JPH0443942Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0443942Y2 JPH0443942Y2 JP10506285U JP10506285U JPH0443942Y2 JP H0443942 Y2 JPH0443942 Y2 JP H0443942Y2 JP 10506285 U JP10506285 U JP 10506285U JP 10506285 U JP10506285 U JP 10506285U JP H0443942 Y2 JPH0443942 Y2 JP H0443942Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- receiving element
- circuit board
- light receiving
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 26
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 210000000278 spinal cord Anatomy 0.000 description 1
- 239000013589 supplement Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
- Switches Operated By Changes In Physical Conditions (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔考案の属する技術分野〕
この考案は被検出物体からの反射光の強弱を検
出して検出対象のマーク、コード等を読みとる反
射形光電スイツチにおける受光素子の取付け構造
に関する。
出して検出対象のマーク、コード等を読みとる反
射形光電スイツチにおける受光素子の取付け構造
に関する。
この種の光電スイツチとして公知のものは、検
出対象面からの反射光および光源からの参照光の
それぞれの光を検出回路を構成する基板上に取付
けた2つの受光素子で受け、検出回路を介して検
出対象面の読み取りを行なうようになつている。
しかしながら上述したような受光素子の取付け構
造には次に述べるような欠点をもつている。すな
わち、検出回路から出力される信号は、一般的に
は参照光に対して反射光量が大きくなつたときに
出力されるので明度の大きい例えば白色のような
検出対象面のマークを検出するためには参照光に
よる出力を大きくしておかねばならない。即ち受
光素子は参照光側を高感度にしておく必要があ
る。従来の構造では各素子の出力特性を個々に測
定した上で検出回路基板上に取付けていたので、
受光素子の全ての出力特性を測定するために受光
素子の取外し、あるいは取付ける組立工数が極め
て多くかかつた。またそれらの際に受光素子の受
光表面に塵埃、指紋などが付着する可能性が高く
取付けに際する取扱いは細心の注意が必要であつ
た。
出対象面からの反射光および光源からの参照光の
それぞれの光を検出回路を構成する基板上に取付
けた2つの受光素子で受け、検出回路を介して検
出対象面の読み取りを行なうようになつている。
しかしながら上述したような受光素子の取付け構
造には次に述べるような欠点をもつている。すな
わち、検出回路から出力される信号は、一般的に
は参照光に対して反射光量が大きくなつたときに
出力されるので明度の大きい例えば白色のような
検出対象面のマークを検出するためには参照光に
よる出力を大きくしておかねばならない。即ち受
光素子は参照光側を高感度にしておく必要があ
る。従来の構造では各素子の出力特性を個々に測
定した上で検出回路基板上に取付けていたので、
受光素子の全ての出力特性を測定するために受光
素子の取外し、あるいは取付ける組立工数が極め
て多くかかつた。またそれらの際に受光素子の受
光表面に塵埃、指紋などが付着する可能性が高く
取付けに際する取扱いは細心の注意が必要であつ
た。
この考案は上述した欠点に鑑み受光素子の取付
け、取外しが容易な反射形光電スイツチを提供す
ることを目的とする。
け、取外しが容易な反射形光電スイツチを提供す
ることを目的とする。
この考案では上記達成のため反射光用、参照光
用それぞれの受光素子のみを、検出回路が組込ま
れた回路基板とは別の回路基板に対称的に配置し
かつ極性を逆向きに並列接続して取付け、この回
路基板は導電性の段付ピンを用いて検出回路が組
込まれた回路基板に電気的接続ならびに機械的結
合を行なうようにしたものである。
用それぞれの受光素子のみを、検出回路が組込ま
れた回路基板とは別の回路基板に対称的に配置し
かつ極性を逆向きに並列接続して取付け、この回
路基板は導電性の段付ピンを用いて検出回路が組
込まれた回路基板に電気的接続ならびに機械的結
合を行なうようにしたものである。
第1図はこの考案の実施例を示す縦断面髄であ
る。図においてランプ1のフイラメント1aから
射出される光aは集光レンズ2により平行光に変
換され、その平行光はハーフミラー3を透過して
対物レンズ4により再び集光され、検出対象面P
に光のスポツトQを投光する。検出対象面Pで反
射され折返して進む反射光bは対物レンズ4によ
り再び平行光に変換されその平行光はハーフミラ
ー3によつて90°方向変換され下部のレンズ5に
よつてさらに集光され取付基板6の上に取付けら
れた第1の受光素子7に投光される。
る。図においてランプ1のフイラメント1aから
射出される光aは集光レンズ2により平行光に変
換され、その平行光はハーフミラー3を透過して
対物レンズ4により再び集光され、検出対象面P
に光のスポツトQを投光する。検出対象面Pで反
射され折返して進む反射光bは対物レンズ4によ
り再び平行光に変換されその平行光はハーフミラ
ー3によつて90°方向変換され下部のレンズ5に
よつてさらに集光され取付基板6の上に取付けら
れた第1の受光素子7に投光される。
ランプ1からの光aとほぼ直角方向に射出され
る光、すなわち第1の参照光cと、この参照光c
の反対方向に射出され凹面ミラー8により集光さ
れつつ反射された第2の参照光dは、取付基板6
の上に取付けられた第2の受光素子9に投光され
る。第2の参照光dは第1の参照光cによる光量
を補うためのものである。参照光c,dは第2の
受光素子9に投光される間遮蔽板10に設けた貫
通孔10aを通過する。調整軸11の回動により
摺動可能に構成された遮光板12により遮蔽板1
0の貫通孔10aの光透過面積を変化させること
により透過光量が調整される。調整軸11はケー
ス13の外部に突出しているつまみ14に直結さ
れているのでつまみ14を回動させると遮光板1
2が摺動移動し、参照光c,dの光量が調整され
る。
る光、すなわち第1の参照光cと、この参照光c
の反対方向に射出され凹面ミラー8により集光さ
れつつ反射された第2の参照光dは、取付基板6
の上に取付けられた第2の受光素子9に投光され
る。第2の参照光dは第1の参照光cによる光量
を補うためのものである。参照光c,dは第2の
受光素子9に投光される間遮蔽板10に設けた貫
通孔10aを通過する。調整軸11の回動により
摺動可能に構成された遮光板12により遮蔽板1
0の貫通孔10aの光透過面積を変化させること
により透過光量が調整される。調整軸11はケー
ス13の外部に突出しているつまみ14に直結さ
れているのでつまみ14を回動させると遮光板1
2が摺動移動し、参照光c,dの光量が調整され
る。
ケース13に固定された検出回路が組込まれた
回路基板15とは別置される回路基板6は第2図
の斜視図で示すような形状で、プリント板6a上
の回路パターン6a上に受光素子7,9を導電性
の接着剤等で固着し、その受光面側電極はボンデ
イングワイヤ6cで別の回路パターン6dと接続
したものである。このように第1、第2の受光素
子7,9は取付けられており、その接続回路は第
3図に示す破線で囲つた部分からなつている。即
ち、第1の受光素子7と第2の受光素子9は特性
が同一のものを使用していて、極性を逆にして並
列接続している。回路基板6は4本の段付ピン
(4本のうち少なくとも対角線上にある2本は導
電性)16a,16bによつて検出回路が組込ま
れた回路基板15上に位置決めされ取付けられ
る。図では段付ピン16aは受光素子回路の接続
端子を兼ねており、受光素子の電極を検出回路に
電気的接続している。このような取付け構造にす
ると、回路基板6を検出回路が組込まれた回路基
板15に取付けるとき半回転させて第1の受光素
子7と第2の受光素子9の位置を入れ換えて接続
することもできる。検出回路は第3図に示すよう
に受光素子からの出力を増帳器17で差動増幅
し、シユミツト回路18によつてスイツチング信
号を発生し、出力トランジスタ19を駆動して出
力端子20に出力信号を発生する。21はケース
13の外部へ信号を導くケーブルで、出力信号の
外に電源用線21a,21bを収納している。
回路基板15とは別置される回路基板6は第2図
の斜視図で示すような形状で、プリント板6a上
の回路パターン6a上に受光素子7,9を導電性
の接着剤等で固着し、その受光面側電極はボンデ
イングワイヤ6cで別の回路パターン6dと接続
したものである。このように第1、第2の受光素
子7,9は取付けられており、その接続回路は第
3図に示す破線で囲つた部分からなつている。即
ち、第1の受光素子7と第2の受光素子9は特性
が同一のものを使用していて、極性を逆にして並
列接続している。回路基板6は4本の段付ピン
(4本のうち少なくとも対角線上にある2本は導
電性)16a,16bによつて検出回路が組込ま
れた回路基板15上に位置決めされ取付けられ
る。図では段付ピン16aは受光素子回路の接続
端子を兼ねており、受光素子の電極を検出回路に
電気的接続している。このような取付け構造にす
ると、回路基板6を検出回路が組込まれた回路基
板15に取付けるとき半回転させて第1の受光素
子7と第2の受光素子9の位置を入れ換えて接続
することもできる。検出回路は第3図に示すよう
に受光素子からの出力を増帳器17で差動増幅
し、シユミツト回路18によつてスイツチング信
号を発生し、出力トランジスタ19を駆動して出
力端子20に出力信号を発生する。21はケース
13の外部へ信号を導くケーブルで、出力信号の
外に電源用線21a,21bを収納している。
以上述べた構成において参照光c,dによる第
2の受光素子9の出力に比べて、検出対象面Pか
らの反射光bによる第1の受光素子7の出力が少
ない場合は、シユミツト回路18は作動せず出力
信号は発生しない。この場合つまみ14を回動さ
せることによつて参照光c,dの光量を減少させ
て第2の受光素子9の出力を減少させ、第1の受
光素子7の出力により小さくなつたところでシユ
ミツト回路18が作動し、出力トランジスタ19
がオンして出力信号を発生する。即ちつまみ14
の操作により反射光bの変化に対する動作点を変
えることができる。例えば検出対象面Pが黒地で
あつて白色のマークがあつたときに出力信号を出
すようにするには、つまみ14の回動位置を各々
の反射光に対して中間で動作するように調整すれ
ばよい。
2の受光素子9の出力に比べて、検出対象面Pか
らの反射光bによる第1の受光素子7の出力が少
ない場合は、シユミツト回路18は作動せず出力
信号は発生しない。この場合つまみ14を回動さ
せることによつて参照光c,dの光量を減少させ
て第2の受光素子9の出力を減少させ、第1の受
光素子7の出力により小さくなつたところでシユ
ミツト回路18が作動し、出力トランジスタ19
がオンして出力信号を発生する。即ちつまみ14
の操作により反射光bの変化に対する動作点を変
えることができる。例えば検出対象面Pが黒地で
あつて白色のマークがあつたときに出力信号を出
すようにするには、つまみ14の回動位置を各々
の反射光に対して中間で動作するように調整すれ
ばよい。
前述したように、反射形光電スイツチにおいて
は、同一の特性を持つ別々の受光素子7,9を逆
並列接続して使用され、反射光bを受光する受光
素子7の出力電圧を。参照光c,dを受光する受
光素子9の出力電圧を基準電圧として比較するよ
うにされている。従つて、基準電圧となる参照光
側の受光素子9を反射側の受光素子7よりも高感
度のものとすることにより、基準電圧を広範囲に
変化(調整)させて用いることができるので、参
照光側の受光素子9の感度が反射光側の受光素子
7の感度よりも高感度のものに選ばれる。また、
受光素子7,9は同一の特性を持つ素子が選択的
に使用されるのであるが、やはり個々の素子間で
は感度に差がある。この感度差から、高感度の素
子を参照光側として使用するために高感度側の受
光素子を選ぶには、逆並列接続された受光素子に
同一光源からの光を同時に照射すると、高感度側
の受光素子の電圧出力が段付ピン16a,16a
に現れるので、段付ピン16a,16aのいずれ
の側に正極が現れるかをチエツクすることにより
高感度側の受光素子を知ることができる。そして
その受光素子を参照光側とする。
は、同一の特性を持つ別々の受光素子7,9を逆
並列接続して使用され、反射光bを受光する受光
素子7の出力電圧を。参照光c,dを受光する受
光素子9の出力電圧を基準電圧として比較するよ
うにされている。従つて、基準電圧となる参照光
側の受光素子9を反射側の受光素子7よりも高感
度のものとすることにより、基準電圧を広範囲に
変化(調整)させて用いることができるので、参
照光側の受光素子9の感度が反射光側の受光素子
7の感度よりも高感度のものに選ばれる。また、
受光素子7,9は同一の特性を持つ素子が選択的
に使用されるのであるが、やはり個々の素子間で
は感度に差がある。この感度差から、高感度の素
子を参照光側として使用するために高感度側の受
光素子を選ぶには、逆並列接続された受光素子に
同一光源からの光を同時に照射すると、高感度側
の受光素子の電圧出力が段付ピン16a,16a
に現れるので、段付ピン16a,16aのいずれ
の側に正極が現れるかをチエツクすることにより
高感度側の受光素子を知ることができる。そして
その受光素子を参照光側とする。
この考案によれば、2個の受光素子を検出回路
を組込んだ回路基板と別離可能な回路基板に搭載
して回路を形成し、この回路基板を導体性の段付
ピンを介して前記検出回路が組込まれた回路基板
に電気的接続および機械的結合し着脱容易な取付
構造としたので、2個の受光素子の高感度側(参
照光側)の判別は受光素子に同時に光を当てたと
きの段付ピン16a,16aの正極側をチエツク
することで知ることができこの操作は極めて容易
であり、簡単に判別が行なえる。受光素子が取付
けられている回路基板の検出回路が組込まれた回
路基板への取付けは段付ピンの挿入によつて行な
われているのでその取付け、取外しは極めて簡単
であり、受光素子に手を触れずに行なえ受光素子
を汚損することがなくなるという利点を有する。
を組込んだ回路基板と別離可能な回路基板に搭載
して回路を形成し、この回路基板を導体性の段付
ピンを介して前記検出回路が組込まれた回路基板
に電気的接続および機械的結合し着脱容易な取付
構造としたので、2個の受光素子の高感度側(参
照光側)の判別は受光素子に同時に光を当てたと
きの段付ピン16a,16aの正極側をチエツク
することで知ることができこの操作は極めて容易
であり、簡単に判別が行なえる。受光素子が取付
けられている回路基板の検出回路が組込まれた回
路基板への取付けは段付ピンの挿入によつて行な
われているのでその取付け、取外しは極めて簡単
であり、受光素子に手を触れずに行なえ受光素子
を汚損することがなくなるという利点を有する。
第1図はこの考案の実施例を示す縦断面図、第
2図は第1図における取付基板の斜視図、第3図
は検出回路図である。 6……取付基板、7,9……受光素子、15…
…検出回路基板、16a,16b……段付ピン、
P……検出対称面。
2図は第1図における取付基板の斜視図、第3図
は検出回路図である。 6……取付基板、7,9……受光素子、15…
…検出回路基板、16a,16b……段付ピン、
P……検出対称面。
Claims (1)
- 検出対象面からの反射光と基準とされる参照光
とをそれぞれの受光素子で受光し、検出回路を介
して検出対象面のマーク等を読み取る反射形光電
スイツチにおいて、前記2個の受光素子を回路基
板上に対称的に配置しかつ極性を逆向きとし並列
に接続して回路基板に取付け、該回路基板に設け
た導電性の段付ピンを用いて検出回路が組込まれ
た回路基板との電気的接続ならびに機械的結合を
行うことを特徴とする反射形光電スイツチ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10506285U JPH0443942Y2 (ja) | 1985-07-10 | 1985-07-10 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10506285U JPH0443942Y2 (ja) | 1985-07-10 | 1985-07-10 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6214645U JPS6214645U (ja) | 1987-01-28 |
JPH0443942Y2 true JPH0443942Y2 (ja) | 1992-10-16 |
Family
ID=30979135
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10506285U Expired JPH0443942Y2 (ja) | 1985-07-10 | 1985-07-10 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0443942Y2 (ja) |
-
1985
- 1985-07-10 JP JP10506285U patent/JPH0443942Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6214645U (ja) | 1987-01-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0349694B1 (en) | A detecting apparatus | |
JPH02278121A (ja) | 反射式エンコーダ | |
JPS5852514A (ja) | 光源−観測面間距離測定装置 | |
TW200417903A (en) | Optical cursor control device | |
US6043482A (en) | Scanning unit with a printed circuit for an optical position-measuring apparatus | |
JPH0443942Y2 (ja) | ||
EP0297798A3 (en) | A contact-type image sensor | |
JPS6055227A (ja) | 光電的長さ又は角度測定装置 | |
JP2002267498A (ja) | 光検出器 | |
CN215769884U (zh) | 接触式图像传感器 | |
JPH0586105B2 (ja) | ||
JP2551277B2 (ja) | 光学式回転角度検出装置 | |
JPH0623003Y2 (ja) | 反射型ホトセンサ | |
JPS62178208A (ja) | 光チヨツパ装置 | |
JPH0450970U (ja) | ||
JPH0749884Y2 (ja) | イメージセンサ | |
JPH04118620U (ja) | レーザエンコーダ | |
JP2959132B2 (ja) | 弦振動検出装置 | |
JPS61218013A (ja) | 光学式スイツチ | |
JP2000266542A (ja) | 光学式傾斜センサ | |
JPS62130560A (ja) | 密着型イメ−ジセンサの構造 | |
JPH01146672U (ja) | ||
JPS6427628U (ja) | ||
JPS6372020A (ja) | 光電スイツチ | |
JPH0289314U (ja) |