JPH02168156A - 質量分析装置 - Google Patents

質量分析装置

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JPH02168156A
JPH02168156A JP63328126A JP32812688A JPH02168156A JP H02168156 A JPH02168156 A JP H02168156A JP 63328126 A JP63328126 A JP 63328126A JP 32812688 A JP32812688 A JP 32812688A JP H02168156 A JPH02168156 A JP H02168156A
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JP
Japan
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signal
mass
memory
conditions
data
Prior art date
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Pending
Application number
JP63328126A
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English (en)
Inventor
Kiyoshi Shimizu
清水 喜代志
Tomomi Udo
有働 知美
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
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Publication of JPH02168156A publication Critical patent/JPH02168156A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 本発明は、質量分析装置に係り、特には、質量分離され
たイオンの検出信号に基づくピークプロファイルを表示
する表示部分の改善に関する。
(ロ)従来の技術 一般に、質量分析装置は、イオン源で試料をイオン化し
、そのイオンを収束レンズで収束した後、マスフィルタ
に導入し、このマスフィルタでイオンを質量数に応じて
分離した後、検出器で検出することによりマススペクト
ルを得るものであって、これによって試料の定性、定量
分析を行うことができる。
ところで、イオン化された試料を効率良くマスフィルタ
に導入するには、収束レンズの収束条件を適正に設定す
る必要がある。また、質量数に応じてイオンを確実に分
離するためには、マスフィルタjこ印加する走査信号条
件を適正に設定する必要がある。そのため、分析開始に
先立って、収束レンズの収束条件を調整する感度調整と
、質量走査条件(四重概形のマスフィルタの場合には、
AC電圧とDC電圧の比)を調整する分解能調整が行わ
れる。
この調整は、通常、質量数が既知で、かつ、測定される
マススペクトルが比較的安定な標準試料(たとえば、P
FTBA等)を用い、この標準試料の特定の質量数をも
つイオンを予め複数選定した後、選定した各イオンの質
量数を含んだ所定の質量走査RvIIを複数チャンネル
設定する。そして、標準試料をイオン源に導入するとと
もに、時分割でチャンネルを切り換えて質量走査を行う
ことにより各特定イオンのピークプロファイルをそれぞ
れ測定し、これらのピークプロファイルの形状を観察し
つつ収束条件や走査信号条件を変更することにより行な
われる。
このような調整においては、収束条件や走査信号条件を
変更した場合のピークプロファイルの変化が重要となる
。すなわち、分解能のみに着目してピーク幅を狭くする
ようにすると、逆に信号強度が低下して検出感度が悪く
なることがあるので、これらのバランスを保つ上で、条
件変更前後のピークプロファイルを対比観察しつつ調整
を進める必要がある。
(ハ)発明が解決しようとする課題 ところが、従来技術では、感度や分解能の調整に際して
、条件変更前後のピークプロファイルの変化を同一画面
上に表示し、これらを直接対比して観察できる手段は何
等設けられていなかった。
そのため、従来は、条件変更に伴う信号の変化量を比較
観察するためには、別途、条件変更面のピークプロファ
イルをX−Yレコーダ等に記録しておく必要があった。
しかし、このように、条件変更のたびに変更前のピーク
プロファイルをレコーダ等に別途記録するのは、余分な
手間かがかるばかりか、調整に要する時間か長くかかる
ことになって好ましくない。
、本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであ
って、条件変更前後のピーク、プロファイルの変化の状
況が同一画面上に明確に区別して表示できるようにして
、条件調整を短時間の内に、かつ効率良く行えるように
することを目的とする。
(ニ)課題を解決するための手段 本発明は、上記の目的を達成するために、イオン源から
のイオンを収束する収束レンズと、この収束レンズで収
束されたイオンを質量分離するマスフィルタと、このマ
スフィルタを通過したイオンを検出する検出器と、前記
収束レンズの収束条件やマスフィルタに印加する質量走
査信号条件をそれぞれ設定する条件設定部とを備えた質
量分析装置において、次の構成を採る。
すなわち、本発明の質量分析装置では、検出器から出力
される検出信号のピークプロファイルを記憶する複数の
メモリと、前記条件設定部から分析条件の設定信号が出
力されるたびに、これに応答して前記メモリに対するデ
ータ転送の転送パルスを発生する転送パルス発生部と、
前記各メモリに対して個別に設けられ、各メモリから読
み出されたデータを色信号、線種信号等の識別信号に変
換して出力する識別信号発生部と、各識別信号発生部か
らの識別信号を共に人力して表示する表示器とを備えて
いる。
(ホ)作用 上記構成によれば、検出器から出力される検出信号のピ
ークプロファイルは、最萌段のメモリに記憶される。
感度や分解能の調整のために、収束レンズの収束条件や
マスフィルタに印加する質量走査信号条件を条件設定部
を操作して変更すると、この条件設定部から出力される
条件設定信号に応答して、転送パルス発生部から各メモ
リに対してデータ転送パルスが出力される。これにより
、メモリに記憶されたピークプロファイルのデータが次
段のメモリに転送される。したがって、条件設定部を操
作するたびに、各メモリのピークプロファイルのデータ
が次段のメモリに転送される。
各メモリに記憶されたピークプロファイルのデータは、
それぞれの識別信号発生部により、色信号や線種信号等
の識別信号に変換された後、同時に読み出されて表示器
に表示される。これにより、表示器には、条件変更前後
のピークプロファイルが同一画面上に色や線種で明確I
こ区別して表示される。
したがって、表示された条件変更前後の各ピークプロフ
ァイルの形状を直接対比して観察しつつ、調整を進める
ことができる。
(へ)実施例 第1図は質量分析装置の全体構成を示すブロック図であ
る。同図において、!は質量分析計の全体を示し、2は
分析計本体部である。この分析計本体部2は、試料をイ
オン化するイオン源4、イオン源4からのイオンを収束
する収束レンズ6、収束レンズ6で収束されたイオンを
質量分離するマスフィルタ8、およびマスフィルタ8を
通過したイオンを検出する検出510を備える。
+2は検出器10からの検出信号を増幅する増幅器、1
4は増幅器12を通った信号をデジタル化して取り込む
信号読取部である。また、16は収束レンズ6の収束条
件やマスフィルタ8に印加する質量走査信号条件をそれ
ぞれ設定する条件設定部、18は条件設定部16で設定
された収束条件に基づいて収束レンズ6に対する印加電
圧を制御する収束条件制御部、20は条件設定部16で
設定された質量走査信号条件に基づいてマスフィルタ8
に印加する質量走査信号を制御する質量走査信号発生部
、22は質量走査信号発生部20からの質量走査信号の
発生タイミングと信号読取部!4の読み取りタイミング
とを同期させるタイミングパルスを発生するタイミング
パルス発生部である。
24は条件設定部16からの条件設定信号を通過させる
オアゲート、26はオアゲート24を通過した条件設定
信号が出力されるたびに、これに応答して転送パルスを
発生する転送パルス発生部である。また、28a〜28
cは信号読取部14で読み取られたピークプロファイル
のデータを記憶する第1〜第3識別信である。30a〜
30cは各メモリ28a〜28cから読み出されたデー
タを識別信号に変換して出力する第1〜第3識別信号発
生部であって、本例では、色信号変換回路が適用され、
第1メモリ28aからのデータに対しては赤、第2メモ
リ28bからのデータに対しては緑、第3メモリ28c
からのデータに対しては青の各色信号に変換されて出力
される。32は条件設定部16により必要に応じてオン
・オフ切り換えられるスイッチ回路、34は第1〜第3
識別信号発生ffl< 30 a〜30cからの識別信
号を共に人力して表示するカラーCRT等の表示器であ
る。
次に、上記構成の質量分析装置1において、分析感度や
分解能の調整時における動作について説明する。なお、
この実施例では、説明を容易にするため、標準試料で得
られる複数種類のイオンへのチャンネル切り換えは行わ
ず、一つのイオンについてのみ質量走査を行って分析条
件を調整するしのとする。
イオン純に導入された標準試料はここでイオン化された
後、収束レンズ6を通ってマスフィルタ8に導入される
。一方、質量走査信号発生部20からは、タイミングパ
ルス発生部22から与えられたタイミングパルスa(第
2図(a)参照)に応答して、質量走査信号b(第2図
(b)参照)が発生され、この質量走査信号すがマスフ
ィルタ8に印加されろ。これにより、特定の質量数をも
つイオンのみがマスフィルタ8を通過して検出器■0で
検出される。検出510からの検出信号C(第2図(c
)参照)は、増幅器12を介して信号読取部14に入力
される。信号読取部14は、タイミングパルス発生部2
2からのタイミングパルスに応答して、この検出信号を
デジタル化し、このデータを第1メモリ28aに送出す
る。したがって、第3図(a)に示すように、第1メモ
リ28aには、最初、調整前のピークプロファイルが記
憶される。そして、第1メモリ28aのデータは、第1
識別信号発生部30aにより赤の色信号に変換された後
、表示器34に出力される。したがって、第3図(b)
に示ケように、表示器34には、最初、ピークプロファ
イルが赤色で表示される。なお、その後、条件設定部1
6を操作しない限り、各々の質量走査に伴って得られる
ピークプロファイルは、第1メモリ28aにのみ記憶さ
れるので、第1メモリ28aの内容が質量走査のたびに
更新されることになる。
次に、感度調整や分解能調整のために、第2図の11時
刻において、条件設定部16を操作して収束条件制御部
18もしくは質量走査信号発生部20に与える設定条件
を変更すると、この条件設定信号がオアゲート24を介
して転送パルス発生部26に加えられる。転送パルス発
生部26は、これに応答して、第1〜第3メモリ28a
〜28cに対してデータ転送パルスを出力する。これに
より、当初、第1メモリ28aに記憶されていたピーク
プロファイルのデータが次段の第2メモリ28bに転送
される。一方、設定条件を変更することにより得られた
検出信号に基づくピークプロファイルのデータは、第1
メモリ28aに記憶される。
そして、調整に伴うピークプロファイルの変化を観察し
たい場合には、条件設定部16を操作してスイッチ回路
32をオンにする。これにより、第2メモリ28bに記
憶されているデータは、第2識別信号発生部30bによ
り緑の色信号に変換され、第1メモリ28aのデータに
基づく赤の色信号とともに表示器34に出力される。し
たがって、表示器34には、条件設定の変更前のピーク
プロファイルが赤色で、変更後のピークプロファイルが
緑色でそれぞれ表示される。
さらに、第2図の時刻t、において、条件設定部I6を
操作して条件設定を変更した場合には、第2メモリ28
bのデータが第3メモリ28cに転送されるので、表示
器34には、最初の設定条件の下でのピークプロファイ
ルが青色で、次の設定条件変更後のピークプロファイル
が緑色で、最新の設定条件変更後のピークプロファイル
が赤色でそれぞれ表示されることになる。
このように、表示器34には、設定条件を変更するたび
に、これに伴って得られるピークプロファイルが同一画
面上に同時に明確に区別して表示されるので、これらの
各ピークプロファイルの形状を直接対比して観察しつつ
、調整を進めることができる。
なお、この実施例では、識別信号発生部30a〜30c
からは色信号が発生されるようにしているが、その他、
線種信号を発生するようにしてもよい。すなわち、第1
メモリ28aのデータに対しては実線、第2メモリ28
bのデータに対しては破線、第3メモリ28cのデータ
に対しては鎖線のピークプロファイルがそれぞれ表示さ
れるようにすることもできる。さらに、この実施例では
、3つのメモリ28a〜28cを設けているか、ピーク
プロファイルを直接比較できればよいので最低2つのメ
モリがあればよい。また、さらに多数のメモリを設けれ
ば、調整が一層容易になる。
(ト)効果 本発明によれば、感度や分解能の調整に際して、条件変
更前後のピークプロファイルの状況が同一画面上に明確
に区別して表示されるので、従来に比べて、分析開始前
の条件調整を短時間の内に、かつ、効率良く行えるよう
になる等の優れた効果が発揮される。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の実施例を示すもので、第■図は質1分析
装置の全体構成を示すブロック図、第2図は同装置の出
力信号のタイムチャート、第3図はメモリ内容と表示内
容の時間経過を示す説明図である。 ■・・・質量分析装置、2・・・分析計本体部、4・・
・イオン源、6・・・収束レンズ、8・・・マスフィル
タ、IO・・・検出器、16・・・条件設定部、26・
・・転送パルス発生部、28a〜28c・・・第1〜第
3メモリ、30a〜30c・・・第1〜第3識別信号発
生部、34・・・表示器。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)イオン源からのイオンを収束する収束レンズと、
    この収束レンズで収束されたイオンを質量分離するマス
    フィルタと、このマスフィルタを通過したイオンを検出
    する検出器と、前記収束レンズの収束条件やマスフィル
    タに印加する質量走査信号条件をそれぞれ設定する条件
    設定部とを備えた質量分析装置において、 前記検出器から出力される検出信号のピークプロファイ
    ルを記憶する複数のメモリと、 前記条件設定部から分析条件の設定信号が出力されるた
    びに、これに応答して前記メモリに対するデータ転送の
    転送パルスを発生する転送パルス発生部と、 前記各メモリに対して個別に設けられ、各メモリから読
    み出されたデータを色信号、線種信号等の識別信号に変
    換して出力する識別信号発生部と、これらの各識別信号
    発生部からの識別信号を共に入力して表示する表示器と
    、 を備えることを特徴とする質量分析装置。
JP63328126A 1988-12-21 1988-12-21 質量分析装置 Pending JPH02168156A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63328126A JPH02168156A (ja) 1988-12-21 1988-12-21 質量分析装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP63328126A JPH02168156A (ja) 1988-12-21 1988-12-21 質量分析装置

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JPH02168156A true JPH02168156A (ja) 1990-06-28

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ID=18206778

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63328126A Pending JPH02168156A (ja) 1988-12-21 1988-12-21 質量分析装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018031791A (ja) * 2017-10-31 2018-03-01 株式会社島津製作所 質量分析方法及び質量分析装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5788663A (en) * 1980-11-25 1982-06-02 Hitachi Ltd Displaying device for mass spectrometer

Patent Citations (1)

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