JPH0438631A - 光ヘッド装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、光ディスクの記録または再生用の光ヘッド
装置に関し、小型軽量化および低価格化を実現したもの
である。

〔従来の技術〕

従来における光ディスクの記録または再生用光ヘッド装
置は、多数の光学系を配列して構成されていた。このた
め、構成が複雑となり、大型で重量が重く、また組立に
精度が要求されてコストが高くなる欠点があった。

そこで、このような問題を解決して、小型軽量化を図っ
た光ヘッド装置として、実開昭６４１、２２２１号公開
明細書に記載の集積型光ヘッド装置がある。これは、第
２図に示すように、半導体基板１上に信号検知用フォト
ディテクタ２１゜２２およびＡＰＣ（＾ｕＬｏ　Ｐｏｗ
ｅｒ　Ｃｏｎｔｒｏｌ　：レーザ光出力制御）用フォト
ディテクタ３が形成され、その上に透明板５が積層され
ている。信号検出用フォトディテクタ２１上にはハーフ
ミラ−膜４が形成され、透明板５上にはハーフミラ−膜
６およびフルミラー膜７が形成され、その上にサブマウ
ント板８が積層されている。サブマウント板８には窓部
９が形成され、そこにレーザダイオード］１がレーザ光
ＬＢを斜め下方に向けて発射するように配設されている
。

第２図の構成によれば、レーザダイオード］１から発射
されたレーザ光ＬＢは、ハーフミラ−膜６で一部が反射
されて、ディスク記録面に照射され、残りがハーフミラ
−膜６および透明板５を透過して、ＡＰＣ用フォトディ
テクタ３に入射される。ＡＰＣ用フォトディテクタ３の
受光信号はレーザダイオード１１の出力制御用モニタ信
号として利用される。

ディスクからの戻り光は、ハーフミラ−膜６、透明板５
を透過して、一部がハーフミラ−膜４を透過して信号検
知用フォトディテクタ２１に入射される。また、残りが
ハーフミラ−膜４およびフルミラー膜７て反射されて、
信号検知用フォトディテクタ２２に入射される。フォト
ディテクタ２１からはフォーカスエラー検知用出力が得
られる。フォトディテクタ２２からはトラッキングエラ
ー検知用出力が得られる。また、フォトディテクタ２．
２゜の出力によりディスク記録信号の！ 読み取りが行なわれる。

第２図の光ヘッド装置によれば、半導体基板１、透明板
５およびザブマウント板８を積層して構成されるので、
従来のものに比べて構成が簡単となり、小型軽量化が実
現される。また、製造も容易化され、コストが低減され
る。

」二記第２図の構成のものはＣＤ（コンパクト・ディス
ク）用であるが、前記実開昭６４１２２２１号公開明細
書には光磁気ディスク用として第３図の光ヘッド装置が
開示されている。これは、゛１′−導体基板１上に透明
板５’、５’、１／２波長板１５、サブマウント板８を
積層して構成されている。半導体基板］上には、ＡＰＣ
用フォトディテクタ３、信号検知用フォー・ディテクタ
２．２２が形成され、フォトディテクタ２　。

２　」二には無反射膜１２，１．２゜が形成されている
。透明板５′上には偏向多層膜１３が形成され、透明板
５′上にはフルミラー膜１４が形成され、１／２波長板
１５にはハーフミラ−膜６が形成されている。

レーザダイオード１１からのレーザ光ＬＢは、一部がハ
ーフミラ−膜６で反射されて、光磁気ディスク記録面へ
照射され、残りがＡＰＣ用フォトディテクタへ入射され
る。光磁気ディスクからの戻り光は、ハーフミラ−膜６
を透過して、１／２波長板で偏向方向が４５°回転され
、一部が偏向多層膜］３および無反射膜１−２□を透過
してフォトディテクタ２１で受光される。また、残りが
偏向多層膜１３、フルミラー膜１４て反射されて、無反
射膜１２゜を透過してフォトディテクタ２゜で受光され
る。フォトディテクタ２１の受光出力によりフォーカス
エラーが検出され、フォトディテクタ２２の受光出力に
よりトラッキングエラが検出される。また、フォトディ
テクタ２１゜２□の受光出力の差動検出により信号読み
取りが行なわれる。

第４図の光ヘッド装置は、第３図のものを改良して、レ
ーザダイオ−＋；１１を４５°回転して配設することに
より、１，７２波長板１５を不要としたものである。

〔発明が解決しようとする課題〕

前記第２図〜第４図の光ヘッド装置では戻り光を２個の
光検出器２．２　に導くためのハーフミラー膜４、偏向
多層膜１３、フルミラー膜７゜１４等の膜付工程が必要
であり、製造工程が多くかかっていた。さらに前記第３
図の光ヘッド装置では、高価な１／２波長板１５が必要
となっていた。また前記第４図の光ヘッド装置では、レ
ーザダイオード１１の光軸を４５°回転して配設する必
要があった。

この発明は、前記従来技術における欠点を解決して、構
成をさらに単純化して、より小型軽量で低コストの光ヘ
ッド装置を提供しようとするものである。

〔課題を解決するための手段〕

請求項１記載の発明は、情報記録または情報再生を行な
うためのレーザ光を発生するレーザ素子と、このレーザ
素子からのレーザ光を記録媒体側へ反射させるハーフミ
ラ−と、前記記録媒体からの戻り光を前記ハーフミラ−
を通して入射する位置に配設されて、結晶の光軸が入射
レーザ光の偏向方向および入射面の法線方向に対してそ
れぞれ斜めの方向に形成された一軸性複屈折板と、この
一軸性複屈折板を透過して分離された常光を受光する常
光用受光素子と、前記一軸性複屈折板を透過して分離さ
れた異常光を受光する異常光用受光素子とを具備してな
るものである。

また、請求項２記載の発明は、情報記録または情報再生
を行なうためのレーザ光を発生するレザ素子と、このレ
ーザ素子からのレーザ光を記録媒体側へ反射させるハー
フミラ−と、前記記録媒体からの戻り光を前記ハーフミ
ラ−を通して入射する位置に配設されて、結晶の光軸が
入射レーザ光の偏向方向に対して斜めの方向に形成され
たくさび形状を有する一軸性複屈折板と、この一軸性複
屈折板を透過して分離された常光を受光する常光用受光
素子と、前記一軸性複屈折板を透過して分離された異常
光を受光する異常光用受光素子と、前記一軸性複屈折板
に比べて小さな屈折率を有し、当該一軸性複屈折板と前
記常光用受光素子および異常光用受光素子との間に配置
される等方性奴体とを具備してなるものである。

〔作　用〕

請求項１記載の発明によれば、レーザ素子から発せられ
たレーザ光はハーフミラ−で反射されて、記録媒体に照
射される。その反射光は、ハーフミラ−から一軸性複屈
折板に入射される。一軸性複屈折板は結晶の光軸が入射
レーザ光の偏向力向に対して斜めに形成されているので
、複屈折を生じ、常光線と異常光線に分離される。また
、結晶の光軸が入射面の法線方向に対して斜めに形成さ
れているので、常光と異常光は異なる方向に屈折して収
束し、それぞれの位置に常光用受光素子と異常光用受光
素子を配設することにより、両光線を個別に受光するこ
とができる。そして、これら受光信号から信号読取、フ
ォーカスエラー検出、トラッキングエラー検出等を行な
うことができる。

このように、請求項１記載の発明によれば、軸性屈折板
を用いてディスク反射光を複屈折させて、常光と異常光
に分離して、それぞれ受光素子で受光することにより信
号読取、フォーカスエラー検出、トラッキングエラー検
出等を行なうので、前記第２図〜第４図に示す従来の光
ヘッド装置に比べて２つの受光素子に分けるためのハー
フミラ−膜４、偏向多層膜１３、フルミラー膜７，１４
等が不要となり、構成が簡略化され、製造」１程か簡略
化されて、小型軽量および低コストの光ヘッド装置が得
られる。また、光磁気ディスク用に構成する場合も、前
記第４図の従来装置のような１／２波長板１５は不要と
なり、また前記第５図のようにレーザダイオード１１を
４５°回転させる配置も不要となる。

また、請求項２記載の発明によれば、くさび形状を有す
る一軸性複屈折板と常光用受光素子および異常光用受光
素子との間に、この一軸性複屈折板に比べて屈折率の小
さな等方性媒体を配置することにより、常光と異常光の
所定の分離幅を得るための一軸性複屈折板の厚みおよび
全体の厚みを薄くすることができ、より小型軽量化、低
コスト化が実現される。

〔実施例〕

この発明の実施例を以下説明する。

（実施例１） この発明を光磁気ディスク用に構成した一実施例を第１
図に断面図で示す。この光ヘッド装置２〔１は、゛１′
導体基板２２、一軸性複屈折板２４、サブマウント板２
６が積層され、接着剤等により接合されている。

サブマウント板２６には窓部２８が形成され、レーザダ
イオード３０がその光軸を斜め下方に向けてかつ発射レ
ーザ光の直線偏向方向が紙面に垂直になるように配設さ
れている。窓部２８における一軸性複屈折板２４の上面
にはハーフミラ−膜３２が形成されている。レーザダイ
オード３０から発射されるレーザ光３４はハーフミラ−
膜３２で反射されて、光磁気ディスク記録面に照射され
、］　１ その戻り光３４′は、ハーフミラ−膜３２を透過して一
軸性複屈折板２４に入射される。

一軸性複屈折板２４は、Ｔ　ｉＯ２（ルチル）等の単結
晶で構成される（第１図では正結晶を用いた例を示して
いる）。その結晶の光軸Ｃは、第５図（ａ）に窓部２８
の平面図として示すように、入射レーザ光３４′のカー
回転を生じてない時の偏向方向りに対し略々４５°傾斜
している。これにより、入射レーザ光３４′は常光３４
ａと異常光３４ｂに分離される。また、結晶の光軸Ｃは
、第５図（ｂ）に窓部２８の正面図で示すように、一軸
性複屈折板２４の入射面２４ａが法線方向Ｅに対して略
々４５°傾斜している。これにより、常光３４ａと異常
光３４ｂは異なる方向に屈折して収束する。

レーザダイオード３０から発射されるレーザ光３４の一
部は、そのままハーフミラ−膜３２を通過して一軸性複
屈折板２４て常光３４ｃと異常光３４ｄに分離されて、
異なる方向に屈折して収束する。

］　２ 半導体基板２２上には、ＡＰＣ用フォトディテクタ１３
６、常光用フオ）・ディテクタ３８、異常光用フォトデ
ィテクタ４０が形成されている。

ＡＰＣ用フォトディテクタ３６ではレーザ光３４の常光
３４ｃおよび異常光３４ｄを共通に受光し、常光用フ第
１・ディテクタ３８および異常光用フ第１・ディテクタ
４０では、戻り光３４′の常光３４ａおよび異常光３４
　ｂをそれぞれ受光する。

フォトディテクタ３６，３８．４０の配設例を第６図に
平面図で示す。ＡＰＣ用フオフ第１ィテクタ３６は連続
した受光面で構成され、常光３４Ｃ１異常光３４ｄを共
通に受光する。常光用フォトディテクタ３８は受光面が
３８ａ〜３８ｄに分割され、常光３４ａが照射されてそ
のスポットＳ１の大きさに応じた比率で各受光面３８ａ
〜３８ｄから受光信号が出力される。異常光用フ第１・
ディテクタ４０は受光面か４０ａ〜４０ｄに分割され、
異常光３４ｂが照射されてそのスポットＳ２の大きさに
応じた比率で各受光面４０ａ〜４０ｄから受光信号が出
力される。

後述するように、ＡＰＣ用フォトディテクタ３６の受光
信号はレーザ光出力制御用モニタ信号として利用される
。また、常光用フォトディテクタ３８および異常光用フ
ォトディテクタ４０の受光信号は、記録信号読取り、フ
ォーカスエラー検出、ｌ・ラッキングエラー検出に利用
される。

第１図の光ヘッド装置２０は、フォトディテクタ３６，
３８．４０の組合せを縦横に配した半導体基板ウェハ、
ハーフミラ−膜３２を縦横に配した一軸性複屈折板ウェ
ハ、窓部２８を縦横に形成して各窓部２８にレーザダイ
オード３０を配設したサブサウンド板ウェハを接着剤等
で接合して、これを縦横に切断することにより一度に多
数の光ヘッド装置を製造することができる。

第１図の光ヘッド装置２０によれば、レーザダイオード
３０から発射されたレーザ光３４は、部がハーフミラ−
膜３２を透過して、一軸性複屈折板２４で常光３４Ｃと
異常光３４ｄに分離されてＡＰＣ用フォトディテクタ３
６て受光される。

また、レーザ光３４の残りの部分はハーフミラ−膜３２
で反射されて、光磁気ディスクの記録面に照射される。

光磁気ディスクからの戻り光３４′は、ハーフミラ−膜
３２を透過して一軸性複屈伍板２４で常光３４ａと異常
光３４ｂに分離されて、常光用フォトディテクタ３８、
異常光用フォトディテクタ４０でそれぞれ受光される。

光磁気ディスクからの戻り光３４′は、第７図（ａ）に
示すように（第１図矢印Ｏ方向から見た状態で示す。）
光磁気ディスク」二の照射位置の磁化の方向（つまり記
録データ）に応じてカー回転により偏向方向が照射光３
４に対して±θｋまたは一〇に回転する。そして、この
戻り光３４′は、一軸性複屈折板２４に入射されると、
カー回転の方向に応じて第７図（ｂ）、（ｃ）に示す状
態が得られる。すなわち、一軸性複屈折板２４に入射し
た戻り光３４′はＣ軸（結晶光軸）方向への投影（異常
光３４ｂ）とＣ軸に直角な方向への投影（常光３４ａ）
の長さで決まる光量に分解されるので、光磁気ディスク
」―の記録信号によりカー回転（±θｋ）を受けた反射
光３４′は、互いに異なる光量を持った常光３４ａおよ
び異常光３４ｂとなる。したがって、フォトディテクタ
３８゜４０の受光信号の差動信号を取り出すことにより
、光磁気ディスク上の記録信号を読み取ることができる
。

ところで、常光３４ａと異常光３４ｂを別々のフォトデ
ィテクタ３８．４０で受光するためには、常光３４　ａ
と異常光３４ｂか適当な分離幅Ｓ（第１図）を持たなけ
ればならない。この分離幅Ｓは次式でり、えられる。

ここて、ｔニー軸性複屈折板２４の厚さψニー軸性複屈
折板２４の入射面２４ａの法線ＥとＣ軸とのなす角 ａ：１／異常光屈折率 ｂ＝１／常光屈折率 Ｃ２＝ａ２ｓｉｎ２ψ＋ｂ２ＣＯ８ψ したがって、ψが０°、９０°以外の斜めの角度であれ
ば、常光３４ａと異常光３４ｂは分離されることになる
。そして、ψ−４５°のとき分１￥Ｆ幅Ｓは最大となり
、このとき必要な分離幅Ｓを得るための一軸性複屈折板
２４の厚さｔが最小となり、最も小型化できる。

次に、フォトディテクタ３８．４０によるフォカスエラ
ー検出方法の一例について説明する。

第８図に示すように、光磁気ディスク記録面４２からの
戻り光３４′は、一軸性複屈折板２４内で常光３４ａと
異常光３４ｂに異なる角度で分離し、位置Ｒ，Ｑでそれ
ぞれ収束する。一軸性複屈折板２４の入射面２４ａから
各収束点Ｒ，Ｑまでの垂直方向距離は異なるものとなる
。そして、光磁気ディスク記録而４２が４２′の位置に
移動すると、常光３４　ａおよび異常光３４ｂは点線で
示すように変化し、収束点Ｒ，ＱはＲ’　、Ｑ’で示す
ように上方に移動する。光磁気ディスク記録面４２が逆
方向に移動すると、収束点Ｒ，Ｑは下方に移動する（デ
ィスクの移動に対し、収束点Ｒ’　、Ｑ’はレベルｐを
越えないように設計する）。

そこで、常光用フォトディテクタ３８、異常光用フォト
ディテクタ４〔〕を第８図に二点鎖線ｐて示ずようにジ
ャストフォーカス時の収束点Ｒ，Ｑの中間レベルに配置
する。このようにすると、ジャストフォーカス位置では
フォー・ディテクタ３８゜４〔］上のスボッＩ”　Ｓ　
　、　　Ｓ　２の大きさは第６図に実線で示すようにほ
ぼ等しくなる。また、第８図に点線で示すフォーカスエ
ラーが生じた状態では、フォー・ディテクタ３８．４０
上のスポットＳ１゜Ｓ　は第６図に点線で示すようにス
ポットＳ１か大きく、スポットＳ２が小さくなる。フォ
ーカスエラ一方向が逆に生じた場合はスポットＳ１が小
さく、スポットＳ２が大きくなる。

したがって、各フォー・ディテクタ３８．４０の各分割
位置の受光信号を演算することにより、フォーカスエラ
ーを検出することができる。

トラッキングエラーは、第６図において矢印Ｆ方向をト
ラックに平行な方向とすれば、プッシュプル法により、
例えばフォー・ディテクタ３８の各分割位置の受光信号
を演算することにより検出することができる。

］　７ ］　８ フォトディテクタ３６，３８．４０の受光信号の処理回
路の一例を第９図に示す。ＡＰＣ用フォトディテクタ３
６の受光信号は、アンプ４４を介してＡＰＣ用モニタ信
号として出力されて、レーザ光出力制御に利用される。

常光用フォトディテクタ３８の各分割部分３８ａ〜３８
ｄの受光信号のうち、外側どうしは加算器４６で加算さ
れ、内側とうしは加算器４つで加算される。これら加算
出力は引算器４８で引算されて、常光スポットｓ１の大
きさ（すなわちフォカスエラーの大きさ）に応じた信号
が得られる。

同様に異常光用フォトディテクタ４ｏの各分割部分４０
ａ〜４０ｄの受光信号のうち、外側どうしは加算器５ｏ
で加算され、内側どうしは加算器５２で加算される。こ
れら加算出力は引算器５４で引算されて、異常光スボッ
ｌ−Ｓ　　の大きさ（すなわちフォーカスエラーの大き
さ）に応じた信号が得られる。

引算器４８．５４の出力は引算器５６で引算されてフォ
ーカスエラーが検出される。

１　つ フォトディテクタ３８の各分割部分３８ａ〜３８ｄの受
光信号のうち右半分の２つの信号は加算器５８で加算さ
れる。また左半分の２つの信号は加算器６０で加算され
る。加算器５８．６０の出力は引算器６２で引算されて
スポットＳ１の片寄りすなわちトラッキングエラーが検
出される。

なお、トラッキングエラーの検出はフォトディテクタ４
０側で行なうこともできる。

フォトディテクタ３８の外側分割部分加算信号および内
側分割部分加算信号は加算器６４で加算されて、フォト
ディテクタ３８全体の常光受光信号の総和が検出される
。また、フォトディテクタ４０の外側分割部分加算信号
および内側分割部分加算信号は加算器６６で加算されて
、フォトディテクタ４０全体の異常光受光信号の総和が
検出される。常光３４ａと異常光３４ｂのレベルは前記
第７図（ｂ）、ｅ）に示すようにカー回転±θにの方向
により変化するので、これら両受光信号を引算器６８で
引算することにより、カー回転±θにの方向に応じた極
性の信号が得られ、デイスフ記録情報の読取りが行なわ
れる。

（実施例２） 前記第１図の光ヘッド装置２０に比べてさらに小型軽量
化、低コスト化を図ったこの発明の光ヘッド装置の他の
実施例を説明する。

前述のように、前記第１図の実施例では、常光３４　ａ
と異常光３４ｂの分離幅Ｓは前記第（１）式で求められ
る。前記第（１）式によれば、ψ＝４５°としたときに
最大分離幅が得られ、その時一軸性複屈折板２４（ルチ
ル板等）の厚さｔと分離幅Ｓとの関係は第１０図に示す
ようになる。これによれば、分離幅Ｓ′を２００μｍ得
るにはψ−４５°に設定して、ｔ＝２ｍｍの板厚が必要
となる。より大きく分離幅Ｓを得るにはより大きな板厚
ｔが必要となる。

そこで、ここではψ＝４５°に設定することなく、小さ
な板厚でより大きな分離幅Ｓが得られる構造を提供する
。第１１図に示したのがその構造例で、前記第１図の光
ヘッド装置２ｏと共通する部分には同一の符号を用いる
。この光ヘッド装置７０は一軸性複屈折板２４（例えば
ルチル板）を薄くかつその断面かくさび形状となるよう
に構成し、この複屈折板２４とフォトディテクタ３６゜
３８．４０との間に一軸性複屈折板２４よりも屈折率の
小さな等方性媒体７２を配置したものである。等方性媒
体７２としては、例えば空気層を用いることができる。

半導体基板７２上には、フォトディテクタ３６゜３８．
４０が配設されている。半導体基板７２上にはサブマウ
ント板２６が固定され、サブマウント板２６には一軸性
複屈折板２４が固定されている。

サブマウント板２６には窓部２８が形成され、レーザダ
イオード３ｏがその光軸を斜め下方に向けてかつ発射レ
ーザ光の直線偏向方向が紙面に垂直になるように配設さ
れている。窓部２８における一軸性複屈折板２４の上面
にはハーフミラ−膜３２が形成されている。また、下面
には無反射コティング３３が施されている。レーザダイ
第１−３０から発射されるレーザ光３４は一部がハフミ
ラー膜３２で反射されて、光磁気ディスク記録面に照射
され、その戻り光３４′は、一部がハーフミラ−膜３２
を透過して一軸性複屈折板２４に入射される。

一軸性複屈折板２４は、ルチル等の単結晶で構成される
（第１１図では正結晶を用いた例を示している）。その
結晶の光軸Ｃは、入射レーザ光３４′のカー回転を生じ
てない時の偏向方向りに対し略々４５°傾斜している。

これにより、入射レザ光３４′は常光３４ａと異常光３
４ｂに分離される。また、結晶の光軸Ｃは、一軸性複屈
折板２４の入射面２４ａが法線方向Ｅに対して略々直角
となっている。常光３４ａと異常光３４ｂは異なる方向
に屈折して収束する。

レーザダイオード３０から発射されるレーザ光３４の一
部は、そのままハーフミラ−膜３２を通過して一軸性複
屈折板２４で常光３４ｃと異常光３４ｄに分離されて、
異なる方向に屈折して収束する。

半導体基板２２上には、ＡＰＣ用フォトディテフタ３６
、常光用フォトディテクタ３８、異常光用フォトディテ
クタ４０が形成されている。

ＡＰＣ用フォトディテクタ３６ではレーザ光３４の常光
３４ｃおよび異常光３４ｄを共通に受光し、常光用フォ
トディテクタ３８および異常光用フォトディテクタ４０
では、戻り光３４′の常光３４ａおよび異常光３４ｂを
それぞれ受光する。

フォトディテクタ３６，３８．４０は、例えば前記第６
図と同様に配設することができる（ただし、常光用３８
と異常光用４０とは互いに逆の位置になる）。

第１１図の光ヘッド装置７０によれば、レーザダイオー
ド３０から発射されたレーザ光３４は、一部がハーフミ
ラ−膜３２を透過して、一軸性複屈折板２４て常光３４
ｃと異常光３４ｄに分離されて等方性媒体７２を介して
ＡＰＣ用フォトディテクタ３６で受光される。

また、レーザ光３４の残りの部分はハーフミラ−膜３２
で反射されて、光磁気ディスクの記録面に照射される。

光磁気ディスクからの戻り光３４′は、ハーフミラ−膜
３２を透過して一軸性複屈折板２４で常光３４ａと異常
光３４ｂに分離されて、等方性媒体７２を介して常光用
フォトディテクタ３８、異常光用フォトディテクタ４ｏ
でそれぞれ受光される。

光磁気ディスクからの戻り光３４′は、第１２図（ａ）
に示すように（第１１図矢印０方向がら見た状態で示す
。）光磁気ディスク上の照射位置の磁化の方向（つまり
記録データ）に応じて左回転により偏向方向が照射光３
４に対して±θｋまたは一部に回転する。そして、この
戻り光３４′は、一軸性複屈折板２４に入射されると、
左回転の方向に応じて第１２図（ｂ）、（ｃ）に示す状
態が得られる。ずなわち、一軸性複屈折板２４に入射し
た戻り光３４′はＣ輔（結晶光軸）方向への投影（異常
光３４ｂ）とＣ軸に直角な方向への投影（常光３４ａ）
の長さで決まる光量に分解されるので、光磁気ディスク
上の記録信号によりカー回転（±θｋ）を受けた反射光
３４′は、互いに異なる光量を持った常光３４ａおよび
異常光３４ｂとなる。したがって、フォー・ディテクタ
３８．４０の受光信号の差動信号を取り出すことにより
、光磁気ディスク上の記録信号を読み取ることができる
。

第１１図の構成によれば、一軸性複屈折板２４で分肉「
された常光３４ａと異常光３４ｂは、一軸性複屈折板２
４よりも屈折率の低い等方性媒体７２を通過するので一
軸性複屈折板２４のくさび角θおよびレーザダイオード
３０から入射境界面ジ Ｋまでの高さＨを適Ｚに設計することにより分離幅Ｓが
大きくなる。一軸性複屈折板２４の板厚は第１図のもの
に比べて１／１０以下にできるので、一定量の一軸性複
屈折祠結晶インゴットから１ノノリ出せる枚数を多くと
ることができ、１１価を下げて低コスト化することがで
き、また、これにより第１図の構造に比べてより小型、
軽量化することかできる。

第１１図における各フォトディテクタ３６゜３８．４０
の受光信号の処理回路は前記第９図の処理回路をそのま
ま用いることができる。なお、第１１図の構成における
フォーカスエラーによる常光３４ａおよび異常光３４ｂ
の収束位置の変動を第１３図に示す。光磁気ディスク記
録面４２からの戻り光３４′は一軸性複屈折板２４で常
光３４ａと異常光３４ｂに分離され、さらに等方性媒体
７２に入射される境界面で異なる角度に分離されて収束
点Ｒ，Ｑでそれぞれ収束する。収束するまでの距離ＰＲ
，ＰＱは、一軸性複屈折板２４のくさび角θと入射境界
面Ｋから測ったレーザダイオード３０の高さＨとで決ま
る。したがって、境界面Ｇより各収束点Ｒ，Ｑまでの垂
直方向距離は第１３図に示すように異なり、その中間位
置ｇにフォトディテクタ３８，４０を配置する。これに
より、フォーカスエラーが生じると収束点はＲ’　、Ｑ
’のように変化し、フォトディテクタ３８．４０上のス
ポット面積が変化し、受光信号の演ｐによりフォーカス
エラーが検出される。

〔変更例〕

前記各実施例では、この発明を光磁気ディスク用に構成
した場合について説明したが、ＣＤ用等に構成すること
もできる。この場合、フォトディテクタを例えば前記第
６図と同様に構成して、信号読取は例えばフォトディテ
クタ３８の各分離部分受光信号の総和をとって検出する
ことができる。

フォーカスエラーやトラッキングエラーは前記第９図の
回路をそのまま用いて検出することができる。

また、第１１図の実施例においてＡ方性媒体７２は空気
層以外にも一軸性複屈折板２４よりも屈折率の小さな各
種媒体（真空層も含む）を用いることができる。

〔発明の効果〕

以上説明したように、請求項コ記載の発明によれば、一
軸性屈折板を用いてディスク反射光を複屈折させて、常
光と異常光に分離して、それぞれ受光素子で受光するこ
とにより信号読取、フォカスエラー検出、トラッキング
エラー検出等を行なうので、前記第２図〜第４図に示す
従来の光ヘッド装置に比べて２つの受光素子に分けるた
めのハーフミラ−膜４、偏向多層膜］３、フルミラ膜７
，１４等が不要となり、構成が簡略化され、製造工程が
簡略化されて、小型軽量および低コストの光ヘッド装置
が得られる。また、光磁気ディスク用に構成する場合も
、前記第４図の従来装置のような］／２波長板］５は不
要となり、また前記第５図のようにレーザダイオード１
１を４５゜回転させる配置も不要となる。

また、請求項２記載の発明によれば、くさび形状を有す
る一軸性複屈折板と常光用受光素子および異常光用受光
素子との間に、この一軸性複屈折板に比べてｌ１ｉｌ折
率の小さな等方性媒体を配置することにより、常光と異
常光の所定の分離幅を得るための一軸性複屈折板の厚み
および全体の厚みを薄くすることができ、より小型軽量
化、低コスト化が実現される。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明の一実施例を示す断面図である。 第２図〜第４図は、それぞれ従来装置を示す断面図であ
る。 第５図は、第１図における窓部２８の平面図および１Ｆ
面図である。 第６図は、第１図におけるフォトディテクタの配置を示
す平面図である。 第７図は、第１図における矢印Ｏ方向から見たレーザ光
の偏向方向を示す図である。 第８図は、第１−図におけるフォーカスエラーによる常
光、異常光収束位置の移動を示す正面図である。 第９図は、第１図における各フォトディテクタの受光信
号の処理回路の一例を示すブロック図である。 第１０図は、第１図における一軸性複屈折板２４の厚さ
ｔと常光、異常光の分離幅Ｓの関係を示す線図である。 第１１図は、この発明の他の一実施例を示す断面図であ
る。 第１２図は、第１１図における矢印Ｏ方向から見たレー
ザ光の偏向方向を示す図である。 ２　つ 第１３図は、第１１図におけるフォーカスエラによる常
光、異常光収束位置の移動を示す図である。 ２０．７２・・・光ヘッド装置、２４・・・一軸性複屈
折板、２４ａ・・・入射面、３０・・レーザダイオード
（レーザ素子）、３２・・・ハーフミラ−膜（ハーフミ
ラ−）、３４々レーザ光、３４′・・・戻り光（入射レ
ーーリ゛光）、３４ａ・常光、３４ｂ・異常光、３８・
・・常光用フォトディテクタ（常光用受光素子）　、４
０・・異常光用フォトディテクタ（異常光用受光素子）
、７２・・・等方性媒体、Ｃ・・・結晶の光軸。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）情報記録または情報再生を行なうためのレーザ光
   を発生するレーザ素子と、 このレーザ素子からのレーザ光を記録媒体側へ反射させ
   るハーフミラーと、 前記記録媒体からの戻り光を前記ハーフミラーを通して
   入射する位置に配設されて、結晶の光軸が入射レーザ光
   の偏向方向および入射面の法線方向に対してそれぞれ斜
   めの方向に形成された一軸性複屈折板と、 この一軸性複屈折板を透過して分離された常光を受光す
   る常光用受光素子と、 前記一軸性複屈折板を透過して分離された異常光を受光
   する異常光用受光素子と を具備してなる光ヘッド装置。
2. （２）情報記録または情報再生を行なうためのレーザ光
   を発生するレーザ素子と、 このレーザ素子からのレーザ光を記録媒体側へ反射させ
   るハーフミラーと、 前記記録媒体からの戻り光を前記ハーフミラーを通して
   入射する位置に配設されて、結晶の光軸が入射レーザ光
   の偏向方向に対して斜めの方向に形成されたくさび形状
   を有する一軸性複屈折板と、この一軸性複屈折板を透過
   して分離された常光を受光する常光用受光素子と、 前記一軸性複屈折板を透過して分離された異常光を受光
   する異常光用受光素子と、 前記一軸性複屈折板に比べて小さな屈折率を有し、当該
   一軸性複屈折板と前記常光用受光素子および異常光用受
   光素子との間に配置される等方性媒体と を具備してなる光ヘッド装置。