JPH0617323Y2 - 完全密着型イメ−ジセンサ - Google Patents

完全密着型イメ−ジセンサ

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JPH0617323Y2
JPH0617323Y2 JP10824287U JP10824287U JPH0617323Y2 JP H0617323 Y2 JPH0617323 Y2 JP H0617323Y2 JP 10824287 U JP10824287 U JP 10824287U JP 10824287 U JP10824287 U JP 10824287U JP H0617323 Y2 JPH0617323 Y2 JP H0617323Y2
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JP
Japan
Prior art keywords
light
image sensor
insulating film
light receiving
groove
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP10824287U
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JPS6413735U (ja
Inventor
行男 糟谷
弘明 柿沼
勝昭 坂本
幹雄 毛利
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Description

【考案の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この考案はイメージセンサに関し、特に情報担体である
例えば原稿等を等倍で読み取る為の完全密着型イメージ
センサに関するものである。
(従来の技術) 従来の密着型イメージセンサを第3図に示す。第3図に
おいて、光源11からの光は、原稿12にて反射され、
ロツドレンズアレイ13により収束光とされ、透明基板
14上に形成された共通電極15、感光層16及び個別
電極17から構成される受光部18にて光透過用窓19
を通して受光され、電気的信号に変換される。
かゝる構成の密着型イメージセンサは原稿を等倍で読み
取る為に縮小光学系が不要で小型化でき、フアクシミリ
等の画像読取装置に適用されている。しかし、ロツドレ
ンズアレイ13等を用いることは光学系の位置合せを必
要とし、且つコスト的にも高価となる。そこで、第4図
に示すようなロツドレンズアレイを用いない完全密着型
イメージセンサが例えば文献:日経メカニカル,198
6年12月1日号,78頁等に開示されている。第4図
において、透明基板20上に共通電極21,感光層22
及び透明な個別電極23が順に積層され、受光部24を
構成している。この受光部24の中央部を貫抜く光透過
用窓25が形成されている。また、受光部24を覆い、
光透過用窓25を埋めるように透光性絶縁膜26が設け
られている。さらに、光透過用窓25に対応した透光性
絶縁膜26には溝としての凹部26aが形成されてい
る。この凹部26aと光透過用窓25のライン上で透明
基板20側にLEDアレイ等の光源27が配置されてい
る。
次に動作について説明する。原稿28は、透光性絶縁膜
26上にあり、この原稿28と反対側にある光源27か
らの光は、透明基板20→光透過用窓25から透光性絶
縁膜26を通過して凹部26aから原稿28を照明す
る。この照明により原稿28から散乱された反射光は透
光性絶縁膜26を通つて受光部24に達し、光電変換さ
れる。
(考案が解決しようとする問題点) しかしながら上記構成の完全密着型イメージセンサでは
原稿を読取る解像度を上げる為にローラにより原稿を透
光性絶縁膜上に圧接させながら走行させる必要があり、
この為に上記透光性絶縁膜と原稿との磨擦により発生し
たごみが上記透光性絶縁膜の凹部にたまり、この凹部を
通る光の光量が減少し、S/N(信号/雑音)比が悪く
なると云う問題点があつた。
この考案は、以上述べた透光性絶縁膜と原稿との磨擦に
より発生したごみが光路上の凹部にたまる問題点を除去
し、S/N比の優れた信頼性の高い完全密着型イメージ
センサを提供することを目的とする。
(問題点を解決するための手段) この考案に係る完全密着型イメージセンサは、受光部を
覆う透光性絶縁膜上に形成された溝で原稿の走査方向に
対して後端の側面が開放されるようにしたものである。
(作用) この考案における完全密着型イメージセンサは、溝の後
端の側面が開放されているのでたとえごみが発生しても
溝から開放部分を通して逃げ、溝内にたまらないので光
の減衰がなくなる。
(実施例) 以下、この考案の一実施例を図面に基づいて詳細に説明
する。第1図はこの考案の一実施例による完全密着型イ
メージセンサの平面図、第2図は同じくその断面図であ
る。尚、図示の簡略化の為に断面を表わすハツチング等
を、一部分を除き省略してある。第1図及び第2図にお
いて、ガラスその他任意好適な材料から成る絶縁性の透
明基板1上に共通電極と遮光膜とを兼ねた不透明金属膜
から成る共通電極2が設けられている。共通電極2上に
例えば非晶質シリコン等の様な光電変換半導体膜である
感光層3が形成され、この感光層3上に酸化インジウ
ム,酸化錫,ITO(インジウムテインオキサイド)等
のいずれかの透明導電膜である個別電極4が形成されて
いる。上記共通電極2,感光層3及び個別電極4とから
受光部5が構成され、例えば一列状に配設されている。
各受光部5を貫抜き、透明基板1側から光を導入するた
めの光透過用窓6が各々設けられている。透明基板1と
受光部5上を覆うために例えばスパツタリング等により
作製されたSiNxの様な高抵抗絶縁膜である透光性絶
縁膜7が形成されている。この透光性絶縁膜7には通常
のフオトリングラフイ工程によりパターンが形成され、
ウエツトエツチング又はドライエツチングにより大きさ
を最適化された溝8が受光部5に対応して形成されてい
る。この溝8は受光部5の配列方向に対して直交する原
稿の走査方向に長く、その走査方向に対して後端の側面
が開放されている。又、溝8は、配列方向の幅が光透過
用窓6の幅以上で個別電極4の幅以内で任意好適な大き
さに有り、個別電極4が露出しない程度の深さを有す
る。
第1図及び第2図において図示矢印で原稿の走査方向を
示しているが、その原稿走査方向に対して後端の側面が
開放されているため溝8内のごみはこの開放部分から外
部に逃げることができ、溝8内にごみがたまることがな
い。
(考案の効果) 以上、詳細に説明したようにこの考案によれば、透光性
絶縁膜に溝を設け、原稿の走査方向に対してその溝の後
端の側面を開放したので、溝内にごみがたまることがな
く、従つて、S/N比の高い、信頼性の優れた効果が期
待できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の一実施例による完全密着型イメージ
センサの平面図、第2図は同じくその断面図、第3図は
従来の密着型イメージセンサの説明図、第4図は従来の
完全密着型イメージセンサの説明図である。 図中、1……透明基板、2……共通電極、3……感光
層、4……個別電極、5……受光部、6……光透過用
窓、7……透光性絶縁膜、8……溝。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 毛利 幹雄 東京都港区虎ノ門1丁目7番12号 沖電気 工業株式会社内 (56)参考文献 特開 昭59−122274(JP,A) 特開 昭62−105469(JP,A) 特開 昭62−219748(JP,A)

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】透明性基板上に配列され、光導入用の光透
    過用窓を有する多数の受光部と、これら受光部を覆う透
    光性絶縁膜と、上記各受光部上で上記透光性絶縁膜上に
    各々形成された溝とを備えた完全密着型イメージセンサ
    において、 上記溝は、原稿の走査方向に対して後端の側面が開放さ
    れていることを特徴とする完全密着型イメージセンサ。
JP10824287U 1987-07-16 1987-07-16 完全密着型イメ−ジセンサ Expired - Lifetime JPH0617323Y2 (ja)

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JP10824287U JPH0617323Y2 (ja) 1987-07-16 1987-07-16 完全密着型イメ−ジセンサ

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Publication Number Publication Date
JPS6413735U JPS6413735U (ja) 1989-01-24
JPH0617323Y2 true JPH0617323Y2 (ja) 1994-05-02

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