JPH0449173Y2 - - Google Patents

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JPH0449173Y2
JPH0449173Y2 JP699287U JP699287U JPH0449173Y2 JP H0449173 Y2 JPH0449173 Y2 JP H0449173Y2 JP 699287 U JP699287 U JP 699287U JP 699287 U JP699287 U JP 699287U JP H0449173 Y2 JPH0449173 Y2 JP H0449173Y2
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crucible
vacuum
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thin film
deposition material
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は、基板に薄膜を蒸着させる薄膜形成
装置に関するものである。
〔従来の技術〕
第2図は例えば特公昭54−9592号公報に示され
た従来の薄膜形成装置を示す断面図であり、図に
おいて、1は真空槽、2はこの真空槽1の真空排
気口、3はこの真空排気口2に取り付けられたバ
ルブ、4は後述する基板に蒸着されて薄膜を形成
するための蒸着物質、5はこの蒸着物質4を入れ
るるつぼ、6はこのるつぼ5の支持台、7はるつ
ぼ5の周囲に配置されてこれを加熱するために電
子を放出する電子ボンバード用フイラメント、8
はるつぼ5および電子ボンバード用フイラメント
7を囲んでこれらからの熱放射を遮えぎるるつぼ
熱シールド板、9はるつぼ支持台6を介してるつ
ぼ5を支えるるつぼ支持絶縁物、10はるつぼ熱
シールド板8を支えるるつぼ熱シールド板絶縁
物、11は後述するクラスターをイオン化するた
めに電子を放出するイオン化用フイラメント、1
2はこのイオン化用フイラメント11の内側に配
置されてイオン化用フイラメント11から電子を
引出す電子引出グリツド、13はイオン化用フイ
ラメント11を囲んでこれからの熱放射を遮えぎ
るイオン化用フイラメント熱シールド板、14は
るつぼ熱シールド板8とイオン化用フイラメント
熱シールド板13の間に配置されてイオン化用フ
イラメント熱シールド板13を支えるイオン化用
フイラメント熱シールド板絶縁物、15はイオン
化用フイラメント11から電子引出グリツド12
によつて引出されたイオン化電子、16はイオン
化用フイラメント熱シールド板13の上方に配置
されてクラスターを加速する加速電極、17はこ
の加速電極16を支えるためにイオン化用フイラ
メント熱シールド板13上に設けられた加速電極
絶縁物、18はるつぼ5からその小孔5aを通し
て噴出した蒸着物質4の中性クラスター、19は
イオン化電子15によつてイオン化された、蒸着
物質4のイオン化クラスター、20は中性クラス
ター18とイオン化クラスター19を含むクラス
タービーム、21はこのクラスタービーム20を
遮えぎるシヤツター、22はこのシヤツター21
を支持、回転させるシヤツター支持棒、23はこ
のシヤツター支持棒22が真空槽1を貫通して外
部に延出する所に設けられたシヤツター支持棒シ
ール部、24はイオン化クラスター19が蒸着さ
れて薄膜を形成する基板、25はこの基板24の
ホルダー、26は基板ホルダーシール部である。
従来の薄膜形成装置は上述したように構成され
ており、真空槽1の真空排気口2からバルブ3を
通して真空排気された高真空領域内において蒸着
物質4を入れたるつぼ5を電子ボンバード用フイ
ラメント7から出た電子で電子衝撃し、るつぼ5
内の蒸着物質4を蒸気圧が数mmHgになる温度に
加熱する。この蒸着物質4の蒸気はるつぼ5に設
けられた小孔5aから高真空領域内へ噴出する。
このとき断熱膨張による過冷却状態になりクラス
タービーム20が形成される。このクラスタービ
ーム20にイオン化用フイラメント11から電子
引出グリツド12によつて引出されたイオン化電
子15を衝突させることにより、中性クラスター
18をイオン化させてイオン化クラスター19を
形成する。一部のクラスターはイオン化電子15
と衝突せず、中性クラスター18のまゝるつぼ5
からの噴出速度で基板24へ蒸着される。イオン
化クラスター19は、電子引出しグリツド12と
加速電極16との間に接続された電源(図示しな
い)によつて前者が正、後者が負となるように電
位差が与えられているため、加速されて基板24
に蒸着される。シヤツター21はクラスタービー
ム20を制御する開閉装置であり、基板24に必
要な厚さの薄膜を形成させる。
〔考案が解決しようとする問題点〕
従来の薄膜形成装置にはるつぼ5が1個しかな
いので容量に限界があり、厚い膜や多層膜を蒸着
させる時には、真空槽1を一度大気開放してから
るつぼ5を取り出し、蒸着物質4の補給や違つた
蒸着物質の入つたるつぼとの交換をして真空引を
する必要があり、再び高真空に達するまで時間が
かかるなどの問題点があつた。
この考案は上述したような問題点を解決するた
めになされたもので、真空槽の真空を破らずにる
つぼへの蒸着物質の補給やるつぼの交換ができる
薄膜形成装置を得ることを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
この考案に係る薄膜形成装置は真空槽と連設し
た真空予備室を設け、真空槽外からの操作によ
り、るつぼがるつぼ熱シールド板中と真空予備室
中とを移動できるようにしたものである。
〔作用〕
この考案においては、るつぼを真空予備室内に
取り入れ、真空槽と遮断して真空予備室を大気開
放してからるつぼを取り出し、再びるつぼを真空
予備室内に入れ、真空予備室を真空引する。その
後真空槽と開放し、るつぼをるつぼ熱シールド板
内に送り込む。
〔実施例〕
第1図はこの考案の一実施例を示す概略断面図
であり、図において従来装置と同時に1は真空
槽、5はるつぼ、24は基板である。28はるつ
ぼ5の受口、29はこのるつぼ受口28に取り付
けられたるつぼ支持軸、30は真空槽1と連設し
た真空予備室、31は真空槽1と真空予備室30
の間に設けられた遮蔽用バルブ、32はるつぼ5
を取り出すために真空予備室30に設けられた
扉、33はるつぼ支持軸29のすべり軸受兼真空
シール、34は真空予備室30に設けられてるつ
ぼ支持軸29を固定するための固定具、35は真
空予備室30の排気口バルブ、36はこの排気口
バルブ35に連なる真空ポンプ、37は真空予備
室30の大気開放用バルブである。
上述したように構成されたこの考案の薄膜形成
装置では、従来装置と同様に基板24へ薄膜を形
成した後、るつぼ支持軸29を固定具34からは
ずして引き下げ、るつぼ5を真空予備室30内ま
で移動させる。遮蔽用バルブ31を閉じ、大気開
放用バルブ37を開け、真空予備室30を大気解
放する。扉32を開けるつぼ5を取り出し、蒸着
物質4の補給又はるつぼ交換を行い、るつぼ5を
るつぼ受口28にセツトする。扉32を閉め、排
気口バルブ35を開け、真空ポンプ36によつて
真空予備室30を真空引する。所定の真空度に達
したら排気口バルブ35を閉じ、遮蔽用バルブ3
1を開ける。るつぼ支持軸29を押し上げ、るつ
ぼ5をるつぼ熱シールド板8内に移動させ、るつ
ぼ支持軸29を固定具34で固定する。その後再
び蒸着を開始させる。
〔考案の効果〕
以上のように、この考案は、真空槽に真空予備
室を設けたので、るつぼ材料の補給やるつぼ交換
の時に真空槽を大気開放又は真空引する必要がな
く、補給又は交換の時間が短縮され、しかも真空
槽を大気開放しないので高真空が得られる効果を
奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の一実施例を示す概略断面
図、第2図は従来の薄膜形成装置を示す断面図で
ある。 図において、1は真空槽、4は蒸着物質、5は
るつぼ、7は電子ボンバード用フイラメント、8
はるつぼ熱シールド板、11はイオン化用フイラ
メント、12は電子引出グリツド、16は加速電
極、24は基板、30は真空予備室である。な
お、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示
す。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 蒸着物質を入れたるつぼと、このるつぼ内の蒸
    着物質が加熱されて蒸気化され、断熱膨張による
    過冷却状態によつて発生されたクラスターをイオ
    ン化するイオン化部と、イオン化されたクラスタ
    ーを加速させる加速電極と、薄膜を被着させる基
    板とを真空槽内に備えた薄膜形成装置において、
    前記真空槽と連設してその真空を破らずに前記る
    つぼを交換するための真空予備室を設けたことを
    特徴とする薄膜形成装置。
JP699287U 1987-01-22 1987-01-22 Expired JPH0449173Y2 (ja)

Priority Applications (1)

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JP699287U JPH0449173Y2 (ja) 1987-01-22 1987-01-22

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JP699287U JPH0449173Y2 (ja) 1987-01-22 1987-01-22

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Publication Number Publication Date
JPS63115063U JPS63115063U (ja) 1988-07-25
JPH0449173Y2 true JPH0449173Y2 (ja) 1992-11-19

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ID=30790032

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US7948171B2 (en) * 2005-02-18 2011-05-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device

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JPS63115063U (ja) 1988-07-25

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