JPH04369870A - 光起電力装置の製造方法 - Google Patents
光起電力装置の製造方法Info
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- JPH04369870A JPH04369870A JP3293183A JP29318391A JPH04369870A JP H04369870 A JPH04369870 A JP H04369870A JP 3293183 A JP3293183 A JP 3293183A JP 29318391 A JP29318391 A JP 29318391A JP H04369870 A JPH04369870 A JP H04369870A
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/548—Amorphous silicon PV cells
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、酸化亜鉛を透光性導電
材料として使用する光起電力装置及びその製造方法に関
する。
材料として使用する光起電力装置及びその製造方法に関
する。
【0002】
【従来の技術】近年、非晶質半導体を主材料とする光起
電力装置が、広く普及するに至っている。特に、シリコ
ンからなる材料にあっては、その形成がプラズマCVD
法というガス分解法によって成し得るものであることか
ら、多種類の非晶質シリコンアロイを形成できるという
特徴を有している。
電力装置が、広く普及するに至っている。特に、シリコ
ンからなる材料にあっては、その形成がプラズマCVD
法というガス分解法によって成し得るものであることか
ら、多種類の非晶質シリコンアロイを形成できるという
特徴を有している。
【0003】然し乍ら、これら非晶質半導体は、その一
方でプラズマCVD法を用いるために、形成途中にある
膜或るいはその下地となる膜へのそのプラズマ自体によ
る損傷を避けることはできない。特に、透明導電膜上に
プラズマ反応法による非晶質半導体を形成し光起電力装
置の構造とする場合、斯るプラズマによる損傷により、
その透明導電膜の構成材料である錫或るいは鉛が形成途
上の前記非晶質半導体に拡散し、この光起電力装置の特
性を劣化させてしまう。
方でプラズマCVD法を用いるために、形成途中にある
膜或るいはその下地となる膜へのそのプラズマ自体によ
る損傷を避けることはできない。特に、透明導電膜上に
プラズマ反応法による非晶質半導体を形成し光起電力装
置の構造とする場合、斯るプラズマによる損傷により、
その透明導電膜の構成材料である錫或るいは鉛が形成途
上の前記非晶質半導体に拡散し、この光起電力装置の特
性を劣化させてしまう。
【0004】そこで、近年、耐プラズマ性に優れた酸化
亜鉛をこの透明導電膜の表面にコートすることによって
、この様な拡散による特性劣化を防止する光起電力装置
の素子構造が提案されている。斯る内容については、T
echnical Digest of the 5t
hInternational Photovolta
ic Science and Engineerin
g Conference Kyoto.Japan.
p623〜626に詳細に記載されている。
亜鉛をこの透明導電膜の表面にコートすることによって
、この様な拡散による特性劣化を防止する光起電力装置
の素子構造が提案されている。斯る内容については、T
echnical Digest of the 5t
hInternational Photovolta
ic Science and Engineerin
g Conference Kyoto.Japan.
p623〜626に詳細に記載されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところが、酸化亜鉛は
、耐プラズマに優れるものの、その後に形成されるp型
半導体としての非晶質シリコンカーバイド(以下a−S
iCと略する。)とのオーミック特性が一般に優れず、
光起電力装置の変換効率特性の低下を招いている。
、耐プラズマに優れるものの、その後に形成されるp型
半導体としての非晶質シリコンカーバイド(以下a−S
iCと略する。)とのオーミック特性が一般に優れず、
光起電力装置の変換効率特性の低下を招いている。
【0006】そこで、本発明の目的とするところは、こ
のオーミック特性低下の発生しない光起電力装置及びそ
の製造方法を提供することにある。
のオーミック特性低下の発生しない光起電力装置及びそ
の製造方法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明光起電力装置の特
徴とするところは、酸化錫と酸化亜鉛、さらに導電性a
−SiCがこの順序で重畳形成されてなる積層体を具備
する光起電力装置に於て、前記酸化亜鉛と前記a−Si
Cとの間にボロンを含有する非晶質シリコン、又はボロ
ン膜を隣接配置させたことで、特にその非晶質シリコン
の膜厚を10から30Åとしたこと、またはそのボロン
膜を0.25原子層から2原子層としたことにあり、ま
た、本発明の製造方法の特徴とするところは、酸化錫と
酸化亜鉛とをこの順序で形成した後、前記酸化亜鉛の表
面を、ボロンを含有する反応性ガスによるプラズマに晒
し、その後その表面に導電性非晶質シリコンカーバイド
を被着形成することにある。
徴とするところは、酸化錫と酸化亜鉛、さらに導電性a
−SiCがこの順序で重畳形成されてなる積層体を具備
する光起電力装置に於て、前記酸化亜鉛と前記a−Si
Cとの間にボロンを含有する非晶質シリコン、又はボロ
ン膜を隣接配置させたことで、特にその非晶質シリコン
の膜厚を10から30Åとしたこと、またはそのボロン
膜を0.25原子層から2原子層としたことにあり、ま
た、本発明の製造方法の特徴とするところは、酸化錫と
酸化亜鉛とをこの順序で形成した後、前記酸化亜鉛の表
面を、ボロンを含有する反応性ガスによるプラズマに晒
し、その後その表面に導電性非晶質シリコンカーバイド
を被着形成することにある。
【0008】
【作用】本発明光起電力装置によれば、酸化亜鉛と非晶
質シリコンカーバイドとの間にボロンを含有する非晶質
シリコンを隣接配置することによって、これらの接触部
のオーミック特性を向上させることが可能となる。これ
により、光起電力装置内の直列抵抗成分が低減でき光起
電力特性の向上が図れることとなる。
質シリコンカーバイドとの間にボロンを含有する非晶質
シリコンを隣接配置することによって、これらの接触部
のオーミック特性を向上させることが可能となる。これ
により、光起電力装置内の直列抵抗成分が低減でき光起
電力特性の向上が図れることとなる。
【0009】このような作用は、ボロンを含有した非晶
質シリコンに替えてボロン膜を使用した場合であっても
全く同様に得られるものである。
質シリコンに替えてボロン膜を使用した場合であっても
全く同様に得られるものである。
【0010】又、本発明光起電力装置の製造方法によれ
ばボロンを含有した反応性ガスによるプラズマをその酸
化亜鉛の表面に晒すことにより、前述の光起電力装置と
同様に直列抵抗成分の減少が図れ、特性の向上が可能と
なる
ばボロンを含有した反応性ガスによるプラズマをその酸
化亜鉛の表面に晒すことにより、前述の光起電力装置と
同様に直列抵抗成分の減少が図れ、特性の向上が可能と
なる
【0011】
【実施例】図1は、本発明を説明するための第1の実施
例光起電力装置の素子構造断面図である。図中の(1)
は、ガラスや石英などからなる透光性絶縁基板、(2)
は透明導電膜である酸化錫、(3)は酸化錫(2)から
の錫の拡散を防止するもう一つの透明導電膜である酸化
亜鉛、(4)は本発明の特徴であるB2H6ガスが添加
された反応性ガスによって形成されたボロンを含有する
非晶質シリコン、(5)はp型の導電性a−SiC、(
6)はバッファ用の真性a−SiC、(7)は真性の非
晶質シリコン、(8)はn型の導電性非晶質シリコン、
(9)はアルミニュームなどからなる金属電極、(10
)は電流取り出し用のリード線である。ボロンを含有す
る非晶質シリコン(4)以外は従来周知のもので、以下
ではこのボロンを含有する非晶質シリコン(4)につい
て詳述する。
例光起電力装置の素子構造断面図である。図中の(1)
は、ガラスや石英などからなる透光性絶縁基板、(2)
は透明導電膜である酸化錫、(3)は酸化錫(2)から
の錫の拡散を防止するもう一つの透明導電膜である酸化
亜鉛、(4)は本発明の特徴であるB2H6ガスが添加
された反応性ガスによって形成されたボロンを含有する
非晶質シリコン、(5)はp型の導電性a−SiC、(
6)はバッファ用の真性a−SiC、(7)は真性の非
晶質シリコン、(8)はn型の導電性非晶質シリコン、
(9)はアルミニュームなどからなる金属電極、(10
)は電流取り出し用のリード線である。ボロンを含有す
る非晶質シリコン(4)以外は従来周知のもので、以下
ではこのボロンを含有する非晶質シリコン(4)につい
て詳述する。
【0012】本発明光起電力装置は、次のように形成し
た。まず、基板(1)上に熱CVD法によって酸化錫(
2)を形成した後、酸化亜鉛(3)を高周波スパッタ法
により成膜する。斯る場合のターゲット材料として酸化
亜鉛を使用し、スパッタガスとしてアルゴン20scc
m、スパッタ時の真空度3×10−3Torrとし、高
周波電力300W、基板温度150℃の条件で膜厚が1
50Åとなるように形成した。
た。まず、基板(1)上に熱CVD法によって酸化錫(
2)を形成した後、酸化亜鉛(3)を高周波スパッタ法
により成膜する。斯る場合のターゲット材料として酸化
亜鉛を使用し、スパッタガスとしてアルゴン20scc
m、スパッタ時の真空度3×10−3Torrとし、高
周波電力300W、基板温度150℃の条件で膜厚が1
50Åとなるように形成した。
【0013】次に本発明の特徴であるボロンを含有する
非晶質シリコン(4)をプラズマCVD法にて成膜した
。 代表的な反応条件として、反応性ガスをシランガス20
sccm、前記B2H6ガス0.1sccm,水素ガス
100sccmからなる混合ガスとし、反応時のガス圧
力,放電電力さらに基板温度は、夫々 0.2Tor
r,30W,160℃とし、その膜厚は、20Åとした
。
非晶質シリコン(4)をプラズマCVD法にて成膜した
。 代表的な反応条件として、反応性ガスをシランガス20
sccm、前記B2H6ガス0.1sccm,水素ガス
100sccmからなる混合ガスとし、反応時のガス圧
力,放電電力さらに基板温度は、夫々 0.2Tor
r,30W,160℃とし、その膜厚は、20Åとした
。
【0014】そして、以下の導電性a−SiC(5)、
真性a−SiC(6)、非晶質シリコン(7)、及び導
電性非晶質シリコン(8)は、表1に示された代表的な
反応条件によって形成した。金属電極(9)は蒸着法に
よるアルミニュームを使用した。
真性a−SiC(6)、非晶質シリコン(7)、及び導
電性非晶質シリコン(8)は、表1に示された代表的な
反応条件によって形成した。金属電極(9)は蒸着法に
よるアルミニュームを使用した。
【0015】
【表1】
【0016】図2及び図3は、実施例光起電力装置の光
起電力特性と、ボロンを含有する非晶質シリコン(4)
の膜厚との関係を示す特性図である。このボロンを含有
する非晶質シリコン(4)の膜厚がゼロの状態とは、該
非晶質シリコン(4)を具備せず酸化亜鉛(3)と導電
性a−SiC(5)を直接被着形成させた従来のもので
ある。
起電力特性と、ボロンを含有する非晶質シリコン(4)
の膜厚との関係を示す特性図である。このボロンを含有
する非晶質シリコン(4)の膜厚がゼロの状態とは、該
非晶質シリコン(4)を具備せず酸化亜鉛(3)と導電
性a−SiC(5)を直接被着形成させた従来のもので
ある。
【0017】この光起電力特性としては、図2に、曲線
因子(FF)と変換効率(η)を示し、図3に開放電圧
(VOC)と短絡電流(I)について示している。特に
、この曲線因子(FF)は光起電力装置の直列抵抗成分
が小さくなるとともに、曲線因子が増加し1の値に近付
く程性能がよいことを示すこととなる。
因子(FF)と変換効率(η)を示し、図3に開放電圧
(VOC)と短絡電流(I)について示している。特に
、この曲線因子(FF)は光起電力装置の直列抵抗成分
が小さくなるとともに、曲線因子が増加し1の値に近付
く程性能がよいことを示すこととなる。
【0018】図2によれば、本発明の特徴であるボロン
を含有する非晶質シリコン(4)を具備しない従来の光
起電力装置、即ち図中の膜厚がゼロの状態では、曲線因
子(FF)が極端に低下することが判る。これは、酸化
亜鉛(3)と導電性a−SiC(5)とが隣接配置され
ているために、これら接触部におけるオーミック特性が
優れず、この光起電力特性としての直列抵抗成分が増加
してしまうためである。
を含有する非晶質シリコン(4)を具備しない従来の光
起電力装置、即ち図中の膜厚がゼロの状態では、曲線因
子(FF)が極端に低下することが判る。これは、酸化
亜鉛(3)と導電性a−SiC(5)とが隣接配置され
ているために、これら接触部におけるオーミック特性が
優れず、この光起電力特性としての直列抵抗成分が増加
してしまうためである。
【0019】一方、本発明光起電力装置にあっては、ボ
ロンを含有する非晶質シリコン(4)の膜厚の増加とと
もに、前記曲線因子(FF)が増加する。斯る様子から
本発明光起電力装置においては、この直列抵抗成分の低
減が図れていることが判る。
ロンを含有する非晶質シリコン(4)の膜厚の増加とと
もに、前記曲線因子(FF)が増加する。斯る様子から
本発明光起電力装置においては、この直列抵抗成分の低
減が図れていることが判る。
【0020】又、図3によれば該光起電力装置では、そ
の膜厚の増加とともに短絡電流の減少が観察されるが、
これは、ボロンを含有する非晶質シリコン(4)の膜厚
増加にともなって、該非晶質シリコン(4)自体によっ
て吸収される入射光の量も増加することとなり、斯様な
減少が発生する。
の膜厚の増加とともに短絡電流の減少が観察されるが、
これは、ボロンを含有する非晶質シリコン(4)の膜厚
増加にともなって、該非晶質シリコン(4)自体によっ
て吸収される入射光の量も増加することとなり、斯様な
減少が発生する。
【0021】従って、本発明光起電力装置を形成する場
合、このボロンを含有する非晶質シリコン(4)を使用
したことによる直列抵抗成分の減少と、その使用による
光の損失との均衡を考慮して設計することが必要となる
。 図2及び図3によれば、短絡電流(I)の減少及び曲線
因子(FF)の増加との兼ね合いから、ボロンを含有す
る非晶質シリコン(4)の膜厚が10〜30Åの範囲と
するのが好ましく、特にその膜厚が20Åの場合におい
ては変換効率(η)の最高値が得られている。
合、このボロンを含有する非晶質シリコン(4)を使用
したことによる直列抵抗成分の減少と、その使用による
光の損失との均衡を考慮して設計することが必要となる
。 図2及び図3によれば、短絡電流(I)の減少及び曲線
因子(FF)の増加との兼ね合いから、ボロンを含有す
る非晶質シリコン(4)の膜厚が10〜30Åの範囲と
するのが好ましく、特にその膜厚が20Åの場合におい
ては変換効率(η)の最高値が得られている。
【0022】次に、この直列抵抗成分を減少せしめるた
めの、発明である光起電力装置の製造方法について説明
する。
めの、発明である光起電力装置の製造方法について説明
する。
【0023】図4は、その製造方法を説明するための工
程別素子構造断面図である。同図(a)で示される第1
工程では、透光性絶縁基板(41)上に、酸化錫(42
)及び酸化亜鉛(43)を順次積層する。
程別素子構造断面図である。同図(a)で示される第1
工程では、透光性絶縁基板(41)上に、酸化錫(42
)及び酸化亜鉛(43)を順次積層する。
【0024】次に、同図(b)で示される第2工程では
、酸化亜鉛(43)の表面にボロンを含有する反応性ガ
スB2H6によって生成されたプラズマ(44)を晒す
。このプラズマ処理によって、酸化亜鉛(43)の表面
(43a)近傍にはプラズマ(44)によるボロン(B
)が含有されることとなる。
、酸化亜鉛(43)の表面にボロンを含有する反応性ガ
スB2H6によって生成されたプラズマ(44)を晒す
。このプラズマ処理によって、酸化亜鉛(43)の表面
(43a)近傍にはプラズマ(44)によるボロン(B
)が含有されることとなる。
【0025】そして、同図(c)で示される第3工程で
は、p型の導電性a−SiC(45)、バッファ用の真
性a−SiC(46)、真性の非晶質シリコン(47)
、n型の導電性非晶質シリコン(48)、アルミニュー
ムなどからなる金属電極(49)を順次形成する。
は、p型の導電性a−SiC(45)、バッファ用の真
性a−SiC(46)、真性の非晶質シリコン(47)
、n型の導電性非晶質シリコン(48)、アルミニュー
ムなどからなる金属電極(49)を順次形成する。
【0026】前記第2工程以外の工程は、前述した実施
例と同様な条件によって形成したものである。
例と同様な条件によって形成したものである。
【0027】尚、ボロン(B)を含有する反応性ガスと
して、実施例のB2H6以外にB(CH3)3やBF3
なども使用することができる。
して、実施例のB2H6以外にB(CH3)3やBF3
なども使用することができる。
【0028】表2に本発明製造方法によって形成された
光起電力装置の代表的な特性を示す。同表には前記プラ
ズマ処理を施していない光起電力装置の特性についても
同時に示している。
光起電力装置の代表的な特性を示す。同表には前記プラ
ズマ処理を施していない光起電力装置の特性についても
同時に示している。
【0029】
【表2】
【0030】本発明製造方法にあっても、このプラズマ
処理による効果は、直列抵抗成分の減少として表れ良好
な特性が得られた。
処理による効果は、直列抵抗成分の減少として表れ良好
な特性が得られた。
【0031】次に本発明光起電力装置の第2の実施例に
ついて説明する。図5は、その光起電力装置の素子構造
断面図である。第1の実施例(図1)と同一の材料とす
るところについては、同一の符号を付している。
ついて説明する。図5は、その光起電力装置の素子構造
断面図である。第1の実施例(図1)と同一の材料とす
るところについては、同一の符号を付している。
【0032】本例の特徴とするところは、第1の実施例
で使用した非晶質シリコン(4)に替えてボロン膜(5
1)を用いたことにあり、他の部分については第1の実
施例と同様の方法にて形成した。
で使用した非晶質シリコン(4)に替えてボロン膜(5
1)を用いたことにあり、他の部分については第1の実
施例と同様の方法にて形成した。
【0033】実施例では、このボロン膜(51)の形成
として光CVD法を使用した。代表的な形成条件を表3
に示す。
として光CVD法を使用した。代表的な形成条件を表3
に示す。
【0034】
【表3】
【0035】また、このボロン膜(51)の成膜にあた
っては、光CVD法のための光源として低圧水銀ランプ
を使用し、その厚みとしては0.1〜1原子層を形成し
た。
っては、光CVD法のための光源として低圧水銀ランプ
を使用し、その厚みとしては0.1〜1原子層を形成し
た。
【0036】本例光起電力装置においても、このボロン
膜(51)の厚みは光起電力特性に大きな影響を与える
。図6は、この厚みと光起電力特性との関係を説明する
特性図で、図に示す1原子層は約4〜5Åに相当する。 通常、1原子層とは、或る原子が一つの層として均一に
形成された状態をいうが、ここでは使用する膜の厚みが
原子サイズとなるほど極めて薄いものであることから、
斯る状態を1つの単位として使用する。従って、明細書
中や図面中で使用する例えば0.5原子層という厚みと
は、1原子層の半分であるというのではなく、形成され
ている面の50%が被われる程度に形成されている状態
をいう。
膜(51)の厚みは光起電力特性に大きな影響を与える
。図6は、この厚みと光起電力特性との関係を説明する
特性図で、図に示す1原子層は約4〜5Åに相当する。 通常、1原子層とは、或る原子が一つの層として均一に
形成された状態をいうが、ここでは使用する膜の厚みが
原子サイズとなるほど極めて薄いものであることから、
斯る状態を1つの単位として使用する。従って、明細書
中や図面中で使用する例えば0.5原子層という厚みと
は、1原子層の半分であるというのではなく、形成され
ている面の50%が被われる程度に形成されている状態
をいう。
【0037】又、図中の原子層がゼロの状態とは、ボロ
ン膜を介することなく光起電力装置を形成することを示
している。
ン膜を介することなく光起電力装置を形成することを示
している。
【0038】同図によれば、ボロン膜の厚みの増加とと
もに曲線因子(FF)が増加し、1原子層の厚みで最大
値を示す。特に、光起電力特性の総合的評価を表す変換
効率にあっては、この1原子層で10.8%もの大きな
値が得られている。この特性から、ボロン膜を使用した
ことによる直列抵抗の低減化が図れることが分かる。
もに曲線因子(FF)が増加し、1原子層の厚みで最大
値を示す。特に、光起電力特性の総合的評価を表す変換
効率にあっては、この1原子層で10.8%もの大きな
値が得られている。この特性から、ボロン膜を使用した
ことによる直列抵抗の低減化が図れることが分かる。
【0039】特に、ボロン膜を使用する本発明光起電力
装置にあっては、その厚みとして、0.25原子層から
2原子層とすることが特性上好ましい。
装置にあっては、その厚みとして、0.25原子層から
2原子層とすることが特性上好ましい。
【0040】更に同図においても、ボロン膜の厚みが増
加したことによる特性の低下が観測されるが、この原因
については第1の実施例で説明したようにこのボロン膜
自体の光吸収によるものである。
加したことによる特性の低下が観測されるが、この原因
については第1の実施例で説明したようにこのボロン膜
自体の光吸収によるものである。
【0041】尚、本例で使用したボロン膜は、光CVD
法によって形成したものを用いたが、この他にプラズマ
CVD法や熱CVD法による形成方法によって成膜した
膜であっても同様の効果を呈する。
法によって形成したものを用いたが、この他にプラズマ
CVD法や熱CVD法による形成方法によって成膜した
膜であっても同様の効果を呈する。
【0042】
【発明の効果】本発明光起電力装置又は本発明製造方法
によれば、酸化亜鉛と導電性a−SiCとの間のオーミ
ック特性が向上し得、良好な光起電力特性を得ることが
可能となる。
によれば、酸化亜鉛と導電性a−SiCとの間のオーミ
ック特性が向上し得、良好な光起電力特性を得ることが
可能となる。
【0043】又、本発明で使用するボロンを含有する非
晶質シリコン及びボロン膜は、導電性非晶質シリコンカ
ーバイドと同様のプラズマCVD法によって形成し得る
ものであることから、工程の複雑化を招かない。
晶質シリコン及びボロン膜は、導電性非晶質シリコンカ
ーバイドと同様のプラズマCVD法によって形成し得る
ものであることから、工程の複雑化を招かない。
【0044】さらに、本発明の製造方法によれば、ボロ
ンを含有した反応性ガスのよるプラズマに晒すことによ
って所望の効果を得ることができるものであることから
、新たな膜を導入したことによる光の損失が生じない。
ンを含有した反応性ガスのよるプラズマに晒すことによ
って所望の効果を得ることができるものであることから
、新たな膜を導入したことによる光の損失が生じない。
【図1】本発明光起電力装置の第1の実施例の素子構造
断面図である。
断面図である。
【図2】前記光起電力装置の光起電力特性図である。
【図3】前記光起電力装置のその他の光起電力特性図で
ある。
ある。
【図4】本発明光起電力装置の製造方法を説明するため
の工程別素子構造断面図である。
の工程別素子構造断面図である。
【図5】本発明光起電力装置の第2の実施例の素子構造
断面図である。
断面図である。
【図6】前記光起電力装置の光起電力特性図である。
(2)──酸化錫
(3)──酸化亜鉛
Claims (5)
- 【請求項1】 酸化錫と酸化亜鉛、さらに導電性非晶
質シリコンカーバイドがこの順序で重畳形成されてなる
積層体を具備する光起電力装置に於て、前記酸化亜鉛と
前記非晶質シリコンカーバイドとの間にボロンを含有す
る非晶質シリコンを隣接配置させたことを特徴とする光
起電力装置。 - 【請求項2】 前記請求項1において、前記非晶質シ
リコンの膜厚を10から30Åとすることを特徴とした
光起電力装置。 - 【請求項3】 酸化錫と酸化亜鉛とをこの順序で形成
した後、前記酸化亜鉛の表面を、ボロンを含有する反応
性ガスによるプラズマに晒し、その後その表面に導電性
非晶質シリコンカーバイドを被着形成することを特徴と
する光起電力装置の製造方法。 - 【請求項4】 酸化錫と酸化亜鉛、さらに導電性非晶
質シリコンカーバイドがこの順序で重畳形成されてなる
積層体を具備する光起電力装置に於て、前記酸化亜鉛と
前記非晶質シリコンカーバイドとの間にボロン膜を隣接
配置させたことを特徴とする光起電力装置。 - 【請求項5】 前記請求項4において、前記ボロン膜
の厚みが0.25原子層から2原子層とすることを特徴
とした光起電力装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3293183A JP2975744B2 (ja) | 1991-04-08 | 1991-11-08 | 光起電力装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3-75182 | 1991-04-08 | ||
JP7518291 | 1991-04-08 | ||
JP3293183A JP2975744B2 (ja) | 1991-04-08 | 1991-11-08 | 光起電力装置の製造方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12617099A Division JP3649948B2 (ja) | 1991-04-08 | 1999-05-06 | 光起電力装置及びその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04369870A true JPH04369870A (ja) | 1992-12-22 |
JP2975744B2 JP2975744B2 (ja) | 1999-11-10 |
Family
ID=26416339
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3293183A Expired - Fee Related JP2975744B2 (ja) | 1991-04-08 | 1991-11-08 | 光起電力装置の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2975744B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009099217A1 (ja) * | 2008-02-06 | 2009-08-13 | Kyocera Corporation | 太陽電池素子の製造方法および太陽電池素子 |
WO2014051078A1 (ja) * | 2012-09-28 | 2014-04-03 | 株式会社カネカ | 薄膜光電変換装置およびその製造方法 |
-
1991
- 1991-11-08 JP JP3293183A patent/JP2975744B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009099217A1 (ja) * | 2008-02-06 | 2009-08-13 | Kyocera Corporation | 太陽電池素子の製造方法および太陽電池素子 |
JP5072979B2 (ja) * | 2008-02-06 | 2012-11-14 | 京セラ株式会社 | 太陽電池素子の製造方法および太陽電池素子 |
WO2014051078A1 (ja) * | 2012-09-28 | 2014-04-03 | 株式会社カネカ | 薄膜光電変換装置およびその製造方法 |
US9865762B2 (en) | 2012-09-28 | 2018-01-09 | Kaneka Corporation | Thin-film photoelectric conversion device and method for manufacturing same |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2975744B2 (ja) | 1999-11-10 |
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