JPH04274032A - 光学情報記録再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光磁気デイスクや追記
形光デイスクなどのトラツキングのための案内溝が設け
られた光学情報担体の光学情報記録再生装置に係り、特
に、トラツキング情報の検出に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、光磁気デイスクや追記形光デイス
クなどの光学情報担体には案内溝が設けられ、この案内
溝を利用することにより、情報記録再生用ビームのトラ
ツキングを制御するようにした技術が知られている。ト
ラツキング情報の検出方式としては、従来、プツシユプ
ル方式と呼ばれるものが主として用いられている。これ
は、１つの光ビームを用い、この光ビームが案内溝にか
かるときに生ずる±１次回折光の強度差を検出してトラ
ツキング情報を得るようにするものである。

【０００３】しかしながら、この方式は光ビームの案内
溝へのかかり具合によつて生ずる±１次回折光の強度差
に応じた光学情報担体からの反射光のフアーフイールド
パターンの光量分布の変化を利用しているから、光学情
報担体のビーム光軸に対する傾き、案内溝の形状、レン
ズ光軸のビーム光軸に対するずれ、光検出器の位置ずれ
などの影響を大きく受けることになる。このために、光
学情報担体の機械特性に対する要求が厳しく、また、光
学情報記録再生装置に対しても、光学ヘツドの組立て調
整精度、経時変化による部品の位置ずれなどに充分な注
意を払わなければならなかつた。しかも、このような注
意を払つたとしても、トラツク中心軸に対する光ビーム
のオフセツトをゼロにすることは困難であるし、また、
レンズシフトを小さくするために、コースアクチユエー
タとフアインアクチユエータとを連動されて制御する２
段サーボ方式を採用するなどされており、光学情報記録
再生装置が複雑かつ高価になつていた。

【０００４】かかる問題を解消する方式として、３本の
光ビームを用いた３ビーム方式が知られているが、以下
、この方式を用いた光磁気デイスクに対する従来の光学
情報記録再生装置について図１０により説明する。但し
、１はレーザダイオード、２はコレメートレンズ、３は
回折格子、４，５はビーム整形プリズム、６，７はビー
ムスプリツタ、８は立上げミラー、９はフオーカスレン
ズ、１０は１／２波長板、１１は偏光ビームスプリツタ
、１２はミラー、１３は集束レンズ、１４は円筒レンズ
、１５〜１７は光検出器、１８は光磁気デイスクである
。

【０００５】同図において、レーザダイオード１から水
平方向に射出されたレーザビームはコレメートレンズ２
で平行ビームとなり、回折格子３で０次回折光と±１次
回折光となる。これら回折光は夫々ビーム整形プリズム
４，５によつて円形スポツトの光ビームとなる。ここで
、０次回折光を主光ビームといい、±１次回折光を副光
ビームということにする。また、これらを総称して光ビ
ームということにする。

【０００６】ビーム整形プリズム４，５によつてスポツ
ト形状が円形とされた光ビームはビームスプリツタ５，
６を通り、立上げミラー８で垂直方向に立ち上げられ、
フオーカスレンズ９によつて光磁気デイスク１８上に集
光される。

【０００７】光磁気デイスク１８上に照射された光ビー
ムはこの光磁気デイスク１８で反射される。光磁気デイ
スク１８上に照射される光ビームは光磁気デイスク１８
上の情報トラツクに平行な偏光面をもつＰ偏光ビームで
あるが、光磁気デイスク１８上に情報が磁気的に記録さ
れている領域を照射するとその磁化の大きさに応じたカ
ー効果により、反射光ビームは偏光面が回転してＰ偏光
成分および光ビームの光軸に対して垂直な偏光面のＳ偏
光成分が生ずる。すなわち、反射光ビームはＰ偏光成分
とＳ偏光成分とからなつており、これらの割合はカー効
果の大きさによつて異なる。

【０００８】光磁気デイスク１８からの反射光ビームは
フオーカスレンズ９、立上げミラー８を経てビームスプ
リツタ７に至る。ビームスプリツタ７は反射光ビームの
Ｓ偏光成分の全てとＰ偏光成分の一部とを反射する。こ
のようにビームスプリツタ７で反射された反射光ビーム
は１／２波長板１０で偏光面が４５度回転され、偏光ビ
ームスプリツタ１１でＰ偏光成分とＳ偏光成分とに分け
られる。そして、主光ビームのＰ偏光成分は光検出器１
６で光量検出され、偏光ビームスプリツタ１１からミラ
ー１２で反射された主光ビームのＳ偏光成分は光検出器
１７で光量検出される。これら光検出器１６，１７の出
力信号の差をとることによつて光学情報担体１８の情報
トラツク上に磁気記録されている情報信号が得られ、ま
た、光検出器１６，１７の出力信号の和をとることによ
つて光学情報担体１８のプリピツトによつて生じた明暗
の信号が得られる。

【０００９】ビームスプリツタ７を透過した反射光ビー
ムのＰ偏光成分はさらにその一部がビームスプリツタ６
で反射され、集束レンズ１３で集束される。この集束レ
ンズ１３で集束される反射光ビームは円筒レンズ１４で
非点収差を受け、光検出器１５で受光される。光検出器
１５は６分割されたフオトダイオードによつて構成され
ており、そのうちの４個のフオトダイオードが非点収差
を受けた反射光ビームのうちの主光ビームを受光する。 これらフオトダイオードの出力信号を演算処理すること
により、フオーカシング情報が得られる。また、上記６
個のフオトダイオードの残りの２個のフオトダイオード
の一方で非点収差を受けた反射光ビームの一方の副光ビ
ームを受光し、他方で他方の副光ビームを受ける。そし
て、これら２個のフオトダイオードの出力信号の差をと
ることにより、トラツキング情報が得られる。

【００１０】以上説明した３ビーム方式によると、トラ
ツキング情報の検出には、２つの副光ビームの光量差の
みを用いているため、ビーム光軸に対するデイスクの傾
きの影響を受けにくく、また、反射された副光ビームを
受光するフオトダイオードからこれら副光ビームの結像
スポツトがはずれなければよいため、これらフオトダイ
オードの位置調整が容易である。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】ところで、光学情報担
体をコードデータの記録に用いる場合には、この光学情
報担体にプリピツトが形成されているが一般的である。 その一例としては、各セクタ毎にアドレス情報を示すヘ
ツダー部がプリピツトとして形成されている。このよう
なピツトが存在するところでは副光ビームの反射光量に
変動が生じ、トラツキング情報の検出精度に影響を及ぼ
すことになるが、ヘツダー部の長さはデータが記録され
る領域（データ領域）に比べて充分短かいので、それほ
どその影響は大きくない。

【００１２】これに対して、データ領域にも予めプリピ
ツトでもつてデータを記録したいわゆるＲＯＭ領域を設
ける場合もある。このようなＲＯＭ領域からデータを再
生する場合、ヘツダー部だけの場合に比べ、長時間にわ
たつてプリピツトにより副光ビームの反射光量が変動し
てしまい、正しいトラツキング情報が得られなくなる。 以下、図１１〜図１６により、プリピツトのトラツキン
グ情報検出への影響について説明する。

【００１３】図１１は光学情報媒体の案内溝と３ビーム
方式での各光ビームを示している。案内溝間がデータが
記録されるトラツクである。副光ビームである±１次回
折光は、トラツクと垂直な方向（矢印Ｘ方向）で、主光
ビームである０次回折光の両側に１／４トラツクピツチ
ずつずれ、かつトラツク方向（矢印Ｙ方向）で、０次回
折光の前後に、トラツクピツチを１．６μｍとして、約
４０μｍずつずれて光学情報担体を照射する。

【００１４】ここで、矢印Ｘ方向にみて、＋１次回折光
は０次回折光の右側に、−１次回折光はその左側に夫々
配置されているものとする。各光ビームの反射光量は、
その光ビームの中心がトラツクの中心線に一致したとき
最大となり、案内溝の中心線に一致したとき最小となる
。そこで、いま、光学情報担体が回転しながら０次回折
光、±１次回折光を矢印Ｘ方向に移動させた場合、０次
回折光の中心の位置に応じた各光ビームの反射光量をみ
ると、図１２に示すように変化する。すなわち、これら
の反射光量はトラツクピツチを周期して変化するが、＋
１次回折光の反射光量の変化は０次回折光の反射光量の
変化よりも１／４周期分進み、−１次回折光の反射光量
の変化は逆に１／４周期分遅れている。

【００１５】図１２はトラツクにプリピツトが形成され
ていない場合の各光ビームの反射光量の変化を示してお
り、０次回折光の中心がトラツクの中心線に一致してい
るとき±１次回折光の反射光量が等しくなり、０次回折
光の中心がトラツクの中心線から１／４トラツクピツチ
分ずれているとき±１次回折光の反射光量の差が最大と
なる。

【００１６】以上はトラツクにプリピツトが形成されて
いない部分を照射する場合であつたが、プリピツトが形
成されている部分を照射する場合には、各光ビームの反
射光はプリピツトによつて強度変調される。この様子を
時間軸ｔを基準にして図１３，図１４に示す。

【００１７】図１３は＋１次回折光の反射光量の変化を
示し、図１４は−１次回折光の反射光量の変化を示して
いる。夫々の図において、破線はプリピツトがない場合
の反射光量の変化である。

【００１８】プリピツトが存在する場合でも、±１次回
折光の中心がトラツク中心線に一致するとき、これらの
反射光量が最大となるはずであるが、これはプリピツト
の間隔、すなわち密度が一定の場合であり、光学系の分
解能が有限であることから、実際にはプリピツトの密度
は情報内容に応じて変化し、密度が高い程光干渉効果が
大きくなつて反射光量が低下する。このために、±１次
回折光の中心がトラツク中心線と一致しても、必ずしも
これらの反射光量は最大とならないし、また、０次回折
光の中心がトラツク中心線と一致しても、±１次回折光
の反射光量は必ずしも一致しない。

【００１９】そこで、プリピツトの影響を除くために、
±１次回折光の反射光を受光する光検出器の出力信号を
ＬＰＦ（ローパスフイルタ）に通し、プリピツトによる
変調分を除いて平均値（すなわち、直流成分）を抽出し
、これら直流成分をレベル比較してトラツキング情報を
得ることが考えられる。

【００２０】しかしながら、得られる直流成分も、図１
３，図１４で平均値として実線で示すように、プリピツ
トの変調に応じても、つまり、プリピツトの密度に応じ
ても変動しており、このために、これら直流成分をレベ
ル比較して得られるトラツキング情報信号は、図１５で
実線で示すようになる。図１５において、破線はプリピ
ツトがないときの図１２の実線で示す±１次回折光の反
射光量から得られる正しいトラツキング情報信号を示し
ており、これと比較して明らかなように、正常なトラツ
キング情報信号が得られないことになる。

【００２１】また、光スポツトがピツトを通過するとき
に得られる再生信号の波形は、図１６に示すように、単
峰ガウス型の非対称波形となり、多くの高長波を含んで
いる。そこで、ＣＯＳ２　特性をもつトランスバーサル
フイルタなどにより、副光ビームからの電気信号をピツ
トによる影響が補償されるように波形等化することが考
えられる。しかし、この方法では、光学情報担体の内、
外周での記録密度差による変調度の差を吸収することが
できず、適当なトラツクで周波数特性を最適化すると、
他のトラツクでは周波数特性に歪みが生じてしまう。こ
れを防止するためには、少なくとも光学情報担体の内周
と外周ではトランスバーサルフイルタなどの定数を切り
替えることが必要となるが、このようにすると、回路構
成が複雑となり、装置自体が高価になる。

【００２２】本発明の目的は、かかる問題点を解消し、
簡単で安価な回路構成でもつて、かつ優れた互換性を維
持しつつ、プリピツトが形成されている領域からも正常
なトラツキング情報が得られるようにした光学情報記録
再生装置を提供することにある。

【００２３】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、２つの副光ビーム夫々の反射光量に応じ
た振幅の電気信号での光学情報担体上の情報ピツトの密
度に応じた振幅変化を補償する第１、第２の波形等化手
段と、該第１、第２の波形等化手段の出力電気信号の交
流成分の振幅差を検出してトラツキング情報を生成する
処理手段とを備え、該第１、第２の波形等化手段を微分
回路とする。

【００２４】

【作用】上記のように、プリピツトが形成されている領
域（ＲＯＭ領域）を副光ビームが走査すると、これらの
反射光はプリピツトによつて強度変調を受け、交流成分
を含む。この交流成分はプリピツトの密度の影響を受け
、プリピツトの密度が高くなるとともに周波数が高くな
るが、レベルが低下する。そこで、これら副光ビームの
受光量に応じた電気信号を微分回路に供給すると、この
電気信号中の交流成分は周波数が高いほどレベルが高め
られ、プリピツトの密度によるレベル低下が補償される
。したがつて、夫々の微分回路の出力信号での交流成分
の振幅差を検出することにより、光学情報担体上のＲＯ
Ｍ領域でのトラツキング情報が得られる。

【００２５】

【実施例】以下、本発明の実施例を図１〜９によつて説
明する。

【００２６】まず、本発明による光学情報記録再生装置
の一実施例の光学系を図２、図３により説明する。但し
、図２はその上面図、図３はその側面図であつて、１９
はハーフミラー、２０はウオラストンプリズム、２１は
集束レンズ、２２は光検出器、２３はミラーであり、図
１１に対応する部分には同一符号をつけている。

【００２７】図２，３において、レーザダイオード１か
ら射出されるレーザビームは、図１０に示した従来例と
同様、コリメートレンズ２とビーム整形プリズム４，５
とにより、円形スポツトの平行ビームとなり、回折格子
３で０次回折光（主光ビーム）と±１次回折光（副光ビ
ーム）になる。ビームスプリツタ７では、入射される主
、副光ビームにわずかに混在するＳ偏光成分の全てとＰ
偏光成分の一部を反射し、Ｐ偏光成分のみを通過させる
。ビームスプリツタ７を通過した主、副光ビームは立上
げミラー８で立ち上げられ、フオーカスレンズ９で光学
情報担体１８上に集束される。

【００２８】なお、光学情報担体１８上のトラツクピツ
チを１．６μｍとすると、２つの副光ビームは主光ビー
ムのトラツク幅方向左右に０．４μｍ（トラツクピツチ
の１／４倍）、トラツク長手方向前後に約４０μｍ夫々
ずれて照射される。

【００２９】光学情報担体１８が光磁気媒体であるとす
ると、情報の記録による磁界強度に応じたカー効果が主
、副の反射光ビームに生じ、偏光面が回転してＳ偏光成
分が生じてその分Ｐ偏光成分が減少する。このように光
学情報担体１８から反射された主、副光ビームはフオー
カスレンズ９を通り、立上げミラー８で反射されてビー
ムスプリツタ７に入射される。ビームスプリツタ７では
、各回折光のＳ偏光成分の全てとＰ偏光成分の一部とが
反射される。

【００３０】ビームスプリツタタ７で反射された主、副
光ビームはハーフミラー１９で２分され、これで反射さ
れた一方の主、副光ビームは１／２波長板１０を通り、
ウオラストンプリズム２０でＰ偏光成分とＳ偏光成分と
に分けられる。そして、主光ビームのＰ偏光成分とＳ偏
光成分とは集束レンズ２１によつて２分割フオトダイオ
ードからなる光検出器２２の別々のフオトダイオードに
照射される。これらフオトダイオードの出力信号の差を
とることにより、光学情報担体１８に磁気記録された情
報信号が得られる、これらフオトダイオードの出力信号
の和をとることにより、光学情報担体１８上のプリピツ
トによつて生ずる明暗の信号を得ることができる。

【００３１】また、ハーフミラー１９を通過した他方の
主、副光ビームは集束レンズ１３、円筒レンズ１４を通
り、ミラー２３で反射されて光検出器１５に照射される
。光検出器１５は４分割フオトダイオードとその両側に
配置された２個の単一のフオトダイオードとで構成され
ており、この４分割フオトダイオードにミラー２３で反
射された主光ビームが照射され、２つの単一フオトダイ
オードの一方にミラー２３で反射された一方の副光ビー
ムが、他方の単一フオトダイオードにミラー２３で反射
された他方の副光ビームが夫々照射される。

【００３２】光検出器１５の出力信号からトラツキング
情報信号やフオーカシング情報信号などが形成されるが
、次に、図１により、これら情報信号の検出手段につい
て説明する。但し、同図において、１５ａは４分割フオ
トダイオード、１５ａ１〜１５ａ４はフオトダイオード
、１５ｂ，１５ｃはフオトダイオード、２４，２５は演
算アンプ、２６はＬＰＦ、２７は微分回路、２８は上側
包絡線検波回路、２９は下側包絡線検波回路、３０は差
動アンプ、３１はスイツチ、３２，３３はアンプ、３４
は差動アンプ、３５，３６は微分回路、３７，３８は上
側包絡線検波回路、３９，４０は下側包絡線検波回路、
４１は演算アンプ、４２はスイツチ、４３，４４はレベ
ル比較回路、４５は遅延回路、４６〜４９はアンドゲー
ト、５０は入力端子である。

【００３３】光検波器１５は４個のフオトダイオード１
５ａ１〜１５ａ４からなる４分割フオトダイオード１５
ａとその両側に配置された２個のフオトダイオード１５
ｂ，１５ｃとで構成されており、４分割フオトダイオー
ド１５ａが光学情報担体から反射された主光ビームを受
光し、フオトダイオード１５ｂが同じく一方の副光ビー
ム（たとえば＋１次回折光）を、フオトダイオード１５
ｃが同じく他方の副光ビーム（たとえば−１次回折光）
を夫々受光する。４分割フオトダイオード１５ａ上に生
ずる主光ビームのスポツトは、この主光ビームが集束レ
ンズ１３と円筒レンズ１４（図２）を通過しているので
、フオーカスレンズ９が光学情報担体１８（図３）に対
してフオーカシング位置にないとき、フオトダイオード
１５ａ１，１５ａ４を結ぶ直線方向とフオトダイオード
１５ａ２，１５ａ３を結ぶ直線方向とを夫々軸方向とす
る楕円形状をなしており、この楕円の２つの軸の比率が
光学情報担体１８からフオーカスレンズ９までの距離に
応じて変化する。

【００３４】そこで、演算アンプ２４により、４分割フ
オトダイオード１５ａにおけるフオトダイオード１５ａ
２，１５ａ３の出力信号の和からフオトダイオード１５
ａ１，１５ａ４の出力信号の和を減算することにより、
フオーカスレンズ９を制御するためのフオーカシング情
報信号ｅが得られる。

【００３５】フオトダイオード１５ｂの副光ビームの光
量に応じたレベルの出力信号は、アンプ３３で増幅され
た後、差動アンプ３４と微分器３６とに供給される。ま
た、フオトダイオード１５ｃの副光ビームの光量に応じ
たレベルの出力信号は、アンプ３２で増幅された後、差
動アンプ３４と微分回路３５とに供給される。差動アン
プ３４では、アンプ３３の出力信号からアンプ３２の出
力信号が減算され、これら副光ビームの光量差に比例し
たレベルの信号ｃが得られる。この差動アンプ３４の出
力信号ｃは、光学情報担体１８（図３）のプリピツトが
ない領域（非ＲＯＭ領域）を主、副光ビームが走査する
ときのトラツキング情報である。

【００３６】先に説明したように、主、副光ビームが光
学情報担体１８上のプリピツトが存在する領域（ＲＯＭ
領域）を走査すると、そこから反射される主、副光ビー
ムはプリピツトの密度に応じて変調を受け、かつ光量が
変動する。この結果、アンプ３２，３３の出力信号はプ
リピツトの密度に応じた周波数の交流成分を含むととも
に、これに交流成分の振幅も影響をうけてプリピツトの
密度が高いほど小さくなる。微分回路３５，３６は、ア
ンプ３２，３３の出力信号のかかるプリピツトの密度に
よる交流成分の振幅変動を補償し、これら交流成分の振
幅が副光ビームのトラツク幅方向の位置に応じたものと
なるように波形等化する。

【００３７】微分回路３５の出力信号は上側包絡線検波
回路３７で検波されてその交流成分の上側包絡線を表わ
す信号（上側包絡線信号）ａが生成され、また、下側包
絡線検波回路３９で検波されて交流成分の下側包絡線を
表わす信号（下側包絡線信号）ｂが生成される。同様に
して、微分回路３６の出力信号は上側包絡線検波回路３
８と下側包絡線検波回路４０とに供給され、その交流成
分に対する上側包絡線信号ａ′と下側包絡線検波信号ｂ
′とが生成される。演算アンプ４１では（ａ−ｂ）−（
ａ′−ｂ′）の演算処理がなされる。ここで、（ａ−ｂ
）は上側包絡線信号ａと下側包絡線信号ｂとの差であつ
て微分回路３５の出力信号における交流成分の振幅を表
わし、（ａ′−ｂ′）は、同様にして、微分回路３６の
出力信号における交流成分の振幅を表わしている。した
がつて、演算アンプ４１から出力される信号ｄは微分回
路３５，３６の出力信号における交流成分の振幅差、し
たがつて、主、副光ビームが光学情報担体１８上のＲＯ
Ｍ領域を走査するときのトラツキング情報を表わしてい
ることになる。

【００３８】スイツチ４２は入力端子５０からの制御信
号ｊによつて制御され、主、副ビームが光学情報担体１
８上の非ＲＯＭ領域を走査するときには、Ａ側に閉じて
差動アンプ３４の出力信号ｃをトラツキング情報信号ｉ
として選択し、主、副光ビームが光学情報担体１８上の
ＲＯＭ領域を走査するときには、Ｂ側に閉じて演算アン
プ４１の出力信号ｄをトラツキング情報信号ｉとして選
択する。このトラツキング情報信号ｉによつて主光ビー
ムのトラツキング制御が行なわれる。

【００３９】このようにして、光学情報担体１８上の非
ＲＯＭ領域でもＲＯＭ領域でも良好なトラツキング制御
が可能となるし、プリピツトを形成しない光学情報担体
とプリピツトを設けた光学情報担体との双方に対しても
良好なトラツキング制御が可能となる。

【００４０】また、フオトダイオード１５ｂ，１５ｃは
光学情報担体から反射された副光ビームを完全に受光す
ればよいために、フオトダイオード１５ｂ，１５ｃの配
置など光学系の組立精度が緩和されて安価に光学系を構
成できるし、また、光学情報担体の精度なども緩和でき
る。

【００４１】次に、図１の他の部分について説明する。

【００４２】４分割フオトダイオード１５ａの各フオト
ダイオード１５ａ１〜１５ａ４の出力信号は演算アンプ
２５で加算され、４分割フオトダイオード１５ａでの主
光ビームの受光量に比例したレベルの信号が得られる。 演算アンプ２５の出力信号は、一方では、ＬＰＦ２６で
プリピツトによる変調成分が除去されてスイツチ３１に
供給され、他方では、微分回路３５，３６と同様の機能
を有する微分回路２７で交流成分のプリピツトによる振
幅変動が補償された後、上側包絡線検波回路２８と下側
包絡線検波回路２９と差動アンプ３０とによつてこの交
流成分の振幅を表わす信号が生成されてスイツチ３１に
供給される。

【００４３】ここで、主光ビームが光学情報担体１８上
のプリピツトがない領域を走査するときには、ＬＰＦ２
６の出力信号が４分割フオトダイオード１５ａが受光す
る主光ビームの受光量を表わし、主光ビームが光学情報
担体１８上のＲＯＭ領域を走査するときには、差動アン
プ３０の出力信号が上記主光ビームの受光量を表わす。

【００４４】スイツチ３１は入力端子５０からの制御信
号ｊによつて制御され、主光ビームが光学情報担体１８
上の非ＲＯＭ領域を走査するとき、Ａ側に閉じてＬＰＦ
２６の出力信号を主光ビームの光量信号ｆとして選択し
、主光ビームが光学情報担体１８上のＲＯＭ領域を走査
するときには、Ｂ側に閉じて差動アンプ３０の出力信号
を光量信号ｆとして選択する。

【００４５】この光学情報記録再生装置に光学情報担体
１８が装着されて起動するときには、図３のフオーカス
レンズ９が下方から持ち上げられて光学情報担体に近づ
くが、これとともに４分割フオトダイオード１５ａ上の
主光ビームのスポツトが小さくなつていき、光量信号ｆ
のレベルが上昇していく。光学信号ｆのレベルが予め設
定された閾値を越えると、フオーカシンク情報信号ｅに
よるフオーカシング制御が開始する。このようにして、
フオーカシングサーボ回路の起動時の引き込みが迅速に
行なわれるようにする。

【００４６】スイツチ４２で得られるトラツキング情報
信号ｉは、また、レベル比較回路４４で０電位とレベル
比較され、トラツキング情報信号ｉの順次のゼロクロス
点で交互に立上がり、立下る矩形波信号ｋが生成される
。この矩形波信号ｋはアンドゲート４６に供給されると
ともに、レベル反転されてアンドゲート４７に供給され
る。また、この矩形波信号ｋは、遅延回路４５でわずか
に遅延された後、レベル反転されてアンドゲート４６に
供給されるとともに、アンドゲート４７に供給される。 したがつて、アンドゲート４６からは矩形波信号ｋの立
上りエツジのタイミングで遅延回路４５の遅延時間に等
しい時間幅の立上りエツジパルスｍが得られ、アンドゲ
ート４７からは同じく立下りエツジパルスｎが得られる
。

【００４７】一方、スイツチ３１で得られる光量信号ｆ
は、また、レベル比較回路４３で基準電圧Ｖ１と比較さ
れ、ゲート信号ｐが形成される。このゲート信号ｐはア
ンドゲート４８，４９に供給される。アンドゲート４８
，４９は夫々光量信号ｆが基準電圧Ｖ１以上のレベルの
ときオンとなり、立上りエツジパルスｍ、立下りエツジ
パルスｎを通過させてトラツク横断信号ｇ，ｈとする。

【００４８】これらトラツク横断信号ｇ，ｈは、主光ビ
ームが光学情報担体１８上のトラツクを横切るように移
動するとき、トラツキング情報信号ｉのゼロクロスタイ
ミングで交互に発生する。しかし、このトラツキング情
報信号ｉのゼロクロス点は、主光ビームの中心がトラツ
ク中心線上にあるときとトラツク間の案内溝の中心線上
にあるときとで生じ、トラツク横断信号ｇ，ｈの一方が
主光ビームの中心がトラツク中心線上にあるとき生ずる
と、他方が主光ビームの中心が案内溝の中心線上にある
ときに生じ、しかも、主光ビームの移動方向に応じて主
光ビームの中心がトラツク中心線上にあるときに生ずる
トラツク横断信号が異なる。

【００４９】これを判別するために、レベル比較回路４
３から出力されるゲート信号ｐで制御されるアンドゲー
ト４８，４９が設けられている。すなわち、ゲート信号
ｐは、主光ビームの中心がトラツク中心線上にあるとき
には、必ず高レベルであつてアンドゲート４８，４９が
オンする。従つて、立上りエツジパルスｍが主光ビーム
の中心がトラツク中心線上にあるときに発生すれば、こ
の立上りエツジパルスｍがアンドゲート４８を通過して
トラツク横断信号ｇが得られ、逆に、立下りエツジパル
スｎが主光ビームの中心がトラツク中心線上にあるとき
に発生すれば、この立下りエツジパルスｎがアンドゲー
ト４９を通過してトラツク横断信号ｈが得られる。

【００５０】かかるトラツク横断信号ｇまたはｈを計数
することにより、主光ビームが横断したトラツク数を検
出することができ、これにより、トラツクシーク時での
位置、速度を検出することができる。

【００５１】図４は図１における微分回路３５，３６の
一具体例を示す回路図であつて、図示するように、入力
端子と出力端子との間にコンデンサＣとインダクタンス
Ｌとが直列接続され、出力端子と接地端子との間に抵抗
Ｒが接続された構成をなしている。かかる微分回路は、
図５に示すように、周波数ｆ０　を極とし、この極より
も低い周波数領域では周波数ｆが高くなるとともに振幅
が増大し、この極よりも高い周波数領域では周波数ｆが
高くなるとともに振幅が減衰する周波数特性を有してい
る。この極ｆ０　よりも低い周波数領域内に光学情報担
体での最高記録周波数ｆｍａｘがあるように、この微分
回路の周波数特性が設定される。極ｆ０　は通常最高記
録周波数ｆｍａｘの１０倍程度に設定すればよい。また
、極ｆ０　よりも高周波側で減衰させることにより、不
要な高周波ノイズの増加を抑圧している。

【００５２】かかる微分回路によると、最高記録周波数
ｆｍａｘ以下の周波数領域では、周波数ｆが高い程振幅
が増大する。図６は、光デイスク（光磁気デイスクも含
む）において、記録周波数に対する振幅利得を内周側、
外周側とで別々にプロツトして示したものである。記録
周波数が低い領域では、高調波成分が極めて多く微分回
路によつてその高調波成分が強調されるため、振幅利得
が平坦となり、記録周波数が高い領域では、基本波が主
な成分となるから、振幅利得特性は微分特性に近づいて
いく。内周側の振幅利得が外周側よりも小さいのは、光
学的分解能のため、内周側で高調波成分が小さいからで
ある。

【００５３】そこで、図７に示すように高周波による程
振幅が小さくなる信号が図４に示した微分回路に入力さ
れると、高周波になる程振幅が高められるから、図８に
示すように、この微分回路の出力信号は周波数に関係な
く振幅がほぼ一定となる。そこで、かかる微分回路を図
１の微分回路３５，３６に用いると、図７に示した入力
信号に対して図８で示した出力信号が得られ、この出力
信号をたとえば上側包絡線検波回路３７に供給すること
により、破線で示すように検波され、ローパスフイルタ
で実線で示す上側包絡線信号ａが得られる。

【００５４】図９は微分回路３５，３６で波形等化しな
い場合の上側包絡線検波回路３７，３８、下側包絡線検
波回路３９，４０の入力信号の周波数特性（破線）と、
微分回路３５，３６で波形等化した場合のこれらの入力
信号の周波数特性（実線）とを比較したものである。同
図でから明らかなように、微分回路３５，３６で波形等
化することにより、内、外周での利得差はあるが、同一
トラツク内では、プリピツトの密度差に影響されずに平
坦な周波数特性が得られることになる。

【００５５】以上のようにして、光学情報担体上のＲＯ
Ｍ領域でも、良好なトラツキング情報が得られることに
なる。

【００５６】なお、本発明は、光学情報担体として光磁
気デイスクばかりでなく、追記型の光デイスクなどにも
適用することができ、ピツトに影響されないで良好なト
ラツキング情報が得られる。

【００５７】また、図１において、演算アンプ４１は（
ａ−ａ′）もしくは（ｂ−ｂ′）の演算処理を行なつて
トラツキング情報信号ｄを生成するものであつてもよい
。

【００５８】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
簡単で安価な回路構成をとりながらかつ優れた互換性を
維持しつつ、光学情報担体のプリピツトが形成されてい
るＲＯＭ領域や光ビームによつてデータピツトが形成さ
れている領域においても、これらプリピツトやピツトに
影響されない良好なトラツキング情報を得ることができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による光学情報記録再生装置の一実施例
の情報信号検出手段を示すブロツク図である。

【図２】本発明による光学情報記録再生装置の一実施例
の光学系を示す上面図である。

【図３】本発明による光学情報記録再生装置の一実施例
の光学系を示す側面図である。

【図４】図１における微分回路の一具体例を示す回路図
である。

【図５】図４で示した微分回路の周波数特性図である。

【図６】図４で示した微分回路による光デイスクの内周
側、外周側での振幅利得を示す図である。

【図７】図４で示した微分回路の入力信号の一例を示す
波形図である。

【図８】図７で示した入力信号に対する図４の微分回路
の出力信号を示す波形図である。

【図９】図１において、微分回路の有無に応じた副光ビ
ームからの電気信号の周波数特性を比較して示す図であ
る。

【図１０】従来の光学情報記録再生装置の一例の光学系
を示す図である。

【図１１】図１０における光学情報担体上の３ビームス
ポツトの位置関係を示す図である。

【図１２】図１１において、３ビームスポツトが光学情
報担体上のトラツクを非ＲＯＭ領域で横切つて移動する
ときの各ビームの反射強度を示す図である。

【図１３】図１１の＋１次回折光が光学情報担体上のト
ラツクをＲＯＭ領域で横切るときの反射強度を示す図で
ある。

【図１４】図１１の−１次回折光が光学情報担体上のト
ラツクをＲＯＭ領域で横切るときの反射強度を示す図で
ある。

【図１５】図１３、図１４の反射強度の±１次回折光を
もとに得られるトラツキング情報信号を示す波形図であ
る。

【図１６】ビームスポツトがピツトを通過したときの再
生電圧の波形を示す図である。

【符号の説明】

１８　　光学情報担体 １５ｂ，１５ｃ　　副光ビームのフオトダイオード３４
　　差動アンプ ３５，３６　　微分回路 ３７，３８　　上側包絡線検波回路 ３９，４０　　下側包絡線検波回路 ４１　　演算アンプ ４２　　スイツチ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　トラツキングのための案内溝と情報ピ
   ツトとが予め設けられた光学情報担体上に情報記録再生
   のための主光ビームとトラツキング検出のための一対の
   副光ビームを照射し、該光学情報担体上で該副光ビーム
   夫々の中心走査軌跡が該主光ビームの中心走査軌跡の両
   側に配置されており、該光学情報担体で反射された該副
   光ビーム夫々の強度に応じた振幅の電気信号を発生する
   第１、第２の光電変換手段と、該第１、第２の光電変換
   手段の出力信号での該情報ピツトの密度に応じた振幅変
   化を補償する第１、第２の波形等化手段と、該第１、第
   ２の波形等化手段の出力電気信号の交流成分を検出し該
   交流成分の振幅差を検出してトラツキング情報を生成す
   る処理手段とを備え、該第１、第２の波形等化手段が夫
   々微分回路であることを特徴とする光学情報記録再生装
   置。