JPH0450519Y2 - - Google Patents
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- JPH0450519Y2 JPH0450519Y2 JP1984142625U JP14262584U JPH0450519Y2 JP H0450519 Y2 JPH0450519 Y2 JP H0450519Y2 JP 1984142625 U JP1984142625 U JP 1984142625U JP 14262584 U JP14262584 U JP 14262584U JP H0450519 Y2 JPH0450519 Y2 JP H0450519Y2
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- JP
- Japan
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- thermistor
- infrared
- thermistor chip
- chip
- infrared detection
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 24
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
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- 229920006255 plastic film Polymers 0.000 description 1
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- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
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Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本考案はサーミスタ赤外線検出器の改良に関
し、更に詳細には高い出力電圧を得ることができ
るサーミスタ赤外線検出器に関するものである。
し、更に詳細には高い出力電圧を得ることができ
るサーミスタ赤外線検出器に関するものである。
（従来の技術）
従来、サーミスタ赤外線検出器は第４図に示す
如き構造であり赤外線検出用サーミスタ５及び温
度補償用サーミスタ６はステム１上の絶縁板４の
上に固定されている。５，６の各サーミスタは、
リード線８ａ〜８ｄにより外部への導出端子であ
るピン９ａ〜９ｄに接続されている。３は赤外線
入射窓であり、例えばシリコン単結晶板等のフイ
ルターから成り該入射窓を透過した赤外線は赤外
線検出用サーミスタ５を照射し、赤外線エネルギ
ーに対応した温度上昇により抵抗値を変化させ
る。
如き構造であり赤外線検出用サーミスタ５及び温
度補償用サーミスタ６はステム１上の絶縁板４の
上に固定されている。５，６の各サーミスタは、
リード線８ａ〜８ｄにより外部への導出端子であ
るピン９ａ〜９ｄに接続されている。３は赤外線
入射窓であり、例えばシリコン単結晶板等のフイ
ルターから成り該入射窓を透過した赤外線は赤外
線検出用サーミスタ５を照射し、赤外線エネルギ
ーに対応した温度上昇により抵抗値を変化させ
る。
一方、温度補償用サーミスタ６は金属板等から
成るシールド板７により遮光されており、温度上
昇による抵抗値の変化はないとされてきた。
成るシールド板７により遮光されており、温度上
昇による抵抗値の変化はないとされてきた。
このようなサーミスタ赤外線検出器に於いて熱
源の温度を測定する場合は第３図に示す如く赤外
線検出用サーミスタ５、温度補償用サーミスタ
６、及び抵抗R1，R2をブリツジに組み電源Ｅを
加えることにより前記赤外線検出用サーミスタ５
の抵抗変化は端子１０，１１により電圧V0とし
て出力される。
源の温度を測定する場合は第３図に示す如く赤外
線検出用サーミスタ５、温度補償用サーミスタ
６、及び抵抗R1，R2をブリツジに組み電源Ｅを
加えることにより前記赤外線検出用サーミスタ５
の抵抗変化は端子１０，１１により電圧V0とし
て出力される。
しかし、第４図の構造のサーミスタ赤外線検出
器に於いては赤外線検出用サーミスタ５及び温度
補償用サーミスタ６は、同一絶縁板４上に配置さ
れており、赤外線検出用サーミスタ５に照射され
た熱エネルギーは絶縁板４やステム１を介して温
度補償用サーミスタ６側に伝導し、前記各サーミ
スタ５，６間の温度差を減少させる。また封止容
器内での赤外線の乱反射により絶縁板４の温度分
布が均一になるように働き前記同様に各サーミス
タ５，６間の温度差は減少する。
器に於いては赤外線検出用サーミスタ５及び温度
補償用サーミスタ６は、同一絶縁板４上に配置さ
れており、赤外線検出用サーミスタ５に照射され
た熱エネルギーは絶縁板４やステム１を介して温
度補償用サーミスタ６側に伝導し、前記各サーミ
スタ５，６間の温度差を減少させる。また封止容
器内での赤外線の乱反射により絶縁板４の温度分
布が均一になるように働き前記同様に各サーミス
タ５，６間の温度差は減少する。
このように第４図に示す赤外線検出器に於いて
は赤外線検出用サーミスタ５と温度補償用サーミ
スタ６との温度差、即ち抵抗値の差を大きくでき
ずブリツジの出力が小さいという欠点があつた。
は赤外線検出用サーミスタ５と温度補償用サーミ
スタ６との温度差、即ち抵抗値の差を大きくでき
ずブリツジの出力が小さいという欠点があつた。
ここで第４図に示す赤外線検出器を第３図に示
すブリツジ回路に組み込み180℃の黒体光源から
２cmの位置で出力電圧V0を測定したところ周囲
温度Ta＝15℃の時、V0＝14mV、Ta＝50℃の
時、V0＝1mVであつた。但し、Ｅ＝15V，R1＝
200kΩ、R2＝202kΩとした。また赤外線検出用サ
ーミスタ５の特性はサーミスタ定数Ｂ＝3800k、
０℃の時の抵抗値が205kΩのものを使用し、温度
補償用サーミスタ６の特性はサーミスタ定数Ｂ＝
3800k、０℃の時の抵抗値が207kΩのものを使用
した。尚、前記両サーミスタ５，６の寸法は1.2
×1.0mm、厚さ0.3mmである。
すブリツジ回路に組み込み180℃の黒体光源から
２cmの位置で出力電圧V0を測定したところ周囲
温度Ta＝15℃の時、V0＝14mV、Ta＝50℃の
時、V0＝1mVであつた。但し、Ｅ＝15V，R1＝
200kΩ、R2＝202kΩとした。また赤外線検出用サ
ーミスタ５の特性はサーミスタ定数Ｂ＝3800k、
０℃の時の抵抗値が205kΩのものを使用し、温度
補償用サーミスタ６の特性はサーミスタ定数Ｂ＝
3800k、０℃の時の抵抗値が207kΩのものを使用
した。尚、前記両サーミスタ５，６の寸法は1.2
×1.0mm、厚さ0.3mmである。
（考案が解決しようとする課題）
本考案は前述の如き欠点を改善したものであ
り、その目的は高い出力電圧を得ることの可能な
サーミスタ赤外線検出器を経済的に提供すること
にある。
り、その目的は高い出力電圧を得ることの可能な
サーミスタ赤外線検出器を経済的に提供すること
にある。
（課題を解決するための手段）
前記目的を達成するため本考案によるサーミス
タ赤外線検出器は、赤外線の透過可能な赤外線入
射窓を有する封止容器の底面に赤外線検出用サー
ミスタチツプと温度補償用サーミスタチツプを備
えたサーミスタ赤外線検出器に於いて、前記赤外
線検出用サーミスタチツプより薄く且つ面積の広
いシリコーン含浸紙よりなる集光板を、前記赤外
線検出用サーミスタチツプに接触させ、且つ前記
温度補償用サーミスタチツプを覆うが如く配置し
たことを特徴とするものである。
タ赤外線検出器は、赤外線の透過可能な赤外線入
射窓を有する封止容器の底面に赤外線検出用サー
ミスタチツプと温度補償用サーミスタチツプを備
えたサーミスタ赤外線検出器に於いて、前記赤外
線検出用サーミスタチツプより薄く且つ面積の広
いシリコーン含浸紙よりなる集光板を、前記赤外
線検出用サーミスタチツプに接触させ、且つ前記
温度補償用サーミスタチツプを覆うが如く配置し
たことを特徴とするものである。
（実施例）
以下に実施例を示し本考案の内容を更に詳細に
説明する。
説明する。
第１図は、本考案の一実施例を示す構造であ
る。１２はシリコーン含浸紙からなる集光板であ
り、温度補償用サーミスタチツプ６のシールド板
の役目を兼ねたものである。１３は赤外線検出用
サーミスタチツプ５と集光板１２を固定する接着
剤である。また、第４図と同一記号は同一部分を
表している。
る。１２はシリコーン含浸紙からなる集光板であ
り、温度補償用サーミスタチツプ６のシールド板
の役目を兼ねたものである。１３は赤外線検出用
サーミスタチツプ５と集光板１２を固定する接着
剤である。また、第４図と同一記号は同一部分を
表している。
集光板１２は赤外線検出用サーミスタチツプ５
の受光面の面積より大きく、且つ該サーミスタチ
ツプ５の厚さより薄いものであり温度補償用側の
部分、即ち第１図中６，８ａ，８ｂ，９ａ，９ｂ
等に接触しない状態で赤外線検出用サーミスタチ
ツプ５に接着され、且つ一端が延長されて温度補
償用サーミスタチツプ６を覆う様に配置されてい
る。このように受光面積の広い集光板１２を設け
ることにより焦点以外でも十分受光でき、赤外線
入射窓３から入射した赤外線の大部分を集光板１
２で受光することができるばかりではなく、封止
容器内で乱反射した赤外線も温度補償用サーミス
タチツプ６に比べ効率良く受光し赤外線検出用サ
ーミスタチツプ５の温度を大幅に上昇させる。
の受光面の面積より大きく、且つ該サーミスタチ
ツプ５の厚さより薄いものであり温度補償用側の
部分、即ち第１図中６，８ａ，８ｂ，９ａ，９ｂ
等に接触しない状態で赤外線検出用サーミスタチ
ツプ５に接着され、且つ一端が延長されて温度補
償用サーミスタチツプ６を覆う様に配置されてい
る。このように受光面積の広い集光板１２を設け
ることにより焦点以外でも十分受光でき、赤外線
入射窓３から入射した赤外線の大部分を集光板１
２で受光することができるばかりではなく、封止
容器内で乱反射した赤外線も温度補償用サーミス
タチツプ６に比べ効率良く受光し赤外線検出用サ
ーミスタチツプ５の温度を大幅に上昇させる。
更に本考案においては、集光板がシールド板の
役目を兼ねているため温度補償用サーミスタチツ
プ６への光が遮光され出力電圧の向上を図ること
ができる。
役目を兼ねているため温度補償用サーミスタチツ
プ６への光が遮光され出力電圧の向上を図ること
ができる。
従つて本実施例に示すように赤外線検出用サー
ミスタチツプ５に集光板１２を接触させて設ける
ことにより、温度補償用サーミスタチツプ６に第
４図７に示すシールド板７を設けなくても赤外線
検出用サーミスタチツプ５との温度差を十分大き
くできるので第３図に示すブリツジに組み込んだ
場合、端子１０，１１に出力される電圧を非常に
大きくすることができる。
ミスタチツプ５に集光板１２を接触させて設ける
ことにより、温度補償用サーミスタチツプ６に第
４図７に示すシールド板７を設けなくても赤外線
検出用サーミスタチツプ５との温度差を十分大き
くできるので第３図に示すブリツジに組み込んだ
場合、端子１０，１１に出力される電圧を非常に
大きくすることができる。
ここで本実施例に示すサーミスタ赤外線検出器
を第３図に示すブリツジ回路に組み込み180℃の
黒体光源から２cmの位置で出力電圧V0を測定し
たところ、周囲温度Ta＝15℃の時、V0＝64mV，
Ta＝50℃の時V0＝14mVであつた。但しＥ＝
15V、Ｒ＝200kΩ、R2＝195kΩとした。前記両サ
ーミスタチツプ５，６の寸法は1.2×1.0mm、厚さ
0.3mmである。又赤外線検出用サーミスタチツプ
５の特性はサーミスタ定数Ｂ＝3800k、０℃のと
きの抵抗値が220kΩのものを使用し、温度補償用
サーミスタチツプ６の特性はサーミスタ定数Ｂ＝
3800k、０℃の時抵抗値が215kΩのものを使用し、
集光板１２は幅５mm，長さ12mm，厚さ0.1mmのシ
リコーン含浸紙を使用した。
を第３図に示すブリツジ回路に組み込み180℃の
黒体光源から２cmの位置で出力電圧V0を測定し
たところ、周囲温度Ta＝15℃の時、V0＝64mV，
Ta＝50℃の時V0＝14mVであつた。但しＥ＝
15V、Ｒ＝200kΩ、R2＝195kΩとした。前記両サ
ーミスタチツプ５，６の寸法は1.2×1.0mm、厚さ
0.3mmである。又赤外線検出用サーミスタチツプ
５の特性はサーミスタ定数Ｂ＝3800k、０℃のと
きの抵抗値が220kΩのものを使用し、温度補償用
サーミスタチツプ６の特性はサーミスタ定数Ｂ＝
3800k、０℃の時抵抗値が215kΩのものを使用し、
集光板１２は幅５mm，長さ12mm，厚さ0.1mmのシ
リコーン含浸紙を使用した。
このように本実施例によれば、従来例に比較し
て周囲温度Taが15℃の時は、出力電圧V0を約4.5
倍にでき、周囲温度が50℃の時は出力電圧V0を
14倍とすることができた。
て周囲温度Taが15℃の時は、出力電圧V0を約4.5
倍にでき、周囲温度が50℃の時は出力電圧V0を
14倍とすることができた。
第２図は本考案の他の構造であり第１図と異な
る点は、集光板１２を赤外線検出用サーミスタチ
ツプ５とステム１の間に挟んで、配置した点であ
る。尚、第１図と同一記号は同一部分を表す。
る点は、集光板１２を赤外線検出用サーミスタチ
ツプ５とステム１の間に挟んで、配置した点であ
る。尚、第１図と同一記号は同一部分を表す。
本実施例に於いても集光板を設けることにより
第１図に示した実施例と同様に赤外線検出用サー
ミスタチツプ５が受ける赤外線エネルギーの量を
大とすることができるので、第３図に示すブリツ
ジ回路を構成した場合その出力電圧を大とするこ
とができる。
第１図に示した実施例と同様に赤外線検出用サー
ミスタチツプ５が受ける赤外線エネルギーの量を
大とすることができるので、第３図に示すブリツ
ジ回路を構成した場合その出力電圧を大とするこ
とができる。
ここで本実施例に示すサーミスタ赤外線検出器
を第３図に示すブリツジ回路に組み込み、180℃
の黒体光源から２cmの位置で出力電圧V0を測定
したところ、周囲温度Ta＝15℃の時、V0＝
55mV、Ta＝50℃の時V0＝12mVであつた。尚そ
の他の条件については第１図に示した実施例と同
一にした。
を第３図に示すブリツジ回路に組み込み、180℃
の黒体光源から２cmの位置で出力電圧V0を測定
したところ、周囲温度Ta＝15℃の時、V0＝
55mV、Ta＝50℃の時V0＝12mVであつた。尚そ
の他の条件については第１図に示した実施例と同
一にした。
このように出力電圧V0をあまり低下させず集
光板１２を赤外線検出用サーミスタチツプ５とス
テム１の間に配置することができる。
光板１２を赤外線検出用サーミスタチツプ５とス
テム１の間に配置することができる。
集光板としては、通常ポリイミド等のプラスチ
ツクフイルム、白金ブラツク等の金属箔等が使用
されるが、本考案では放射率が高く、サーミスタ
チツプとの接着が容易で、保温効果があり、よつ
てサーミスタ赤外線検出器の安定性向上につなが
り、しかも安価で経済的であるシリコーン含浸紙
を使用した。
ツクフイルム、白金ブラツク等の金属箔等が使用
されるが、本考案では放射率が高く、サーミスタ
チツプとの接着が容易で、保温効果があり、よつ
てサーミスタ赤外線検出器の安定性向上につなが
り、しかも安価で経済的であるシリコーン含浸紙
を使用した。
（考案の効果）
以上説明したように本考案によれば、赤外線検
出用サーミスタチツプに放射率の高い集光板を接
触させて配置することにより、赤外線が照射され
た際の赤外線検出用サーミスタチツプと温度補償
用サーミスタチツプとの温度差を大きなものにす
ることができるので、従来例に比較して大きな出
力電圧を得ることができる利点がある。
出用サーミスタチツプに放射率の高い集光板を接
触させて配置することにより、赤外線が照射され
た際の赤外線検出用サーミスタチツプと温度補償
用サーミスタチツプとの温度差を大きなものにす
ることができるので、従来例に比較して大きな出
力電圧を得ることができる利点がある。
また、実質的な受光面積が広がり、焦点がぼけ
ても十分受光できるので、被測定物の形状が大き
い場合は特に有効である。
ても十分受光できるので、被測定物の形状が大き
い場合は特に有効である。
更に、集光板がシールド板を兼ねているため、
従来例のようにわざわざシールド板を設置する必
要もなく、安価な材料を使用することも相俟つ
て、性能の良いサーミスタ赤外線検出器を経済的
に提供できるものである。
従来例のようにわざわざシールド板を設置する必
要もなく、安価な材料を使用することも相俟つ
て、性能の良いサーミスタ赤外線検出器を経済的
に提供できるものである。
第１図は本考案の一実施例の構造図、第２図は
本考案の他の実施例の構造図、第３図は赤外線検
出器により被測定物体の温度を測定する際に使用
する回路の一例を示す回路図であり、第４図は従
来例の構造図である。 １はステム、２はキヤツプ、３は赤外線入射
窓、４は絶縁板、５は赤外線検出用サーミスタチ
ツプ（赤外線検出用サーミスタ）、６は温度補償
用サーミスタチツプ（温度補償用サーミスタ）、
７はシールド板、８ａ〜８ｄはリード線、９ａ〜
９ｄはピン、１０，１１はブリツジの出力端子、
１２は集光板、１３は接着剤、R1，R2は抵抗、
Ｅは電源である。
本考案の他の実施例の構造図、第３図は赤外線検
出器により被測定物体の温度を測定する際に使用
する回路の一例を示す回路図であり、第４図は従
来例の構造図である。 １はステム、２はキヤツプ、３は赤外線入射
窓、４は絶縁板、５は赤外線検出用サーミスタチ
ツプ（赤外線検出用サーミスタ）、６は温度補償
用サーミスタチツプ（温度補償用サーミスタ）、
７はシールド板、８ａ〜８ｄはリード線、９ａ〜
９ｄはピン、１０，１１はブリツジの出力端子、
１２は集光板、１３は接着剤、R1，R2は抵抗、
Ｅは電源である。
Claims (1)
- 赤外線の透過可能な赤外線入射窓を有する封止
容器の底面に赤外線検出用サーミスタチツプと温
度補償用サーミスタチツプを備えたサーミスタ赤
外線検出器に於いて、前記赤外線検出用サーミス
タチツプより薄く且つ面積の広いシリコーン含浸
紙よりなる集光板を、前記赤外線検出用サーミス
タチツプに接触させ、且つ前記温度補償用サーミ
スタチツプを覆うが如く配置したことを特徴とす
るサーミスタ赤外線検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1984142625U JPH0450519Y2 (ja) | 1984-09-20 | 1984-09-20 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1984142625U JPH0450519Y2 (ja) | 1984-09-20 | 1984-09-20 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6157827U JPS6157827U (ja) | 1986-04-18 |
| JPH0450519Y2 true JPH0450519Y2 (ja) | 1992-11-27 |
Family
ID=30700941
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1984142625U Expired JPH0450519Y2 (ja) | 1984-09-20 | 1984-09-20 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0450519Y2 (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5329783A (en) * | 1976-09-01 | 1978-03-20 | Hitachi Ltd | Temperature detector |
| JPS5531977A (en) * | 1978-08-29 | 1980-03-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Detection element of infrared ray |
| JPS5979128A (ja) * | 1982-10-27 | 1984-05-08 | Horiba Ltd | 光輻射線パワ−測定装置 |
-
1984
- 1984-09-20 JP JP1984142625U patent/JPH0450519Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5329783A (en) * | 1976-09-01 | 1978-03-20 | Hitachi Ltd | Temperature detector |
| JPS5531977A (en) * | 1978-08-29 | 1980-03-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Detection element of infrared ray |
| JPS5979128A (ja) * | 1982-10-27 | 1984-05-08 | Horiba Ltd | 光輻射線パワ−測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6157827U (ja) | 1986-04-18 |
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