JPH0322390A - 薄膜elパネルの製造方法 - Google Patents
薄膜elパネルの製造方法Info
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- JPH0322390A JPH0322390A JP1158030A JP15803089A JPH0322390A JP H0322390 A JPH0322390 A JP H0322390A JP 1158030 A JP1158030 A JP 1158030A JP 15803089 A JP15803089 A JP 15803089A JP H0322390 A JPH0322390 A JP H0322390A
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Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
この発明は、発光層の上下に絶縁層を設けたいわゆる三
層構造を有する薄膜ELパネルの製造方法に関する。
層構造を有する薄膜ELパネルの製造方法に関する。
く従来の技術〉
従来、この種の薄膜ELパネルの製造方法としては第4
図(a)乃至(c)に示すようなものがある。
図(a)乃至(c)に示すようなものがある。
すなわち、ガラス基板1lの表面にITO(インジウム
錫酸化物)からなる透明導電膜を形戊し、フォトエッチ
ングして、平行な帯状の透明電極l2を形戊する(第4
図(a))。次に、第3図(a)に示すように、基板l
1を、表面を下向きにして基板ホルダ20に取り付け、
膜を形成しない周辺領域を枠状のマスク2lで覆う。そ
して、形戊する膜の密着強度が大きくなるように上記基
板11を加熱した状態で、第4図(b)に示すように、
電子ビーム蒸着法またはスパッタ法によって、SisN
*膜を有する下部絶縁層l3と、ZnS:Mnからなる
発光層l4と、SisN*膜を有する上部絶縁層l5と
を形成する。最後に、電子ビーム蒸着法によって金属膜
を形成し、フォトエッチングして、帯状の背面電極l6
と端子電極17を形成する(第4図(C))。
錫酸化物)からなる透明導電膜を形戊し、フォトエッチ
ングして、平行な帯状の透明電極l2を形戊する(第4
図(a))。次に、第3図(a)に示すように、基板l
1を、表面を下向きにして基板ホルダ20に取り付け、
膜を形成しない周辺領域を枠状のマスク2lで覆う。そ
して、形戊する膜の密着強度が大きくなるように上記基
板11を加熱した状態で、第4図(b)に示すように、
電子ビーム蒸着法またはスパッタ法によって、SisN
*膜を有する下部絶縁層l3と、ZnS:Mnからなる
発光層l4と、SisN*膜を有する上部絶縁層l5と
を形成する。最後に、電子ビーム蒸着法によって金属膜
を形成し、フォトエッチングして、帯状の背面電極l6
と端子電極17を形成する(第4図(C))。
く発明が解決しようとする課題〉
ところで、上記マスク2lおよび基板ホルダ2Oは、基
板l1よりら熱容量が大きいものであり、しかも支持部
材によってチャンバ壁面に取り付けられている。そのた
め、上記基板11加熱時に、熱伝導によってチャンバ壁
面に熱が逃げて、第3図(b)に示すように、基板11
の周辺領域が中心付近よりも低温であるような温度分布
が生じる。
板l1よりら熱容量が大きいものであり、しかも支持部
材によってチャンバ壁面に取り付けられている。そのた
め、上記基板11加熱時に、熱伝導によってチャンバ壁
面に熱が逃げて、第3図(b)に示すように、基板11
の周辺領域が中心付近よりも低温であるような温度分布
が生じる。
基板温度が低い領域は膜の成長レートが大きいので、上
記従来の製造方法のようにこの状態で下部絶縁層13.
発光層14.上部絶縁層l5を形戊する場合、これら三
層の膜厚は、第3図(c)に示すように、膜形成領域E
。の周辺にて厚く、中心付近にて薄いような分布となる
。上記膜厚と発光輝度とは略比例する関係があるので、
膜厚が上記分布となった場合、第3図(d)に示すよう
に、発光輝度は、膜形成領域E0すなわちパネルの表示
領域D。にて、鍋底状の分布を示し、輝度差B。を生じ
る。この輝度差B。は、薄膜ELパネルの表示品位を著
しく損なうものである。
記従来の製造方法のようにこの状態で下部絶縁層13.
発光層14.上部絶縁層l5を形戊する場合、これら三
層の膜厚は、第3図(c)に示すように、膜形成領域E
。の周辺にて厚く、中心付近にて薄いような分布となる
。上記膜厚と発光輝度とは略比例する関係があるので、
膜厚が上記分布となった場合、第3図(d)に示すよう
に、発光輝度は、膜形成領域E0すなわちパネルの表示
領域D。にて、鍋底状の分布を示し、輝度差B。を生じ
る。この輝度差B。は、薄膜ELパネルの表示品位を著
しく損なうものである。
そこで、この発明の目的は、表示領域内にて輝度差を抑
えて表示品位を向上させた薄膜ELパネルの製造方法を
提供することにある。
えて表示品位を向上させた薄膜ELパネルの製造方法を
提供することにある。
く課題を解決するための手段〉
上記目的を達成するために、この発明は、ガラス基盤上
に透明電極と下部絶縁層と発光層と上部絶縁層と背面電
極を順次積層して形成する薄膜EL)<ネルの製造方法
において、 上記基盤上の略全面に下部絶縁層、発光層、上部絶縁層
の三層を形成した後、パネルの表示領域をマスクし、上
記表示領域以外の周辺領域の上記下部絶縁層、発光層、
上部絶縁層を機械的研削手法で除去して透明電極の端部
を露出させて、この端部に導通する端子電極を設けるこ
とを特徴どしている。
に透明電極と下部絶縁層と発光層と上部絶縁層と背面電
極を順次積層して形成する薄膜EL)<ネルの製造方法
において、 上記基盤上の略全面に下部絶縁層、発光層、上部絶縁層
の三層を形成した後、パネルの表示領域をマスクし、上
記表示領域以外の周辺領域の上記下部絶縁層、発光層、
上部絶縁層を機械的研削手法で除去して透明電極の端部
を露出させて、この端部に導通する端子電極を設けるこ
とを特徴どしている。
く作用〉
基板上の略全面に発光層を形成する場合、蒸着またはス
パッタを行う際にマスクを使用しないので、マスクを使
用する場合に比して、基板加熱時に基板の周辺領域と中
心付近との温度差が小さくなる。したがって形成される
膜は、膜形収領域の周辺部にて厚く中心付近にて薄い傾
向に変わりはないが、膜厚バラツキが小さくなる。
パッタを行う際にマスクを使用しないので、マスクを使
用する場合に比して、基板加熱時に基板の周辺領域と中
心付近との温度差が小さくなる。したがって形成される
膜は、膜形収領域の周辺部にて厚く中心付近にて薄い傾
向に変わりはないが、膜厚バラツキが小さくなる。
さらに、膜厚の変動が大きい膜形成領域の周辺部を除去
し、その内側の比較的均質な膜領域を、表示領域として
使用するため、結果として、発光輝度の分布の広がりを
極めて小さくすることができる。
し、その内側の比較的均質な膜領域を、表示領域として
使用するため、結果として、発光輝度の分布の広がりを
極めて小さくすることができる。
く実施例〉
以下、この発明の薄膜ELパネルの製造方法を図示の実
施例により詳細に説明する。
施例により詳細に説明する。
■ まず、第1図(a)に示すように、ガラス基板lの
表面に、ITOから成り膜厚1000〜2000人の透
明導電膜を形成し、フォトエッチングによって平行な帯
状の透明電極2を形戊する。
表面に、ITOから成り膜厚1000〜2000人の透
明導電膜を形成し、フォトエッチングによって平行な帯
状の透明電極2を形戊する。
■ 次に、第2図(a)に示すように、この基板1を表
面を下向きにして基板ホルダー20に取り付ナ、マスク
2lを取り付けずに、そのまま上記基板lを所定温度に
加熱する。この状態で、スパッタ法または電子ビーム蒸
着法等の手法によりSisN4等から戊る下部絶縁層3
を基板の略全面に約2000人程度形成する。続いて、
同様の手法によって、ZnS:Mnから成り膜厚soo
o人程度の発光層4と、SisN*等から成り膜厚20
00人程度の上部絶縁層5を基板の略全面に重層形戊す
る(第1図(b))。
面を下向きにして基板ホルダー20に取り付ナ、マスク
2lを取り付けずに、そのまま上記基板lを所定温度に
加熱する。この状態で、スパッタ法または電子ビーム蒸
着法等の手法によりSisN4等から戊る下部絶縁層3
を基板の略全面に約2000人程度形成する。続いて、
同様の手法によって、ZnS:Mnから成り膜厚soo
o人程度の発光層4と、SisN*等から成り膜厚20
00人程度の上部絶縁層5を基板の略全面に重層形戊す
る(第1図(b))。
■ 次に、第l図(c)に示すように、上記重層形成さ
れた三層膜3,4.5のうちパネルの表示領域DIとな
る領域を、ゴム製のマスク31で保護して、周辺領域△
の不要な部分を乾式ブラスト法や液体ホーニング法のよ
うな研磨剤を高圧で吹き付ける方法あるいは研磨法など
の機械的手法によって膜を完全に除去する。すると、透
明電極2の端部2gは、第1図(d)に示すように、上
記三層膜3,4.5から露出した状態となる。
れた三層膜3,4.5のうちパネルの表示領域DIとな
る領域を、ゴム製のマスク31で保護して、周辺領域△
の不要な部分を乾式ブラスト法や液体ホーニング法のよ
うな研磨剤を高圧で吹き付ける方法あるいは研磨法など
の機械的手法によって膜を完全に除去する。すると、透
明電極2の端部2gは、第1図(d)に示すように、上
記三層膜3,4.5から露出した状態となる。
なお、上記三層膜を除去するために液体ホーニング法を
用いる場合、アランダム(商品名)等で#400〜#1
000程度の硬くてしかも比較的粒径の細かい研磨剤を
用いることによって、1辺当り20sec程度で簡単に
完全除去することができる。
用いる場合、アランダム(商品名)等で#400〜#1
000程度の硬くてしかも比較的粒径の細かい研磨剤を
用いることによって、1辺当り20sec程度で簡単に
完全除去することができる。
■ 最後に、第l図(e)に示すように、電子ビーム蒸
着法によって金属膜を形成し、フオトエッヂングして、
帯状の背面Tr.極6および瑞子電極7を形成する。こ
のとき、端子電極7は、三層膜34.5から露出した上
記透明電極2の端部2aと導通する状態になる。
着法によって金属膜を形成し、フオトエッヂングして、
帯状の背面Tr.極6および瑞子電極7を形成する。こ
のとき、端子電極7は、三層膜34.5から露出した上
記透明電極2の端部2aと導通する状態になる。
このような製法によって、比較的簡単な手法で、基板l
の略全而に形戊1,た三層ffl3.4.5の不要部分
を除去して、三層膜3.4.5から露出した透明電極2
の端部2aに導通ずる端子電極7を形戊することができ
る。まだ、このように薄膜ELバネルを製造する際、上
記工程■において、マスク2lを取り付けないでそのま
ま基板lを加熱しているため、マスク21を使用する場
合に比して、第2図(b)に示すように基板1の面内の
温度差が小さくなっている。そのため、この状態で、三
層膜を基板l−ヒに略全面に形成する場合、第2図(c
)に示すように膜形成領域E.の周辺にて膜厚が厚く中
心付近にて薄い傾向に変わりはないが、膜厚バラツキが
小さくなる。さらに、上記工程■にて、所定の表示領域
l)I以外の周辺領域△の三層膜を除去しているので、
第2図(d)に示すように、輝度差はいっそう小さくな
る(輝度差B,)。したがって、薄膜ELパネルの表示
品位を向上させることができる。
の略全而に形戊1,た三層ffl3.4.5の不要部分
を除去して、三層膜3.4.5から露出した透明電極2
の端部2aに導通ずる端子電極7を形戊することができ
る。まだ、このように薄膜ELバネルを製造する際、上
記工程■において、マスク2lを取り付けないでそのま
ま基板lを加熱しているため、マスク21を使用する場
合に比して、第2図(b)に示すように基板1の面内の
温度差が小さくなっている。そのため、この状態で、三
層膜を基板l−ヒに略全面に形成する場合、第2図(c
)に示すように膜形成領域E.の周辺にて膜厚が厚く中
心付近にて薄い傾向に変わりはないが、膜厚バラツキが
小さくなる。さらに、上記工程■にて、所定の表示領域
l)I以外の周辺領域△の三層膜を除去しているので、
第2図(d)に示すように、輝度差はいっそう小さくな
る(輝度差B,)。したがって、薄膜ELパネルの表示
品位を向上させることができる。
なお、この実施例は、膜除去の手法として肢体ホーニン
グ法について主に説明したが、これに限られるものでは
なく、乾式ブラスト法あるいは基板を直接研磨する方法
等、他の機械的、物理的な手段いわゆる研削によって膜
を除去しても良い。
グ法について主に説明したが、これに限られるものでは
なく、乾式ブラスト法あるいは基板を直接研磨する方法
等、他の機械的、物理的な手段いわゆる研削によって膜
を除去しても良い。
また、絶縁層、発光層は池の元素や材料を用いたもので
あっても良い。
あっても良い。
〈効果〉
以上より明らかなように、この発明は、ガラス基板上に
透明電極と下部絶縁層と発光層と上部絶縁層と背面電極
を順次積層して形成する薄膜E Lバネルの製造方法に
おいて、 上記基板上の略全面に下部絶縁層、発光層、上部絶縁層
の三層を形成した後、パネルの表示領域をマスクし、上
記表示領域以外の周辺領域の」;記下部絶縁層、発光層
、上部絶縁層を機械的研削手法で除去して、透明電極の
端部を露出させて、この端部に導通する端子電極を設け
るようにしているので、表示領域内にて輝度差を抑えて
薄膜ELパネルの表示品位を向上させることができる。
透明電極と下部絶縁層と発光層と上部絶縁層と背面電極
を順次積層して形成する薄膜E Lバネルの製造方法に
おいて、 上記基板上の略全面に下部絶縁層、発光層、上部絶縁層
の三層を形成した後、パネルの表示領域をマスクし、上
記表示領域以外の周辺領域の」;記下部絶縁層、発光層
、上部絶縁層を機械的研削手法で除去して、透明電極の
端部を露出させて、この端部に導通する端子電極を設け
るようにしているので、表示領域内にて輝度差を抑えて
薄膜ELパネルの表示品位を向上させることができる。
さらに、下部絶縁層、発光層、上部絶縁層の形成時、表
示領域の外側に膜が付かない様に覆うマスクが不要とな
る為、基仮ホルダーの形状が簡単になり軽量化、共通化
が図れ、生産効率の向上にも役立つ。
示領域の外側に膜が付かない様に覆うマスクが不要とな
る為、基仮ホルダーの形状が簡単になり軽量化、共通化
が図れ、生産効率の向上にも役立つ。
また、1枚のガラス基板から複数枚のELパネルを作製
するいわゆる多数枚取りを行なう場合に、複数個の開口
部を持った様な複雑な形態のマスクを用いて膜形成しな
くても、この発明を適用して、すなわち基板全面に膜形
成し、端子部として使用する部分の膜を除去し、露出し
た透明電極の端部と端子電極との導連をとることによっ
て容易に行うことができろ。
するいわゆる多数枚取りを行なう場合に、複数個の開口
部を持った様な複雑な形態のマスクを用いて膜形成しな
くても、この発明を適用して、すなわち基板全面に膜形
成し、端子部として使用する部分の膜を除去し、露出し
た透明電極の端部と端子電極との導連をとることによっ
て容易に行うことができろ。
第1図(a)乃至(e)はこの発明の薄膜ELバネルの
製造方法の工程を示す図、第2図(a)はこの発明にお
ける三層膜形成時の基板取り付け状態を示す図、第2図
(b)は上記基板の温度分布を示す図、第2図(c)は
上記三層膜の膜厚分布を示す図、第2図(d)はこの発
明により製造した薄膜ELバネルの発光輝度の分布を示
す図、第3図(a)は従来の製造方法における三層膜形
成時の基板取り付け状態を示す図、第3図(b)は上記
基板の温度分布を示す図、第3図(c)は上記三層膜の
膜厚分布を示す図、第3図(d)は上記従来の製造方法
により製造した薄111ELバネルの発光輝度の分布を
示す図、第4図(a)乃至(c)は従来の薄膜Fj、パ
ネルの製造方法の工程を示す図である。 1.11・・・ガラス基板、7.17・・・端子電極、
2,12・・・透明電極、 20・・・基板ホルダー
3.13・・・下部絶縁層、21・マスク、4.14・
・・発光層、 31・・・ゴムマスク、5,l5・
・・上部絶縁層、32・・・研磨材、6,16・・・背
面電極、 33・・研磨材噴射ガン。
製造方法の工程を示す図、第2図(a)はこの発明にお
ける三層膜形成時の基板取り付け状態を示す図、第2図
(b)は上記基板の温度分布を示す図、第2図(c)は
上記三層膜の膜厚分布を示す図、第2図(d)はこの発
明により製造した薄膜ELバネルの発光輝度の分布を示
す図、第3図(a)は従来の製造方法における三層膜形
成時の基板取り付け状態を示す図、第3図(b)は上記
基板の温度分布を示す図、第3図(c)は上記三層膜の
膜厚分布を示す図、第3図(d)は上記従来の製造方法
により製造した薄111ELバネルの発光輝度の分布を
示す図、第4図(a)乃至(c)は従来の薄膜Fj、パ
ネルの製造方法の工程を示す図である。 1.11・・・ガラス基板、7.17・・・端子電極、
2,12・・・透明電極、 20・・・基板ホルダー
3.13・・・下部絶縁層、21・マスク、4.14・
・・発光層、 31・・・ゴムマスク、5,l5・
・・上部絶縁層、32・・・研磨材、6,16・・・背
面電極、 33・・研磨材噴射ガン。
Claims (1)
- (1)ガラス基板上に透明電極と下部絶縁層と発光層と
上部絶縁層と背面電極を順次積層して形成する薄膜EL
パネルの製造方法において、 上記基板上の略全面に下部絶縁層、発光層、上部絶縁
層の三層を形成した後、パネルの表示領域をマスクし、
上記表示領域以外の周辺領域の上記下部絶縁層、発光層
、上部絶縁層を機械的研削手法で除去して、透明電極の
端部を露出させて、この端部に導通する端子電極を設け
ることを特徴とする薄膜ELパネルの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1158030A JPH0679512B2 (ja) | 1989-06-20 | 1989-06-20 | 薄膜elパネルの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1158030A JPH0679512B2 (ja) | 1989-06-20 | 1989-06-20 | 薄膜elパネルの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0322390A true JPH0322390A (ja) | 1991-01-30 |
JPH0679512B2 JPH0679512B2 (ja) | 1994-10-05 |
Family
ID=15662740
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1158030A Expired - Lifetime JPH0679512B2 (ja) | 1989-06-20 | 1989-06-20 | 薄膜elパネルの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0679512B2 (ja) |
Cited By (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04337283A (ja) * | 1991-05-14 | 1992-11-25 | Sharp Corp | 薄膜el素子の製造方法 |
US6197209B1 (en) | 1995-10-27 | 2001-03-06 | Lg. Philips Lcd Co., Ltd. | Method of fabricating a substrate |
US6228211B1 (en) | 1998-09-08 | 2001-05-08 | Lg. Philips Lcd Co., Ltd. | Apparatus for etching a glass substrate |
US6551443B2 (en) | 2000-12-30 | 2003-04-22 | Lg.Philips Lcd Co., Ltd. | Apparatus for etching glass substrate in fabrication of LCD |
US6558776B1 (en) | 1998-10-22 | 2003-05-06 | Lg.Philips Lcd Co., Ltd. | Glass substrate for liquid crystal display device |
US6824618B2 (en) | 2001-12-19 | 2004-11-30 | Lg.Philips Lcd., Ltd. | Substrate receiving apparatus and method thereof |
US6836311B2 (en) | 2002-05-23 | 2004-12-28 | Lg. Philips Lcd Co., Ltd. | Seal pattern for liquid crystal display device including first, second and third dummy seal patterns in non-active area |
US6930748B2 (en) | 2000-12-29 | 2005-08-16 | Lg.Philips Lcd Co., Ltd. | Liquid crystal display device and method for manufacturing the same |
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