JPH0451611A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

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JPH0451611A
JPH0451611A JP16079290A JP16079290A JPH0451611A JP H0451611 A JPH0451611 A JP H0451611A JP 16079290 A JP16079290 A JP 16079290A JP 16079290 A JP16079290 A JP 16079290A JP H0451611 A JPH0451611 A JP H0451611A
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JP
Japan
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circuit
spl
integrated circuit
ntl
circuit device
Prior art date
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Pending
Application number
JP16079290A
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English (en)
Inventor
Mitsuo Usami
光雄 宇佐美
Yukihiro Bandai
万代 享宏
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Hitachi Ltd
Hitachi Computer Engineering Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Computer Engineering Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、半導体集積回路装置に関し、例えば、ゲー
トアレイ形態とされかつ高速コンピュータ等を構成する
高速論理集積回路装置等に利用して特に有効な技術に関
する。
〔従来の技術〕
入力信号を受ける位相分割回路と、位相分割回路の反転
出力信号を伝達する出カニミッタフォロア回路とを含む
NTL (Non  Threshold  Logi
c)回路がある。また、NTL回路の出カニミッタフォ
ロア回路をアクティブプルダウン回路に置き撓えたS 
P L (Super  Pu5h−pull  Lo
gic)回路がある。さらに、NTL、回路又はSPL
回路からなる多数の単位セルを搭載してゲートアレイ形
態とされ、かつ高速コンピュータ等に供される高速論理
集積回路装置がある。
SPL回路については、例えば、特開平1−26102
4号公報等に記載されている。
〔発明が解決しようとする課題〕
@4図には、従来のNTL回路の回路図の一例が示され
、@5図には、この発明に先立って本願発明者等が開発
したSPL@路の回路図の一例が示されている。これら
の図から明らかなように、SPL回路は、アクティブプ
ルダウン回路を含むことによって高速動作を特長とする
反面、NTL回路に比べて約2倍の回路素子数を必要と
する。
このため、高速コンピュータ等の高速性のみを重視して
高速論理菓4i!11回路装置に搭載される単位セルを
すべてSPL回路で構成した場合、高速論理集積回路装
置のチップ面積が増大し、その低コスト化が妨げられる
結果となる。
この発明の目的は、高速動作を保持しつつチップ面積を
削減しその低コスト化を図った高速論理集積回路装置等
の半導体集積回路装置を提供することにある。
この発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、
この明細書の記述及び添付図面から明らかになるであろ
う。
〔課題を解決するための手段〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
すなわち、ゲートアレイ形態とされる高速論理集積回路
装置等に、マスタースライスによりNTL回路又はSP
L回路を選択的に構成しうる単位セルを搭載し、出力負
荷が比較的小さいときあるいは次段論理回路までの距離
が比較的短いとき、上記単位セルを2個のNTL回路と
して用い、出方負荷が比較的大きいときあるいは次段論
理回路までの距離が比較的長いとき、上記単位セルを1
個のSPL回路として用いる。
〔作 用〕
上記した手段によれば、共通の単位セルをもとにNTL
回路又はSPL回路を選択的に構成し、高速論理集積回
路装置等のik通構成化を図ることができる。その結果
、高速論理集積回路装置等の高速動作を保持しつつチッ
プ面積を削減し、その低コスト化を図ることができる。
〔実施例〕
第1図には、この発明が通用された高速論理集積回路装
置の一実施例の基板配置図が示されている。また、第2
図及び第3図には、第1図の高速論理集積回路装置の単
位セルをもとに構成されるSPL回路及びNTL回路の
一実施例の回路図がそれぞれ示されている。これらの図
をもとに、この実施例の高速論理集積回路装置の構成と
動作の概要ならびにその特徴について説明する。なお、
第2図及び第3図に示される各回路素子ならびに第1図
の各単位セルを構成する回路素子は、特に制限されない
が、単結晶シリコンのような1個の半導体基板上におい
て形成される。以下の回路図において、図示されるトラ
ンジスタ(この明細書では、バイポーラトランジスタの
ことを単にトランジスタと略称する〉は、特に制限され
ないが、すべてNPN型)ランジスタである。
第1図において、この実施例の高速論理集積回路装置は
、特に制限されないが、いわゆるゲートアレイ形態とさ
れ、半導体基板SUB上に格子状に配置された単位セル
UCII−UC15ないしUC51−UC55を搭載す
る。これらの単位セルは、特に制限されないが、7個の
トランジスタTl−77と6個の抵抗R1−R6ならび
に2個のキャパシタC1−C2とを含む合計15(if
の回路素子からなり、その出力端子に結合される負荷量
や次段論理回路までの距離に応じて所定の金属配線層が
選択的に形成されることで、NTL回路又はSPL回路
を選択的に構成する。
すなわち、その出力端子に結合される負荷が比較的大き
くあるいは次段論理回路までの距離が比較的長いとき、
各単位セルの回路素子は、@1図(7)単位セルUCI
Iに例示されるように、1個のSPL回路GSIを構成
すべく結合される。このとき、トランジスタTI及びT
2は、例えば第5図のSPL回路の入力トランジスタT
ll及びT■2に対応され、コレクタ抵抗R1及びエミ
、り抵抗R2とともに、SPL回路SGIの位相分割回
路を構成する。
入力トランジスタTl及びT2の共通結合されたコレク
タすなわち位相分割回路の反転出力ノードは、第5図の
SPL回路の出力トランジスタTO1に対応するトラン
ジスタT6のベースに結合される。また、その共通結合
されたエミッタすなわち位相分割回路の非反転出力ノー
ドは、特に制限されないが、抵抗R4とともに微分回路
を構成するキャパシタC1を介して、出力トランジスタ
TO2に対応するトランジスタT7のエミッタに結合さ
れる。これにより、出力トランジスタT6及びT7は、
いわゆるプッシュプル出力回路を構成し、出力トランジ
スタT6とキャパシタc1及び抵抗R4からなる微分回
路は、いわゆるアクティブプルダウン回路として作用す
る。
回路の接地電位と上記出力トランジスタT7のベースと
の間には、85図のSPL回路のバイアス用トランジス
タTBに対応するトランジスタT5が設けられる。バイ
アス用トランジスタT5のベースは、特に制限されない
が、抵抗R3を介して回路の接地電位に結合され、さら
にダイオード形態とされる2個のトランジスタT3及び
T4を介して回路の電源電圧に結合される。言うまでも
なく、トランジスタT3及びT4は、第5図のSPL回
路のダイオードD1及びD2にそれぞれ対応される・な
お、この実施例において、回路の電源電圧は、特に制限
されないが、−2,OVのような負の電源電圧とされる
これにより、抵抗R3ならびにトランジスタT3及びT
4は、バイアス用トランジスタT5に対して、回路の電
源電圧より2XVBE(VBEは、NPN型バイポーラ
トランジスタのベース・エミッタ電圧)分だけ高い所定
のバイアス電圧を与えるバイアス電圧発生回路を構成す
る。そして、上記トランジスタT5及び抵抗R4ととも
に、出力トランジスタT7に対して、回路の電源電圧よ
りVBEだけ高い所定のバイアス電圧を与えるいわゆる
電流ミラー型のバイアス回路を構成する。その結果、出
力トランジスタT7は、オン状態となる直前の状態にバ
イアスされ、これによってSPL回路の感度が高められ
る。
出力トランジスタT6及びT7の共通結合されたエミツ
タ及びコレクタは、回路の出力端子O8に結合され、さ
らに次段論理回路すなわちNTL回路GN3の第1の入
力端子に結合される。上記出力端子O3と回路の電源電
圧との間には、2価の抵抗R5及びR6が直列形態に設
けられる。これらの抵抗は、第5図のSPL回路のレヘ
ル保持抵抗RHに対応し、出力信号O8のロウレベルを
安定化する作用を持つ。
入力信号ISI又はIS2のいずれかがハイレベルとさ
れるとき、位相分割回路では、その反転出力信号が所定
のロウレベルとなり、非反転出力信号が所定のハイレベ
ルとなる。位相分割回路の反転出力信号のロウレベルは
、出力トランジスタT6のベースにそのまま伝達され、
非反転出力信号の立ち上がり変化は、キャパシタC1及
び抵抗R4からなる微分回路を介して、出力トランジス
タT7のベースに伝達される。このため、出力トランジ
スタT6はオフ状態となり、出力トランジスタT7が一
時的にオン状態となる。ぞの結果、SPL回路GS1の
出力信号O5は、急速に回路の電源電圧のようなロウレ
ベルとされる。
入力信号ISI及びIS2がともにロウI/ベルとされ
ると、位相分割回路では、その反転出力信号がハイレベ
ルとなり、非反転出力信号がロウレベルとなる。位相分
割回路の反転出力信号のハイレベルは、同様に、そのま
ま出力トランジスタT6のベースに伝達され、非反転出
力信号の立ち下がり変化は、微分回路を介して出力トラ
ンジスタT7のベースに伝達される。このため、出力ト
ランジスタT7は急速にオフ状態となり、代わって山刃
トランジスタT6がオン状態となる。その結果、SPL
回路GSIの出力信号O8は、はぼVIEのようなハイ
レベルとされる。
つまり、出力信号O8のレベルは、 03=ISL+IS2 なる論理条件に基づいて選択的にノ\イレヘルとされ、
第2図のSPL回路GSIは、実質的に2人カッアゲー
ト回路として機能する。このとき、SPL回路GSIは
、アクティブプルダウン回路が設けられることでその駆
動能力が大きくされ、出力信号O8のレベル変化は高速
化される。これにより、SPL回路GSIの実質的な伝
達遅延時間が縮小され、高速論理集積回路装置の関連す
る論理回路の動作が高速化される。
一方、出力端子に結合される負荷が比較的小さくあるい
は次段論理回路までの距離が比較的短いとき、各単位セ
ルの回路素子は、第1図の単位セルUC42に例示され
るように、2個のNTL回路GNI及びGN2を構成す
べく結合される。このとき、トランジスタTI及びT2
ならびにT7は、入力トランジスタとして用いられ、コ
レクタ抵抗R1及びエミッタ抵抗R2とともに、NTL
 −回路GNIの位相分割回路を構成する。同様に、ト
ランジスタT3及びT4は、入力トランジスタとして用
いられ、コレクタ抵抗R3及びエミッタ抵抗R6ととも
に、NTL回路GN2の位相分割回路を構成する。この
実施例のNTL回路GNI及びGN2において、エミッ
タ抵抗R2及びR6には、−特に制限されないが、スピ
ードアンプ用のキャパシタC1及びC2がそれぞれ並列
形態に付加され、動作の高速化が図られる。
入力トランジスタTl及びT2ならびにT7の共通結合
されたコレクタすなわちNTL回路GN1の位相分割回
路の反転出力ノードは、抵抗R5とともに出カニミッタ
フォロア回路を構成する出力トランジスタT6のベース
に結合される。同様に、入力トランジスタT3及びT4
の共通結合されたコレクタすなわちNTL回路GN2の
位相分割回路の反転出力ノードは、抵抗R4とともに出
力エミッタフォロア回路を構成する出力トランジスタT
5のベースに結合される。上記出力トランジスタT6の
エミッタは、NTL回路GNIの出力端子ONIに結合
され、さらに次段論理回路すなわちNTL回路GN2の
入力端子lN21に結合される。同様に、出力トランジ
スタT5のエミッタは、NTL回路GN2の出力端子O
N2に結合され、さらに次段論理回路すなわちSPL回
路GS2の入力端子に結合される。
これらのことから、出力信号ONI及びON2は、それ
ぞれ、 なる論理条件に基づいて選択的にハイレベルとされ、第
3図のNTL回路GNI及びGN2は、それぞれ3人力
又は2人力のノアゲート回路として機能する。このとき
、NTL回路GNI及びGN2は、動作速度が比較的遅
いものの、その回路素子数は第2図のSPL回路GS1
の半分で済む。
その結果、高速論理集積回路装置のチップ面積が削減さ
れ、その低コスト化が図られる。
ところで、SPL回路を用いることによる伝達遅延時間
の短縮効果は、単位ゲートあたりの消費電力を同じとす
ると、負荷量が小さい場合には約20%程度しか改善さ
れず、負荷量が大きい場合には約200%も改善される
。また、SPL回路を用いることによるチップ面積の増
大は、NTL回路に比較して2倍となるが、高速論理集
積回路装置等においてSPL回路を必要とするほど負荷
量の大きい個所は、その10%程度に過ぎない。
したがって、この実施例のように、共通の単位セルをも
とに、その出力端子に結合される負荷量あるいは次段論
理回路までの距離に応じてNTL回路又はSPL回路を
選択的に構成することで、高速論理集積回路装置の最適
構成化を図ることができる。その結果、高速論理集積回
路装置の高速動作を保持しつつチップ面積を削減し、そ
の低コスト化を図ることができるものである。
以上の本実施例に示されるように、この発明を高速コン
ピュータ等を構成するゲートアレイ形態の高速論理集積
回路装置に適用することで、次のような作用効果が得ら
れる。すなわち、(1)ゲートアレイ形態とされる高速
論理集積回路装置等に、マスタースライスによりNTL
回路又はSPL回路を選択的に構成しうる単位セルを搭
載し、出力負荷が比較的小さいときあるいは次段論理回
路までの距離が比較的短いとき、上記単位セルを2個の
NTL回路として用い、逆に出力負荷が比較的大きいと
きあるいは次段論理回路までの距離が比較的長いとき、
上記単位セルを1個のSPL回路として用いることで、
共通の単位セルをもとにNTL回路又はSPL回路を選
択的に構成できるという効果が得られる。
(2)上記111項により、ゲートアレイ形態とされる
高速論理集積回路装置等の最′A構成化を図ることがで
きるという効果が得られる。
(3)上記111項及び(2)項により、高速論理集積
回路装置等の高速動作を保持しつつ、チップ面積を削減
し、その低コスト化を図ることができるという効果が得
られる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、この発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。例えば、第1図におい
て、高速論理集積回路装置を構成する単位セルの数やそ
の具体的な配置方法は、任意である。また、各単位セル
を構成するトランジスタや抵抗及びキャパシタ等の数な
らびに組み合わせも、種々の実施形態が考えられよう。
第2図及び第3図において、SPL回路及びNTL回路
は、位相分割回路を構成する入力トランジスタの数や接
続形態を変えることで、任意の入力数や論理機能を持つ
ことができるし、各回路素子の組み合わせも任意である
。さらに、NTL回路及びSPL回路の具体的回路構成
や電fM電圧の組み合わせ及びトランジスタの4亀型等
は、種々の実施形態を採りうる。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野である高速論理集積回路装
置に通用した場合について説明したが、それに限定され
るものではなく、例えば、汎用のゲートアレイ集積回路
や各種の専用論理集積回路装置等にも通用できる0本発
明は、少なくともNTL@路及びSPL回路を混載する
半導体集積回路装置に広く通用できる。
〔発明の効果〕
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記のとおりであ
る。すなわち、ゲートアレイ形態とされる高速論理集積
回路装置等に、マスタースライスによりNTL回路又は
SPL回路を選択的に構成しうる単位セルを搭載し、出
力負荷が比較的小さいときあるいは次段論理回路までの
距離が比較的短いとき、上記単位セルを2個のNTL回
路として用い、出力負荷が比較的大きいときあるいは次
段論理回路までの距離が比較的長いとき、上記単位セル
を11il!のS P L回路として用いることで、共
通の単位セルをもとにNTL回路又はSPL回路を選択
的に構成できるため、高速論理某811回路装置等の最
適構成化を図ることができる。
その結果、高速論理集積回路装置等の高速動作を保持し
つつチップ面積を削減し、その低コスト化を図ることが
できる。
【図面の簡単な説明】
!@1図は、この発明が通用された高速論理集積回路装
置の−実り例を示す基板配置図、第2図は、181図の
高速論理集積回路装置の単位セルをもとに構成されるS
PL回路の一実施例を示す回路図、 第3図は、第1図の高速論理集積回路装置の単位セルを
もとに構成されるNTL回路の一実施例を示す回路図、 第4図は、従来のNTL回路の一例を示す回路図、 第5図は、この発明に先立って本Ws発明者等が開発し
たSPL回路の一例を示す回路図である。 LSI・−・高速論理集積回路装置、SUB・・・半導
体基板、UCII〜UC55・・・単位セル、GSf、
GS2・・・SPL、回路、GNI〜ON4・・・NT
L回路。 Tl〜T7.Tll〜TI2.To、TOI〜TO2,
TB・・・NPN型バイポーラトランジスタ、R1−R
6,RC,RE、RO,RB、RD、RH・・・抵抗、
CI NC2,CD、CE・・・キャパシタ、D1〜D
2・・ダイオード。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、共通の回路素子をもとにNTL回路又はSPL回路
    を選択的に構成しうることを特徴とする半導体集積回路
    装置。 2、上記半導体集積回路装置は、ゲートアレイ形態とさ
    れる高速論理集積回路装置であって、上記回路素子は、
    上記高速論理集積回路装置の単位セルとして搭載される
    ものであることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
    の半導体集積回路装置。 3、上記単位セルは、対応する金属配線層が選択的に形
    成されることにより、上記NTL回路又はSPL回路を
    選択的に構成しうるものであることを特徴とする特許請
    求の範囲第1項又は第2項記載の半導体集積回路装置。 4、上記単位セルは、1個のSPL回路又は2個のNT
    L回路を選択的に構成しうるものであることを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項、第2項又は第3項記載の半導
    体集積回路装置。 5、上記単位セルは、その出力端子に結合される負荷が
    比較的小さいときあるいはその出力端子から次段論理回
    路の入力端子までの距離が比較的短いとき、NTL回路
    として用いられ、その出力端子に結合される負荷が比較
    的大きいときあるいはその出力端子から次段論理回路の
    入力端子までの距離が比較的長いとき、SPL回路とし
    て用いられるものであることを特徴とする特許請求の範
    囲第1項、第2項、第3項又は第4項記載の半導体集積
    回路装置。
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