりの部分が
上記露出部分23aに入射していることが判明した。
従って、本発明の密着型イメージセンサにおいて、上部
電極が非透光性の導電材料から形成されている場合にお
いても、従来例に比較してセンサ部の感光面積は減少し
ているものの感光層の露出部分には原稿からの反射光の
かなりの部分が入射し、この反射光による光電流を上記
上部電極により効率よく外部回路に導出すれば、イメー
ジセンサとして実用上十分な明暗電流比が得られると考
えられる。
電極が非透光性の導電材料から形成されている場合にお
いても、従来例に比較してセンサ部の感光面積は減少し
ているものの感光層の露出部分には原稿からの反射光の
かなりの部分が入射し、この反射光による光電流を上記
上部電極により効率よく外部回路に導出すれば、イメー
ジセンサとして実用上十分な明暗電流比が得られると考
えられる。
[実施例]
以下に本発明を図示の実施例に基づいて説明する。
第1図(a)及び(b)は、本発明に係わる完全密着型
イメージセンサの構成を示す図であり、第1図(a)は
その部分断面図、第1図(b)は部分平面図である。
イメージセンサの構成を示す図であり、第1図(a)は
その部分断面図、第1図(b)は部分平面図である。
上記密着型イメージセンサは、厚さ1.2mmのガラス
(コーニング社製、#7059)基板1上に共通電極2
、感光層3及び上部電極4が順次形成されてなるセンサ
部5を有している。
(コーニング社製、#7059)基板1上に共通電極2
、感光層3及び上部電極4が順次形成されてなるセンサ
部5を有している。
共通電極2は、金属クロムをスパッタリング法にて70
0人の厚さにてガラス基板1上に広く成膜した後、フォ
トリソグラフィー法により透光窓となる予定の領域上の
上記金属クロム膜を除去することにより形成されている
。共通電極2は、遮光膜の役割も兼ねている。
0人の厚さにてガラス基板1上に広く成膜した後、フォ
トリソグラフィー法により透光窓となる予定の領域上の
上記金属クロム膜を除去することにより形成されている
。共通電極2は、遮光膜の役割も兼ねている。
感光層3は、アモルファスシリコン(a−8i)の1層
を15000人、P層を800人の厚さに、CVD法に
て順次成膜することにより形成されている。
を15000人、P層を800人の厚さに、CVD法に
て順次成膜することにより形成されている。
上部電極4はビット単位に多数個が横一列に配列され、
個々の上部電極4のほぼ中央部には感光層3及び共通電
極2を貫通してガラス基板1に達する透光窓6が形成さ
れている。上記透光窓6はガラス基板1上に1728個
形成されており、各透光窓6は共通電極2上で50μm
角の大きさを有し、隣接する透光窓6の中心同士が12
5μmの間隔となるように形成されている。透光窓6の
端面部は、共通電極2及び感光層3の端部がそれぞれ露
出している階段状に形成されている。各上部電極4には
個別電極7が接続され、各個別電極7は感光層3上を経
て外部回路(図示せず)へ導出されている。
個々の上部電極4のほぼ中央部には感光層3及び共通電
極2を貫通してガラス基板1に達する透光窓6が形成さ
れている。上記透光窓6はガラス基板1上に1728個
形成されており、各透光窓6は共通電極2上で50μm
角の大きさを有し、隣接する透光窓6の中心同士が12
5μmの間隔となるように形成されている。透光窓6の
端面部は、共通電極2及び感光層3の端部がそれぞれ露
出している階段状に形成されている。各上部電極4には
個別電極7が接続され、各個別電極7は感光層3上を経
て外部回路(図示せず)へ導出されている。
上記したように、本発明者らによる上記階段状に形成さ
れている透光窓6の端面部に関する検討結果によれば、
上部電極4は感光層3の露出部分にて光電変換された電
流を効率よく個別電極7に伝えることのできる材質であ
ればよく、必ずしも従来のように透光性材料で形成する
必要はない。
れている透光窓6の端面部に関する検討結果によれば、
上部電極4は感光層3の露出部分にて光電変換された電
流を効率よく個別電極7に伝えることのできる材質であ
ればよく、必ずしも従来のように透光性材料で形成する
必要はない。
そこで、上記密着型イメージセンサは、上部電極4が個
別電極7と同一の非透光性導電材料にて形成されている
ことを特徴としている。本実施例において、上部電極4
及び個別電極7は15000人の厚さを有するクロム−
アルミニウム2層膜として、電子ビーム蒸着法により同
時に成膜することにより形成されている。
別電極7と同一の非透光性導電材料にて形成されている
ことを特徴としている。本実施例において、上部電極4
及び個別電極7は15000人の厚さを有するクロム−
アルミニウム2層膜として、電子ビーム蒸着法により同
時に成膜することにより形成されている。
本発明の密着型イメージセンサにおいて、上部電極と個
別電極とは上記クロム−アルミニウム2層膜などの非透
光性導電材料によって形成されている場合に成膜及び薄
膜加工が容易となり特に有利であるが、同一の導電材料
によって形成されていればよく上記非透光性導電材料に
限定されるものではない。例えば、上部電極と個別電極
とがともにITOなど透明導電材料から形成されていて
もよい。
別電極とは上記クロム−アルミニウム2層膜などの非透
光性導電材料によって形成されている場合に成膜及び薄
膜加工が容易となり特に有利であるが、同一の導電材料
によって形成されていればよく上記非透光性導電材料に
限定されるものではない。例えば、上部電極と個別電極
とがともにITOなど透明導電材料から形成されていて
もよい。
また、センサ部5及び個別電極7上には透光性保護膜8
が形成されている。
が形成されている。
上記構成を有する密着型イメージセンサでは、ガラス基
板1の裏側に設けられた発光ダイオード(LED)等の
光源9からの光は、ガラス基板1、透光窓6及び透光性
保護膜8を経て原稿10に達する。原稿10で反射した
光は、透光性保護膜8を経て透光窓6端面部の感光層3
の露出部分(上部電極4に覆われていない部分)に入射
し、光電変換される。この光電変換により生じた光電流
が、上部電極4から個別電極7を通じて、効率よく外部
回路に取出されることによって原稿10の読取りが行わ
れる。読取りに際して、原稿10がローラ11の回転に
より移動することは従来例と同様である。
板1の裏側に設けられた発光ダイオード(LED)等の
光源9からの光は、ガラス基板1、透光窓6及び透光性
保護膜8を経て原稿10に達する。原稿10で反射した
光は、透光性保護膜8を経て透光窓6端面部の感光層3
の露出部分(上部電極4に覆われていない部分)に入射
し、光電変換される。この光電変換により生じた光電流
が、上部電極4から個別電極7を通じて、効率よく外部
回路に取出されることによって原稿10の読取りが行わ
れる。読取りに際して、原稿10がローラ11の回転に
より移動することは従来例と同様である。
本実施例の密着型イメージセンサについてその明特性及
び暗特性を測定したところ、バイアス電圧5vの条件下
で、明特性I X 10−’A、暗特性lXl0−”°
Aとの結果が得られた。上記測定結果から、上記密着型
イメージセンサは明暗電流比が10倍であり、イメージ
センサとして実用上十分な性能を有することが明らかで
ある。尚、上記測定結果は、本発明者らの検討結果を裏
付けるものである。
び暗特性を測定したところ、バイアス電圧5vの条件下
で、明特性I X 10−’A、暗特性lXl0−”°
Aとの結果が得られた。上記測定結果から、上記密着型
イメージセンサは明暗電流比が10倍であり、イメージ
センサとして実用上十分な性能を有することが明らかで
ある。尚、上記測定結果は、本発明者らの検討結果を裏
付けるものである。
[発明の効果コ
以上詳細に説明したように、本発明によれば、上部電極
と個別電極とを同一の導電材料で形成するという簡単な
構造でありながら、実用上十分な性能を有する密着型イ
メージセンサが得られる。
と個別電極とを同一の導電材料で形成するという簡単な
構造でありながら、実用上十分な性能を有する密着型イ
メージセンサが得られる。
本発明の密着型イメージセンサは、上部電極と個別電極
とを同時に形成することができるので工程を簡略化し製
造コストを低減することができる。
とを同時に形成することができるので工程を簡略化し製
造コストを低減することができる。
従って、本発明により、実用上十分な性能を有するとと
もに安価な密着型イメージセンサを提供することができ
る。
もに安価な密着型イメージセンサを提供することができ
る。
さらに、本発明の密着型イメージセンサにおいて上部電
極を個別電極と同一の高電導率を有する非透光性材料に
て形成する場合には、上部電極をITOなど透明電導材
料から形成する場合に比較して特に高度な技術を用いる
ことなしに製造することができる。
極を個別電極と同一の高電導率を有する非透光性材料に
て形成する場合には、上部電極をITOなど透明電導材
料から形成する場合に比較して特に高度な技術を用いる
ことなしに製造することができる。
第1図(a)は本発明に係わる完全密着型イメージセン
サの一実施例の構成を示す部分断面図であり、 第1図(b)は本発明に係わる完全密着型イメージセン
サの一実施例の構成を示す部分平面図であり、 第2図(a)は、従来の完全密着型イメージセンサの構
成例を示す部分断面図であり、第2図(b)は従来の完
全密着型イメージセンサの構成例を示す部分平面図であ
り、 第3図は第2図に示す従来例における透光窓端面の拡大
断面図である。 2・・・共通電極、 3・・・感光層、 4・・・上部電極、 7・・・個別電極。
サの一実施例の構成を示す部分断面図であり、 第1図(b)は本発明に係わる完全密着型イメージセン
サの一実施例の構成を示す部分平面図であり、 第2図(a)は、従来の完全密着型イメージセンサの構
成例を示す部分断面図であり、第2図(b)は従来の完
全密着型イメージセンサの構成例を示す部分平面図であ
り、 第3図は第2図に示す従来例における透光窓端面の拡大
断面図である。 2・・・共通電極、 3・・・感光層、 4・・・上部電極、 7・・・個別電極。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 透光性基板上に順次形成された共通電極、感光層及び
上部電極からなり、上記共通電極から上部電極までを貫
通する透光窓を有するセンサ部と、上記感光層上におい
て上記上部電極と接続され外部回路へ導出される個別電
極と、 上記センサ部及び個別電極の上に形成された透光性保護
膜とを備えた密着型イメージセンサにおいて、 上記上部電極と個別電極とが同一の導電材料によって形
成されていることを特徴とする密着型イメージセンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2164567A JPH0456167A (ja) | 1990-06-21 | 1990-06-21 | 密着型イメージセンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2164567A JPH0456167A (ja) | 1990-06-21 | 1990-06-21 | 密着型イメージセンサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0456167A true JPH0456167A (ja) | 1992-02-24 |
Family
ID=15795623
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2164567A Pending JPH0456167A (ja) | 1990-06-21 | 1990-06-21 | 密着型イメージセンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0456167A (ja) |
-
1990
- 1990-06-21 JP JP2164567A patent/JPH0456167A/ja active Pending
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