JPH0453036A - 光学情報記録再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光磁気ディスクや追記形光ディスクなどのト
ラッキングのための案内溝が設けられた光学情報担体の
光学情報記録再生装置に係り、特に、トラッキング情報
の検出に関する。

〔従来の技術〕

従来、光磁気ディスクや追記形光ディスクなどの光学情
報担体には案内溝が設けられ、この案内溝を利用するこ
とにより、情報記録再生用ビームのトラッキングを制御
するようにした技術が知られている。トラッキング情報
の検出方式としては、従来、プッシュプル方式と呼ばれ
るものが主として用いられている。これは、１つの光ビ
ームを用い、この光ビームが案内溝にかかるときに生ず
る辻１次回折光の強度差を検出してトラッキング情報を
得るようにするものである。

しかしながら、この方式は光ビームの案内溝へのかかり
具合いによって生ずる土１次の回折光の強度差に応じた
光学情報担体からの反射光のファーフィールドパターン
の光量分布の変化を利用しているから、光学情報担体の
ビーム光軸に対する傾き、案内溝の形状、レンズ光軸の
ビーム光軸に対するずれ、光検出器の位置ずれなどの影
響を大きく受けることになる。このため番こ、光学情報
担体の機緘特性に対する要求が厳しく、また、光学情報
記録再生装置に対しても、光学・＼ラドの！Ｊ１．ｎで
調整精度、経時変化による部品の位置ずれなど番ご充分
な注意を払わなければならなか−９た。し７かも、この
ような注意を払ったとしても、トラック中心軸に対する
光ビームのオフセットをゼＩ】にすることは困難である
し、また、レンズシフトを小さくするために、コースア
クチュエータとファインアクチュエータとを連動させて
制御する２段す−ボ方式を採用するなどされており、光
学情報記録再生装置が複雑かつ高価になっていた。

かかる問題を解消する方式とと７で、３本の光ビームを
用いた３ビーム法が知られているが、以下゛、この方式
を用いた光磁気ディスクに対する従来の光学情報記録再
生装置について第４図により説明する。但し、１はレー
ザダイオード、２はコリメー［レンズ、３は回折格子、
４，５はヒ゛−ム整形プリズム、６，１はビームスプリ
ッタ、８は立上げミラー　９はフォーカスレンズ、１０
は％波長板、１１は偏光ビームスプリッタ、１２はミラ
ー］３は集束レンズ、１４は円筒レンズ、１５〜１７は
光検出器、１８は光磁気ディスクである。

第４図において、レーザダイオード１から水平方向に射
出されたレーザビームはコリメートレンズ２で平行ビー
ムとなり、回折格子３で０次回指光と±１次回折光とな
る。これら回折光は夫々ビーム整形プリズム４．５によ
って円形スポットの光ビームとなる。ここで、０次回指
光を主光ビームといい、±１次回折光を副光ビームとい
うことにする。また、これらを総称して光ビームという
ことにする。

ビーム整形プリズム４，５によってスポット形状が円形
とされた光ビームはビームスプリッタ５゜６を通り、立
上げミラー８で垂直方向に立ち上げられ、フォーカスレ
ンズ９によって光磁気ディスク１８上に集光される。

光磁気ディスク１８上に照射された光ビームはこの光磁
気ディスク１８で反射される。光磁気ディスク１８上に
照射される光ビームは光磁気ディスク１８上の情報トラ
ックに平行な偏光面をもつＰ偏光ビームであるが、光磁
気ディスク】８」−に情報が磁気的に記録されている領
域を照射すると、その磁化の大きさに応じたカー効果に
より、反射光ビームは偏光面が回転してＰ偏光成分およ
び光ビームの光軸に対して垂直な偏光面のＳ偏光成分が
生ずる。すなわち、反射光ビームはＰ偏光成分とＳ偏光
成分とからなっており、これらの割合はカー効果の大き
さによって異なる。

光磁気ディスク１８からの反射光ビームはフォーカスレ
ンズ９、立」−げミラー６を経てビームスプリッタフに
至る。ビームスプリッタ７は反射光ビームのＳ偏向成分
全てとＰ偏光成分の一部とを反射する。このようにビー
ムスプリッタ７で反射された反射光ビームは％波長板１
０で偏光面が４５゜回転され、偏向ビームスプリッタ１
１でＰ偏向成分とＳ偏光成分とに分けられる。そして、
０次回指光ビームのＰ偏向成分は光検出器１６で光量検
出され、偏向ビームスプリッタ１１からミラー１２で反
射された０次回指光のＳ偏光成分は光検出器１７で光量
検出される。これら光検出器１６．１７の出力信号の差
とることによって光学情報担体１８の情報トラック上に
磁気記録されている情報信号が得られ、また、光検出器
１６．１７の出力信号の和をとることによって光学情報
担体１８のプリピットによって生じた明暗の信号が得ら
れる。

ビームスプリッタ７を透過した反射光ビームのＰ偏光成
分はさらにその一部がビームスプリッタ６で反射され、
集束レンズ１３で集束される。この集束レンズ１３で集
束される反射光ビームは円筒レンズ１４で非点収差を受
け、光検出器１５で受光される。光検出器１５は６分割
されたフォトダイオードによって構成されており、その
うちの４個のフォトダイオードが非点収差を受けた反射
光ビームのうちの０次回折光を受光する。これらフォト
ダイオードの出力信号を演算処理することにより、フォ
ーカス情報が得られる。また、上記６個のフォトダイオ
ードの残りの２個のフォトダイオードの一方で非点収差
を受けた反射光ビームの＋】次回指光を受光し、他方で
一１次回折光を受ける。そして、これら２個のフォトダ
イオードの出力信号の差をとることにより、トラッキン
グ情報が得られる。

以上説明した３ビ一ム方式によると、トラッキング情報
の検出には、±１次回折光の光量差のみを用いているた
め、ビーム光軸に対するディスクの傾きの影響を受けに
くく、また、反射された±１次回折光を受光するフォト
ダイオードからこれら±１次回折光の結像スポットがは
ずれなければよいため、これらフォトダイオードの位置
調整が容易である。

〔発明が解決しようとする課題〕

ところで、光学情報担体をコードデータの記録に用いる
場合には、この光学情報担体にプリピットが形成されて
いるのが一般的である。その−例としては、各セクタ毎
にアドレス情報を示すヘッダ一部がプリピットとして形
成されている。このようなピットが存在するところでは
±１次回折光の反射光量に変動が生じ、トラッキング情
報の検出精度に影響を及ぼすことになるが、ヘッダ一部
の長さはデータが記録される領域（データ領域）に比べ
て充分短かいので、それほどその影響は大きくない。

これに対して、データ領域にも予めプリピットでもって
データを記録したいわゆるＲ　ＯＭ　？＋Ｕ域を設ける
場合もある。このようなＲＯＭ　ｊＪＩ域からデータを
再生する場合、ヘッダ一部だけの場合に比べ、長時間に
わたってプリピットにより±１次回折光の反射光量が変
動してしまい、正しいトラッキング情報が得られなくな
る。以下、第５図により、プリピットのトラッキング情
報検出への影響について説明する。

第５図（ａ）は光学情報媒体上の案内溝と３ビ一ム方式
での各光ビームを示している。案内溝間がデータが記録
されるトラックである。±１次回折光は、トラックと垂
直な方向（矢印Ｘ方向）で、０次回折光の両側に１八　
トラックピッチずつずれ、かつトラック方向く矢印Ｙ方
向）で、０次回折光の前後に、トラックピッチを１．６
μｍとして、約４０μｍずつずれて光学情報担体を照射
する。

ここで、矢印Ｘ方向にみて、＋１次回折光はＯ次回指光
の右側に、−１次回折光はその左側に夫々配置されてい
るものとする。各光ビームの反射光量は、その光ビーム
の中心がトラックの中心線に一致したとき最大となり、
案内溝の中心線に一致したとき最小となる。そこで、い
ま、光学情報担体が回転しなから０次回折光、±１次回
折光を矢印Ｘ方向移動させた場合、０次回折光の中心の
位置に応じた各光ビームの反射光量をみると、第５図（
ｂ）に示すように変化する。すなわち、これらの反射光
量はトラックピッチを周期して変化するが、＋１次回折
光の反射光量の変化は０次回折光の反射光量の変化より
も１八周期分進み、−１次回折光の反射光量の変化は逆
番コへ周期分遅れている。

第５図（ｂｌはトラックにプリピットが形成されていな
い場合の各光ビームの反射光量の変化を示しており、Ｏ
次回指光の中心がトラックの中心線に一致しているとき
±１次回折光の反射光量が等しくなり、０次回折光の中
心がトラックの中心線がら１八　トラックピッチ分ずれ
ているとき±１次回折光の反射光量の差が最大となる。

以上はトラックにプリピットが形成されていない部分を
照射する場合であったが、プリピットが形成されている
部分を照射する場合には、各光ビームの反射光はプリピ
ットによって強度変調される。この様子を時間軸ｔを基
準にして第５図（Ｃ）。

（Ｃ）′に示す。

第５図（Ｃ）は±１次回折光の反射光量の変化を示し、
同図（Ｃ）゛は一１次回折光の反射光量の変化を示して
いる。夫々の図において、破線はプリピットがない場合
の反射光量の変化である。

プリピットが存在する場合でも、±１次回折光の中心が
トラック中心線に一致するとき、これらの反射光量が最
大となるはずであるが、これはプリピットの間隔、すな
わち密度が一定の場合であり、実際にはプリピットの密
度は情報内容に応じて変化し、密度が高い程光干渉効果
が大きくなって反射光量が低下する。このために、±１
次回折光の中心がトラック中心線と一致しても、必ずし
もこれらの反射光量は最大とならんいし７、また、０次
回指光の中心がトラック中心線と−・致し、でも、±１
次回折光の反射光１は必ずしも−・致しない。

そこで、プリピットの影響を除くために、±１次回折光
の反射光を受光する光検出器の出力侶鴛をＬＰＦ　（ロ
ーパスフィルタ）に通し１１、プリピットによる変調骨
を除いて平均（！Ｅ（すなわち、直流成分）を抽出し、
これら直流成分をレベル比較してトラッキング情報を得
ることが考えられる。

しかしながら、得られる直流成分も、第５図（Ｃ）２（
Ｃ）′で平均値として実線で示すように、プリピットの
変調に応じても、つまり、プリピットの密度に応じても
変動しており、このために、これら直流成分をレベル比
較して得られるトラッキング情報信号は、第５図（ｄｌ
で実線で示すようになる。第５図（ｄ）において、破線
はプリピットがないときの第５図（ｂ）の実線で示す±
１次回折光の反射光量から得られる正しいトラッキング
情報信号を示しており、これと比較して明らかなように
、正常なｌ・ラッキング情報信号が得られないことにな
る。

本発明の目的は、かかる問題点を解消し、プリピットが
形成されている領域からも正常なトラッキング情報が得
られるようにした光学情報記録再生装置を提供すること
にある。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的を達成するために、本発明は一従来のようにト
ラッキング検出のための２つの副光ビーム夫々の反射光
量に応じた振幅の電気信号のレベルを比較する第１の手
段と、該電気信号の交流成分の振幅を検出してレベル比
較する第２の手段と、光学情報担体上のプリピットがな
い領域では該第１の手段の出力信号をトラッキング情報
信号として選択しプリピットがある領域では該第２の手
段の出力信号をトラッキング情報信号として選択する第
３の手段とを設ける。

〔作用〕

上記のように、プリピットが形成されている領域を副光
ビームが走査すると、これらの反射光はプリピットによ
って強度変調を受け、交流成分を含む。この交流成分は
プリピットの密度の影響を受けるが、この影響はプリピ
ットの密度が高くなるとともに交流成分を全体的にレベ
ル低下させるものである。これは、プリピットの密度が
高くなると、光干渉の効果がより効いてくることによる
ものである。

そこで、交流成分の振幅はやはり副光ビームのトラック
幅方向での位置を一応表わしており、したがって、２つ
の副光ビームの反射ビームの交流成分の振幅差を検出す
ることにより、トラッキング情報を得ることができる。

したがって、プリピットがない領域では、上記の交流成
分が得られないから、上記第１の手段の出力信号をトラ
ッキング情報信号とし、プリピットがある領域では、上
記第２の手段の出力信号をトラッキング情報信号とする
ことにより、光学情報担体にＲＯＭ　ｅｌ域などのプリ
ピットがある領域があっても、常に良好なトラッキング
情報を得ることができる。

また、それでもやはり上記交流成分の振幅はプリピット
の密度の影響を受けている。この影響を除くためには、
プリピットの密度に応じて交流成分の振幅を補正する。

これにより、より正確なトラッキング情報が得られる。

〔実施例〕

以下、本発明の実施例を図面によって説明する。

まず、本発明による光学情報記録再生装置の一実施例の
光学系を第１図により説明する。但し、同図ｆａ）はそ
の上面図、同図（ｂ）はその側面図であって、１９はハ
ーフミラ−１２０はウォラストンプリズム、２１は集束
レンズ、２２は光検出器、２３はミラーであり、第４図
に対応する部分には同一符号をつけている。

第１図（ａｌ、（′ｂ）において、レーザダイオード１
から射出されるレーザビームは、第４図に示した従来例
と同様、コリメータレンズ２とビーム整形プリズム４，
５とにより、円形スポットの平行ビームとなり、回折格
子３でＯ次回指光（主光ビーム）と±１次回折光（副光
ビーム）になる。ビームスプリッタ７では、入射される
主、副光ビームにわずかに混在するＳ偏光成分の全てと
Ｐ偏光成分の一部を反射し、Ｐ偏光成分のみを通過さセ
る。ビームスプリッタ７を通過した主、副光ビームは立
上げミラー８で立ち上げられ、フォーカスレンズ９で光
学情報担体１８上に集束される。

なお、光学情報担体１８上のトラックピッチを１．６μ
ｍとすると、±１次回折光は０次回折光のトラック幅方
向左右に０．４μｍ（トラックピッチの１八倍）、トラ
ック長手方向前後に約４０μｍ夫々ずれて照射される。

光学情報担体１８が光磁気媒体であるとすると、情報の
記録による磁界強度に応じたカー効果が主、副の反射光
ビームに生じ、偏光面が回転してＳ偏光成分が生じてそ
の分Ｐ偏光成分が減少する。このように光学情報担体１
８から反射された主、副光ビームはフォーカスレンズ９
を通り、立上げミラー８で反射されてビームスプリッタ
フに入射される。ビームスプリッタ７では、各回折光の
Ｓ偏光成分の全てとＰ偏光成分の一部とが反射される。

ビームスプリッタ７で反射された主、副光ビームはハー
フミラ−１９で２分され、これで反射された一方の主、
副光ビームは２波長板１０を通り、ウォラストンプリズ
ム２０でＰ偏光成分とＳ偏光成分とに分けられる。そし
て、０次回折光のＰ偏光成分とＳ偏光成分とは集束レン
ズ２工によって２分割フォトダイオードからなる光検出
器２２の別々のフォトダイオードに照射される。これら
フォトダイオードの出力信号の差をとることにより、光
学情報担体１８に磁気記録された情報信号が得られ、こ
れらフォトダイオードの出力信号の和をとることにより
、光学情報担体１８上のプリピットによって生ずる明暗
の信号を得ることができる。

また、ハーフミラ−１９を通過した他方の主、副光ビー
ムは集束レンズ１３、円筒レンズ１４を遺り、ミラー２
３で反射されて光検出器１５に照射される。光検出器１
５は４分割フォトダイオードとその両側に配置された２
個の単一のフォトダイオードとで構成されており、この
４分割フォトダイオードにミラー２３で反射された主光
ビーム（０次回折光）が照射され、２つの単一フォトダ
イオードの一方にミラー２３で反射された一方の副光ビ
ーム（±１次回折光）が、他方の単一フォトダイオード
にミラー２３で反射された他方の副光ビーム（−１次回
折光）が夫々照射される。

光検出器１５の出力信号からトラッキング情報信号やフ
ォーカシング情報信号などが形成されるが、次に、第２
図により、これら情報信号の検出手段について説明する
。但し、同図において、１５ａは４分割フォトダイオー
ド、１５ａ、〜１５ａ４はフォトダイオード、１５ｂ、
１５ｃはフォトダイオード、２４．２５は演算アンプ、
２６はＬＰＦ、２７は波形等化回路、２８は上側包絡線
検波回路、２９は下側包絡線検波回路、３αは差動アン
プ、３５．３６は波形等化回路、３７．３８は上側包絡
線検波回路、３９．４０は下側包絡線検波回路、４１は
演算アンプ、４２はスイッチ、４３゜４４はレベル比較
回路、４５は遅延回路、４６〜４９はアンドゲート、５
０は入力端子である。

光検出δ１５は４個のフォトダイオード１５ａ。

〜１５ａ４からなる４分割フォトダイオード１５ａとそ
の両側に配置された２個のフォトダイオ−Ｆ１５ｂ、１
５ｃとで構成されており、４分割フォトダイオード１５
ａが光学情報担体から反射されたＯ次回指光を受光し、
フォトダイオード１５ｂが同じく＋１次回折光を、フォ
トダイオード１５Ｃが同じく一１次回折光を夫々受光す
る。４分割フォトダイオード１５ａ上に生ずるＯ次回指
光のスポットは、このＯ次回指光が集束レンズ１３と円
筒レンズ１４．（第１図（ａ））を通過しているので、
フォーカスレンズ９が光学情報担体１８（第１図）に対
してフォーカシング位置にないとき、フォトダイオード
１５ａ＋、１５ａａを結ぶ直線方向とフォトダイオード
１５ａ＋、１５ａｓを結ぶ直線方向とを夫々軸方向とす
る楕円形状をなしており、この楕円の２つの軸の比率が
光学情報担体］８からフォーカスレンズ９までの距離に
応じて変化する。

そこで、演算アンプ２４により、４分割フォトダイオー
ド１５ａにおけるフォトダイオード１５２ｚ＋１．５２
ｓの出力信号の和からフォトダイオード１５ａ、、　　
１５ａ、の出力信号の和を減算することにより、フォー
カスレンズ９を拳Ｈ卸するためのフォーカシング情報信
号ｅが得られる。

フォトダイオード１５ｂの＋１次回折光の光量に応じた
レベルの出力信号は、アンプ３３で増幅された後、差動
アンプ３４と波形等孔蓋３６とに供給される。また、フ
ォトダイオード１５ｃの１次回折光の光量に応じたレベ
ルの出力信号は、アンプ３２で増幅された後、差動アン
プ３４と波形等化回路３５とに供給される。差動アンプ
３４では、アンプ３３の出力信号からアンプ３２の出力
信号が減算され、＋１次回折光と一１次回折光との光量
差に比例したレベルの信号Ｃが得られる。

この差動アンプ３４の出力信号Ｃは、光学情報担体１８
（第１図（ｂ））のプリピットがない領域を主、副光ビ
ームが走査するときのトラッキング情報である。

先に説明したように、主、副光ビームが光学情報担体１
８上のプリピットが存在する領域を走査すると、そこか
ら反射される主、副光ビームはプリピットの密度に応じ
て変調を受け、かつ光量が変動する。この結果、アンプ
３２．３３の出力信号はプリピットの密度に応じた周波
数の交流成分を含むとともに、これら交流成分の振幅も
影響を受けてプリピットの密度が高いほど小さくなる。

波形等化回路３５．３６は、アンプ３２．３３の出力信
号のかかるプリピットの密度による交流成分の振幅変動
を補償し、これら交流成分の振幅が副光ビームのトラッ
ク幅方向の位置に応じたものとなるようにする。

波形等化回路３５の出力信号は上側包路線検波回路３７
で検波されてその交流成分の上側包絡線を表わす信号（
上側包絡線信号）ａが生成され、また、下側包絡線検波
回路３９で検波されて交流成分の下側包絡線を表わす信
号（下側包絡線信号）ｂが生成される。同様にして、波
形等化回路３６の出力信号は上側包路線検波回路３８と
下側包絡線検波回路４０とに供給され、その交流成分に
対する上側包絡線信号ａ′と下側包路線検波信号ｂ′と
が生成される。演算アンプ４１では（ａ　−ｈ）（ａ’
−ｂ’）の演算処理がなされる。ここで、（ａ−ｂ）は
上側包絡線信号ａと下側包絡線信号すとの差であって波
形等化回路３５の出力信号における交流成分の振幅を表
わし、（ａ’−ｈ’）は、同様にして、波形等化回路３
６の出力信号における交流成分の振幅を表わしている。

したがって、演算アンプ４１から出力される信号ｄは波
形等化回路３５．３６の出力信号における交流成分の振
幅差、したがって、主、副光ビームが光学情報担体１８
上のプリピットが存在する領域を走査するときのトラッ
キング情報を表わしていることになる。

スイッチ４２は入力端子５０からの制御信号ｊによって
制御され、主、副光ビームが光学情報担体１８上のプリ
ピットない領域を走査するときには、Ａ側に閉じて差動
アンプ３４の出力信号Ｃをトラッキング情報信号ｉとし
て選択し、主、副光ビームが光学情報担体１８上のプリ
ピットが存在する領域を走査するときには、Ｂ側に閉じ
て演算アンプ４１の出力信号ｄをトラッキング情報信号
ｉとして選択する。このトラッキング情報信号ｉによっ
て主光ビームのト・ラッキング制御が行なわれる。

このようにして、光学情報担体１８１−のプリピットが
ない領域でもプリピットがある領域でも良好なドラッギ
ング制御が可能となるし、プリピットを形成しない光学
情報担体とプリピットを設ける光学情報担体との双方に
対しても良好なトラッキング制御が可能となる。

また、フォトダイオード１５ｂ、１５Ｃは光学情報担体
から反射された副光ビームを完全に受光すればよいため
に、フォトダイオード１５ｂ、１５Ｃの配置など光学系
の組立精度が緩和されて安価に光学系を構成できるし、
また、光学情報担体の精度なども緩和できる。

次に、第２図の他の部分について説明する。

４分割フォトダイオード１５ａの各フォトダイオード１
５３１〜１５ａ４の出力信号は演算アンプ２５で加算さ
れ、４分割フォトダイオード１５ａでのＯ次回指光の受
光量に比例したレベルの信号が得られる。演算アンプ２
５の出力信号は、方では、ＬＰＦ２６でプリピットによ
る変調成分が除去されてスイッチ３１に供給され、他方
では、波形等化回路３５．３６と同様の機能を有する波
形等化回路２７で交流成分のプリピットによる振幅変動
が補償された後、上側包路線検波回路２８と下側包絡線
検波回路２９と差動アンプ３０とによってこの交流成分
の振幅を表わす信号が生成されてスイッチ３１に供給さ
れる。

ここで、主光ビームが光学情報担体１．１Ｌｌ−のプリ
ピットがない領域を走査するときには、■、ＰＦ２６の
出力信号が４分割フォトダイオード１５ａが受光するＯ
次回指光の受光量を表わし、主光ビームが光学情報担体
１８上のプリピットが存在する領域を走査するときには
、差動アンプ３０の出力信号が上記Ｏ次回指光の受光量
を表わす。

スイッチ３１は入力端子５０からの制御信号ｊによって
制御され、主光ビームが光学情報担体１８上のプリピッ
トがない領域を走査するとき、Ａ側に閉じてＬＰＦ２６
の出力信号を主光ビームの光量信号ｆとして選択し、主
光ビームが光学情報担体１８上のプリピットが存在する
領域を走査するときには、Ｂ側に閉じて差動アンプ３０
の出力信号を光量信号ｆとして選択する。

この光学情報記録再生装置に光学情報担体１８が装着さ
れて起動するときには、第１図のフォーカスレンズ９が
下方から持ち上げられて光学情報担体に近づくが、これ
とともに４分割フォトダイｔ−Ｆ１５ａ上の主光ビーム
のスポットが小さくなっていき、光量信号ｆのレベルが
上昇していく。

光学信号ｆのレベルが予め設定された闇値を越えると、
フオーカシンク情報信号ｅによるフォーカシング制御が
開始する。このようにして、フォーカシングサーボ回路
の起動時の引き込みが迅速に行なわれるようにする。

スイッチ４２で得られるトラッキング情報信号ｉは、ま
た、レベル比較回路４４で０［位とレベル比較され、ト
ラッキング情報信号ｉの順次のゼロクロス点で交互に立
上り、立下がる矩形波信号Ｋが生される。この矩形波信
号にはアンドゲート４６に供給されるとともに、レベル
反転されてアンドゲート４７に供給される。また、この
矩形波信号には、遅延回路４５でわずかに遅延された後
、レベル反転されてアンドゲート４６に供給されるとと
もに、アンドゲート４７に供給される。したがって、ア
ンドゲート４６からは矩形波信号にの立上りエツジのタ
イミングで遅延回路４５の遅延時間に等しい時間幅の立
上りエツジパルスｍが得られ、アンドゲート４７からは
同じく立下りエツジパルスｎが得られる。

一方、スイッチ３１で得られる光量信号ｆは、また、レ
ベル比較回路４３で基準電圧Ｖｌと比較され、ゲート信
号Ｐが形成される。このゲート信号Ｐはアンドゲート４
８，４９に供給される。アントゲ−）４８．４９は夫々
光量信号ｆが基準電圧７１以上のレベルのときオンとな
り、立上りエツジパルスｍ、立下りエツジパルスｎを通
過させてトラック横断信号ｇ、ｈとする。

これらトラック横断信号ｇ、ｈは、主光ビームが光学情
報担体１８上のトラックを横切るように移動するとき、
トラッキング情報信号ｉのゼロクロスタイミングで交互
に発生する。しかし、このトラッキング情報信号ｉのゼ
ロクロク点は、主光ビームの中心がトラック中心線上に
あるときとトラック間の案内溝の中心線上にあるときと
で住じ、トラック横断信号ｇ、ｈの一方が主光ビームの
中心がトラック中心線上にあるとき生ずると、他方が主
光ビームの中心が案内溝の中心にあるときに生じ、しか
も、主光ビームの移動方向に応じて主光ビームの中心が
トラック中心線上にあるときに生ずるトラック横断信号
が異なる。

これを判別するために、レベル比較回路４３から出力さ
れるゲート信号ｐで制御されるアンドゲート４８，４９
が設けられている。すなわち、デー４信号ｐは、主光ビ
ームの中心がトラック中心線上にあるときには、必ずＨ
”であってアンドゲート４８．４．９がオンする。従っ
て、立上りエツジパルスｍが主光ビームの中心がトラッ
ク中心線上にあるときに発生すれば、この立上りエツジ
パルスｍがアンドゲート４８を通過してトラック横断信
号ｇが得られ、逆に、立下りエツジパルスｎが主光ビー
ムの中心がトラック中心線上にあるときに発生すれば、
この立下りエツジパルスｎがアンドゲート４９を通過し
てトラック横断信号りが得られる。

かかるトラック横断信号ｇまたはｈを計数することによ
り、主光ビームが横断したトラック数を検出することが
でき、これにより、トラックシーク時での位置、速度を
検出することができる。

第３図は第２図における波形等化回路３５、上側包絡線
検波回路３７、下側包絡線検波回路３９の例を示す回路
図である。

同図において、波形等化回路３５では、アンプ３２　（
第２図）の出力信号ｑは、一定遅延量の遅延線５１で遅
延された後、抵抗Ｒ７を介して演算アンプ５２に非反転
入力として供給される。また、この信号ｑは抵抗Ｒ８〜
Ｒ２によって分圧され、反転入力として演算アンプ５２
に供給される。演算アンプ５２の出力端子は抵抗Ｒアを
介して演算アンプ５２の非反転入力端子に接続されてい
る。

かかる構成によると、遅延線５１の作用により、入力信
号ｑの周波数が高いほど利得が増大する。

したがって、遅延線５１の遅延時間や抵抗Ｒ１〜Ｒｓの
抵抗値を適宜設定することにより、プリピットの密度に
よる入力信号ｑの交流成分の振幅変動を補償することが
できる。

なお、遅延線５１の遅延時間は、入力信号ｑの交流成分
の最小周期よりも短かくなければならないことはいうま
でもない。

上側包絡線検波回路３７では、波形等化回路３５の出力
信号ｒが演算アンプ５３に非反転入力として供給される
。演算アンプ５３の出力端子はダイオード５４のアノー
ドに接続され、このダイオードのカソードが抵抗５５、
コンデンサ５６および演算アンプ５３の反転入力端子に
接続されている。

かかる構成において、ダイオード５４の順方向電圧を無
視すると、波形等化回路３５の出力信号ｒのレベルがコ
ンデンサ５６の充電電圧よりも高いとき、演算アンプ５
３の出力信号によってコンデンサ５６は充電され、逆の
とき、コンデンサ５６は抵抗５５を介して放電する。

この動作により、コンデンサ５６の充電電圧は波形等化
回路３５の出力信号ｒの交流成分の上側包絡線に追従し
、上側包絡線信号ａが得られる。

下側包絡線検波回路３９では、波形等化回路３５の出力
信号ｒが演算アンプ５７に非反転入力として供給される
。演算アンプ５７の出力端子はダイオード５８のカソー
ドに接続され、ダイオード５８のアノードはコンデンサ
６０、演算アンプ５７の反転入力端子と抵抗５９を介し
て電源電圧Ｖｃｃの電源端子に接続されている。

かかる構成において、波形等化回路３５の出力信号ｒの
レベルがコンデンサ６０の充電電圧よりも低いときには
、コンデンサ６０はダイオード５８を介して放電し、逆
の場合には、コンデンサ６０は抵抗５９を介して電源電
圧Ｖｃｃにより充電される。

これにより、コンデンサ６０の充電電圧は波形等化回路
３５の出力信号ｒの交流成分の下側包路線に追従し、下
側包絡線信号すが得られる。

第２図における波形等化回路３６．２７や上側包絡線検
波回路３８，２８、下側包絡線検波回路４０．２９につ
いても同様である。

なお、本発明は、光磁気ディスクばかりではなく、追記
型光ディスクのように案内溝と光干渉を生ずるピットが
形成される他の光学情報担体に対して適用可能であるこ
とはいうまでもない。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明によれば、光学情報担体に
光干渉を生ずるピットが存在するか否かにかかわらず、
常に良好なトラッキング制御を行なうことができ、した
がって、ピットが存在する領域と存在しない領域とが混
在する光学情報担体でも勿論のこと、このようなピット
が設けられない光学情報担体やこのようなピットで全体
に情報信号が記録された光学情報担体に対しても、良好
なトラッキング制御を行なうことができる。

また、光学系の組立精度や光学情報担体の精度などを緩
和できるため、光学系を安価に構成できる。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａｌは本発明による光学情報記録再生装置の一
実施例の光学系を示す上面図、同図（ｂ）は同じく側面
図、第２図はこの実施例の制御情報検出部を示すブロッ
ク図、第３図は第２図における波形等化回路、上側包絡
線検波回路および下側包絡線検波回路の一例を示すブロ
ック図、第４図は従来の光学情報記録再生装置の光学系
の一例を示す構成図、第５図はトラッキング情報検出に
際してのプリピットの影響を示す説明図である。 １・・・・・・レーザダイオード、３・・・・・・回折
格子、７・・・・・・ビームスプリッタ、９・・・・・
・フォーカスレンズ、１５・・・・・・光検出器、１５
ｈ、ｉ５ｃ・・・・・・フォトダイオード、１８・・・
・・・光学情報担体、３４・・・・・・差動アンプ、３
５．３６・・・・・・波形等化回路、３７．３８・・・
・・・上側包絡線検波回路、３９．４０・・・・・・下
側包絡線検波回路、４１・・・・・・演夏アンプ、４２
・・・・・・スイッチ。 第１図 第２図 とσノ

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）トラッキングのための案内溝と情報ピットとが予
   め設けられた光学情報担体上に情報記録再生のための主
   光ビームとトラッキング検出のための一対の副光ビーム
   を照射し、該光学情報担体上で該副光ビーム夫々の中心
   走査軌跡が該主光ビームの中心走査軌跡の両側に配置さ
   れるようにした光学情報記録再生装置において、該光学
   情報担体で反射された該副光ビーム夫々の強度に応じた
   振幅の電気信号を発生する第１、第２の手段と、該第１
   、第２の手段の出力電気信号の振幅差を検出する第３の
   手段と、該第１、第２の手段の出力電気信号の交流成分
   を検出し該交流成分の振幅差を検出する第４の手段と、
   該副光ビームが該光学情報担体上の該情報ピットが設け
   られていない領域を走査するとき該第３の手段の検出出
   力をトラッキング情報として選択し該副光ビームが該光
   学情報担体上の該情報ピットが設けられている領域を走
   査するとき該第４の手段の検出出力をトラッキング情報
   として選択する第５の手段とを備えたことを特徴とする
   光学情報記録再生装置。
2. （２）請求項（１）において、前記副光ビーム夫々の前
   記光学情報担体上の照射位置が前記主光ビームの照射位
   置に対して前後したことを特徴とする光学情報記録再生
   装置。
3. （３）請求項（１）または（２）において、前記主光ビ
   ーム、副光ビームの発生手段は回折格子からなることを
   特徴とする光学情報記録再生装置。
4. （４）請求項（２）または（３）において、前記第４の
   手段が、前記情報ピットの密度差による前記第１、第２
   の手段の出力電気信号の交流成分の振幅変動を補償する
   手段を有することを特徴とする光学情報記録再生装置。