JPH02183125A - 偏光検出器及び光学ヘッド - Google Patents

偏光検出器及び光学ヘッド

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JPH02183125A
JPH02183125A JP322189A JP322189A JPH02183125A JP H02183125 A JPH02183125 A JP H02183125A JP 322189 A JP322189 A JP 322189A JP 322189 A JP322189 A JP 322189A JP H02183125 A JPH02183125 A JP H02183125A
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JP
Japan
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polarized light
optical head
detector
light
diffraction grating
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Pending
Application number
JP322189A
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English (en)
Inventor
Osamu Yokoyama
修 横山
Shoichi Uchiyama
正一 内山
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Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は入射する光に含まれる偏光成分を分離して各々
の強度を検出する偏光検出器、及びその偏光検出器を利
用した光学ヘッド、特に記録媒体に記録されている情報
を偏光回転の方向によって読み出す光磁気記録用の光学
ヘッドの構造に関する。
[従来の技術] 従来、光の偏光成分を分離して検出する場合は、第6図
に示すように、直角プリズム602及びその斜面に形成
された誘電体多層膜603からなる偏光ビームスプリッ
タで入射光601の偏光のP成分、S成分を分けて、各
々をフォトダイオード604で検出していた。また、偏
光ビームスプリッタのかわりに複屈折性を有する材料で
P成分、S成分を分離していた。
一方、従来の光磁気記録用の光学ヘッドでは、記録媒体
での偏光の回転方向を検出するために、上述の偏光ビー
ムスプリッタとフォトダイオードの組合せ、あるいは、
特開昭63−32743にあるように回折格子を検光子
として用いて偏光の回転を検出していた。
[発明が解決しようとする課題] しかし、前述の従来の偏光成分検出系には、体櫃が大き
くかつ高価な偏光ビームスプリッタや複屈折材料が用い
られているという問題点があった。
また、前述の偏光ビームスプリッタや複屈折材料を検出
系に利用した光学ヘッドでは、光学ヘッドを小型化でき
ない、あるいは低コスト化できないという問題点があっ
た。また、回折格子を検光子として用いた光学ヘッドで
は、回折格子に入射した光のうち、透過軸以外の電界成
分はフォトダイオードで検出されないため損失となり、
光学ヘッドとしての出力が小さいという問題点を有する
そこで本発明はこのような問題点を解決するもので、そ
の目的とするところは、分割されたフォトダイオードと
空間周波数の高い回折格子を組み合わせることによって
、薄型の偏光検出器を構成することにある。
また、前述の薄型化した偏光検出器を用いて、出力の十
分数れる小型で軽量な光学ヘッドを提供するところにあ
る。
【課題を解決するための手段〕
本発明の偏光検出器は、回折格子と、該回折格子の格子
の方向と直交する方向に分割された光検出器とから成る
ことを特徴とする。
また、本発明の光学ヘッドは、前記偏光検出器を用いた
ことを特徴とする。
[作用] 回折格子の周期が光の波長よりも小さくなると、その回
折効率に、入射光の偏光方向に対して大きな差が現われ
てくる。この特性については、1984年7月のrアプ
ライド オプテイクス(Applied 0ptics
)」第23巻、第10号、第2303−2310頁に掲
載されたに、Yokomori著の「高い回折効率を持
つ誘電体表面レリーフ格子 (Dielectric 
5urface−relief Gratings w
ith HighDiffraction Effic
iency)」に述べられティる。
例えば、第1図に示すように周期0.44μm程度の回
折格子104が表面に形成されている透明基板103に
0.78μmの波長の光105を入射させると、入射面
に垂直な電界成分を持つS偏光はほとんどが1次回折光
として回折される。
一方、入射面に平行な電界酸pを持つP偏光はほとんど
回折されずに屈折だけを受けて透過する。
従って、S偏光を受けるフォトダイオード101と、P
偏光を受けるフォトダイオード102を配置しておけば
、P偏光、S偏光を分離して、それぞれの成分の強度を
検出できる偏光検出器を構成することができる。
一方、光磁気記録用の光学ヘッドでは、偏光の回転をP
偏光とS偏光の出力の差動から検出しているために、上
記の偏光検出器において、P偏光を受けるフォトダイオ
ードの出力とS偏光を受けるフォトダイオードの出力の
差動信号から光磁気信号を得ることができる。
以下、実施例により本発明の詳細を示す。
[実施例] 実施例1 第1図は本発明の偏光検出器の主要断面図、第2図はそ
の斜視図である。透明基板103は厚み0.5mmのガ
ラスであり、その表面に周期0゜44μmの回折格子1
04が形成されている。回折格子104は、透明基板1
04の表面にコーティングされたフォトレジストをHe
 −Cdレーザを用いた2光束干渉で露光し、イオンエ
ツチングすることによって形成できる。境界106で2
分されたSiフォトダイオード101.102の表面に
透明基板103が接着されている。
この偏光検出器への波長0.78μmの入射光105の
成分のうち、電界の振動面が入射面に平行な成分Pはほ
とんど回折されることなく基板表面で屈折を受けてフォ
トダイオード102へ入射する。一方、電界の振動面が
入射面に垂直な成分Sは回折を受けてフォトダイオード
101へ入射する。
従って、フォトダイオード101と102の出力の差を
とると偏光成分の差を検出することができる。
なお、本実施例ではフォトダイオード101.102と
して、透明基板103とは別に形成されたものを用いた
が、非晶質Siから構成されるフォトダイオードなどを
透明基板103に直接形成しても良い。
実施例2 第3図は本発明の光学ヘッドの第1の実施例を示す主要
構成断面図である。
半導体レーザチップ302、ヒートシンク303、及び
実施例1で構造を説明した偏光検出器301a、301
bが窓305を持つパッケージ304内に配置されてい
る。
半導体レーザチップ302から放射された光306は、
格子レンズ307を透過しコリメータレンズ308で平
行光にされ、対物レンズ309でディスク基板311に
形成された記録膜312に集光される。記録膜312の
情報を含んだ反射光は再び対物レンズ309、コリメー
タレンズ308を通って格子レンズ307に入射する。
格子レンズ307は回折格子からなり、記録膜312か
らの戻り光の±1次回折光314を偏光検出器301a
、301bへ導くように格子パターンが形成されている
対物レンズ309は対物レンズによって形成される光ス
ポットが常に記録膜312上の所望の位置にあるように
7クチユエータ310で移動させられる。記録膜への情
報の書き込み、消去は電磁石313によって発生する磁
界と照射されるレーザ光によって行なわれる。
第4図は、半導体レーザチップ302゛と偏光検出器3
01a、301bを格子レンズ307側からみた図であ
る。半導体レーザチップ302の接合401の方向は、
偏光検出器301a、301bの表面に形成されている
回折格子104の格子溝の方向と45″をなすように配
置されている。
記録1p1312に記録されている信号に対応して記録
111312からの反射光の偏光面が回転するのである
が、偏光検出器を構成するフォトダイオード101a、
と101bの出力の和からフォトダイオード102aと
102bの出力の和を引くことによって記録膜からの反
射光の偏光の回転方向を検出することができ、情報を再
生することができる。
偏光検出器301a、301bでは、格子レンズ307
による回折光306に含まれるP成分とS成分の両方を
フォトダイオードで検出するために、フォトダイオード
の前に偏光板を置いてその偏光板の透過軸方向の成分だ
けを検出し、透過軸に直交する成分は損失となる検出方
法に比べて出力が約2倍増大する。
なお、偏光検出器を構成する回折格子の格子のパターン
は直線である必要はなく、曲線群から成ってもよい。こ
の場合フォトダイオードの境界線も直線でなくても良い
対物レンズ309は、対物レンズの作る光スポットが記
#!膜上の所望の位置からずれていることを示すエラー
信号・によって7クチユエータ310で駆動されるが、
フォーカスエラー信号はウオブリング法、 トラッキン
グエラーは記録膜に記録されている情報によって得るこ
とができる。フォーカスエラー信号は、格子レンズ30
7によって回折光に生じる非点収差、あるいはナイフェ
ツジ法を利用して得ることもできる。この場合はフォト
ダイオードをさらに分割する必要がある。
本実施例では半導体レーザからの光をコリメータレンズ
と対物レンズを通して記録膜に集光しているが、コリメ
ータレンズと対物レンズを一体化した有限系のレンズを
用いて半導体レーザからの光を集光してもよい。
実施M3 第5図は本発明の光学ヘッドの他の実施例を示す主要構
成断面図である。コリメータレンズ3゜8からディスク
基板311側は実施例2と同様の構成である。
格子レンズ501は一方の回折光502の回折効率を上
げた構成になっており、従って偏光検出N301も1個
で済む。
以上実施例を述べたが、本発明は以上の実施例に限定さ
れるものではない。
[発明の効果] 以上述べたように本発明によれば、高い空間周波数を持
つ回折格子と分割されたフォトダイオードとを一体化す
ることによって、偏光成分を分離して各々の成分を検出
することができる薄型の偏光検出器が構成できるという
効果を有する。
また、この様な構成の偏光検出器を光学ヘッドの検出器
として用いることによって、小型でかつ信号検出の出力
が大きい光学ヘッドを構成することができるという効果
を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の偏光検出器の主要断面図、第2図はそ
の斜視図。第3図は本発明の光学ヘッドの第1の実施例
を示す主要構成断面図。第4図は本発明の光学ヘッドの
第1の実施例において、半導体レーザチップと偏光検出
器の配置を示す平面図。第5図は本発明の光学ヘッドの
他の実施例を示す主要構成断面図。第6図は従来の偏光
を分離して検出する構成を示す図。 101、Iota、101b ・・・フォトダイオード 102.102a、102b ・・・フォトダイオード 103 ・・・透明基板 104 ・・・回折格子 105 ・・・入射光 106 ・・・境界 301a、301b  −−−偏光検出器302 ・・
・半導体レーザチップ ・・・ ヒートシンク ・・・パッケージ ・・・窓 ・・・放射光 501 ・・・格子レンズ コリメータレンズ 対物レンズ アクチュエータ ディスク基板 記録膜 電磁石 02 ・・・回折光 端子 接合 出願人 セイコーエプソン株式会社 代理人弁理士 上櫛雅誉 (他1名) 307. 308  ・・・ 309  ・・・ 310  ・・・ 311  ・・・ 312  ・・・ 313  ・・・ 314、 5 315  ・・・ 401  ・・・ 第4図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)回折格子と、該回折格子の格子の方向と直交する
    方向に分割された光検出器とから成ることを特徴とする
    偏光検出器。
  2. (2)請求項1記載の偏光検出器を用いたことを特徴と
    する光学ヘッド。
JP322189A 1989-01-10 1989-01-10 偏光検出器及び光学ヘッド Pending JPH02183125A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03152428A (ja) * 1989-11-08 1991-06-28 Sharp Corp 偏光検出装置
WO1999024852A1 (fr) * 1997-10-16 1999-05-20 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Dispositif de separation de la polarisation d'elements d'hologramme, dispositif d'eclairage par polarisation et affichage d'image
JPH11328713A (ja) * 1998-05-14 1999-11-30 Hideo Maeda 方向性回折格子

Cited By (3)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03152428A (ja) * 1989-11-08 1991-06-28 Sharp Corp 偏光検出装置
WO1999024852A1 (fr) * 1997-10-16 1999-05-20 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Dispositif de separation de la polarisation d'elements d'hologramme, dispositif d'eclairage par polarisation et affichage d'image
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