JPH04372892A - 放射線像撮像装置 - Google Patents

放射線像撮像装置

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Publication number
JPH04372892A
JPH04372892A JP3151555A JP15155591A JPH04372892A JP H04372892 A JPH04372892 A JP H04372892A JP 3151555 A JP3151555 A JP 3151555A JP 15155591 A JP15155591 A JP 15155591A JP H04372892 A JPH04372892 A JP H04372892A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sensor
image
movement
array
circumference
Prior art date
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Pending
Application number
JP3151555A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasufumi Tanaka
靖文 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
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Publication of JPH04372892A publication Critical patent/JPH04372892A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】  本発明は、例えばX線医療機
器などに利用される放射線像撮像装置に関する。
【0002】
【従来の技術】  X線医療機器等に利用される放射線
像撮像装置としては、半導体X線検出センサを画素に対
応して1次元ないしは2次元状に配列したアレイセンサ
を用いて、画像を複数の画素に分解して撮像する構造の
ものが一般的である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】  ところで、上述の
アレイセンサを用いた撮像装置においては、画像データ
のサンプリング密度は、各センサの形状寸法以下とはな
らない。このため、サンプリング密度を高めるには、各
センサを微細化すればよいわけであるが、微細化すれば
するほど、センサの製作が困難となってコスト高となる
。 しかも、半導体X線検出センサは、その構造上の問題か
ら微細化には物理的な限界がある。
【0004】本発明はこのような点に鑑みてなされたも
ので、その目的とするところは、画像データのサンプリ
ング密度を、半導体放射線検出センサの物理的に限界な
形状寸法よりも高めることができ、もって分解能の高い
画像を得ることが可能な放射線像撮像装置を提供するこ
とにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】  上記の目的を達成す
るための構成を、実施例に対応する図1を参照しつつ説
明すると、本発明は、放射線を検出する半導体センサS
・・Sを、画素に対応すべく1次元もしくは2次元状に
配列してなるアレイセンサAと、このアレイセンサAを
、その検出面と直交する軸を中心とする円周C上に沿っ
て、かつ、所定のピッチづつ平行移動させる駆動手段(
回転駆動機構1およびコントローラ6等)と、その各移
動時に得られる画素データを相互補間的に配列して画素
面積よりも小さい微小領域によって構成されるマトリク
スの画像データを求めて、その画像情報を画面上に出力
する演算処理手段(コンピュータ)5を備えていること
によって特徴づけられる。
【0006】
【作用】  例えば図2に示すように、アレイセンサA
を平行移動させる円周Cの直径を一つの半導体センサS
の画素幅Wとして、その移動ピッチを円周Cの1/4の
円弧長さとすると、3回のアレイ移動により、画像デー
タを、各半導体センサSの画素面積に対して4倍の密度
でサンプリングすることができる。そして、各移動ごと
の画像データを相互補間的に配列することで、一辺の長
さが1/2Wの微小正方形マトリクスの画像データを得
ることができる。
【0007】
【実施例】  本発明の実施例を、以下、図面に基づい
て説明する。図1は本発明実施例の構成を示すブロック
図である。アレイセンサAは半導体X線検出センサS・
・Sを4列複数行に配列した、マルチライン型のアレイ
であって、その一つセンサSによる画素の大きさは 0
.5mm×0.5mm 程度である。
【0008】このアレイセンサAは、回転駆動機構1に
よって、検出平面上に沿って、かつその検出平面との直
交軸を中心とする円周C上に沿って平行移動される。そ
の円周Cの直径は一つのセンサAの画素幅Wで、また、
移動ピッチは円周Cの1/4の円弧長さである。そして
、各移動ごとに各画素データは、それぞれの信号処理回
路B・・Bによって増幅等の所定の処理が行われた後、
インターフェイス4を介して画像メモリ3に順次採り込
まれる。
【0009】また、アレイセンサAは、上記の回転移動
の4回目が完了するごと、つまり回転移動により元の位
置に戻るごとに、平行移動機構2によって、検出平面上
に沿って、アレイの列方向(図中矢印の方向)に4Wの
距離づつ平行移動される。以上の回転駆動機構1および
平行移動機構2は、例えばステッピングモータとねじ機
構などを組み合わせた公知の機構であって、コンピュー
タ5の指令に基づくコントローラ6からの制御信号によ
って駆動するよう構成されている。また、コンピュータ
5はアレイセンサAの移動ごとの各画素データを、画像
メモリ3内の定められたアドレスに格納してゆき、そし
て、アレイセンサAの走査が完了した後に、後述する演
算により画像データを求めてCRT7に出力する。
【0010】次に、本発明実施例の作用を図2を参照し
て述べる。なお、図2はアレイセンサAの部分拡大平面
図である。まず、アレイセンサAを、直径Wの円周Cに
沿って、その円弧の1/4の距離づつ3回の平行移動を
行うと、図2に示すように、その3回の移動位置(N1
,N2,N3 )と、移動前のアレイ位置(N0 )に
よって、各センサにより1/2Wのピッチの画素データ
を得ることができ、これらのデータが画像メモリ3に順
次格納される。
【0011】次に、4回目のアレイ移動を行うと、アレ
イセンサAは最初の位置へと戻り、この時点で、今度は
アレイセンサAを、その列方向(図1に示す矢印の方向
)に4Wの距離だけ平行移動させ、この状態を起点とし
て、先と同様な回転平行移動を行って、その各移動ごと
の画素データを画像メモリ3に順次格納してゆく。そし
て、以上の回転移動と平行移動を順次繰り返してゆき、
アレイセンサAによって検出平面の全てをカバーできた
時点でアレイ走査を完了し、この時点で、コンピュータ
5は、アレイセンサAの各移動位置での全ての画素デー
タから、相互補間計算によって、一辺が1/2Wの微小
正方形マトリクスの画像データを求め、その画像情報を
CRT7の画面上に出力する。
【0012】ここで、以上の実施例においては、アレイ
センサAの回転移動の直径を画素幅Wとし、またその移
動ピッチを円周Cの1/4のとしているが、本発明はこ
れに限定されることなく、例えば図3に示すように、画
素幅Wよりも小さな直径の円周C3 上に沿って、その
円周C3 の1/6のピッチでアレイセンサAを平行移
動させるなど、アレイ移動の円周の直径およびその移動
ピッチは任意で、撮像に要求される分解能等に応じて適
宜に設定すればよい。なお、円周の直径を小さくするか
、あるいは移動ピッチを小さくすればするほど、画素デ
ータのサンプリング密度を高くできることはいうまでも
ない。
【0013】また、アレイセンサAとして使用するマル
チライン型アレイの列数は、4列に限られることなく他
の任意複数列であってもよい。さらに、マルチライン型
アレイに代えて、走行方向の列数が1列のいわゆる1次
元ラインセンサ、あるいは大規模な面センサアレイを用
いてもよい。なお、面センサアレイを使用する場合、そ
のアレイによって検出平面の全てをカバーできる場合に
は、アレイの平行移動機構2を省略することもできる。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】  以上発明したよう
に、本発明によれば、半導体放射線検出センサを、画素
に対応して1次元もしくは2次元に配列してなるアレイ
センサを、その検出面と直交する軸を中心とする円周上
に沿って、かつ所定のピッチづつ平行移動させて、放射
線像の撮像を行うよう構成したので、画像データのサン
プリング密度を、センサの物理的に限界な形状寸法より
も高めることが可能となり、これによって、従来に比し
て高度な分解能画像を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】  本発明実施例の構成を示すブロック図
【図
2】  本発明実施例の作用説明図
【図3】  本発明
の他の実施例の説明図
【符号の説明】
A・・・・アレイセンサ S・・S・・・・半導体X線検出センサB・・・・信号
処理回路 C・・・・円周 1・・・・回転駆動機構 2・・・・平行移動機構 3・・・・画像メモリ 5・・・・コンピュータ 6・・・・コントローラ 7・・・・CRT

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  放射線を検出する半導体センサを、画
    素に対応すべく1次元もしくは2次元状に配列してなる
    アレイセンサと、このアレイセンサを、その検出面と直
    交する軸を中心とする円周上に沿って、かつ、所定のピ
    ッチづつ平行移動させる駆動手段と、その各移動時に得
    られる画素データを相互補間的に配列して上記画素面積
    よりも小さい微小領域によって構成されるマトリクスの
    画像データを求めて、画面上に画像情報を出力する演算
    処理手段を備えてなる放射線像撮像装置。
JP3151555A 1991-06-24 1991-06-24 放射線像撮像装置 Pending JPH04372892A (ja)

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JP3151555A JPH04372892A (ja) 1991-06-24 1991-06-24 放射線像撮像装置

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002082174A (ja) * 2000-09-08 2002-03-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd X線撮影装置
EP1310786A3 (en) * 2001-11-13 2003-07-02 Japan Synchrotron Radiation Research Institute Method for measuring powder x-ray diffraction data using one- or two-dimensional detector

Cited By (3)

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JP2002082174A (ja) * 2000-09-08 2002-03-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd X線撮影装置
EP1310786A3 (en) * 2001-11-13 2003-07-02 Japan Synchrotron Radiation Research Institute Method for measuring powder x-ray diffraction data using one- or two-dimensional detector
US6813338B2 (en) 2001-11-13 2004-11-02 Japan Synchrotron Radiation Research Institute Method for measuring powder x-ray diffraction data using one-or-two-dimensional detector

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