JPH0439892A - 薄膜elパネルの製造方法 - Google Patents
薄膜elパネルの製造方法Info
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- JPH0439892A JPH0439892A JP2146940A JP14694090A JPH0439892A JP H0439892 A JPH0439892 A JP H0439892A JP 2146940 A JP2146940 A JP 2146940A JP 14694090 A JP14694090 A JP 14694090A JP H0439892 A JPH0439892 A JP H0439892A
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- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明は、発光層の上下に絶縁層を設けた、いわゆる三
層構造を有する薄膜ELパネルの製造方法に関するもの
で、特に階調表示機能付きELパネルの製造に最適な薄
膜ELパネルの製造方法に関する。
層構造を有する薄膜ELパネルの製造方法に関するもの
で、特に階調表示機能付きELパネルの製造に最適な薄
膜ELパネルの製造方法に関する。
従来の薄膜ELパネルの製造方法として、たとえば第5
図および第7図に示す方法が知られている。 この方法によれば、まず、ガラス基板11の上に、IT
O(インノウム錫酸化物)からなる透明導電膜を形成し
、フォトエツチングして、第2図(g)に示すように平
行な帯状の透明電極12を形成する(第7図(a乃。次
に、このガラス基板11を、第5図(a)に示すように
、表面を下向きにして基板ホルダ40に取り付け、膜を
形成しない周辺領域を枠状のマスク41で覆う。そして
、第7図(b)に示すように下部絶縁層I3と、発光層
14と、上部絶縁層I5とを順次形成する。上記発光層
14を形成する際に、発光特性を良くするために、基板
11を加熱する。そして、最後に、帯状の背面電極16
と端子電極17を形成する。
図および第7図に示す方法が知られている。 この方法によれば、まず、ガラス基板11の上に、IT
O(インノウム錫酸化物)からなる透明導電膜を形成し
、フォトエツチングして、第2図(g)に示すように平
行な帯状の透明電極12を形成する(第7図(a乃。次
に、このガラス基板11を、第5図(a)に示すように
、表面を下向きにして基板ホルダ40に取り付け、膜を
形成しない周辺領域を枠状のマスク41で覆う。そして
、第7図(b)に示すように下部絶縁層I3と、発光層
14と、上部絶縁層I5とを順次形成する。上記発光層
14を形成する際に、発光特性を良くするために、基板
11を加熱する。そして、最後に、帯状の背面電極16
と端子電極17を形成する。
ところで、上記マスク41および基板ホルダ40は、基
板11よりも熱容量が大きいものであり、しかも図示し
ない支持部材、回転体を介してチャンバ壁面に取り付け
られている。そのため、基板11の加熱時に、熱伝導に
よってチャンバ壁面に熱が逃げて、第5図(b)に示す
ように、基板11の周辺領域が中心付近よりも低温であ
るような温度分布が生じる。基板温度が低い領域は膜の
成長レートが大きいので、この従来の方法では、発光層
14の膜厚は、第5図(c)に示すように、膜形成領域
E。の周辺にて厚く、中心付近にて薄いような分布とな
る。特にZnS:Mnからなる発光層の場合には、基板
温度が低い領域において膜の成長レートが大きい。 第6図は発光層の膜厚と基板温度との関係を示す図であ
る。この図かられかるように、基板温度が1℃変化する
と発光層の膜厚はそれに伴い1%変化する。つまり、基
板温度が低くなると、膜の付着係数が増加し、膜厚が厚
くなるのである。 ところで、発光層14の膜厚が第5図(C)に示すよう
な分布となった場合には、第5図(d)に示すように、
薄膜ELパネルの発光輝度は、表示領域り。のごく周囲
が明るく、次に周辺部は暗く、中央部がまた明るくなる
ような分布になり、輝度差B。を生じる。この輝度差B
。は薄膜ELパネルの表示品位を著しく損なうものであ
る。 この輝度分布の改善を図るため、本出願人は次のような
方法を提案した(特願平1−158030号、特願平2
−3134号)。第8図にはこの方法の工程図、第4図
にはこの方法によって得られた基板の温度分布、膜厚分
布等を示す。 この方法は、上記従来の方法と同様の方法で、ガラス基
板21の上に、透明電極22を第2図(g)に示すよう
に配しく第8図(a))、この後、このガラス基板21
を第4図(a)に示すように基板ホルダ40に取り付け
る。しかしながら、この場合には、上記従来の方法と異
なり、マスクを使用しないで、下部絶縁層23と発光層
24と上部絶縁層25とを、基板21の略全面に形成す
る(第8図(b))。その後、第8図(C)に示すよう
に、重層形成された三層膜23.24.25のうち、パ
ネルの表示領域り、となる領域をゴム製のマスク3Iで
保護して、周辺領域△の不要な部分を液体ホーニング法
等によって完全に除去する。最後に、帯状の背面電極2
6と端子電極27とを形成する。このとき、端子電極2
7は、三層膜23,24.25から露出した透明電極2
2の端部22aと導通ずる状態にされる。 この本出願人の提案した方法によって得られた薄膜EL
パネルの輝度分布を第4図(d)に示す。 この図に示されるように、この方法によっても輝度差B
、が発生している。この輝度差B、は上記従来の方法に
よって生じる輝度差B。に比べるをかなり改善されてい
るが、階調表示機能付きELパネルにおいては、たとえ
B、のように改善された輝度差であっても、階調表示の
品位が著しく損なわれるという問題がある。 そこで、本発明の目的は、表示領域内にて輝度差を極力
無くして、階調表示機能付きELパネルにおいても表示
品位を損なうことのない薄膜ELパネルの製造方法を提
供することである。
板11よりも熱容量が大きいものであり、しかも図示し
ない支持部材、回転体を介してチャンバ壁面に取り付け
られている。そのため、基板11の加熱時に、熱伝導に
よってチャンバ壁面に熱が逃げて、第5図(b)に示す
ように、基板11の周辺領域が中心付近よりも低温であ
るような温度分布が生じる。基板温度が低い領域は膜の
成長レートが大きいので、この従来の方法では、発光層
14の膜厚は、第5図(c)に示すように、膜形成領域
E。の周辺にて厚く、中心付近にて薄いような分布とな
る。特にZnS:Mnからなる発光層の場合には、基板
温度が低い領域において膜の成長レートが大きい。 第6図は発光層の膜厚と基板温度との関係を示す図であ
る。この図かられかるように、基板温度が1℃変化する
と発光層の膜厚はそれに伴い1%変化する。つまり、基
板温度が低くなると、膜の付着係数が増加し、膜厚が厚
くなるのである。 ところで、発光層14の膜厚が第5図(C)に示すよう
な分布となった場合には、第5図(d)に示すように、
薄膜ELパネルの発光輝度は、表示領域り。のごく周囲
が明るく、次に周辺部は暗く、中央部がまた明るくなる
ような分布になり、輝度差B。を生じる。この輝度差B
。は薄膜ELパネルの表示品位を著しく損なうものであ
る。 この輝度分布の改善を図るため、本出願人は次のような
方法を提案した(特願平1−158030号、特願平2
−3134号)。第8図にはこの方法の工程図、第4図
にはこの方法によって得られた基板の温度分布、膜厚分
布等を示す。 この方法は、上記従来の方法と同様の方法で、ガラス基
板21の上に、透明電極22を第2図(g)に示すよう
に配しく第8図(a))、この後、このガラス基板21
を第4図(a)に示すように基板ホルダ40に取り付け
る。しかしながら、この場合には、上記従来の方法と異
なり、マスクを使用しないで、下部絶縁層23と発光層
24と上部絶縁層25とを、基板21の略全面に形成す
る(第8図(b))。その後、第8図(C)に示すよう
に、重層形成された三層膜23.24.25のうち、パ
ネルの表示領域り、となる領域をゴム製のマスク3Iで
保護して、周辺領域△の不要な部分を液体ホーニング法
等によって完全に除去する。最後に、帯状の背面電極2
6と端子電極27とを形成する。このとき、端子電極2
7は、三層膜23,24.25から露出した透明電極2
2の端部22aと導通ずる状態にされる。 この本出願人の提案した方法によって得られた薄膜EL
パネルの輝度分布を第4図(d)に示す。 この図に示されるように、この方法によっても輝度差B
、が発生している。この輝度差B、は上記従来の方法に
よって生じる輝度差B。に比べるをかなり改善されてい
るが、階調表示機能付きELパネルにおいては、たとえ
B、のように改善された輝度差であっても、階調表示の
品位が著しく損なわれるという問題がある。 そこで、本発明の目的は、表示領域内にて輝度差を極力
無くして、階調表示機能付きELパネルにおいても表示
品位を損なうことのない薄膜ELパネルの製造方法を提
供することである。
上記輝度差B、が発生するのは以下の理由による。つま
り、基板加熱ヒータから放射される赤外線の吸収力はガ
ラスだけより透明導電膜がある方か大きく、したがって
透明電極のある領域の方が温度か高くなるたぬ、基板周
辺部において基板温度に勾配ができ、表示領域内D1の
周辺領域においても発光層の膜厚差が生じてしまうので
ある。 その結果、薄膜ELパネルの表示領域D1の周辺部に輝
度差B1が生ずるわけである。 本発明はこの輝度差B、の発生原因を除去することを考
慮に入れてなされたしので、ガラス基板上に透明電極と
下部絶縁層と発光層と上部絶縁層と背面電極を順次積層
して形成する薄膜ELパネルの製造方法において、上記
基板上の表示領域以外の周辺領域に透明導電膜を配した
後、上記基板上の略全面に下部絶縁層、発光層、上部絶
縁層の三層を形成し、次に、表示領域をマスクし、上記
表示領域以外の周辺領域の上記透明導電膜、下部絶縁層
、発光層、上部絶縁層を機械的研削手法で除去して、透
明電極の端部を露出させて、この端部に導通する端子電
極を設けることを特徴としている。
り、基板加熱ヒータから放射される赤外線の吸収力はガ
ラスだけより透明導電膜がある方か大きく、したがって
透明電極のある領域の方が温度か高くなるたぬ、基板周
辺部において基板温度に勾配ができ、表示領域内D1の
周辺領域においても発光層の膜厚差が生じてしまうので
ある。 その結果、薄膜ELパネルの表示領域D1の周辺部に輝
度差B1が生ずるわけである。 本発明はこの輝度差B、の発生原因を除去することを考
慮に入れてなされたしので、ガラス基板上に透明電極と
下部絶縁層と発光層と上部絶縁層と背面電極を順次積層
して形成する薄膜ELパネルの製造方法において、上記
基板上の表示領域以外の周辺領域に透明導電膜を配した
後、上記基板上の略全面に下部絶縁層、発光層、上部絶
縁層の三層を形成し、次に、表示領域をマスクし、上記
表示領域以外の周辺領域の上記透明導電膜、下部絶縁層
、発光層、上部絶縁層を機械的研削手法で除去して、透
明電極の端部を露出させて、この端部に導通する端子電
極を設けることを特徴としている。
透明電極の周辺部、すなわち表示領域以外の基板の周辺
部にも透明導電膜を配置しているため、基板加熱時に基
板の周辺領域と中心付近との温度差が非常に小さくなる
。したがって、表示領域における発光層の膜厚差が極め
て小さく抑えられ、良好な膜厚分布が得られる。この結
果、発光輝度差が極めて小さい良好な輝度分布が得られ
、階調表示機能付きELパネルにおいても表示品位が向
上する。
部にも透明導電膜を配置しているため、基板加熱時に基
板の周辺領域と中心付近との温度差が非常に小さくなる
。したがって、表示領域における発光層の膜厚差が極め
て小さく抑えられ、良好な膜厚分布が得られる。この結
果、発光輝度差が極めて小さい良好な輝度分布が得られ
、階調表示機能付きELパネルにおいても表示品位が向
上する。
以下、本発明を図示の実施例により詳細に説明する。
第1図は本発明の一実施例である薄膜ELパネルの製造
方法の工程図である。以下の説明で使用する符号(a)
〜(e)は第1図中の(a)〜(e)に対応させている
。 (a) まず、第1図(a)に示すように、ガラス基
板lの表面に、ITOからなり、膜厚1000〜200
0人の透明導電膜を形成し、フォトエツチングによって
平行な帯状の透明電極2を形成すると同時に、上記透明
電極2の周囲に上記透明導電膜からなる均熱パターン2
゛を額縁状に形成する。 この時に得られる透明電極2と均熱パターン2゛の配置
パターンを第2図(a)に示す。 (b) 次に、上記基板1に5iOz、5i3Nt等
から成る下部絶縁層3を基板1の略全面にスパッタ法で
2000〜2500人形成する。続いて、基板lを赤外
線ヒータにより250℃程度に加熱しツツ、ZnS:M
nから成り、膜厚7000〜8000人の発光層4を、
電子ビーム蒸着法により基板1の略全面に形成する。 このときガラス基板l上には、透明導電膜でできた透明
電極2のみならず、表示領域りに含まれない基板1の周
辺部まで同一の透明導電膜でてきた均熱パターン2°を
配しているので、基板lの略全面において赤外線の吸収
程度が均一となるため、第3図(a)に示すように、基
板の略全面にわたって略均−な基板温度分布が得られた
。また、この結果、第3図(c)に示すように、表示領
域り内にて発光層4の膜厚差を±2%以内に収めること
ができた。 続いて、上記発光層4の上に、SLN+、AlO2,5
ift等から成る上部絶縁層5を基板の略全面にスパッ
タ法で1500〜2000人形成する。この後、上記三
層膜3,4.5が形成された基板1のアニール処理を真
空中、600℃で1時間程度行う。 (c) 次に、第1図(c)に示すように、上記重層
形成された三層膜3,4.5のうちパネルの表示領域り
となる領域をゴム製のマスク31で保護して、周辺領域
△の不要な部分を液体ホーニング法のように研摩剤を高
圧で吹き付ける方法により除去する。液体ホーニング法
の条件は、以下の通りである。 (1)研摩側粒径 10〜20μm (JIS粒度規格#1200〜#800)(11)研摩
剤濃度 10〜30% (山)圧縮空気圧 1〜4kg/cm”(1v)基板−
噴射ノズル間距離 2〜IOcm(v)噴射ノズル移動
速度 30〜I 50 am/min周辺領域△の不要
な部分を完全に除去した後、マスク31を上部絶縁層5
から離間させる。すると、透明電極2の端部2aは、第
1図(d)に示すように、上記三層膜3,4.5から露
出した状態となる。マスク31を除去した後、洗浄処理
を行う。 (e) 最後に、第1図(e)に示すように、AI、
Ni等の金属膜を上部絶縁層5上に形成し、フォトエツ
チングして、帯状の背面電極6および端子電極7を形成
する。このとき、端子電極7は、上記三層膜3,4.5
から露出しf二上記透明電極2の端部2aと導通する状
態になる。 上記工程を経て得られた薄膜ELパネルの表示領域りに
おける発光輝度分布は第3図(d)に示すように、輝度
差のない良好なものであった。このように、本実施例に
よれば、上記工程(b)において、ガラス基板lを加熱
する際に、表示領域以外のガラス基板の周辺部にまで透
明導電膜からなる均熱パターン2°が配置されているた
め、基板温度が略全面にわたって均一となり、発光層4
の膜厚差を±2%以内に収めることができるので、発光
輝度差を極力抑えて、薄膜ELパネルの表示品位を向上
させることができ、階調機能付きELパネルにおいても
、階調表示の品位を向上させることができる。 なお、上記実施例では、透明電極2および均熱パターン
2゛は第2図(a)に示すように配置したが、これ以外
にも、たとえば第2図(b)〜(f)に示すような配置
にしてもよい。第2図の(c)と(e)では、左右の辺
の均熱パターン2°は互い違いに配置して、もし均熱パ
ターン2゛の除去が不完全であっても、この図に示さな
い走査側電極と短絡しないようにしている。 また、上記実施例では発光層4を電子ビーム蒸着法によ
って生成したが、スパッタ法、CVD法等の他の成膜法
を用いてもよい。 また、絶縁層はスパッタ法で形成したが、電子ビーム蒸
着法、CVD法等を用いてもよい。 また、膜除去の手法として液体ホーニング法を用いたが
、乾式ブラスト法であってもよいし、他の機械的、物理
的な方法を用いてもよい。 また、マスク31はゴム製のものを用いたが、自己粘着
性を有する弾性樹脂製のものを用いてもよい。
方法の工程図である。以下の説明で使用する符号(a)
〜(e)は第1図中の(a)〜(e)に対応させている
。 (a) まず、第1図(a)に示すように、ガラス基
板lの表面に、ITOからなり、膜厚1000〜200
0人の透明導電膜を形成し、フォトエツチングによって
平行な帯状の透明電極2を形成すると同時に、上記透明
電極2の周囲に上記透明導電膜からなる均熱パターン2
゛を額縁状に形成する。 この時に得られる透明電極2と均熱パターン2゛の配置
パターンを第2図(a)に示す。 (b) 次に、上記基板1に5iOz、5i3Nt等
から成る下部絶縁層3を基板1の略全面にスパッタ法で
2000〜2500人形成する。続いて、基板lを赤外
線ヒータにより250℃程度に加熱しツツ、ZnS:M
nから成り、膜厚7000〜8000人の発光層4を、
電子ビーム蒸着法により基板1の略全面に形成する。 このときガラス基板l上には、透明導電膜でできた透明
電極2のみならず、表示領域りに含まれない基板1の周
辺部まで同一の透明導電膜でてきた均熱パターン2°を
配しているので、基板lの略全面において赤外線の吸収
程度が均一となるため、第3図(a)に示すように、基
板の略全面にわたって略均−な基板温度分布が得られた
。また、この結果、第3図(c)に示すように、表示領
域り内にて発光層4の膜厚差を±2%以内に収めること
ができた。 続いて、上記発光層4の上に、SLN+、AlO2,5
ift等から成る上部絶縁層5を基板の略全面にスパッ
タ法で1500〜2000人形成する。この後、上記三
層膜3,4.5が形成された基板1のアニール処理を真
空中、600℃で1時間程度行う。 (c) 次に、第1図(c)に示すように、上記重層
形成された三層膜3,4.5のうちパネルの表示領域り
となる領域をゴム製のマスク31で保護して、周辺領域
△の不要な部分を液体ホーニング法のように研摩剤を高
圧で吹き付ける方法により除去する。液体ホーニング法
の条件は、以下の通りである。 (1)研摩側粒径 10〜20μm (JIS粒度規格#1200〜#800)(11)研摩
剤濃度 10〜30% (山)圧縮空気圧 1〜4kg/cm”(1v)基板−
噴射ノズル間距離 2〜IOcm(v)噴射ノズル移動
速度 30〜I 50 am/min周辺領域△の不要
な部分を完全に除去した後、マスク31を上部絶縁層5
から離間させる。すると、透明電極2の端部2aは、第
1図(d)に示すように、上記三層膜3,4.5から露
出した状態となる。マスク31を除去した後、洗浄処理
を行う。 (e) 最後に、第1図(e)に示すように、AI、
Ni等の金属膜を上部絶縁層5上に形成し、フォトエツ
チングして、帯状の背面電極6および端子電極7を形成
する。このとき、端子電極7は、上記三層膜3,4.5
から露出しf二上記透明電極2の端部2aと導通する状
態になる。 上記工程を経て得られた薄膜ELパネルの表示領域りに
おける発光輝度分布は第3図(d)に示すように、輝度
差のない良好なものであった。このように、本実施例に
よれば、上記工程(b)において、ガラス基板lを加熱
する際に、表示領域以外のガラス基板の周辺部にまで透
明導電膜からなる均熱パターン2°が配置されているた
め、基板温度が略全面にわたって均一となり、発光層4
の膜厚差を±2%以内に収めることができるので、発光
輝度差を極力抑えて、薄膜ELパネルの表示品位を向上
させることができ、階調機能付きELパネルにおいても
、階調表示の品位を向上させることができる。 なお、上記実施例では、透明電極2および均熱パターン
2゛は第2図(a)に示すように配置したが、これ以外
にも、たとえば第2図(b)〜(f)に示すような配置
にしてもよい。第2図の(c)と(e)では、左右の辺
の均熱パターン2°は互い違いに配置して、もし均熱パ
ターン2゛の除去が不完全であっても、この図に示さな
い走査側電極と短絡しないようにしている。 また、上記実施例では発光層4を電子ビーム蒸着法によ
って生成したが、スパッタ法、CVD法等の他の成膜法
を用いてもよい。 また、絶縁層はスパッタ法で形成したが、電子ビーム蒸
着法、CVD法等を用いてもよい。 また、膜除去の手法として液体ホーニング法を用いたが
、乾式ブラスト法であってもよいし、他の機械的、物理
的な方法を用いてもよい。 また、マスク31はゴム製のものを用いたが、自己粘着
性を有する弾性樹脂製のものを用いてもよい。
以上より明らかなように、本発明によれば、表示領域以
外の基板の周辺領域にも透明導電膜を形成しているので
、基板を加熱したときに、基板の周辺領域と中心付近と
の温度差したがって発光層の膜厚差を非常に小さくでき
る。しかも、表示領域以外の基板の周辺領域における不
要な部分を除去してしまうので、最終的に得られる薄膜
ELパネルの表示領域における発光輝度分布は極めて良
好なものであり、表示品位を向上させることができ、階
調表示機能付きELパネルにおいても良好な階調表示品
位を得ることができる。
外の基板の周辺領域にも透明導電膜を形成しているので
、基板を加熱したときに、基板の周辺領域と中心付近と
の温度差したがって発光層の膜厚差を非常に小さくでき
る。しかも、表示領域以外の基板の周辺領域における不
要な部分を除去してしまうので、最終的に得られる薄膜
ELパネルの表示領域における発光輝度分布は極めて良
好なものであり、表示品位を向上させることができ、階
調表示機能付きELパネルにおいても良好な階調表示品
位を得ることができる。
第1図は本発明の一実施例である薄膜ELパネルの製造
方法の工程図、第2図(a)乃至(Oは本発明に係る透
明電極および透明導電膜の配置パターン図、第2図(g
)は従来の透明電極の配置パターン図、第3図(a)は
本発明における三層膜形成時の基板取付状態を示す図、
第3図(b)は第3図(a)の基板の温度分布を示す図
、第3図(c)は発光層の膜厚分布を示す図、第3図(
d)は本発明の方法により製造された薄膜ELパネルの
発光輝度の分布を示す図、第4図(a)乃至(d)およ
び第5図(a)乃至(d)はそれぞれ、従来の製造方法
に係る三層膜形成時の基板取付状態、基板の温度分布、
・発光層の膜厚分布、薄膜ELパネルの発光輝度の分布
を示す図、第6図は発光層の膜厚と基板温度との関係を
説明する図、第7図は従来の製造方法を示す工程図、第
8図は別の従来の製造方法を示す工程図である。 1.11,21・・・ガラス基板、2,12.22・・
・透明電極、2°・・・透明導電膜からなる均熱パター
ン、3.13.23・・下部絶縁層、4,14.24・
・・発光層、5,15.25・・・上部絶縁層、6,1
6.26・・背面電極、7,17.27・・・端子電極
、32・・・研摩剤、33・・・研摩剤噴射ガン。
方法の工程図、第2図(a)乃至(Oは本発明に係る透
明電極および透明導電膜の配置パターン図、第2図(g
)は従来の透明電極の配置パターン図、第3図(a)は
本発明における三層膜形成時の基板取付状態を示す図、
第3図(b)は第3図(a)の基板の温度分布を示す図
、第3図(c)は発光層の膜厚分布を示す図、第3図(
d)は本発明の方法により製造された薄膜ELパネルの
発光輝度の分布を示す図、第4図(a)乃至(d)およ
び第5図(a)乃至(d)はそれぞれ、従来の製造方法
に係る三層膜形成時の基板取付状態、基板の温度分布、
・発光層の膜厚分布、薄膜ELパネルの発光輝度の分布
を示す図、第6図は発光層の膜厚と基板温度との関係を
説明する図、第7図は従来の製造方法を示す工程図、第
8図は別の従来の製造方法を示す工程図である。 1.11,21・・・ガラス基板、2,12.22・・
・透明電極、2°・・・透明導電膜からなる均熱パター
ン、3.13.23・・下部絶縁層、4,14.24・
・・発光層、5,15.25・・・上部絶縁層、6,1
6.26・・背面電極、7,17.27・・・端子電極
、32・・・研摩剤、33・・・研摩剤噴射ガン。
Claims (1)
- (1)ガラス基板上に透明電極と下部絶縁層と発光層と
上部絶縁層と背面電極を順次積層して形成する薄膜EL
パネルの製造方法において、上記基板上の表示領域以外
の周辺領域に透明導電膜を配した後、上記基板上の略全
面に下部絶縁層、発光層、上部絶縁層の三層を形成し、
次に、表示領域をマスクし、上記表示領域以外の周辺領
域の上記透明導電膜、下部絶縁層、発光層、上部絶縁層
を機械的研削手法で除去して、透明電極の端部を露出さ
せて、この端部に導通する端子電極を設けることを特徴
とする薄膜ELパネルの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2146940A JP2529755B2 (ja) | 1990-06-04 | 1990-06-04 | 薄膜elパネルの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2146940A JP2529755B2 (ja) | 1990-06-04 | 1990-06-04 | 薄膜elパネルの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0439892A true JPH0439892A (ja) | 1992-02-10 |
JP2529755B2 JP2529755B2 (ja) | 1996-09-04 |
Family
ID=15419015
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2146940A Expired - Fee Related JP2529755B2 (ja) | 1990-06-04 | 1990-06-04 | 薄膜elパネルの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2529755B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003031360A (ja) * | 2001-07-11 | 2003-01-31 | Tdk Corp | 有機el素子およびその製造方法 |
KR20040065375A (ko) * | 2003-01-14 | 2004-07-22 | 김시환 | 고분자와 액정 혼합물을 이용한 패널의 전극 단자부제조방법 |
US7754091B2 (en) * | 2004-08-31 | 2010-07-13 | World Properties, Inc. | Custom lamp from finished EL panel |
US8272911B2 (en) | 2009-06-26 | 2012-09-25 | Mitsubishi Electric Corporation | Method for manufacturing image display element |
-
1990
- 1990-06-04 JP JP2146940A patent/JP2529755B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003031360A (ja) * | 2001-07-11 | 2003-01-31 | Tdk Corp | 有機el素子およびその製造方法 |
KR20040065375A (ko) * | 2003-01-14 | 2004-07-22 | 김시환 | 고분자와 액정 혼합물을 이용한 패널의 전극 단자부제조방법 |
US7754091B2 (en) * | 2004-08-31 | 2010-07-13 | World Properties, Inc. | Custom lamp from finished EL panel |
US8272911B2 (en) | 2009-06-26 | 2012-09-25 | Mitsubishi Electric Corporation | Method for manufacturing image display element |
US8668541B2 (en) | 2009-06-26 | 2014-03-11 | Mitsubishi Electric Corporation | Method for manufacturing image display element |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2529755B2 (ja) | 1996-09-04 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |