JPH0438628A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、光ディスクの記録または再生を行なうため
の光ディスク装置に関し、簡易な構成で信号読取および
エラー検出を実現したものである。

〔従来の技術〕

従来における光ディスク装置は記録または再生用光ヘッ
ド装置が、多数の光学系を配列して構成されていた。こ
のため、光ヘッド装置の構成が複雑となり、大型で重量
が重く、また組立に精度が要求されてコストが高くなる
欠点かあった。

そこで、このような問題を解決して、光ヘッド装置の小
型軽量化を図ったものとして、特開昭６３−３０６５４
８号公報に記載の集積型光ヘッド装置がある。これは、
第２図に示すように、上面にそれぞれ分割構造の第１、
第２の光検出部１゜２を形成した半導体基板３上に反射
率調節用の２層の薄膜５，６を形成し、その上に接着剤
７を介してプリズム８を接合している。プリズム８の傾
斜面には半透過反射膜９を形成し、またその上面には全
反射膜１０を形成している。半導体基板３上には半導体
レーザ素子］１が錫半…１２により接合され、水平方向
にレーザ光１３を出射する。

レーザ光１４は半透過反射膜って反射されて、対物レン
ズを介して光ディスク記録面へ照射され、情報の記録ま
たは再生を行なう。光ディスク記録面からの戻り光は、
半透過反射膜９を透過してプリズム８内に入射され、一
部が薄膜５，６を透過して光検出部１で受光される。ま
た、残りの部分が薄膜５，６で反射されて、さらに全反
射鏡］０で反射されて薄膜５を透過して光検出部２で受
光される。

ジャストフォーカス状態では、戻り光は全反射鏡１０の
位置で焦点を結ぶように設定されている。

この時光検出器１．２上での受光スポットの大きさは等
しい。ジャストフォーカス状態からずれると、戻り光の
焦点位置が前反射鏡１ｏの位置がらずれるので、光検出
器１，２上での受光スポットの大きさは異なってくる。

したがって、各受光スポットの大きさを分割構造の光検
出器１，２の受光信号から検出してそれら差を取ること
により、フォーカスエラーを検出することができる。

〔発明が解決しようとする課題〕

前記第２図の光ヘッド装置では戻り光を２個の検出部１
，２に振り分けるために、半導体基板３上に２層の薄膜
５，６やプリズム８上に全反射膜１０を形成する必要が
あった。このため、製作コストがかさみ、高価となって
いた。

この発明は、前記従来の技術における欠点を解決して、
簡易な構成の光ヘッドを具えた光ディスク装置を提供し
ようとするものである。

〔課題を解決するための手段〕

この発明の光ディスク装置は、光ヘッド装置が情報記録
または情報再生を行なうためのレーザ光を発生ずるレー
ザ素子と、このレーザ素子からのレーザ光を記録媒体側
へ反射させるハーフミラと、前記記録媒体からの戻り光
を前記ハーフミラ−を通して入射する位置に配設されて
、結晶の光軸が入射レーザ光を偏向方向に対して斜めの
方向に形成された一軸性複屈折板と、この一軸性複屈折
板を透過して分離された常光を受光する常光用受光素子
と、前記一軸性複屈折板を透過して分離された異常光を
受光する異常光用受光素子とを具備するものである。

そして、請求項１記載の光ヘッド装置はフォーカスエラ
ー検出に特徴を有するもので、前記光ヘッド装置は、前
記常光用受光素子と前記異常光用受光素子が前記常光と
前記異常光の収束位置の間に配設されるとともに、これ
ら両受光素子が受光スポットの大きさに対応した比率で
受光信号を出力するように分割構造とされている。

そして、前記常光用受光素子および前記異常光用受光素
子の各分割部分の受光信号から受光スポットの大きさを
検出してフォーカスエラーを検出するフォーカスエラー
検出回路を具備している。

また、請求項２記載の光ディスク装置は、請求項］のも
のにトラッキングエラー検出を（＝１加した点に特徴を
有するもので、前記常光用受光素子または前記異常光用
受光素子の分割方向がトラッキングエラーによる当該受
光素子上の受光スポットの移動により受光量の比率を変
化する方向に形成されており、これら分割部分の受光信
号から受光スポット位置を検出してトラッキングエラー
を検出するトラッキングエラー検出回路を具備している
。

さらに、請求項３記載の光ディスク装置は、特に光磁気
ディスク装置における信号読取に特徴を有するもので、
前記常光用受光素子の受光信号と前記異常光用受光素子
の受光信号の大小関係を検出して前記光磁気記録媒体上
の記録信号を再生する再生処理回路を具備している。

〔作　用〕

請求項１記載の光ディスク装置によれば、常光と異常光
の集束位置がずれることを利用して、これら集束位置の
間に常光用受光素子と異常光用受光素子を配設して、フ
ォーカスエラーに応じて両受光素子上の受光スポットの
大きさが互いに逆の関係に変化するようにしている。そ
して、各受光素子を分割構造として、受光スポットの大
きさに対応した比率で受光信号を出力し、フォーカスエ
ラー検出回路で各分割部分の受光信号から受光スポット
の大きさを検出してフォーカスエラーを検出している。

また、請求項２記載の光ディスク装置によれば、請求項
１記載の構成において、Ｉ・ラッキングエラによる各受
光素子上の受光スポットの移動により受光量の比率が変
化する方向に各受光素子の分割方向を定めることにより
、トラッキングエラ検出回路は分割部分の受光信号から
受光スポット位置を検出してトラッキングエラーを検出
している。

また、請求項３記載の光ディスク装置によれば、光磁気
記録媒体記録面におけるカー回転により両受光素子での
受光量が変化することを利用して、再生処理回路で両受
光信号の大小関係を検出して光磁気記録媒体上に記録信
号の読取が行なわれる。

以上のように、この発明によれば、一軸性複屈折板にて
ディスク戻り光を異常光と常光に分離して、これらの関
係によりエラー検出や信号読取りを行なうことができる
ので、前記第２図の従来装置のようにディスク戻り光を
振り分けるための反射率調整用の２層の薄膜５．６や全
反射膜］０を形成する必要がなくなり、製作が容易にな
り、安価に構成することができる。

〔実施例〕

この発明の実施例を以下説明する。

（実施例１） この発明において用いられる光ヘッド装置を光磁気ディ
スク用に構成した一実施例を第１図に断面図で示す。こ
の光ヘッド装置２０は、半導体基板２２、一軸性複屈折
板２４、サブマウント板２６が積層され、接着剤等によ
り接合されている。

サブサウンド板２６には窓部２８が形成され、レーザダ
イオード３０がその光軸を斜め下方に向けてかつ発射レ
ーザ光の直線偏向方向が紙面に垂直になるように配設さ
れている。窓部２８における一軸性複屈折板２４の上面
にはハーフミラ−膜３２が形成されている。レーザダイ
オード３０から発射されるレーザ光３４はハーフミラ−
膜３２で反射されて、光磁気ディスク記録面に照射され
、その戻り光３４′は、ハーフミラ−膜３２を透過して
一軸性複屈折板２４に入射される。

一軸性複屈折板２４は、Ｔｉ０３（ルチル）等の単結晶
で構成される（第１図では正結晶を用いた例を示してい
る）。その結晶の光軸Ｃは、第３図（ａ）に窓部２８の
ゝ［面図として示すように、入射レーザ光３４′のｌｙ
−回転を生じてない時の偏向方向りに対し略々４５°傾
斜している。これにより、入射レーザ光３４′は常光３
４ａと異常光３４ｂに分離される。また、結晶の光軸Ｃ
は、第３図（ｂ）に窓部２８の正面図で示すように、一
軸性複屈折板２４の入射面２４ａが法線方向Ｅに対して
略々４５°傾斜している。これにより、常光３４ａと異
常光３４ｂは異なる方向に屈折して収束する。

レーザダイオード３０から発射されるレーザ光３４の一
部は、そのままハーフミラ−膜３２を通過して一軸性複
屈折板２４で常光３４ｃと異常光３４ｄに分離されて、
異なる方向に屈折して収束する。

半導体基板２２上には、ＡＰＣ用フォトディテクタ３６
、常光用フォ）・ディテクタ３８、異常光用フォトディ
テクタ４０が形成されている。

ＡＰＣ用フォトディテクタ３６ではレーザ光３４の常光
３４ｃおよび異常光３４ｄを共通に受光し、雷光用フォ
トディテクタ３８および異常光用フォトディテクタ４０
では、戻り光３４′の常光３４ａおよび異常光３４ｂを
それぞれ受光する。

フォトディテクタ３６，３８．４０の配設例を第４図に
平面図で示す。ＡＰＣ用フォトディテクタ３６は連続し
た受光面で構成され、常光３４ｃ１異常光３４ｄを共通
に受光する。常光用フォトディテクタ３８は受光面が３
８ａ〜３８ｄに分割さら受光信号が出力される。異常光
用フォトディテクタ４０は受光面が４０ａ〜４０ｄに分
割され、異常光３４ｂが照射されてそのスポットＳ２の
大きさに応じた比率で各受光面４０ａ〜４０ｄから受光
信号が出力される。

後述するように、ＡＰＣ用フォトディテクタ３６の受光
信号はレーザ光出力制御用モニタ信号として利用される
。また、常光用フォトディテクタ３８および異常光用フ
ォトディテクタ４０の受光信号は、記録信号読取り、フ
ォーカスエラー検出、トラッキングエラー検出に利用さ
れる。

第１図の光ヘッド装置２０は、フォトディテクタ３６，
３８．４０の組合せを縦横に配した半導］　２ 体基板ウェハ、ハーフミラ−膜３２を縦横に配した一軸
性複屈折板２４バ、窓部２８を縦横に形成して各窓部２
８にレーザダイオード３０を配設したサブサウンド板ウ
ェハを接着剤等で接合して、これを縦横に切断すること
により一度に多数の光ヘッド装置を製造することができ
る。

第１図の光ヘッド装置２０によれば、レーザダイオード
３０から発射されたレーザ光３４は、部がハーフミラ−
膜３２を透過して、一軸性複屈折板２４で常光３４ｃと
異常光３４ｄに分離されてＡＰＣ用フォトディテクタ３
６で受光される。

また、レーザ光３４の残りの部分はハーフミラ−膜３２
で反射されて、光磁気ディスクの記録面に照射される。

光磁気ディスクからの戻り光３４′は、ハーフミラ−膜
３２を透過して一軸性複屈折板２４で常光３４ａと異常
光３４ｂに分離されて、常光用フォトディテクタ３８、
異常光用フォトディテクタ４０でそれぞれ受光される。

光磁気ディスクからの戻り光３４′は、第５図（ａ）に
示すように（第１図矢印Ｏ方向から見た状態で示す。）
光磁気ディスク上の照射位置の磁化の方向（つまり記録
データ）に応じてカー回転により偏向方向が照射光３４
に対して±θｋまたは一部に回転する。そして、この戻
り光３４′は、一軸性複屈折板２４に入射されると、カ
ー回転の方向に応じて第５図（ｂ）、（ｃ）に示す状態
が得られる。すなわち、一軸性複屈折板２４に入射した
戻り光３４′はＣ軸（結晶光軸）方向への投影（異常光
３４ｂ）とＣ軸に直角な方向への投影（常光３４ａ）の
長さで決まる光量に分解されるので、光磁気ディスク上
の記録信号によりカー回転（±θｋ）を受けた反射光３
４′は、互いに異なる光量を持った常光３４ａおよび異
常光３４ｂとなる。したがって、フォトディテクタ３８
，４０の受光信号の差動信号を取り出すことにより、光
磁気ディスク上の記録信号を読み取ることができる。

ところで、常光３４ａと異常光３４ｂを別々のフォトデ
ィテクタ３８．４０で受光するためには、常光３４ａと
異常光３４ｂが適当な分離幅Ｓ（第１図）を持た。なけ
ればならない。この分離幅Ｓは次式で与えられる。

２　ｏ２　　　°“°゛””′ψ　（゛）一 ここで、ｔニー軸性複屈折板２４の厚さψニー軸性複屈
折板２４の入射面２４ａの法線ＥとＣ軸とのなす角 ａ：１／異常光屈折率 ｂ：１／常光屈折率 ２　２．２ Ｃ−ａ　　ｓ＋ｎ　　　ψ＋ｂ２ＣＯ８ψしたがって、
ψが０°、９０°以外の斜めの角度であれば、常光３４
ａと異常光３４ｂは分離されることになる。そして、ψ
−４５°のとき分離幅Ｓは最大となり、このとき必要な
分離幅Ｓを得るための一軸性複屈折板２４の厚さｔが最
小となり、最も小型化できる。

次に、フォトディテクタ３８．４０によるフォーカスエ
ラー検出方法の一例について説明する。

第６図に示すように、光磁気ディスク記録面４２からの
戻り光３４′は、一軸性複屈折板２４内て常光３４ａと
異常光３４ｂに異なる角度で分離し、位置Ｒ，Ｑでそれ
ぞれ収束する。一軸性複屈折板２４の入射面２４ａから
各収束点Ｒ，Ｑまでの垂直方向距離は異なるものとなる
。そして、光磁気ディスク記録面４２が４２′の位置に
移動すると、常光３４ａおよび異常光３４ｂは点線で示
すように変化し、収束点Ｒ，ＱはＲ’　、Ｑ’で示すよ
うにに方に移動する。光磁気ディスク記録面４２が逆方
向に移動すると、収束点Ｒ，Ｑは下方に移動する（ディ
スクの移動に対し、収束点Ｒ’　、Ｑ’はレヘルΩを越
えないように設工１する）。

そこで、常光用フ第１・ディテクタ３８、異常光用フォ
トディテクタ４０を第６図に二点鎖線ｇで示ずようにジ
ャストフォーカス時の収束点Ｒ，Ｑの中間レベルに配置
する。このようにすると、ジャストフォーカス位置では
フォトディテクタ３８゜４０上のスポラ＋−Ｓ、Ｓ　　
の大きさは第４図に１・　　　　２ 実線で示すようにほぼ等しくなる。また、第６図に点線
で示すフォーカスエラーが生じた状態では、フォトディ
テクタ３８．４０上のスポットＳ１Ｓ２は第４図に点線
で示すようにスポットＳ１が大きく、スポットＳ２が小
さくなる。フォーカスエラ一方向が逆に生じた場合はス
ポットＳ１が小さく、スポットＳ２が大きくなる。

したがって、各フォトディテクタ３８．４０の各分割位
置の受光信号を演算することにより、フォーカスエラー
を検出することができる。

トラッキングエラーは、第４図において矢印Ｆ方向をト
ラックに平行な方向とすれば、プッシュプル法により、
例えばフォトディテクタ３８の各分割位置の受光信号を
演算することにより検出することができる。

フォトディテクタ３６，３８．４０の受光信号の処理回
路の一例を第７図に示す。ＡＰＣ用フォトディテクタ３
６の受光信号は、アンプ４４を介してＡＰＣ用モニタ信
号として出力されて、レーザ光出力制御に利用される。

常光用フォトディテクタ３８の各分割部分３８ａ〜３８
ｄの受光信号のうち、外側どうしは加算器４６で加算さ
れ、内側どうしは加算器４９て加算される。これら加算
出力は引算器４８で引算されて、常光スポットＳ１の大
きさ（すなわち）Ａ−力スエラーの大きさ）に応じた信
号が得られる。

同様に異常光用フォトディテクタ４０の各分割部分４０
ａ〜４０ｄの受光信号のうち、外側どうしは加算器５０
で加算され、内側どうしは加算器５２で加算される。こ
れら加算出力は引算器５４で引算されて、異常光スポッ
トＳ２の大きさ（すなわちフォーカスエラーの大きさ）
に応じた信号が得られる。

引算器４８．５４の出力は引算器５６で引算されてフォ
ーカスエラーが検出される。

フォトディテクタ３８の各分割部分３８ａ〜３８ｄの受
光信号のうち右半分の２つの信号は加算器５８て加算さ
れる。また左半分の２つの信号は加算器６０て加算され
る。加算器５８．６０の出力は引算器６２て引算されて
スポットＳ１の片寄りすなわちトラッキングエラーが検
出される。

なお、トラッキングエラーの検出はフォトディテクタ４
０側で行なうこともできる。

］　８ フォトディテクタ３８の外側分割部分加算信号および内
側分割部分加算信号は加算器６４で加算されて、フォト
ディテクタ３８全体の常光受光信号の総和が検出される
。また、フォトディテクタ４０の外側分割部分加算信号
および内側分割部分加算信号は加算器６６で加算されて
、フォトディテクタ４０全体の異常光受光信号の総和が
検出される。常光３４ａと異常光３４ｂのレベルは前記
第５図（ｂ）、（Ｃ）に示すようにカー回転±θにの方
向により変化するので、これら両受光信号を引算器６８
で引算することにより、カー回転上θにの方向に応じた
極性の信号が得られ、ディスク記録情報の読取りが行な
われる。

（実施例２） 前記第１図の光ヘッド装置２０に比べてさらに小型軽量
化、低コスト化を図ったこの発明で用いられる光ヘッド
装置の他の実施例を説明する。

前述のように、前記第１図の実施例では、常光３４ａと
異常光３４ｂの分離幅Ｓは前記第（１）式で求められる
。前記第（１）式によれば、ψ＝４５°としたときに最
大分離幅が得られ、その時一軸性複屈折板２４（ルチル
板等）の厚さｔと分離幅Ｓとの関係は第８図に示すよう
になる。これによれば、分離幅Ｓ′を２００μｍ得るに
はψ＝４５°に設定して、ｔ　＝　２　ｍの板厚が必要
となる。

より大きく分離幅Ｓを得るにはより大きな板厚が必要と
なる。

そこで、ここではψ＝４５°に設定することなく、小さ
な板厚ｔてより大きな分離幅Ｓが得られる構造を提１１
ｊする。第９図に示したのがその構造例で、前記第１図
の光ヘッド装置２ｏと共通する部分には同一の符号を用
いる。この光ヘッド装置７０は一軸性複屈折板２４（例
えばルチル板）を薄くかつその断面がくさび形状となる
ように構成し、この複屈折板２４とフォトディテクタ３
６゜３８．４０との間に一軸性複屈折板２４よりも屈折
率の小さな等方性媒体７２を配置したものである。等方
性媒体７２としては、例えば空気層を用いることかでき
る。

半導体基板７２上には、フォトディテクタ３６゜３８．
４０が配設されている。半導体基板７２上にはサブマウ
ント板２６が固定され、サブマウント板２６には一軸性
複屈折板２４が固定されている。

サブマウント板２６には窓部２８が形成され、レーザダ
イオード３０がその光軸を斜め下方に向けてかつ発射レ
ーザ光の直線偏向方向が紙面に垂直になるように配設さ
れている。窓部２８における一軸性複屈折板２４の上面
にはハーフミラ−膜３２が形成されている。また、下面
には無反射コティング３３が施されている。レーザダイ
第１・３０から発射されるレーザ光３４は一部がハフミ
ラー膜３２で反射されて、光磁気ディスク記録面に照射
され、その戻り光３４′は、ハーフミラ−膜３２を透過
して一軸性複屈折板２４に入射される。

一軸性複屈折板２４は、ルチル等の単結晶で構成される
（第９図では正結晶を用いた例を示している）。その結
晶の光軸Ｃは、入射レーザ光３４′のカー回転を生じて
ない時の偏向方向りに対し略々４５°傾斜している。こ
れにより、入射レザ光３４′は常光３４ａと異常光３４
ｂに分離される。また、結晶の光軸Ｃは、一軸性複屈折
板２４の入射面２４ａが法線方向Ｅに対して略々直角と
なっている。常光３４ａと異常光３４ｂは異なる方向に
屈折して収束する。

レーザダイオード３０から発射されるレーザ光３４の一
部は、そのままハーフミラ−膜３２を通過して一軸性複
屈折板２４で常光３４ｃと異常光３４ｄに分離されて、
異なる方向に屈折して収束する。

半導体基板２２上には、ＡＰＣ用フォトディテクタ３６
、常光用フ第１・ディテクタ３８、異常光用フォトディ
テクタ４０が形成されている。ＡＰＣ用フォトディテク
タ３６ではレーザ光３４の常光３４ｃおよび異常光３４
ｄを共通に受光し、常光用フォトディテクタ３８および
異常光用フォトディテクタ４０では、戻り光３４′の常
光３４ａおよび異常光３４ｂをそれぞれ受光する。

フォトディテクタ３６，３８．４０は、例えば前記第４
図と同様に配設することができる（たたし、常光用３８
と異常光用４０とは互いに逆の位置になる）。

第９図の光ヘッド装置７０によれば、レーザダイオード
３０から発射されたレーザ光３４は、部がハーフミラ−
膜３２を透過して、一軸性複屈折板２４て常光３４Ｃと
異常光３４ｄに分離されて等方性媒体７２を介してＡＰ
Ｃ用フォトディテクタ３６で受光される。

また、レーザ光３４の残りの部分はハーフミラ−膜３２
で反射されて、光磁気ディスクの記録面に照射される。

光磁気ディスクからの戻り光３４′は、ハーフミラ−膜
３２を透過して一軸性複屈折板２４で常光３４ａと異常
光３４ｂに分離されて、等方性媒体７２を介して常光用
フォトディテクタ３８、異常光用フォトディテクタ４０
でそれぞれ受光される。

光磁気ディスクからの戻り光３４′は、第１０図（ａ）
に示すように（第９図矢印Ｏ方向から見た状態で示す。

）光磁気ディスク上の照射位置の磁化の方向（つまり記
録データ）に応じてカー回転により偏向方向が照射光３
４に対して＋θｋまたは−０に回転する。そして、この
戻り光３４′は、一軸性複屈折板２４に入射されると、
カー回転の方向に応じて第１０図（ｂ）、（Ｃ）に示す
状態が得られる。すなわち、一軸性複屈折板２４に入射
した戻り光３４′はＣ軸（結晶光軸）方向への投影（異
常光３４ｂ）とＣ輔に直角な方向への投影（常光３４ａ
）の長さで決まる光量に分解されるので、光磁気ディス
ク上の記録信号によりカー回転（±θｋ）を受けた反射
光３４′は、互いに異なる光量を持った常光３４ａおよ
び異常光３４ｂとなる。したがって、フォトディテクタ
３８．４０の受光信号の差動信号を取り出すことにより
、光磁気ディスク上の記録信号を読み取ることができる
。

第９図の構成によれば、一軸性複屈折板２４て分離され
た常光３４ａと異常光３４ｂは、一軸性複屈折板２４よ
りも屈折率の低い等方性媒体７２を通過するのて一軸性
複屈折板２４のくさび角θが大きくなる。一軸性複屈折
板２４の板厚は第１図のものに比べて１／］０以下にで
きるので、定Ｂ１の一軸性複屈折祠結晶インゴットから
切り出せる枚数を多くとることができ、単価を下げて低
コスＩ・化することができ、また、これにより第１図の
構造に比べてより小型、軽量化することができる。

第９図における各フォトディテクタ３６，３８゜４０の
受光信号の処理回路は前記第７図の処理回路をそのまま
用いることかできる。なお、第９図の構成におけるフォ
ーカスエラーによる常光３４ａおよび異常光３４ｂの収
束位置の変動を第１１図に示す。光磁気ディスク記録面
４２からの戻り光３４′は一軸性複屈折板２４で常光３
４ａと異常光３４ｂに分離され、さらに等方性媒体７２
に入射される境界面で異なる角度に分離されて収束点Ｒ
，Ｑでそれぞれ収束する。収束するまでの距離ＰＲ，Ｐ
Ｑは、一軸性複屈折板２４のくさび角θと入射境界面Ｉ
（から測ったレーザダイオード３０の高さＨとて決まる
。したがって、境界面Ｇより各収束点Ｒ，Ｑまての垂直
方向距離は第１１図に示すように異なり、その中間位置
ｇにフオ］・ディテクタ３８．４０を配置する。これに
より、フォーカスエラーが生じると収束点はＲ’　、Ｑ
’のように変化し、フォトディテクタ３８．４０上のス
ポット面積が変化し、受光信号の演算によりフォーカス
エラーが検出される。

〔変更例〕

前記各実施例では、この発明を光磁気ディスク用に構成
した場合について説明したが、ＣＤ用等に構成すること
もてきる。この場合、フ第１・ディテクタを例えば前記
第４図と同様に構成して、信号読取は例えばフォトディ
テクタ３８の各分離部分受光信号の総和をとって検出す
ることかできる。

フォーカスエラーやトラッキングエラーは前記第７図の
回路をそのまま用いて検出することができる。

また、第９図の実施例において等方性媒体７２は空気層
以外にも一軸性複屈折板２４よりも屈折率の小さな各種
媒体（真空層も含む）を用いることができる。

〔発明の効果〕

以上説明したように、この発明によれば、一軸性複屈折
板にてディスク戻り光を異常光と常光に分離して、これ
らの関係によりエラー検出や信号読取りを行なうことが
できるので、前記第２図の従来装置のようにディスク戻
り光を振り分けるための反射率調整用の２層の薄膜５．
６や全反射膜１０を形成する必要がなくなり、製作が容
易になり、安価に構成することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明で用いられる光ヘッド装置の一実施
例を示す断面図である。 第２図は、従来における光ヘッド装置を示す断面図であ
る。 第３図は、第１図における窓部２８の平面図および正面
図である。 第４図は、第１図におけるフォトディテクタの配置を示
す平面図である。 第５図は、第１図における矢印Ｏ方向から見たレーザ光
の偏向方向を示す図である。 第６図は、第１図におけるフォーカスエラーによる常光
、異常光収束位置の移動を示す正面図である。 第７図は、第１図における各フォトディテクタの受光信
号の処理回路の一例を示すブロック図である。 第８図は、第１図における一軸性複屈折板２４の厚さｔ
と常光、異常光の分離幅Ｓの関係を示す線図である。 第９図は、この発明で用いられる光ヘッド装置の他の一
実施例を示す断面図である。 第１０図は、第９図における矢印Ｏ方向から見たレーザ
光の偏向方向を示す図である。 第１１図は、第９図におけるフォーカスエラーによる常
光、異常光収束位置の移動を示す図である。 ２０．７２・・・光ヘッド装置、２４・・・一軸性複屈
折板、２４ａ・・・入射面、３０・・・レーザダイオー
ド（レーザ素子）、３２・・・ハーフミラ−膜（）＼−
フミラー）、３４々レーザ光、３４′・・・戻り光（入
射レーザ光）、３４ａ・・・常光、３４ｂ・・・異常光
、３８・・・常光用フ第１・ディテクタ（常光用受光素
子）、４０・・・異常光用フ第１・ディテクタ（異常光
用受光素子）、４６，４８．４９，５０．５２゜５４．
５６・・・フォーカスエラー検出回路、５８゜６０．６
２・・・トラッキングエラー検出回路、４６゜４９．５
０，５２．６４，６６．６８・・・再生処理回路、７２
・・・等方性媒（本、Ｃ・・・結晶の光軸。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）情報記録または情報再生を行なうためのレーザ光
   を発生するレーザ素子と、このレーザ素子からのレーザ
   光を記録媒体側へ反射させるハーフミラーと、前記記録
   媒体からの戻り光を前記ハーフミラーを通して入射する
   位置に配設されて、結晶の光軸が入射レーザ光を偏向方
   向に対して斜めの方向に形成された一軸性複屈折板と、
   この一軸性複屈折板を透過して分離された常光を受光す
   る常光用受光素子と、前記一軸性複屈折板を透過して分
   離された異常光を受光する異常光用受光素子と を具え、前記常光用受光素子と前記異常光用受光素子が
   前記常光と前記異常光の収束位置の間に配設されるとと
   もに、これら両受光素子が受光スポットの大きさに対応
   した比率で受光信号を出力するように分割構造とされて
   いる光ヘッド装置と、前記常光用受光素子および前記異
   常光用受光素子の各分割部分の受光信号から受光スポッ
   トの大きさを検出してフォーカスエラーを検出するフォ
   ーカスエラー検出回路と を具備してなる光ディスク装置。
2. （２）前記常光用受光素子または前記異常光用受光素子
   の分割方向がトラッキングエラーによる当該受光素子上
   の受光スポットの移動により受光量の比率が変化する方
   向に形成されており、これら分割部分の受光信号から受
   光スポット位置を検出してトラッキングエラーを検出す
   るトラッキングエラー検出回路 を具備してなる請求項１記載の光ディスク装置。
3. （３）情報記録または情報再生を行なうためのレーザ光
   を発生するレーザ素子と、このレーザ素子からのレーザ
   光を光磁気記録媒体側へ反射させるハーフミラーと、前
   記光磁気記録媒体からの戻り光を前記ハーフミラーを通
   して入射する位置に配設されて、結晶の光軸が入射レー
   ザ光を偏向方向に対して斜めの方向に形成された一軸性
   複屈折板と、この一軸性複屈折板を透過して分離された
   常光を受光する常光用受光素子と、前記一軸性複屈折板
   を透過して分離された異常光を受光する異常光用受光素
   子とを具えた光ヘッド装置と、前記常光用受光素子の受
   光信号と前記異常光用受光素子の受光信号の大小関係を
   検出して前記光磁気記録媒体上の記録信号を再生する再
   生処理回路と を具備してなる光ディスク装置。