JPH0436111Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0436111Y2
JPH0436111Y2 JP1986116712U JP11671286U JPH0436111Y2 JP H0436111 Y2 JPH0436111 Y2 JP H0436111Y2 JP 1986116712 U JP1986116712 U JP 1986116712U JP 11671286 U JP11671286 U JP 11671286U JP H0436111 Y2 JPH0436111 Y2 JP H0436111Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead
bonding
detection
reference mark
stage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP1986116712U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6324833U (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP1986116712U priority Critical patent/JPH0436111Y2/ja
Publication of JPS6324833U publication Critical patent/JPS6324833U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0436111Y2 publication Critical patent/JPH0436111Y2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、半導体素子にワイヤを接合するとき
に用いられるボンデイング装置に関するものであ
る。
〔従来の技術〕
半導体素子、例えばICとリードとの間のワイ
ヤボンデイング作業に当つては、セラミツクスな
どでは加熱の際にひずみを生ずるから、まず最初
にICがダイボンドされたリードフレームの各リ
ードの位置が基準位置からどのようにずれている
かを検出し、そのずれ量の検出結果に基づいてボ
ンデイング位置を決め、その後ボンデイング作業
を行つており、これらのリード位置の検出とワイ
ヤボンデイングは同一のステージ、即ちボンデイ
ングステージで行われるように構成されている。
〔考案が解決しようとする問題点〕
このように、従来のボンデイング装置では、各
リード位置の検出とボンデイング作業とが同一の
ステージで行われているために、ステージの構成
が複雑となり、また同一ステージでリード位置の
検出後ボンデイング作業を行うため、次のリード
位置の検出はボンデイング作業が終了してからで
ないと行うことができなかつた。したがつて、一
連の作業時間が長くなるという問題があり、多量
生産の立場からは作業所要時間の短縮が望まれて
いる。
本考案は、前記従来の問題点を解決し、リード
位置を検出するステージとボンデイングの作業ス
テージとを別々に分離し、リード位置の検出とボ
ンデイング作業を同時に行うことができるように
し、製品の完成に要する時間を短縮することがで
きるボンデイング装置を提供しようとするもので
ある。
〔問題点を解決するための手段〕
本考案は、半導体素子がダイボンドされかつ検
出基準マークが設けられたリードフレーム4のリ
ード位置と前記検出基準マークの位置とを検出す
る位置検出用カメラ3をXYテーブル1上にアー
ム2で備えたリード位置検出ステージAと、検出
された前記リードフレーム4のリード位置と検出
基準マークの位置を記憶してXYテーブル1を制
御する実際位置記憶装置24を含むリード認識制
御部6と、前記リードフレーム4の移送装置22
を介して前記リード位置検出ステージAと別個に
設けられ、前記リードフレーム4の検出基準マー
クの位置と前記半導体素子の検出基準マークの位
置とを検出する基準マーク位置確認用カメラ13
をXYテーブル11上にアーム12で備えて、前
記半導体素子のワイヤボンデイングを行うボンデ
イング作業ステージBと、予め知られている半導
体素子の検出基準マークに対するパツド位置を記
憶する基準位置記憶装置21及びボンダ認識部1
9を含み、前記リード認識制御部6およびXYテ
ーブル11を制御するボンダ制御部18とを設け
ると共に、該ボンデイング作業ステージBに検出
基準マークの検出値と、前記実際位置記憶装置2
4と前記基準位置記憶装置21に記憶されたリー
ド位置とパツド位置により求められた前記ボンデ
イング作業ステージB上の実際のリード位置とパ
ツド位置に基づいて相対的に移動するボンデイン
グヘツド17及び回転受台15を備えたことを特
徴とする半導体素子のボンデイング装置である。
〔実施例〕
さらに本考案の一実施例を図面を参照しながら
説明すれば、第1図はボンデイング装置を示す各
構成部材の関連を示す系統図であり、Aはリード
位置検出ステージであつて、XYテーブル1にア
ーム2によつて連結された位置検出用カメラ3が
水平移動可能に支持され、また半導体素子がダイ
ボンドされ、かつ検出基準マーク(通常2ケ所)
が設けられたリードフレーム4を載置する固定受
台5を有している。6はリード認識制御部で、入
力装置9の出力が印加される制御部7とリード認
識部8とで構成され、リード認識制御部6の出力
はXYテーブル1の運動を制御し、位置検出用カ
メラ3はXYテーブル1の動きにしたがつて、固
定受台5上の実際のリードフレーム4のリード位
置と検出基準マークの位置の検出データをリード
認識部8に送ると同時に、モニタ10にも映し出
すようにシステム制御されている。また、リード
認識制御部6は、検出された実際のリードフレー
ム4のリード位置と検出基準マークの位置を記憶
する実際位置記憶装置24を備えている。
そして、この実際位置記憶装置24では、リー
ド位置検出ステージAの位置検出カメラ3で得ら
れた画像をリード認識部8で処理したデータと、
後述するボンデイング作業ステージB側のボンダ
認識部19から転送されてくるデータとを記憶さ
せ、これらを制御部7に指示するもので制御部7
で演算処理してリード認識制御部6の制御出力と
して、XYテーブル及びボンダ制御部18へ送ら
れる。
なお、リードフレーム4のリード位置を検出す
る際には処理しようとするリードフレーム4の種
類、形状などによつて検出基準が異なるので、入
力装置9は対象物に最も適するパラメータでつく
られたデータを有している。
Bは、前述したリード位置検出ステージAとリ
ードフレーム4の移送装置22を介して別個に設
けられたボンデイング作業ステージであつて、移
送装置22によつてボンデイング作業ステージの
回転受台15上に移送され、ボンデイングされる
べきリードフレーム4の検出基準マークの位置と
半導体素子の検出基準マークの位置を検出するた
めの基準マーク位置検出器としての位置確認用カ
メラ13が、XYテーブル11にアーム12で連
結され、さらにXYテーブル上にはZテーブル1
6が設けられ、このZテーブル16にボンデイン
グヘツド17が支持されている。18はボンダ制
御部で、XYテーブル11の運動及び回転受台1
5の回転を制御するもので、また位置確認用カメ
ラ13で観察した結果がボンダ認識部19を介し
てモニタ20に映し出されるようになつている。
21は基準位置記憶装置である座標記憶用メモ
リであつて、リードフレーム4の設計基準位置の
座標及び予め知られている半導体素子の検出基準
マークに対するパツド位置の座標が記憶されてお
り、記憶されている設計基準位置の座標のデータ
はボンダ制御部18を経てリード認識制御部6に
送られ、またここからモニタ10に至り映像面に
示されるようになつている。
なお、リード認識制御部6とボンダ制御部18
の相互間、及びリード認識制御部6とボンダ認識
部19の相互間には、リード位置検出ステージA
とボンデイング作業ステージBにおいてリードフ
レーム4などを観察する上の制御に要するデータ
の交換が行われる。
さらに、移送装置22はリード位置検出ステー
ジAの固定受台5とボンデイング作業ステージB
の回転受台15間に設けられ、ボンダ制御部18
の指示によつて駆動されるようになつており、移
送装置22としては、例えば第2図に示すよう
に、固定受台5と回転受台15間を案内路23に
て連結し、この案内路23で図示しない送り爪な
どを駆動させてリードフレーム4を移送させるよ
うにする。
しかして、半導体素子がダイボンドされている
リードフレームは、位置検出ステージAの固定受
台5に載置され、入力装置9の出力がリード認識
制御部6に印加されると、リード認識制御部6の
出力によつてXYテーブル1の運動が制御され、
位置検出用カメラ3はXYテーブル1の動きにし
たがつて固定受台5上のリードフレーム4の検出
基準マークの位置を観察するが、同時に座標記憶
用メモリ21からリードフレーム4の設計基準位
置の座標データをボンダ制御部18を経てリード
認識制御部6に送ることによつて、位置検出用カ
メラ3のおよその位置が設定され、それから実際
の位置が速やかに検出される。次いで、検出され
たリードフレーム4の検出基準マークの座標によ
り各リードの実際位置が演算され、これらのデー
タはすべてリード認識部8に記憶され、さらにボ
ンダ認識部に送られる。
また、この時には、固定受台5上のリードフレ
ーム4の位置と座標記憶用メモリ21からのデー
タとのずれがモニタ10上に映し出される。
かようにしてリードフレーム4の検出基準マー
クと各リードの実際位置の検出が終ると、リード
認識制御部6からボンダ制御部18にシグナルが
送られ、次いでボンダ制御部18の指示にしたが
つて移送装置22が駆動され、固定受台5に載置
されているリードフレーム4を、矢印の如くボン
デイング作業ステージBの回転受台15の上に移
送する。
ボンデイング作業ステージBの回転受台15の
上に移送されたリードフレーム4は固定受台5上
の位置とは必ずしも同一ではないから、リード位
置検出ステージAの場合のように、ボンダ制御部
18の出力を受けてXYテーブル11の運動が制
御され、リードフレーム4の検出基準マークと半
導体素子の検出基準マークの実際位置が位置確認
用カメラ13で観察される。その結果はボンダ認
識部19に送られ、リード認識制御部6から送ら
れてくるデータと比較されて、移送に伴う各検出
基準マークのずれ量が検出され、リードフレーム
4の検出基準マークのずれ量により回転受台15
上のボンデイングすべき各リードの実際位置が算
出され、また半導体素子の検出基準マークのずれ
量及び座標記憶用メモリ21から半導体素子の実
際のパツド位置が算出され、これらの算出値によ
りボンデイング位置が決定され、モニタ20に映
し出されると共に、ボンダ制御部18の出力によ
つて回転受台15とXYテーブル11上のボンデ
イングヘツド17が相対的に移動するように制御
され、リードフレーム4のリードと半導体素子の
パツド間のワイヤボンデイングが行われるが、こ
の間前述したようにリード位置検出ステージAで
は次のリードフレーム4の位置検出が行われる。
ワイヤボンデイング終了後のリードフレーム4は
移送装置22の駆動により回転受台15から系外
に搬出され、同時にリード位置検出ステージAで
位置検出を終えたリードフレーム4がボンデイン
グ作業ステージBに移送され、さらに次のリード
フレーム4がリード位置検出ステージAに移送さ
れる。
〔考案の効果〕
以上述べたように、本考案によるボンデイング
装置は、リード位置検出ステージとボンデイング
作業ステージを移送装置を介して別個に設け、リ
ード位置検出ステージでリードフレームの検出基
準マークとそれに対するリード位置の検出を行つ
た後、ボンデイング作業ステージに移送されて検
出基準マークの検出のみで実際のボンデイング位
置を決定し、ワイヤボンデイングを行いつつ同時
に次のリード位置検出を行うもので、リード位置
検出ステージとボンデイング作業ステージとの検
出値によつて制御に要するデータの交換が行われ
ボンデイングヘツド及び回転受台とを相対的に移
動せしめて作業できるので、作業精度が著しく良
好になり信頼性並びに作業性を向上して製品の完
成に要する時間を大巾に短縮することができ、ま
た各ステージの構成もシンプルになり、組立容易
で取扱いも便利になる。
【図面の簡単な説明】
図面は本考案の一実施例を示し、第1図は系統
説明図、第2図は移送装置部の平面図である。 A……リード位置検出ステージ、B……ボンデ
イング作業ステージ、1……XYテーブル、2…
…アーム、3……位置検出用カメラ、4……リー
ドフレーム、5……固定受台、6……リード認識
制御部、7……制御部、8……リード認識部、9
……入力装置、10……モニタ、11……XYテ
ーブル、12……アーム、13……位置確認用カ
メラ、15……回転受台、16……Zテーブル、
17……ボンデイングヘツド、18……ボンダ制
御部、19……ボンダ認識部、20……モニタ、
21……座標記憶用メモリ、22……移送装置、
23……案内路、24……実際位置記憶装置。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 半導体素子がダイボンドされかつ検出基準マー
    クが設けられたリードフレーム4のリード位置と
    前記検出基準マークの位置とを検出する位置検出
    用カメラ3をXYテーブル1上にアーム2で備え
    たリード位置検出ステージAと、検出された前記
    リードフレーム4のリード位置と検出基準マーク
    の位置を記憶してXYテーブル1を制御する実際
    位置記憶装置24を含むリード認識制御部6と、
    前記リードフレーム4の移送装置22を介して前
    記リード位置検出ステージAと別個に設けられ、
    前記リードフレーム4の検出基準マークの位置と
    前記半導体素子の検出基準マークの位置とを検出
    する基準マーク位置確認用カメラ13をXYZテ
    ーブル11上にアーム12で備えて、前記半導体
    素子のワイヤボンデイングを行うボンデイング作
    業ステージBと、予め知られている半導体素子の
    検出基準マークに対するパツド位置を記憶する基
    準位置記憶装置21及びボンダ認識部19を含
    み、前記リード認識制御部6およびXYZテーブ
    ル11を制御するボンダ制御部18とを設けると
    共に、該ボンデイング作業ステージBに検出基準
    マークの検出値と、前記実際位置記憶装置24と
    前記基準位置記憶装置21に記憶されたリード位
    置とパツド位置により求められた前記ボンデイン
    グ作業ステージB上の実際のリード位置とパツド
    位置に基づいて相対的に移動するボンデイングヘ
    ツド17及び回転受台15を備えたことを特徴と
    する半導体素子のボンデイング装置。
JP1986116712U 1986-07-31 1986-07-31 Expired JPH0436111Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1986116712U JPH0436111Y2 (ja) 1986-07-31 1986-07-31

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1986116712U JPH0436111Y2 (ja) 1986-07-31 1986-07-31

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6324833U JPS6324833U (ja) 1988-02-18
JPH0436111Y2 true JPH0436111Y2 (ja) 1992-08-26

Family

ID=31001561

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1986116712U Expired JPH0436111Y2 (ja) 1986-07-31 1986-07-31

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0436111Y2 (ja)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5678132A (en) * 1979-11-30 1981-06-26 Hitachi Ltd Wire bonding method and device

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5678132A (en) * 1979-11-30 1981-06-26 Hitachi Ltd Wire bonding method and device

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6324833U (ja) 1988-02-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3101854B2 (ja) ワイヤボンデイング装置
JPH0436111Y2 (ja)
JP3106345B2 (ja) ワイヤボンディング装置
JP2570585B2 (ja) プローブ装置
JPH07297223A (ja) ボンデイング座標のティーチング方法及びティーチング手段
JP2534912B2 (ja) ワイヤボンディング装置
JP3272312B2 (ja) 位置認識手段の移動装置
JP3817021B2 (ja) ワイヤボンディング装置のボンディングレベル設定方法
JPS6120134B2 (ja)
JP3462298B2 (ja) ワイヤボンディング装置
JP3241649B2 (ja) 半導体デバイスの製造方法およびその製造装置
JP3404755B2 (ja) ワイヤボンディング装置
JPH01161727A (ja) ワイヤーボンデイング装置
KR100348830B1 (ko) 더블본딩 방지의 화상인식 방법
JPH07142530A (ja) ボンデイング座標のティーチング方法及びティーチング手段
JPS6120136B2 (ja)
JP2853252B2 (ja) アライメント方法並びにその装置
JP2513151Y2 (ja) ボンディング装置
JPH08111430A (ja) ワイヤボンダーのボンディング位置補正方法、およびその装置
JPS62271441A (ja) 位置ずれ補正方法
JPS63236340A (ja) ワイヤボンデイング装置
JPH0124931Y2 (ja)
JP2651685B2 (ja) ボンディング装置
JPH06151500A (ja) ボンディング装置
JPH0864630A (ja) ワイヤボンディング方法