JPH0436949A - 質量分析装置のスペクトル出力インターフエイス - Google Patents
質量分析装置のスペクトル出力インターフエイスInfo
- Publication number
- JPH0436949A JPH0436949A JP2141378A JP14137890A JPH0436949A JP H0436949 A JPH0436949 A JP H0436949A JP 2141378 A JP2141378 A JP 2141378A JP 14137890 A JP14137890 A JP 14137890A JP H0436949 A JPH0436949 A JP H0436949A
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- Japan
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- spectrum
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- Pending
Links
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- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 43
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims abstract description 14
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 claims abstract 3
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 13
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Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は質量分析装置におけるピーク判定をせずに得ら
れた質量対感度比あるいは時間対感度比の示ず質量スペ
クトルの指定掃引全域および特定領域を表示する質量分
析装置におけるスペクＩ−ル出力インターフエイスに関
する。
れた質量対感度比あるいは時間対感度比の示ず質量スペ
クトルの指定掃引全域および特定領域を表示する質量分
析装置におけるスペクＩ−ル出力インターフエイスに関
する。
従来の装置は特開昭５１．− ］、 １．１３８５号公
報に記載のように所望元素の質量範囲のマスフィルタ出
力スベクトルを表示し、かつ特定原子（分子）の質量に
着目して該出力信号の強度変化をリアルタイムで表示す
るようになっていた。しかし、スペクトル測定において
は強度のみならず、ピーク形状および分解能を表示でき
ること、かつデータ収集中に前記動作が可能なことはよ
り正確な測定を行うためには重要な項１」である。した
がって、指定全域掃引におけるデータ収集中に特定質量
範囲の生データの波形スベクｌ−ルを表示することによ
り、動的スペクトル状態を監視、調整し、最適測定を可
能にするという点に対しては配慮されていなかった。
報に記載のように所望元素の質量範囲のマスフィルタ出
力スベクトルを表示し、かつ特定原子（分子）の質量に
着目して該出力信号の強度変化をリアルタイムで表示す
るようになっていた。しかし、スペクトル測定において
は強度のみならず、ピーク形状および分解能を表示でき
ること、かつデータ収集中に前記動作が可能なことはよ
り正確な測定を行うためには重要な項１」である。した
がって、指定全域掃引におけるデータ収集中に特定質量
範囲の生データの波形スベクｌ−ルを表示することによ
り、動的スペクトル状態を監視、調整し、最適測定を可
能にするという点に対しては配慮されていなかった。
上記従来技術は指定全域掃引におけるデータ収集中に指
定全域スペクトルおよび特定質量範囲の生データの波形
スペクトルを表示することにより、動的スペクトル状態
を監視、調整し、最適測定を可能にするという点につい
て配慮されておらず、指定全域掃引の動的なスペクトル
表データ収集のための最適条件を見つけ出すことが困難
という問題があった。
定全域スペクトルおよび特定質量範囲の生データの波形
スペクトルを表示することにより、動的スペクトル状態
を監視、調整し、最適測定を可能にするという点につい
て配慮されておらず、指定全域掃引の動的なスペクトル
表データ収集のための最適条件を見つけ出すことが困難
という問題があった。
本発明は指定全域掃引におけるデータ収集中に指定全域
スペクトル表１ヘル定質量範囲の生データの波形スペク
トルを表示することにより指定全域掃引の動的なスペク
トル状態を監視、調整し、最適条件を見つけ出し、より
良い分析を行うことを１」的とする。
スペクトル表１ヘル定質量範囲の生データの波形スペク
トルを表示することにより指定全域掃引の動的なスペク
トル状態を監視、調整し、最適条件を見つけ出し、より
良い分析を行うことを１」的とする。
」−記目的を達成するために、第２図に示すスペクトル
表示インターフェイスを用いて第３図に示すスペクトル
表示フローを駆動する。第２図に示すインターフェイス
は質量分析計の加速電源、電場電源、磁場電源を制御す
る制御信号と同一のディジタル値を受けて、あらかじめ
Ｍ／Ｚ＝Ｋ・＋３２ □に基づいたＭ ／ ＺとＢの関係を持った関数発生部
と該関数発生部より得られたＭ／Ｚ値と該ＭＺＺ値の持
つピーク感度工の関係を該Ｍ／Ｚ値と７トレスを同一の
値とした記憶部、また該記憶部はアドレスの最Ｊ−位ビ
ツトを反転させた記憶部を他に持ち、同時にＡ、Ｂ両域
に記憶できる。ここでＭ／Ｚ：質量数、に：定数、ｖ：
加速電圧、Ｂ：磁速密度とする。さらに記憶部は質量分
析計より得られたスペクトルをタイミングコン１〜ロー
ル部に一定のサンプリングタイムＴ毎にその感度値をＡ
／Ｄ変換し、該Ｍ／Ｚ値と同期し、該Ｍ／Ｚ値に匹敵す
るアドレスＡ、Ｂ両領域へ同時に記憶され、Ａ領域は掃
引の待ち時間に外部記憶部へ、Ｂ領域はスペクトル表示
器へデータ転送する機能を持つ。該機能を持つことによ
り、第３図の処理手順に従って、記憶部のＡ、Ｂ両領域
に質量対感度比の関係を記憶し、掃引の待ち時間にスペ
クトル表示器に転送することを可能にすることによって
達成される。
表示インターフェイスを用いて第３図に示すスペクトル
表示フローを駆動する。第２図に示すインターフェイス
は質量分析計の加速電源、電場電源、磁場電源を制御す
る制御信号と同一のディジタル値を受けて、あらかじめ
Ｍ／Ｚ＝Ｋ・＋３２ □に基づいたＭ ／ ＺとＢの関係を持った関数発生部
と該関数発生部より得られたＭ／Ｚ値と該ＭＺＺ値の持
つピーク感度工の関係を該Ｍ／Ｚ値と７トレスを同一の
値とした記憶部、また該記憶部はアドレスの最Ｊ−位ビ
ツトを反転させた記憶部を他に持ち、同時にＡ、Ｂ両域
に記憶できる。ここでＭ／Ｚ：質量数、に：定数、ｖ：
加速電圧、Ｂ：磁速密度とする。さらに記憶部は質量分
析計より得られたスペクトルをタイミングコン１〜ロー
ル部に一定のサンプリングタイムＴ毎にその感度値をＡ
／Ｄ変換し、該Ｍ／Ｚ値と同期し、該Ｍ／Ｚ値に匹敵す
るアドレスＡ、Ｂ両領域へ同時に記憶され、Ａ領域は掃
引の待ち時間に外部記憶部へ、Ｂ領域はスペクトル表示
器へデータ転送する機能を持つ。該機能を持つことによ
り、第３図の処理手順に従って、記憶部のＡ、Ｂ両領域
に質量対感度比の関係を記憶し、掃引の待ち時間にスペ
クトル表示器に転送することを可能にすることによって
達成される。
本スペクトル出力インターフェイスは第２図に示す構成
になっている。本スペクトル出力インターフェイスは質
量分析計の各電源を制御し、該制御に基づいて収集した
スペグ］へ生データの処理を抑う制御データ処理部に位
置するものである。又、制御部、関数発生部、記憶部、
Ａ／Ｄ変換器、スペクＩ・ル表示器、外部記憶部は全て
タイミングコントロール部によってデータの書き込み、
読み出しのタイミングを制御されている。制御部は質量
分散を行う電源への掃引信号を発生させ（該帰り信号は
第４図に示すタイミングで発生する。）、該信号のデジ
タル値を関数発生部へ送出する。該関数発生部はあらか
じめ質量分析計本体の特性にあった質量数と磁場強度の
関係又は、質量数と質量分散類似値の関係の関数を持っ
ており、該デジタル値に合致したＭ／Ｚ値を記憶部へ送
出する。
になっている。本スペクトル出力インターフェイスは質
量分析計の各電源を制御し、該制御に基づいて収集した
スペグ］へ生データの処理を抑う制御データ処理部に位
置するものである。又、制御部、関数発生部、記憶部、
Ａ／Ｄ変換器、スペクＩ・ル表示器、外部記憶部は全て
タイミングコントロール部によってデータの書き込み、
読み出しのタイミングを制御されている。制御部は質量
分散を行う電源への掃引信号を発生させ（該帰り信号は
第４図に示すタイミングで発生する。）、該信号のデジ
タル値を関数発生部へ送出する。該関数発生部はあらか
じめ質量分析計本体の特性にあった質量数と磁場強度の
関係又は、質量数と質量分散類似値の関係の関数を持っ
ており、該デジタル値に合致したＭ／Ｚ値を記憶部へ送
出する。
該Ｍ／Ｚ値とアドレスは同一値とすることにより、又常
に記憶部のＡ領域とＢ領域とは最上位ピッ１〜の反転、
非反転により両領域の同一仮想領域に同一の感度値を記
憶することができる。該感度値は質量分析計本体から前
記制御信号に基づいて得られたスペクＩ・ルを設定サン
プリングタイムＴの間隔でＡ／Ｄ変換した値をタイミン
グコントロール部によりＧａｔｅＡ］、 ＧａｔｅＢ］
を通り、該記憶部の設定領域へ記憶される。該記憶部は
１掃引分の記憶領域をＡｏ 、Ｂ（ｌ としＡ ｏ か
らＡ１、まて、Ｂｏ からＢ１、すなわち、ｎ回掃引分
のスペクＩ〜ルの質量対感度比の関係を記憶できる。次
に第４図に示す待ぢ時間に該記憶されたＡ、ｏ−Ａア、
Ｂｏ−Ｂ−の値を外部記憶部およびスペクトル表示器へ
転送する。外部記憶部は掃引全データを保存し、スペク
トル表示器は掃引全領域又は、特定質量領域の生データ
スペクトルを表示する。したがって、同時に質量対感度
比の関係を質量数とアドレスを一致させ、さらに最上位
ビットで分けられた同一仮想領域に記憶し、待ち時間の
間にスペクトル表示器に転送することによって、高速で
、データ収集中に生データのスペグ１−ルを表示するこ
とができるので動的スペクｌ〜ルの状態を観察でき、容
易に最適条件を設定できる。
に記憶部のＡ領域とＢ領域とは最上位ピッ１〜の反転、
非反転により両領域の同一仮想領域に同一の感度値を記
憶することができる。該感度値は質量分析計本体から前
記制御信号に基づいて得られたスペクＩ・ルを設定サン
プリングタイムＴの間隔でＡ／Ｄ変換した値をタイミン
グコントロール部によりＧａｔｅＡ］、 ＧａｔｅＢ］
を通り、該記憶部の設定領域へ記憶される。該記憶部は
１掃引分の記憶領域をＡｏ 、Ｂ（ｌ としＡ ｏ か
らＡ１、まて、Ｂｏ からＢ１、すなわち、ｎ回掃引分
のスペクＩ〜ルの質量対感度比の関係を記憶できる。次
に第４図に示す待ぢ時間に該記憶されたＡ、ｏ−Ａア、
Ｂｏ−Ｂ−の値を外部記憶部およびスペクトル表示器へ
転送する。外部記憶部は掃引全データを保存し、スペク
トル表示器は掃引全領域又は、特定質量領域の生データ
スペクトルを表示する。したがって、同時に質量対感度
比の関係を質量数とアドレスを一致させ、さらに最上位
ビットで分けられた同一仮想領域に記憶し、待ち時間の
間にスペクトル表示器に転送することによって、高速で
、データ収集中に生データのスペグ１−ルを表示するこ
とができるので動的スペクｌ〜ルの状態を観察でき、容
易に最適条件を設定できる。
以下、本発明の一実施例を第１−図により説明する。以
１ぐ、実施例の構成及び動作の説明を行う。
１ぐ、実施例の構成及び動作の説明を行う。
質量分析計１を該質量分析計を制御し、得られたイオン
散を制御およびデータ処理する制御データ処理部２とか
ら成る。該質量分析側はイオンを生成するイオン源３と
該生成されたイオンを加速する加速電源４と該加速され
たイオン髪収集・偏向する電場５および磁場６と該電場
および磁場を制御する電場電源７と磁場電源８と該分散
されたイオンを検出する検出器９からなる。酌記制御デ
タ処理部は質量分析計を制御する制御部１０と前記検出
器より検出されたスペクトルをサンプリングタイムＴ毎
にＡ ／ ＩＤ変換する収集部１１と該収集された感度
値を関数発生部１２により変換された質量数値に匹敵す
るアドレスに記憶させる記憶部１３と各々のタイミング
を制御するタイミングコントロール部１４から成るスペ
グ［・ル出力インターフエイス部１５と該記憶部のＡ領
域のファイルを保存する外部記憶部］−６どＢ領域のフ
ァイルから全領域又は指定質量範囲の生データスベクＩ
・ルの表示を行うスペクＩ・ル表示器１７とから構成さ
れている。
散を制御およびデータ処理する制御データ処理部２とか
ら成る。該質量分析側はイオンを生成するイオン源３と
該生成されたイオンを加速する加速電源４と該加速され
たイオン髪収集・偏向する電場５および磁場６と該電場
および磁場を制御する電場電源７と磁場電源８と該分散
されたイオンを検出する検出器９からなる。酌記制御デ
タ処理部は質量分析計を制御する制御部１０と前記検出
器より検出されたスペクトルをサンプリングタイムＴ毎
にＡ ／ ＩＤ変換する収集部１１と該収集された感度
値を関数発生部１２により変換された質量数値に匹敵す
るアドレスに記憶させる記憶部１３と各々のタイミング
を制御するタイミングコントロール部１４から成るスペ
グ［・ル出力インターフエイス部１５と該記憶部のＡ領
域のファイルを保存する外部記憶部］−６どＢ領域のフ
ァイルから全領域又は指定質量範囲の生データスベクＩ
・ルの表示を行うスペクＩ・ル表示器１７とから構成さ
れている。
次に本実施例の動作を説明する、まず、制御部は取得す
べき質量範囲の設定を行い、該質量範囲を第４図の掃引
タイミングに従って掃引する。掃引タイミングは１サイ
クルタイムの繰り返しにより成り、データ収集を行うス
キャンタイムと収集を行わない待ち時間から構成されて
いる。スキャナタイム中にはタイミングコントロール部
のタイマよりサンプリングタイムＴ毎に収集部へとタイ
マ割込みが働き、サンプリングタイム毎にスペクトルの
感度値をＡ／Ｄ変換する。該Ａ／Ｄ変換された感度値は
ＧａｔｅＡ １ 、 ＧａｔｅＢ １を通って制御部の
制御信号と同一のデジタル値を関数発生部により質量数
値に変換し、該質量数値と同一のアドレスへ記憶される
。該質量対感度比の関係は第２図のＡ、Ｂ両領域に最上
位ビットの反転により記憶される。Ａ領域、Ｂ領域とも
Ａｏ 、Ｂｏを掃引全域の１フアイルとし、ｎ回までの
ファイルをＡ ｎ 。
べき質量範囲の設定を行い、該質量範囲を第４図の掃引
タイミングに従って掃引する。掃引タイミングは１サイ
クルタイムの繰り返しにより成り、データ収集を行うス
キャンタイムと収集を行わない待ち時間から構成されて
いる。スキャナタイム中にはタイミングコントロール部
のタイマよりサンプリングタイムＴ毎に収集部へとタイ
マ割込みが働き、サンプリングタイム毎にスペクトルの
感度値をＡ／Ｄ変換する。該Ａ／Ｄ変換された感度値は
ＧａｔｅＡ １ 、 ＧａｔｅＢ １を通って制御部の
制御信号と同一のデジタル値を関数発生部により質量数
値に変換し、該質量数値と同一のアドレスへ記憶される
。該質量対感度比の関係は第２図のＡ、Ｂ両領域に最上
位ビットの反転により記憶される。Ａ領域、Ｂ領域とも
Ａｏ 、Ｂｏを掃引全域の１フアイルとし、ｎ回までの
ファイルをＡ ｎ 。
Ｂｎとして記憶される。該記憶された質量対感度比は掃
引が終了した待ち時間の間にＡ領域はＧａｔｅＡ２を通
って外部記憶部へ、Ｂ領域はＧａｔｅＢ ２を通ってス
ペクトル表示器へ送出される。外部記憶部はデータ保存
を行い、スペクトル表示器は第５図に示すように掃引全
域又は指定質量範囲を表示し、例えば、動的スペクトル
に斜線部のようなテーリングが見られる場合、これを修
正すべく質量分析計の所定の部署を調整する。
引が終了した待ち時間の間にＡ領域はＧａｔｅＡ２を通
って外部記憶部へ、Ｂ領域はＧａｔｅＢ ２を通ってス
ペクトル表示器へ送出される。外部記憶部はデータ保存
を行い、スペクトル表示器は第５図に示すように掃引全
域又は指定質量範囲を表示し、例えば、動的スペクトル
に斜線部のようなテーリングが見られる場合、これを修
正すべく質量分析計の所定の部署を調整する。
したがって、生データスペクトルをデータ収集中に表示
することにより、より正確なスペクＩ・ルを取得できる
効果がある。
することにより、より正確なスペクＩ・ルを取得できる
効果がある。
本発明によればデータ収集中に指定質量領域の動的スペ
ク１〜ルを表示てきるので、実測定に合致した最適条件
を容易に見い出すことができる、特に感度の低いピーク
あるいは感度の低い同位体ピークの測定により効果を発
揮する。
ク１〜ルを表示てきるので、実測定に合致した最適条件
を容易に見い出すことができる、特に感度の低いピーク
あるいは感度の低い同位体ピークの測定により効果を発
揮する。
第１図は本発明の−・実施例の構成図、第２図は本発明
の一実施例のスペクトル出力インターフェイス部の構成
図、第３図は動作フロー図、第４図は制御信号タイミン
グを示す図、第５図は本発明の表示例を示す図である。
の一実施例のスペクトル出力インターフェイス部の構成
図、第３図は動作フロー図、第４図は制御信号タイミン
グを示す図、第５図は本発明の表示例を示す図である。
Claims (1)
- １、イオンを生成し加速するイオン源と該イオン源に加
速電圧を印加する加速電源と該加速されたイオンを収束
・偏向を行う電場と該電場に電場電圧を印加する電場電
源と収束・偏向されたイオンを質量分散させる磁場と該
磁場に磁場電流を印加する磁場電源と分散されたイオン
を検出する検出器より成る質量分析計と前記各電源を制
御する制御部と該検出器より得られたイオン量をピーク
判定せずに（以下、生データスペクトルと称す）質量対
感度比あるいは、時間対感度比の関係に取込む収集部と
該収集された質量対感度あるいは時間対感度比の関係を
横軸に時間または質量数、縦軸に感度としたスペクトル
を表示する表示装置より成る制御データ処理装置を備え
た質量分析装置において該質量数とアドレスを一致させ
た指定掃引全域の質量対感度比の関係を記憶する記憶部
と特定質量領域を記憶する記憶部と該両記憶部に同時に
指定掃引全域の質量対感度比の関係を記憶し、前記関数
発生部より得られた質量数値すなわちアドレス値で該ア
ドレスを掃引することにより全域および指定領域の生デ
ータスペクトルを同一画面上に表示するスペクトル出力
インターフェイスを設けたことを特徴とする質量分析装
置のスペクトル出力インターフェイス。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2141378A JPH0436949A (ja) | 1990-06-01 | 1990-06-01 | 質量分析装置のスペクトル出力インターフエイス |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2141378A JPH0436949A (ja) | 1990-06-01 | 1990-06-01 | 質量分析装置のスペクトル出力インターフエイス |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0436949A true JPH0436949A (ja) | 1992-02-06 |
Family
ID=15290608
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2141378A Pending JPH0436949A (ja) | 1990-06-01 | 1990-06-01 | 質量分析装置のスペクトル出力インターフエイス |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0436949A (ja) |
-
1990
- 1990-06-01 JP JP2141378A patent/JPH0436949A/ja active Pending
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