JPH0450775A

JPH0450775A - パルスデューティ判別装置

Info

Publication number: JPH0450775A
Application number: JP16048690A
Authority: JP
Inventors: Masahiro Ito; 昌宏伊藤
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1990-06-18
Filing date: 1990-06-18
Publication date: 1992-02-19

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［発明の目的］（産業上の利用分野）本発明はビデオテープレコーダ（以下、ＶＴＲという）
等の電子機器に使用されるコントロールパルス等のパル
スデューティの大小を判別するためのパルスデューティ
判別装置に関する。

（従来の技術）従来、ＶＩＳＳ（ＶＨ３ＩＮＤＥＸ　　ＳＥＡＲＣＨＳ
ＹＳＴＥＭ）、ＶＡＳＳ（■）ｔｓＡ　Ｄ　Ｄ　　ＲＥ
　　Ｓ　　Ｓ　　　Ｓ　　Ｅ　　Ａ　ＲＣ）ｉ　　　Ｓ
　Ｙ　Ｓ　Ｔ　Ｅ　Ｍ　＞機能を有したＶＴＲにおいて
は、使用されるコン）・ロールパルスのパルスデューテ
ィには、ハイレベル側のデユーティが２７．５％のもの
と、６０％のものとの２種類がある。通常は６０％デユ
ーティのコントロールパルスが使用されるが、ＶＩＳＳ
、ＶＡＳＳ信号の打ち込みには２７．５％デユーティの
コントロールパルスが使用される。

録画時（又は再生時）に打ち込まれなＶＩＳＳ。

ＶＡＳＳ信号をサーチする時には、２７，５％デユーテ
ィのパルスと６０％デユーティのパルスの混在状態の中
からＶＩ　ＳＳ信号或いはＶＡＳＳ信号を検出して画像
の頭出しを行っている。従って、ＶＩＳＳ、ＶＡＳＳ信
号のサーチ時には、再生されるコントロールパルスのデ
ユーティが２７．５％であるか６０％であるかを判別す
ることが必要である。

このようなコントロールパルスのデユーティを判別する
方法を、第３図に示すコントロールパルスにて説明する
。

第３図において、Ｈｉはコントロールパルスのハイレベ
ル側を示し、ＬＯはそのロールパルスを示す。また、Ｔ
１は釉のコントロールパルスのパルス周期を示し、Ｔ２
は次のコントロールパルスのハイレベル側の時間を示し
ている。ここで、パルスデューティを判別するには、コ
ントロールパルスの周期Ｔ１を常に計測し、周期Ｔ１の
１７２の時間（１／２）ＴＩと、次のコントロールパル
スのハイレベル側の時間Ｔ２とを比較し、ハイレベル側
の時間Ｔ２の方が長ければ（即ち、Ｔ２＞（１／２）Ｔ
１であれば）６０％デユーティ、短ければ（即ち、Ｔ２
　＜　＜１／２）ＴＩであれば〉２７．５％デユーティ
であると判別する方法が採用されていた。

ところで、従来のパルスデューティの判別方法において
は、前のコントロールパルスの周期Ｔ１と次のコントロ
ールパルスのハイレベル側の時間Ｔ２どの周期比較を行
っているため、動作モードの切換え時等のようにテープ
走行速度が大きく変動した場合、加速時は２７．５％デ
ユーティを６０％デユーティと誤り、減速時には６０％
デユーティを２７．５％デユーティと誤判別する可能性
が高かった。

（発明が解決しようとする課題）上記の如く、従来のパルスデューティ判別装置では、動
作モード変更時等のようにテープスピードが大きく変っ
た場合、判別すべきパルスは前のパルスとの周期比較を
行なっているため、誤判別する可能性が高かった。

そこで、本発明は上記の問題を除去するためのもので、
テープ走行速度の変動等に起因して入力されるパルスの
周期が変動した時でも、パルスデューティを誤判別する
確率の低いパルスデューティ判別装置を提供することを
目的とするものである。

［発明の構成］（課題を解決するための手段）本発明のパルスデューティ判別装置は、入力されるパル
スのエツジを検出するためのエツジ検出手段と、基準ク
ロックを発生する基準クロック発生手段と、この基準ク
ロック発生手段からの基準クロックをカウントするもの
であって、前記エツジ検出手段のエツジ検出に応答して
カウント動作を開始及び停止し、前記入力パルスの周期
を計測するクロックカウント手段と、このタロツクカウ
ント手段からの周期計測結果を記憶する記憶手段と、こ
の記憶手段に記憶されている周期計測結果の内、デユー
ティ判別すべきパルスの少なくとも前後のパルスを含む
所定数のパルスの周期計測情報を選択する第１の選択手
段と、前記記憶手段に記憶されている周期計測結果の内
、デユーティ判別すべきパルスの周期計測情報を選択す
る第２の選択手段と、前記第１の選択手段で選択された
所定数のパルスの周期計測情報に基づいて演算を行い、
デユーティ判別用のしきい値を得る演算手段と、前記第
２の選択手段の出力であるデユーティ判別パルスの周期
計測情報と前記演算手段の出力より得られたしきい値と
を比較し、入力パルスのデユーティの大小を判別する比
較手段とを具備したことを特徴とするものである。

（作用）上記の構成によれば、判別すべきノ＜ルスの少なくとも
前後のパルスの周期情報を利用して、デユーティ判別を
行うため、パルスの周期が変動した時でも、パルスデュ
ーティの判別を誤る虞れを少なくすることができる。

（実施例）実施例について図面を参照して説明する。

第１図は本発明の一実施例のパルスデューティ判別装置
を示すブロック図である。

この図に示すパルスデューティ判別装置は、入力端子１
から入力したコントロールパルスを工・ンジ検出手段２
に導き、この工・７ジ検出手段２にてコントロールパル
スの立上り工・ソジ又は立下りエツジを検出する。この
エツジ検出情報はクロ・ツクカウント手段４に入力され
る。クロ・ツクカウント手段４は、基準クロック発生手
段３からの基準クロックをカウントするものであるが、
前記上・ンジ検出手段２のエツジ検出に応答してカウン
ト動作を開始及び停止し、前記入力パルスの周期を計測
する。このクロックカウント手段からの周期計測結果は
、少なくとも入力パルスの３周期に亘って記憶手段５に
記憶される。第１の選択手段６は、この記憶手段５に記
憶されている周期計測結果の内、デユーティ判別すべき
パルスの少なくとも前後のパルスを含む所定数のパルス
についての周期計測情報を選択して取り呂し、演算手段
８に供給する。また、第２の選択手段７は、前記記憶手
段５に記憶されている周期計測結果の内、デユーティ判
別すべきパルスの周期計測情報を選択して取り出し、比
較手段９の一方の入力端に供給する。

演算手段８では、前記第１の選択手段６で選択された所
定数のパルスの周期計測情報について加算及び除算を行
い、周期計測情報の平均値を得、比較手段９の他方の入
力端にデユーティ判別用のしきい値として供給する。比
較手段９では、第２の選択手段７の出力であるデユーテ
ィ判別パルスの周期計測情報と前記演算手段８から得ら
れた周期平均値情報を比較し、入力コントロール′（ル
スのデユーティの大小を判別し、出力手段１０よりその
比較結果を出力する。

次に、第１図の回路の作用を第２図を参照して説明する
。第２図はＶＴＲのコントロールノ（ルスを例にしたデ
ユーティ判別の説明図である。本実施例では、ＶＩＳＳ
信号の検出について説明する。

なお、ＶＩＳＳ信号は、コントロールパルスのＡイレベ
ル側デユーティ２７．５％のパルスを６１パルス連続さ
せることで構成するように規格化されている。

コントロールパルスが入力端子１に入力されると、エツ
ジ検出手段２によりパルスＡの立上りエツジとパルスＢ
の立上りエツジが検出され、この２つのエツジ検出に応
答してクロックカウント出力４が基準クロック発生手段
３のクロ・ツクをカウントすることにより、パルスＡの
周期Ｔ１が計測され、記憶手段５に保持される。同様に
して、１＜ルスＢの立上りとパルスＣの立上り工・７ジ
により、パルスＢの周期が計測されて記憶手段５に保持
され、パルスＣの立上りとパルスＤの立上り工・ンジに
より、パルスＣの周期Ｔ２が計測されて言己憶手段５に
保持される。また、同時に、〕（ルスＢの立上りエツジ
と立下り工・ンジにより、）＜ｌレスＢの７１イレベル
期１’５ｊＴ３が計測されて記憶手段５に送られ、保持
される。パルスＤの立上り工・クジ検出番こ応答してパ
ルスＣの周期情報（Ｔ２）が記憶手段５に送られると、
第１の選択手段６は１＜、ルスＡ及びパルスＣの周期情
報（ＴＩ　、　Ｔ２　）を記憶手段５から選択して取り
出し演算手段８に供給する。同時に、第２の選択手段７
がパルスＢのｔｚ４レベｌし側の周期情報Ｔ３を記憶手
段５から選択して取り出し比較手段９の一方の入力端に
供給する。

演算手段８では、パルスＡ、Ｃの周期情報ＴＩ　。

Ｔ２を加算した後１／４に除算（分周）し、その演算結
果を比較手段９の他方の入力端に出力する。

比較手段９では、パルスＢのハイレベル側周期情報Ｔ３
と、パルスＡ、Ｃの周期情報の演算結果（（ＴＩ　＋７
２　）　／４　　）が比較され、第２図番こ示すように
７３　＞　（ＴＩ　＋Ｔ２　）／４であればノ樗ルスＢ
は６０％デユーティであると判断して″０″を出力手段
１０より出力させ、Ｔ３　＜　（ＴＩ　＋Ｔ２）／４で
あればパルスＢは２７，５％デユーティであると判断し
て“１”を出力手段１０より出力させる。

以上の動作により、パルスＢのデユーティの大小が判別
される。そして、同様の動作を繰返すことにより、パル
スＢ、Ｃ，Ｄの周期情報に基づいてパルスＣのデユーテ
ィが判別されるというように、全てのコントロールパル
スのデユーティが判別される。

尚、第２の実施例として、パルスＢのデユーティを判別
するために、選択手段６によって３つのパルスＡ、Ｂ、
Ｃの周期を選択して取り出し、演算手段８でこれら３つ
のパルスの周期を加算した後１／６分周し、この１／６
分周データとパルスＢのハイレベル期間の周期情報を比
較することにより、デユーティ判別を行うようにしても
よい。

何れにしても、判別するパルスの前後のパルス周期を利
用してデユーティ判別を行うという本発明の主旨に基づ
けばその他の実施例の展開も容易に行える。

また、上記の実施例では、ＶＴＲのコントロールパルス
のデユーティ判別について説明したが、ＶＴＲ以外の他
の電気機器におけるコントロールパルス等のパルスデュ
ーティの判別にも利用できることは勿論である。

［発明の効果］以上述べたように本発明によれば、判別すべきパルスの
前後のパルス周期を利用してデユーティ判別を行うので
、パルスの周期が変動した場合でもデユーティ判別を誤
る確率を著しく低下させることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例のパルスデューティ判別装置
を示すブロック図、第２図は第１図におけるパルスデュ
ーティの判別動作を説明するパルス波形図、第３図は従
来のパルスデューティの判別動作を説明するパルス波形
図である。１・・・パルス入力端子、２・・・エツジ検出手段、３
・・・基準クロック発生手段、４・・・クロックカウント手段、５・・・記憶手段、６
・・・第１の選択手段、７・・・第２の選択手段、８・
・・演算手段、９・・・比較手段、１０・・・出力手段
。第３図

Claims

【特許請求の範囲】入力されるパルスのエッジを検出するためのエッジ検出
手段と、基準クロックを発生する基準クロック発生手段と、この基準クロック発生手段からの基準クロックをカウン
トするものであつて、前記エッジ検出手段のエッジ検出
に応答してカウント動作を開始及び停止し、前記入力パ
ルスの周期を計測するクロックカウント手段と、このクロックカウント手段からの周期計測結果を記憶す
る記憶手段と、この記憶手段に記憶されている周期計測結果の内、デュ
ーティ判別すべきパルスの少なくとも前後のパルスを含
む所定数のパルスの周期計測情報を選択する第１の選択
手段と、前記記憶手段に記憶されている周期計測結果の内、デュ
ーティ判別すべきパルスの周期計測情報を選択する第２
の選択手段と、前記第１の選択手段で選択された所定数のパルスの周期
計測情報に基づいて演算を行い、デューティ判別用のし
きい値を得る演算手段と、前記第２の選択手段の出力であるデューティ判別パルス
の周期計測情報と前記演算手段の出力より得られたしき
い値とを比較し、入力パルスのデューティの大小を判別
する比較手段とを具備したことを特徴とするパルスデューティ判別装置
。