JPH0438797A - 連想メモリの比較回路 - Google Patents
連想メモリの比較回路Info
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- JPH0438797A JPH0438797A JP2145867A JP14586790A JPH0438797A JP H0438797 A JPH0438797 A JP H0438797A JP 2145867 A JP2145867 A JP 2145867A JP 14586790 A JP14586790 A JP 14586790A JP H0438797 A JPH0438797 A JP H0438797A
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- 101100535994 Caenorhabditis elegans tars-1 gene Proteins 0.000 abstract 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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- Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明は、連想メモリの比較回路に関する。
通常のメモリが記録セルの番地を指定して記録データの
読出しや書込みを行うものであるのに対し、連想メモリ
は検索データの内容と一致するデータが書込まれたメモ
リセル(該当するワード)を検索し、このワードに属し
て書込まれたデータを読み出す機能を有するものである
。 例えば集積化された半導体装置からなる連想メモリは、
例えばスタティックRAMからなるメモリ部と、メモリ
部に書込まれたデータと読込んだデータを比較する比較
回路とを有するメモリセルが、チップ上に行方向・列方
向に配列されて構成されている。 第3図は、従来のメモリセルの一例を示す回路図である
(米国特許4538243参照)。第3図のメモリセル
は、チップ上のi行j列の交点に配置されているもので
ある。第3図において、破線Aの部分がスタティックR
AM、Hの部分が比較回路、又、Bj及びBjは、書込
みデータ又は比較データの信号及びその反転信号をメモ
リセルに伝達すると共に、読出しデータの信号及びその
反転信号を外部に伝達するためのj列のビット線、Wl
は書込み、読出し時に所望するワードのメモリセルを選
択駆動させるための1行のワード線である。 第3図のメモリ部Aにおいて、符号v2は高電位(ハイ
レベルンの電源であり、当該電源v2には第1及び第2
の抵抗5及び6の一端が接続され、該抵抗5及び6の他
端がメモリ部A内のトランジスタ3及び4のドレインに
接続されている。又、該トランジスタ3及び4のソース
は、低電位の電源v1に接続されている。又、一方のト
ランジスタ3のオンかオフか、即ち、ソース及びドレイ
ン間が導通状態にあるか否かを制御するゲートは、他方
のトランジスタ4のトレインに接続されており、逆に他
方のトランジスタ4のゲートは、前記一方のトランジス
タ3のドレインに接続されている。従って、メモリ部A
においては、第1及び第2の抵抗5及び6、トランジス
タ3及び4により、いずれかのトランジスタがオン状態
で、且つ、他方のトランジスタがオフ状態に安定する双
安定フリップフロップを構成し、各トランジスタ3及び
4のオン、オフ状態でデータを蓄積する。 又、前記トランジスタ3及び4の各ゲートと、ビット線
Bj及びBjとの間には、データ伝達用のトランジスタ
1及び2がそれぞれ接続されており、このトランジスタ
l及び2のゲートはワード線Wiに接続されている。従
って、このワード線Wiを選択駆動することにより、前
記ビット線Bj及びBJを介して前記双安定フリップフ
ロップにデータを書込んだり読出したりすることができ
る。なお、前記ビット線Bjを介して伝達するデータは
前記ビット線Bjのデータの否定となる反転信号である
。 又、第3図のように、前記比較回路Bは、前記ビット線
Bjにソースが接続され、ゲートが前記フリップフロッ
グの一方のトランジスタ4のドレインに接続されている
第5のトランジスタ12と、前記反転信号のビット!!
Bjにソースが接続され、ゲートが前記フリップフロッ
プの他方のトランジスタ3のドレインに接続されている
第6のトランジスタ13と、これらトランジスタ12及
び13の共通して接続されるトレインにゲートが接続さ
れている第7のトランジスタ14とから構成されている
。又、この第7のトランジスタ14のソースは、前記電
源V1に接続され、そのドレインは検索結果出力線Hi
に接続されている。 従って、第3図のメモリセルにおいては、比較動作時に
おいて、ワード@ W iには比較動作信号、即ちロー
レベル「0」の信号が入力されると共に、各ビット線B
j及びBjに比較データが乗せられてフリップフロップ
の蓄積データと比較される。 それら比較データと蓄積データとか一致するならば、第
7のトランジスタ14のゲートにはローレベルrQJが
入力され、検索結果出力線Hiは電源V1と非導通状態
になる。又、前記比較データと蓄積データとが不一致で
あるならば、前記トランジスタ14のゲートはハイレベ
ル「1」となり、検索結果出力線H1は電源Vlと導通
状態になる。 検索結果出力線Hiはi行の全てのメモリセルに配置さ
れており、第3の抵抗7を介して前記高電位(ハイレベ
ル)の電源■2に接続されていて、通常「1」のデータ
に充電されている。従って、比較データとi行のメモリ
セルの蓄積データとが全て一致すれば、検索結果出力線
Hiは「1」の状態を維持する。一方、いずれかのメモ
リセルにおいて比較データと蓄積データとに不一致が生
じていると判断されるならば、第7のトランジスタ14
が導通して検索結果出力線Hiは「0」の状態になる。 以上のようにして連想メモリの動作が行われる。 一般に、メモリセルからデータを読み出す場合、ビット
線Bj及びBjを予め同電位に充電(プリチャージ)し
た後、データを読出そうとするi行のワード線Wiを選
択駆動してデータ伝達用のトランジスタ1及び2をオン
とする。これにより、当該1行の各メモリセルのフリッ
プフロッグに蓄積されたデータを前記ビット線Bj及び
Bjに伝達し、読出している6通常、データの読出しは
、このビット線Bj及びBjの電位差を検出することに
より行っている。従って、各ビット線BJ及びBjの負
荷容量は等しいことが望まれる。
読出しや書込みを行うものであるのに対し、連想メモリ
は検索データの内容と一致するデータが書込まれたメモ
リセル(該当するワード)を検索し、このワードに属し
て書込まれたデータを読み出す機能を有するものである
。 例えば集積化された半導体装置からなる連想メモリは、
例えばスタティックRAMからなるメモリ部と、メモリ
部に書込まれたデータと読込んだデータを比較する比較
回路とを有するメモリセルが、チップ上に行方向・列方
向に配列されて構成されている。 第3図は、従来のメモリセルの一例を示す回路図である
(米国特許4538243参照)。第3図のメモリセル
は、チップ上のi行j列の交点に配置されているもので
ある。第3図において、破線Aの部分がスタティックR
AM、Hの部分が比較回路、又、Bj及びBjは、書込
みデータ又は比較データの信号及びその反転信号をメモ
リセルに伝達すると共に、読出しデータの信号及びその
反転信号を外部に伝達するためのj列のビット線、Wl
は書込み、読出し時に所望するワードのメモリセルを選
択駆動させるための1行のワード線である。 第3図のメモリ部Aにおいて、符号v2は高電位(ハイ
レベルンの電源であり、当該電源v2には第1及び第2
の抵抗5及び6の一端が接続され、該抵抗5及び6の他
端がメモリ部A内のトランジスタ3及び4のドレインに
接続されている。又、該トランジスタ3及び4のソース
は、低電位の電源v1に接続されている。又、一方のト
ランジスタ3のオンかオフか、即ち、ソース及びドレイ
ン間が導通状態にあるか否かを制御するゲートは、他方
のトランジスタ4のトレインに接続されており、逆に他
方のトランジスタ4のゲートは、前記一方のトランジス
タ3のドレインに接続されている。従って、メモリ部A
においては、第1及び第2の抵抗5及び6、トランジス
タ3及び4により、いずれかのトランジスタがオン状態
で、且つ、他方のトランジスタがオフ状態に安定する双
安定フリップフロップを構成し、各トランジスタ3及び
4のオン、オフ状態でデータを蓄積する。 又、前記トランジスタ3及び4の各ゲートと、ビット線
Bj及びBjとの間には、データ伝達用のトランジスタ
1及び2がそれぞれ接続されており、このトランジスタ
l及び2のゲートはワード線Wiに接続されている。従
って、このワード線Wiを選択駆動することにより、前
記ビット線Bj及びBJを介して前記双安定フリップフ
ロップにデータを書込んだり読出したりすることができ
る。なお、前記ビット線Bjを介して伝達するデータは
前記ビット線Bjのデータの否定となる反転信号である
。 又、第3図のように、前記比較回路Bは、前記ビット線
Bjにソースが接続され、ゲートが前記フリップフロッ
グの一方のトランジスタ4のドレインに接続されている
第5のトランジスタ12と、前記反転信号のビット!!
Bjにソースが接続され、ゲートが前記フリップフロッ
プの他方のトランジスタ3のドレインに接続されている
第6のトランジスタ13と、これらトランジスタ12及
び13の共通して接続されるトレインにゲートが接続さ
れている第7のトランジスタ14とから構成されている
。又、この第7のトランジスタ14のソースは、前記電
源V1に接続され、そのドレインは検索結果出力線Hi
に接続されている。 従って、第3図のメモリセルにおいては、比較動作時に
おいて、ワード@ W iには比較動作信号、即ちロー
レベル「0」の信号が入力されると共に、各ビット線B
j及びBjに比較データが乗せられてフリップフロップ
の蓄積データと比較される。 それら比較データと蓄積データとか一致するならば、第
7のトランジスタ14のゲートにはローレベルrQJが
入力され、検索結果出力線Hiは電源V1と非導通状態
になる。又、前記比較データと蓄積データとが不一致で
あるならば、前記トランジスタ14のゲートはハイレベ
ル「1」となり、検索結果出力線H1は電源Vlと導通
状態になる。 検索結果出力線Hiはi行の全てのメモリセルに配置さ
れており、第3の抵抗7を介して前記高電位(ハイレベ
ル)の電源■2に接続されていて、通常「1」のデータ
に充電されている。従って、比較データとi行のメモリ
セルの蓄積データとが全て一致すれば、検索結果出力線
Hiは「1」の状態を維持する。一方、いずれかのメモ
リセルにおいて比較データと蓄積データとに不一致が生
じていると判断されるならば、第7のトランジスタ14
が導通して検索結果出力線Hiは「0」の状態になる。 以上のようにして連想メモリの動作が行われる。 一般に、メモリセルからデータを読み出す場合、ビット
線Bj及びBjを予め同電位に充電(プリチャージ)し
た後、データを読出そうとするi行のワード線Wiを選
択駆動してデータ伝達用のトランジスタ1及び2をオン
とする。これにより、当該1行の各メモリセルのフリッ
プフロッグに蓄積されたデータを前記ビット線Bj及び
Bjに伝達し、読出している6通常、データの読出しは
、このビット線Bj及びBjの電位差を検出することに
より行っている。従って、各ビット線BJ及びBjの負
荷容量は等しいことが望まれる。
しかしながら、前記従来の連想メモリにおいては、メモ
リセルに蓄積されたデータにより、例えば第3図におい
て第5及び第6のトランジスタ12及び13のうちのい
ずれかが作動しており、ビット線Bj及びBjの負荷容
量に相違が生じるため、データ読み出し時に誤動作か生
じ易いという問題点があった。 又、比較データをトランジスタのソースに供給する構成
であるため、ビット線Bj及び83間に貫通電流が流れ
る恐れがある。 本発明は、前記従来の問題点を解消するべくなされたも
ので、各ビット線の負荷容量が等しくなるようにして誤
動作が生じることのない連想メモリの比較回路を提供す
ることを課題とする。
リセルに蓄積されたデータにより、例えば第3図におい
て第5及び第6のトランジスタ12及び13のうちのい
ずれかが作動しており、ビット線Bj及びBjの負荷容
量に相違が生じるため、データ読み出し時に誤動作か生
じ易いという問題点があった。 又、比較データをトランジスタのソースに供給する構成
であるため、ビット線Bj及び83間に貫通電流が流れ
る恐れがある。 本発明は、前記従来の問題点を解消するべくなされたも
ので、各ビット線の負荷容量が等しくなるようにして誤
動作が生じることのない連想メモリの比較回路を提供す
ることを課題とする。
本発明は、ビット線を介して伝達されるデータをメモリ
部に蓄積されたデータと比較するための連想メモリの比
較回路において、各ゲートがそれぞれ蓄積データの出力
線及び比較データ伝達のビット線に接続され、各ソース
がそれぞれ検索結果出力線及び電源に接続され、各ドレ
インを共通として直列に接続された第1及び第2のトラ
ンジスタと、各ゲートがそれぞれ前記蓄積データの反転
信号の出力線及び比較データの反転信号伝達のビット線
に接続され、各ソースがそれぞれ前記検索結果出力線及
び電源に接続され、各ドレインを共通として直列に接続
された第3及び第4のトランジスタとを含むことことに
より、前記課題を解決するものである。
部に蓄積されたデータと比較するための連想メモリの比
較回路において、各ゲートがそれぞれ蓄積データの出力
線及び比較データ伝達のビット線に接続され、各ソース
がそれぞれ検索結果出力線及び電源に接続され、各ドレ
インを共通として直列に接続された第1及び第2のトラ
ンジスタと、各ゲートがそれぞれ前記蓄積データの反転
信号の出力線及び比較データの反転信号伝達のビット線
に接続され、各ソースがそれぞれ前記検索結果出力線及
び電源に接続され、各ドレインを共通として直列に接続
された第3及び第4のトランジスタとを含むことことに
より、前記課題を解決するものである。
本発明においては、連想メモリの比較回路において、第
1及び第2のトランジスタについては、各ゲートをそれ
ぞれ蓄積データの出力線及び比較データを伝達するビッ
ト線に接続し、各ソースを検索結果出力線及び電源に接
続すると共に、各ドレインを共通として直列に接続する
。又、第3及び第4のトランジスタについては、各ゲー
トをそれぞれ蓄積データの反転信号の出力線及び比較デ
ータの反転信号伝達のビット線に接続し、各ソースをそ
れぞれ前記検索結果出力線及び電源に接続すると共に、
各ドレインを共通として直列に接続する。 従って、各ビット線(例えば第1図においてBJ及びB
j )はそれぞれ第2及び第4のトランジスタのゲート
に接続されるなめ、メモリ部と分離(アイソレーション
)される。このため、前記3図の従来の非対称なメモリ
セルとは異なり、当該蓄積データによる影響を受けない
対称回路になるため、各ビット線の負荷容量を等しくす
ることができる。よって、比較回路に誤動作が生じるこ
とを防止できるため、連想メモリを安定に動作させ得る
。又、前記第3図に示したような従来のメモリセルにお
いては、蓄積データを書替える時に比較回路の各ビット
線Bj及び“百1間に貫通電流が流れる恐れがある。こ
れに対し、本発明に係るメモリセルにおいては、各ビッ
ト線Bj及びBjはゲートで分離されているなめ貫通電
流が流れない。 よって、連想メモリの高速化、低消費電力化を図り得る
。
1及び第2のトランジスタについては、各ゲートをそれ
ぞれ蓄積データの出力線及び比較データを伝達するビッ
ト線に接続し、各ソースを検索結果出力線及び電源に接
続すると共に、各ドレインを共通として直列に接続する
。又、第3及び第4のトランジスタについては、各ゲー
トをそれぞれ蓄積データの反転信号の出力線及び比較デ
ータの反転信号伝達のビット線に接続し、各ソースをそ
れぞれ前記検索結果出力線及び電源に接続すると共に、
各ドレインを共通として直列に接続する。 従って、各ビット線(例えば第1図においてBJ及びB
j )はそれぞれ第2及び第4のトランジスタのゲート
に接続されるなめ、メモリ部と分離(アイソレーション
)される。このため、前記3図の従来の非対称なメモリ
セルとは異なり、当該蓄積データによる影響を受けない
対称回路になるため、各ビット線の負荷容量を等しくす
ることができる。よって、比較回路に誤動作が生じるこ
とを防止できるため、連想メモリを安定に動作させ得る
。又、前記第3図に示したような従来のメモリセルにお
いては、蓄積データを書替える時に比較回路の各ビット
線Bj及び“百1間に貫通電流が流れる恐れがある。こ
れに対し、本発明に係るメモリセルにおいては、各ビッ
ト線Bj及びBjはゲートで分離されているなめ貫通電
流が流れない。 よって、連想メモリの高速化、低消費電力化を図り得る
。
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。 この実施例は、第1図に示すような構成の、スタティッ
クRAMからなるメモリ部20と比較回路22とで構成
されるメモリセルを有する連想メモリである。この実施
例の連想メモリは、メモリセルが行列状に配置されて構
成されたもので、第1図に示すものは、i行j列の交点
に存在するメモリセルである。 前記比較回路22には、主に、第1、第2、第3、第4
のトランジスタ8.9.10.11が設けられている。 第1及び第2のトランジスタは、各ゲートG8及びG9
がそれぞれ前記メモリ部20の蓄積データ信号出力線、
即ち、トランジスタ4のドレインD4及び比較データの
入力されるビット線Bjに接続され、各ソースS8及び
S9がそれぞれ検索結果出力線Hi及びローレベルの電
源■1に接続され、各ドレインD8及びD9を共通とし
て直列に接続されている。又、第3及び第4のトランジ
スタは、各ゲートGIO5Gllがそれぞれ蓄積データ
の反転信号出力線即ちトランジスタ3のドレインD3及
び比較データの反転信号線即ちビット線Bjに接続され
、各ソースS10及びS11がそれぞれ前記検索結果出
力線H及び電源v1に接続され、各ドレインDIO及び
Dllを共通として直列に接続されている。 なお、前記メモリセルで各トランジスタ1〜11には、
実施例ではMOS)ランジスタを用いているが、本発明
を実施する際にはこの種のMOSトランジスタを用いる
ことに限定されず、他のトランジスタ、例えばバイポー
ラ型トランジスタを用いて本発明の回路を構成すること
ができる。 又、その他の構成については前出第3図に示した従来の
連想メモリと同様であるため、同様の部分に同一の番号
を付してその説明は略する。 実施例の連想メモリでは、各ビット線B」及びBjが第
2及び第4のトランジスタ9及び11のゲートに接続さ
れている。従って、比較回路22はデータ信号電流の流
入なしに比較動作し得るため、ビット線Bj及び肩の負
荷容量を等しくすることができる。各ビット線Bj及び
「に比較データが入力されても、例えばMOSトランジ
スタの場合、ゲート及びソース間が分離(アイソレーシ
ョン)されているため、各トランジスタ9及び11間に
貫通電流が流れることはない。 以下、実施例の作用を説明する。 データ書込み時には、ワード線Wiを選択駆動してトラ
ンジスタ1及び2をオンにすると共に、各ビット線Bj
、Bjを介してデータをメモリ部20に供給する。又
、比較動作時には、ワード線Wiは駆動されず、トラン
ジスタ1及び2をオフ状態にすると共に、ビット線Bj
及びBjには、それぞれ比較データ及び比較データの反
転信号を入力する。 ここで、書込もうとするデータが各ビット線Bj及びB
jで、例えば「1」及び「0」の場合には、データ信号
により、メモリ部20のフリップフロップにおいて、ト
ランジスタ3はオフ、トランジスタ4はオンした状態に
保持されて「IJ及び「0」のデータが蓄積される。こ
れにより、第1のトランジスタ8のゲートへは「0」の
信号が、第3のトランジスタ10のゲートへは「1」の
信号が供給されるため、第1のトランジスタ8はオフ状
態、第3のトランジスタ10はオン状態となる。この場
合に、前記ビット線Bjへ入力される比較データがビッ
トfiBj及びBjにおいて「1」及び「0」であれば
、第2のトランジスタ9はオン状態、第4のトランジス
タ11がオフ状態となり、従って、検索結果出力線と電
源v1は非導通となる。又、前記比較データが各ビット
線BJ及びBjにおいて「0」及び「1」であれば、第
2のトランジスタ9はオフ状態、第4のトランジスタ1
1はオン状態となり、前記検索結果出力線H1と電源V
1は導通する。 又、前記メモリ部20に蓄積されたデータが「0」及び
「1」であれば、前記フリップフロップの各トランジス
タ3及び4は、それぞれオン状態及びオフ状態となる。 これにより、第1のトランジスタ8及び第3のトランジ
スタ10は、それぞれオン状態及びオフ状態となる。こ
の場合に、前記各ビット線Bj及びBJにおいて「1」
及び「0」の比較データが入力されれば、第2のトラン
ジスタ9はオン状態となり、検索結果出力iHと電源V
1が導通ずる。又、前記各ビット線Bj及びIにおいて
「0」及び「1」の比較データが入力されれば、第2の
トランジスタ9はオフ状態となり、検索結果出力線H1
と電源■1は非導通となる。 従って、メモリセルに蓄積されているデータと比較デー
タとが不一致であれば、トランジスタ8及び9又はトラ
ンジスタ10及び11のうちのいずれかの組合わせで直
列にオン状態となるため、常に検索結果出力線Hi及び
電源v1は導通する。 又、前記蓄積されているデータと比較データとが一致し
ていれば直列接続されているトランジスタ8及びつとト
ランジスタ10及び11とにおいて少なくとも1つのト
ランジスタがオフ状態となるため、常に、検索結果出力
線Hi及び電源71間は非導通となる。以上の蓄積デー
タ及び比較データに対する各トランジスタの動作及び検
索結果出力線の信号レベルの状態を第2図に示す。 検索結果出力線Hiはi行の同一行のメモリセル(lの
ワード)に連続して接続され、しかも抵抗7を介してハ
イレベルの電源V2により電圧が印加されているため、
通常は「1」の状態になっている。又、他の電源v1は
ローレベルである。 従って、同一行のメモリセルにおいて比較データか全て
蓄積データと一致すれば、検索結果出力線H1は電源V
1に導通しないため、「1」の状態を維持しているか、
1つでも不一致があれば、前記検索結果出力線Hiは電
源v1に導通するため、該電源によりローレベルに引き
下げられて「0」の状態になる。 以上のような、比較データと蓄積データとの照合が全て
の行において同時に実行され、一致検索が成立した行、
即ちワードにフラグが立てられる。 次いで、読み出し信号入力により、フラグが立ったワー
ドに内蔵されたデータを読み出せば、比較データの内容
を知ることができる。 なお、前記実施例において、トランジスタ8及び9、又
はトランジスタ10及び11は同じ導電型のトランジス
タを用いているため、それらを入れ替えて接続しても本
実施例と同様に本発明の効果を得ることかできる。
。 この実施例は、第1図に示すような構成の、スタティッ
クRAMからなるメモリ部20と比較回路22とで構成
されるメモリセルを有する連想メモリである。この実施
例の連想メモリは、メモリセルが行列状に配置されて構
成されたもので、第1図に示すものは、i行j列の交点
に存在するメモリセルである。 前記比較回路22には、主に、第1、第2、第3、第4
のトランジスタ8.9.10.11が設けられている。 第1及び第2のトランジスタは、各ゲートG8及びG9
がそれぞれ前記メモリ部20の蓄積データ信号出力線、
即ち、トランジスタ4のドレインD4及び比較データの
入力されるビット線Bjに接続され、各ソースS8及び
S9がそれぞれ検索結果出力線Hi及びローレベルの電
源■1に接続され、各ドレインD8及びD9を共通とし
て直列に接続されている。又、第3及び第4のトランジ
スタは、各ゲートGIO5Gllがそれぞれ蓄積データ
の反転信号出力線即ちトランジスタ3のドレインD3及
び比較データの反転信号線即ちビット線Bjに接続され
、各ソースS10及びS11がそれぞれ前記検索結果出
力線H及び電源v1に接続され、各ドレインDIO及び
Dllを共通として直列に接続されている。 なお、前記メモリセルで各トランジスタ1〜11には、
実施例ではMOS)ランジスタを用いているが、本発明
を実施する際にはこの種のMOSトランジスタを用いる
ことに限定されず、他のトランジスタ、例えばバイポー
ラ型トランジスタを用いて本発明の回路を構成すること
ができる。 又、その他の構成については前出第3図に示した従来の
連想メモリと同様であるため、同様の部分に同一の番号
を付してその説明は略する。 実施例の連想メモリでは、各ビット線B」及びBjが第
2及び第4のトランジスタ9及び11のゲートに接続さ
れている。従って、比較回路22はデータ信号電流の流
入なしに比較動作し得るため、ビット線Bj及び肩の負
荷容量を等しくすることができる。各ビット線Bj及び
「に比較データが入力されても、例えばMOSトランジ
スタの場合、ゲート及びソース間が分離(アイソレーシ
ョン)されているため、各トランジスタ9及び11間に
貫通電流が流れることはない。 以下、実施例の作用を説明する。 データ書込み時には、ワード線Wiを選択駆動してトラ
ンジスタ1及び2をオンにすると共に、各ビット線Bj
、Bjを介してデータをメモリ部20に供給する。又
、比較動作時には、ワード線Wiは駆動されず、トラン
ジスタ1及び2をオフ状態にすると共に、ビット線Bj
及びBjには、それぞれ比較データ及び比較データの反
転信号を入力する。 ここで、書込もうとするデータが各ビット線Bj及びB
jで、例えば「1」及び「0」の場合には、データ信号
により、メモリ部20のフリップフロップにおいて、ト
ランジスタ3はオフ、トランジスタ4はオンした状態に
保持されて「IJ及び「0」のデータが蓄積される。こ
れにより、第1のトランジスタ8のゲートへは「0」の
信号が、第3のトランジスタ10のゲートへは「1」の
信号が供給されるため、第1のトランジスタ8はオフ状
態、第3のトランジスタ10はオン状態となる。この場
合に、前記ビット線Bjへ入力される比較データがビッ
トfiBj及びBjにおいて「1」及び「0」であれば
、第2のトランジスタ9はオン状態、第4のトランジス
タ11がオフ状態となり、従って、検索結果出力線と電
源v1は非導通となる。又、前記比較データが各ビット
線BJ及びBjにおいて「0」及び「1」であれば、第
2のトランジスタ9はオフ状態、第4のトランジスタ1
1はオン状態となり、前記検索結果出力線H1と電源V
1は導通する。 又、前記メモリ部20に蓄積されたデータが「0」及び
「1」であれば、前記フリップフロップの各トランジス
タ3及び4は、それぞれオン状態及びオフ状態となる。 これにより、第1のトランジスタ8及び第3のトランジ
スタ10は、それぞれオン状態及びオフ状態となる。こ
の場合に、前記各ビット線Bj及びBJにおいて「1」
及び「0」の比較データが入力されれば、第2のトラン
ジスタ9はオン状態となり、検索結果出力iHと電源V
1が導通ずる。又、前記各ビット線Bj及びIにおいて
「0」及び「1」の比較データが入力されれば、第2の
トランジスタ9はオフ状態となり、検索結果出力線H1
と電源■1は非導通となる。 従って、メモリセルに蓄積されているデータと比較デー
タとが不一致であれば、トランジスタ8及び9又はトラ
ンジスタ10及び11のうちのいずれかの組合わせで直
列にオン状態となるため、常に検索結果出力線Hi及び
電源v1は導通する。 又、前記蓄積されているデータと比較データとが一致し
ていれば直列接続されているトランジスタ8及びつとト
ランジスタ10及び11とにおいて少なくとも1つのト
ランジスタがオフ状態となるため、常に、検索結果出力
線Hi及び電源71間は非導通となる。以上の蓄積デー
タ及び比較データに対する各トランジスタの動作及び検
索結果出力線の信号レベルの状態を第2図に示す。 検索結果出力線Hiはi行の同一行のメモリセル(lの
ワード)に連続して接続され、しかも抵抗7を介してハ
イレベルの電源V2により電圧が印加されているため、
通常は「1」の状態になっている。又、他の電源v1は
ローレベルである。 従って、同一行のメモリセルにおいて比較データか全て
蓄積データと一致すれば、検索結果出力線H1は電源V
1に導通しないため、「1」の状態を維持しているか、
1つでも不一致があれば、前記検索結果出力線Hiは電
源v1に導通するため、該電源によりローレベルに引き
下げられて「0」の状態になる。 以上のような、比較データと蓄積データとの照合が全て
の行において同時に実行され、一致検索が成立した行、
即ちワードにフラグが立てられる。 次いで、読み出し信号入力により、フラグが立ったワー
ドに内蔵されたデータを読み出せば、比較データの内容
を知ることができる。 なお、前記実施例において、トランジスタ8及び9、又
はトランジスタ10及び11は同じ導電型のトランジス
タを用いているため、それらを入れ替えて接続しても本
実施例と同様に本発明の効果を得ることかできる。
以上説明した通り、本発明によれば、比較データ線及び
その反転信号線の負荷容量を等しくすることができるた
め、誤動作が生じることがなくなり、連想メモリの動作
が安定する。又、前記データ線及び反転信号線間に貫通
電流が流れないため、連想メモリの高速化や低消費電力
化を図ることができるという優れた効果が得られる。
その反転信号線の負荷容量を等しくすることができるた
め、誤動作が生じることがなくなり、連想メモリの動作
が安定する。又、前記データ線及び反転信号線間に貫通
電流が流れないため、連想メモリの高速化や低消費電力
化を図ることができるという優れた効果が得られる。
第1図は、本発明の実施例に係る連想メモリのメモリセ
ルを示す回路図、 第2図は、前記実施例の作用を説明するための、メモリ
セルの各データに対する各部動作を示す線図、 第3図は、従来の連想メモリのメモリセルを示す回路図
である。 1.2・・・選択駆動用トランジスタ、3.4・・・フ
リップフロップのトランジスタ、5〜7・・・抵抗、 8.9.10.11・・・第1、第2、第3、第4のト
ランジスタ、 Bj、Bj・・・ピッ1−線、 Wi・・・ワード線、 Hi・・・検索結果出力線、 Vl、V2・・・電源。
ルを示す回路図、 第2図は、前記実施例の作用を説明するための、メモリ
セルの各データに対する各部動作を示す線図、 第3図は、従来の連想メモリのメモリセルを示す回路図
である。 1.2・・・選択駆動用トランジスタ、3.4・・・フ
リップフロップのトランジスタ、5〜7・・・抵抗、 8.9.10.11・・・第1、第2、第3、第4のト
ランジスタ、 Bj、Bj・・・ピッ1−線、 Wi・・・ワード線、 Hi・・・検索結果出力線、 Vl、V2・・・電源。
Claims (1)
- (1)ビット線を介して伝達されるデータをメモリ部に
蓄積されたデータと比較するための連想メモリの比較回
路において、 各ゲートがそれぞれ蓄積データの出力線及び比較データ
伝達のビット線に接続され、各ソースがそれぞれ検索結
果出力線及び電源に接続され、各ドレインを共通として
直列に接続された第1及び第2のトランジスタと、 各ゲートがそれぞれ前記蓄積データの反転信号の出力線
及び比較データの反転信号伝達のビット線に接続され、
各ソースがそれぞれ前記検索結果出力線及び電源に接続
され、各ドレインを共通として直列に接続された第3及
び第4のトランジスタとを含むことを特徴とする連想メ
モリの比較回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2145867A JPH0438797A (ja) | 1990-06-04 | 1990-06-04 | 連想メモリの比較回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2145867A JPH0438797A (ja) | 1990-06-04 | 1990-06-04 | 連想メモリの比較回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0438797A true JPH0438797A (ja) | 1992-02-07 |
Family
ID=15394893
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2145867A Pending JPH0438797A (ja) | 1990-06-04 | 1990-06-04 | 連想メモリの比較回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0438797A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0945870A (ja) * | 1995-05-24 | 1997-02-14 | Kawasaki Steel Corp | 半導体メモリおよび連想メモリのレイアウト構造 |
JP2013012287A (ja) * | 2005-10-28 | 2013-01-17 | Qualcomm Inc | 仮想接地を制御してcamramを分割するための回路とその方法 |
RU2621011C1 (ru) * | 2016-05-25 | 2017-05-30 | Федеральное государственное учреждение "Федеральный научный центр Научно-исследовательский институт системных исследований Российской академии наук" (ФГУ ФНЦ НИИСИ РАН) | Логический элемент сравнения комплементарной металл-оксид-полупроводниковой структуры ассоциативного селектора запоминающего устройства |
-
1990
- 1990-06-04 JP JP2145867A patent/JPH0438797A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0945870A (ja) * | 1995-05-24 | 1997-02-14 | Kawasaki Steel Corp | 半導体メモリおよび連想メモリのレイアウト構造 |
JP2013012287A (ja) * | 2005-10-28 | 2013-01-17 | Qualcomm Inc | 仮想接地を制御してcamramを分割するための回路とその方法 |
RU2621011C1 (ru) * | 2016-05-25 | 2017-05-30 | Федеральное государственное учреждение "Федеральный научный центр Научно-исследовательский институт системных исследований Российской академии наук" (ФГУ ФНЦ НИИСИ РАН) | Логический элемент сравнения комплементарной металл-оксид-полупроводниковой структуры ассоциативного селектора запоминающего устройства |
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