JPH04357935A - 磁気共鳴診断装置および画像データ処理方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は磁気共鳴診断装置におい
て、高周波磁場波形の改良に係わり、特に通常の２倍の
スライス枚数を撮影する方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】（１）エイチ・ピー・ハフネル　　、マ
グネティク　　レゾナンス　　イン　　メディスン、１
３巻、（１９９０）２７９頁　　　　　　（　Ｈ．Ｐ．
Ｈａｆｎｅｒ　，　Ｍａｇｎｅｔｉｃ　Ｒｅｓｏｎａｎ
ｃｅ　ｉｎ　Ｍｅｄｉｃｉｎｅ　Ｖｏｌ．１３　（１９
９０）　ｐ．２７９　）（２）ジイ・エイチ・グロウヴ
ァア　　、「ポンプ　　イメージング　　：　　ア　　
ニュウ　　ハイ　　エフィシェンシイ　　テクニック」
　　、　　ソサイアティ　　オブ　　マグネティック　
　レゾナンス　　イン　　メディスン　　、第７回大会
予稿集、第１巻、（１９８８）２４１頁　　　　　　　
　（　Ｇ．Ｈ．Ｇｌｏｖｅｒ　，　”　ＰＯＭＰ　ｉｍ
ａｇｉｎｇ　：　Ａ　ｎｅｗ　ｈｉｇｈ　ｅｆｆｉｃｉ
ｅｎｃｙｔｅｃｈｎｉｑｕｅ　”　，　Ｓｏｃｉｅｔｙ
　ｏｆ　Ｍａｇｎｅｔｉｃ　Ｒｅｓｏｎａｎｃｅ　ｉｎ
　Ｍｅｄｉｃｉｎｅ　，　Ｓｅｖｅｎｃｅ　Ａｎｎｕａ
ｌＭｅｅｔｉｎｇ　ａｎｄ　Ｅｘｈｉｂｉｔｉｏｎ　Ｖ
ｏｌ．１　（１９８８）　ｐ．２４１　） （３）エイ　　エイ　　モウズリイ　　、　　ジャーナ
ル　　オブ　　マグネティック　　レゾナンス　　、　
　４１巻　　（１９８０）１１２頁　　　　　　　　（
　Ａ．Ａ．　Ｍａｕｄｓｌｙ，　Ｊｏｕｒｎａｌｏｆ　
Ｍａｇｎｅｔｉｃ　Ｒｅｓｏｎａｎｃｅ　Ｖｏｌ．４１
　，　（１９８０）　ｐ．１１２　）上記従来技術（１
）（２）（３）は、図５で示すＱＤ信号発生機能を持つ
高周波磁場発生装置のある磁気共鳴診断装置で実現する
。上記従来技術（３）にＱＤ信号を発生する高周波磁場
発生装置の構成が記述されている。ＱＤ信号を発生する
ため、高周波の基準周波数信号を０度、９０度、１８０
度、２７０度の４つの位相を持つ基準周波数信号に分離
し、おのおの独立して振幅変調し、再度合成する。０度
と１８０度の位相を持つ基準周波数信号はＲＥＡＬに、
９０度と２７０度の位相を持つ基準周波数信号はＩＭＡ
Ｇに対応させる。ＲＥＡＬとＩＭＡＧを独立に振幅変調
することにより、複数のスライスを任意の重みづけで同
時に励起することができる。

【０００３】上記従来技術（１）に２倍スライス撮影の
原理およびシミュレーション結果が記されている。計測
した２種類の信号デーダから２つの分離したスライス画
像を得る２倍スライス撮影の場合、２つのスライスを同
時に励起する。励起後、２つのスライスから発生する信
号の絶対値をＳ１、Ｓ２とする。一回目の計測では、Ｓ
１＋Ｓ２となるようにＲＥＡＬとＩＭＡＧに対応する基
準周波数信号を振幅変調する。二回目の計測では、Ｓ１
−Ｓ２となるようにする。（Ａ＋Ｂ）／２でＳ１が、（
Ａ−Ｂ）／２でＳ２が得られる。ただし、本説明では、
上記従来技術（１）の文献に載っている記号と異る記号
の定義をした。

【０００４】上記従来技術（２）は、一般にＮ倍スライ
ス撮影を行う方法について記載している。スライスを分
離する計算が画像再構成の演算であるフーリエ変換と同
様になるような工夫を行っている。しかし、Ｎ＝２の場
合は、上記従来記述（１）で述べられた２倍スライス撮
影と数学的に全く同等になる。

【０００５】上記従来技術（３）はラインスキャンとい
う撮影方法で具体的な応用を行っている。スピンエコー
法をうまく利用して、１つのスライス上の複数のライン
をアダマール行列の重みで同時に励起する。発生する信
号を計測し、その後の処理によって各ラインを分離する
。ラインスキャン撮影で具体的応用を行ったものである
が、２倍スライス撮影にも上記従来技術（３）の考え方
を適用することができる。すなわち、今日知られる撮影
法を用い、ライン数を２とし、ラインをスライスに置き
換えるて考えてみると、２倍スライス撮影をすることが
できる。

【０００６】なお、２倍スライス撮影やＮ倍スライス撮
影などを行う効果は、上記従来技術（２）（３）にも記
載されているように、複数のスライスを同時に励起して
観測したほうが、別々に励起して観測するよりも効率が
良いことにある。即ち、同じ測定時間、同じスライス枚
数を測定する場合には、同時に励起して観測する方が別
々に観測するよりも最終的な画像のＳ／Ｎが良くなる。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】上記従来技術（１）（
２）（３）は、図３で示す高周波磁場の発生装置をもつ
磁気共鳴診断装置では実現できない。

【０００８】本発明の目的は、図３で示す高周波磁場発
生装置をもつ磁気共鳴診断装置で２倍スライス撮影を実
現する方法を提供することにある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】ＣＯＳ成分を中心とした
フーリエ成分を持つ高周波磁場とＳＩＮ成分を中心とし
たフーリエ成分を持つ高周波磁場を発生させ、スライス
の同時励起、および計測を行う。

【００１０】

【作用】撮影するスライスの片方の信号の絶対値をＳ１
、もう片方の信号の絶対値をＳ２とする。ＣＯＳ成分を
中心としたフーリエ成分を持つ高周波磁場は、Ｓ１＋Ｓ
２なる信号Ａを作る。ＳＩＮ成分を中心としたフーリエ
成分を持つ高周波磁場はｉ・Ｓ１−ｉ・Ｓ２なる信号Ｂ
を作る。（Ａ−ｉ・Ｂ）／２で片方のスライスの信号Ｓ
１が求まり、（Ａ＋ｉ・Ｂ）でもう片方の信号Ｓ２が求
まる。

【００１１】

【実施例】以下本発明の実施例を（１）節から（１１）
節に分けて記述する。（１）節では磁気共鳴診断装置の
全体的な装置構成を述べ、（２）節で本発明に特に係り
のある高周波磁場発生装置の典型的なタイプと装置構成
、（３）節で各タイプの高周波磁場発生装置の関係、（
４）節で本発明で利用する高周波磁場発生装置のタイプ
について説明する。（５）節で本発明の実施例を説明す
るための準備として磁化の性質の一般的な説明を行い、
（６）節で本発明の概要を説明し、以下（７）節で操作
を説明し、（８）（９）節で部分の詳しい説明を行い、
（１０）（１１）節で拡張や変更を行った実施例につい
て述べる。

【００１２】（１）磁気共鳴診断装置の構成に関する一
般的な説明 図２に本発明を実施する磁気共鳴診断装置の構成図を示
す。

【００１３】静磁場発生装置２０２が作る磁場により、
検査対象２０１に磁化が発生する。検査対象２０１に発
生した磁化の密度分布などをあらわす断層像を撮影する
ために必要な諸操作はシーケンス制御装置２０６によっ
て行われる。

【００１４】シーケンス制御装置２０６は、傾斜磁場発
生装置２０３、高周波磁場発生装置２０４、受信装置２
０５、処理装置２０７を制御する。

【００１５】傾斜磁場発生装置２０３は場所によって強
度が線形に変化する傾斜磁場を発生する。装置の性能の
許す範囲内で任意の時刻に任意の強度の傾斜磁場を発生
する事ができる。検査対象２０１に発生した磁化に位置
情報を与えるなどの働きがある。

【００１６】高周波磁場発生装置２０４は、高周波磁場
を発生する。検査対象２０１に発生した磁化に、電磁気
的な摂動を与える。共鳴条件を満足する磁化にエネルギ
ーを与え、電磁波を出す状態にするなどの働きがある。

【００１７】受信装置２０５は、検査対象２０１の磁化
が励起状態にある時に発生する電磁波を受信し、処理装
置２０７に測定データを渡す。

【００１８】処理装置２０７では測定データを保存した
り、画像化など数々の処理や画像データの保存などを行
う。必要に応じて画像データなどを表示装置２０８に渡
す。 （２）高周波磁場発生装置２０４の典型的なタイプおよ
びその構成。

【００１９】高周波磁場発生装置は、数々のタイプがあ
る。図３から図６に代表例を示した。

【００２０】図３で示す高周波磁場発生装置は最も簡単
な構成を持つタイプのもので、高周波の基準周波数信号
発生装置３０３を１つだけ持つ。高周波の基準周波数信
号に振幅変調を加えて帯域を持った高周波信号を作り、
コイル３０５で照射して、高周波磁場を発生する。振幅
変調を行うための振幅変調波形は波形テーブル３０１に
格納する。シーケンス制御装置２０６は波形テーブル３
０１を参照して振幅変調波形のデジタル信号を高周波磁
場発生装置２０４に送る。Ｄ／Ａ３０２は振幅変調波形
のデジタル信号をアナログ信号に変換する。波形テーブ
ル３０１にもとづいた振幅変調波形のアナログ信号と高
周波の基準周波数信号を、ミクサー３０４で積算する。 積算により、波形テーブル３０１の振幅変調を受けた高
周波の信号ができる。コイル３０５で照射して、高周波
磁場を発生する。

【００２１】図４で示す高周波磁場発生装置は高周波の
基準周波数信号発生装置３０３の位相を自由にコントロ
ールする位相シフタ４０１を加えたものである。図３で
示した高周波磁場発生装置の機能に、高周波磁場の位相
を自由に制御するしくみが加わったものである。

【００２２】図５はＱＤ信号発生機能を持つ高周波磁場
発生装置の構成図である。ＱＤ信号を発生するため、１
つの基準周波数発生装置３０３を４つの基準周波数信号
に分離し、それぞれ０度、９０度、１８０度、２７０度
の位相を持たす。位相は、９０度位相シフタ６０１、１
８０度位相シフタ６０２、２７０度位相シフタ６０３で
つけられる。各位相の基準周波数信号は、各々独立して
、ミクサー３０４で波形テーブル３０１に基づいた振幅
変調を受ける。４つの位相の基準周波数信号がそれぞれ
独立して振幅変調を受け、再度合成される。０度と１８
０度がＲＥＡＬに、９０度と２７０度がＩＭＡＧの信号
に対応したＱＤ信号が発生する。コイル３０４で照射す
る。ＲＥＡＬとＩＭＡＧが独立した振幅変調を持ったＱ
Ｄの高周波磁場ができる。

【００２３】図６は、図５の高周波磁場発生装置と同等
な機能を持つＱＤ信号発生機能を持つ高周波磁場発生装
置の構成図である。９０°位相シフトした基準周波数信
号と１８０°位相シフトした基準周波数信号とは振幅の
符号が違うだけであり、どちらか一方があれば十分であ
る。０°と１８０°についても同様にどちらか一方があ
れば良い。従って図６のように、０°と９０°だけで同
一の機能が実現できる。

【００２４】（３）各タイプの高周波磁場発生装置の関
係 上記図３から図６の高周波磁場発生装置は、以下のよう
な上位互換性がある。図４の位相シフト機能を持つ高周
波磁場発生装置は、位相シフタ４０１を用いなければ、
図３の高周波磁場発生装置となる。図５のＱＤ信号発生
機能を持つ高周波磁場発生装置は、各位相の基準周波数
信号に加える振幅変調波形を同一にし、各々の強度を適
当に調節すれば、位相シフタ４０１と同等の機能が実現
でき、図４の位相シフト機能を持つ高周波磁場発生装置
の代わりができる。図６の高周波磁場発生装置は、（２
）節で述べたように、図５の高周波磁場発生装置と同等
の機能である。以上より、図４は図３の高周波磁場発生
装置として用いる事ができ、図５と図６は、図４や図３
の高周波磁場発生装置として用いる事ができる。

【００２５】（４）本発明で利用する高周波磁場発生装
置２０４のタイプ 本発明は、図３で示す高周波磁場発生装置でも２倍スラ
イス撮影ができる手法を提供するものである。従って本
発明では、図３で示す高周波磁場発生装置を利用するこ
とを想定しているが、上記（３）節で示したことからわ
かるように、図４、図５、図６で示す高周波磁場発生装
置でも利用することができる。また、図３から図６で示
した以外の高周波磁場発生装置でも図３で示した高周波
磁場発生装置と同等な機能を実現できれば、本発明で利
用することができる。なお、図３から図６で示した高周
波磁場発生装置は、コイル３０５がシングルコイルの場
合を図示しているが、直交した２つのコイルを用いるＱ
Ｄコイルの場合でも同様に本発明で利用することができ
る。

【００２６】（５）磁化の性質と高周波磁場による磁化
の励起（一般的説明と表記等の定義） 静磁場によって検査対象２０１に生じた磁化は、高周波
磁場の電磁気的な摂動によって共鳴励起し、電磁波を出
す状態になる性質がある。磁気共鳴診断装置では、磁化
の上記性質が画像化を行う上で重要である。本発明の２
倍スライス撮影においても、上記性質と特徴を利用して
いる。以下、本実施例の説明を容易にするため、磁化の
性質を説明し、図７を参考にして、高周波磁場で磁化が
励起する様子と、ここで用いる表記等の定義の説明を行
う。

【００２７】（５−１）磁場と磁化 磁化は静磁場と傾斜磁場を加えた外部磁場の強度に比例
した固有の回転振動数を持つ。回転軸は外部磁場の方向
である。静磁場と傾斜磁場は同方向なので、回転軸は静
磁場の方向７０１となる。静磁場は場所によらず均一な
磁場であるが、傾斜磁場は、位置に応じて強度が線形に
変化する。従って、外部磁場に比例した回転振動数を持
つ磁化は、傾斜磁場によって、位置に応じた回転振動数
を持つようになる。

【００２８】（５−２）スライス選択励起高周波磁場印
加前の磁化７０４は、回転軸である静磁場の方向７０１
を向いている。磁化の振動数が高周波磁場の振動数帯域
に含まれる場合、高周波磁場を印加すると、磁化は共鳴
して方向を変える。磁化の振動数が高周波磁場の帯域に
含まれない場合、磁化は共鳴せず方向を変えない。傾斜
磁場がある場合、磁化の振動数が位置によって変化する
ので、高周波磁場の振動数帯域に対応した位置にある磁
化のみが選択されて励起する。ちょうどスライス状に励
起するのでスライス選択励起という。励起するスライス
の位置や形状などは、傾斜磁場と高周波磁場の振動数帯
域の様子によって決まる。特に、スライスを選択する形
状を決める元となるものは高周波磁場のフーリエ成分そ
のものであるということができる。

【００２９】（５−３）磁化の励起の様子と表記磁化が
共鳴して方向を変えた場合、高周波磁場印加後の磁化７
０５は、静磁場と直交した面への射影成分７０６を持つ
。静磁場と直交した面への射影成分７０６は電磁波を出
す強度と位相を決定する。静磁場と直交した面内を表現
するためＲＥＡＬ軸７０２とＩＭＡＧ軸７０３を用意す
る。ＲＥＡＬ軸への射影成分７０７とＩＭＡＧ軸への射
影成分７０８ができる。また、ＲＥＡＬ軸７０２と磁化
の静磁場と直交した面への射影成分７０６のなす角度を
磁化の位相ということにする。ＲＥＡＬ軸７０２とＩＭ
ＡＧ軸７０３の決め方は任意であるが、ここでは、回転
座標系を用いる。回転座標系の回転数は静磁場による磁
化の回転振動数とし、ＲＥＡＬ軸７０２の方向は、傾斜
磁場が無いときに高周波磁場によって磁化が共鳴した場
合を基準にして、その時の磁化の静磁場と直行した面へ
の射影成分の向く方向がＲＥＡＬ軸７０２とする。

【００３０】なお、磁化が共鳴後に励起状態となって出
す電磁波の強度は、静磁場と直行した面への射影成分７
０６の絶対値に比例する。また、電磁場の位相は、磁化
の位相、すなわち、静磁場と直行した面への射影成分７
０６とＲＥＡＬ軸７０２のなす角度で決まる。

【００３１】（５−４）スライスプロファイル高周波磁
場がスライスを選択的に励起する様子を表現するため、
スライスプロファイルを導入する。傾斜磁場方向に一列
に均一に磁化を並べる。各位置での磁化の大きさが１で
あるとする。傾斜磁場と高周波磁場を印加し、さらに、
強度を反転した傾斜磁場を高周波磁場の印加時間の半分
の時間だけ印加する。位置によって共鳴して方向を変え
る磁化と共鳴せず方向を変えない磁化などが現れる。各
位値で、磁化の静磁場と直行した面への射影成分７０６
を求める。これをスライスプロファイルという。均一な
物体があった場合の各位値での電磁波の出方を表したも
のになっている。実験で求めることもできるが、シミュ
レーションで求めることもできる。なお、スライスプロ
ファイルは一次元の軸上に複素数がのったものである。 静磁場と直行した面への射影成分７０６がＲＥＡＬ軸７
０２とＩＭＡＧ軸７０３に成分を持つからである。しか
し、一次元の軸上に複素数を表現するのは難しいため、
絶対値と位相にわけて表現することもある。

【００３２】（６）本発明の概要 磁気共鳴診断装置は核磁気共鳴現象を利用し、磁気共鳴
した部分の磁化が励起状態になって発生する電磁波を測
定し、演算処理によって磁化の密度分布像などを得るも
のである。本発明の２倍スライス撮影は、２つのスライ
スを同時に励起し、励起の仕方の異なる２種類の信号デ
ータから演算して、２つの分離したスライス画像を得る
ものである。本発明の要点は、２つのスライスを同時に
励起し、しかも２種類の異なった励起のさせかたをどの
ように行うかということにある。以下、図１にもとずき
概要を説明する。

【００３３】（６−１）ＣＯＳ波とＳＩＮ波図１に、高
周波磁場波形１０１に基ずく振幅変調を行った高周波磁
場を印加した場合に得られるスライスプロファイル１０
２を示す。スライスプロファイル１０２は高周波磁場の
フーリエ成分、すなわち、高周波磁場波形１０１のフー
リエ成分と密接に関連する。ＣＯＳ成分を中心としたフ
ーリエ成分を持つ高周波磁場波形１０１をＣＯＳ波形１
０３と呼び、ＳＩＮ成分を中心としたフーリエ成分を持
つ高周波磁場波形１０１をＳＩＮ波形１０５と呼ぶ事に
する。ＣＯＳ波形１０３で振幅変調を受けた高周波磁場
は、ＣＯＳ成分のフーリエ成分を持ち、ＳＩＮ波形１０
５で振幅変調を受けた高周波磁場は、ＳＩＮ成分のフー
リエ成分を持つ。それぞれの高周波磁場を印加して得ら
れるスライスプロファイル１０２を、ＣＯＳ波のプロフ
ァイル１０４及びＳＩＮ波のプロファイル１０６と呼ぶ
事にする。本発明では、ＣＯＳ波形１０３とＳＩＮ波形
１０５を作ったことが大きな特徴となっており、両波形
の高周波磁場を印加したときのスライスプロファイルの
違いが２倍スライス撮影を可能にする。

【００３４】（６−２）原理（１次元）本発明の２倍ス
ライス撮影の原理が分かることを目的として、スライス
方向の一次元方向のみに着目して説明する。

【００３５】はじめに記号の定義をする。

【００３６】ｚをスライス方向の座標、ρ（ｚ）を撮影
する物体の磁化の密度、ＰＣ（ｚ）をＣＯＳ波のスライ
スプロファイル、ＰＳ（ｚ）をＳＩＮ波のスライスプロ
ファイル、Ｓ１を２倍スライス撮影する物体の一方のス
ライスから発生する信号の絶対値、Ｓ２をもう一方のス
ライスから発生する信号の絶対値とする。

【００３７】ＣＯＳ波形１０３で振幅変調した高周波磁
場は、２つのスライス部分を同時にＲＥＡＬ方向に励起
する。従って、得られる信号データａは、以下の式で表
される。

【００３８】 　　　　ａ＝∫ｄｚ〔ＰＣ（ｚ）・ρ（ｚ）〕　　　　
　　＝Ｓ１＋Ｓ２　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　…（数１）ただし
積分範囲は−∞から∞。

【００３９】ＳＩＮ波形１０５で振幅変調した高周波磁
場は、２つのスライス部分を同時にそれぞれ極性を逆に
してＩＭＡＧ方向に励起する。従って信号データｂは、
以下の式で表される。

【００４０】 　　　　ｂ＝∫ｄｚ〔ＰＳ（ｚ）・ρ（ｚ）〕　　　　
　　＝ｉ・Ｓ１−ｉ・Ｓ２　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　…（数２）ただし積分範囲
は−∞から∞。

【００４１】数１、数２から、以下の式が導かれる。

【００４２】 　　　　Ｓ１＝（ａ−ｉ・ｂ）／２　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　…（数３）ただしｉは
虚数単位。

【００４３】 　　　　Ｓ２＝（ａ＋ｉ・ｂ）／２　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　…（数４）以上により
１次元の場合ではあるが、同時に２つのスライスを励起
して観測した２種類の信号データから、演算により、そ
れぞれのスライスの信号データが得られることを示した
。

【００４４】つぎに、３次元の場合についての説明を用
意にするために、上に示した内容をスライスプロファイ
ルを中心として整理する。

【００４５】数３を数１と数２を使って書き直すと、　
　　　Ｓ１＝∫ｄｚ〔ＰＣ（ｚ）・ρ（ｚ）〕　　　　
　　　　　　−ｉ・∫ｄｚ〔ＰＳ（ｚ）・ρ（ｚ）〕　
　　　　　　　＝∫ｄｚ〔｛ＰＣ（ｚ）−ｉ・ＰＳ（ｚ
）｝・ρ（ｚ）〕　　　　　　　　＝∫ｄｚ〔Ｐ１（ｚ
）・ρ（ｚ）〕　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　…（数５）ただし積分範囲は−∞から∞。

【００４６】ここでＰ１（ｚ）は、演算により分離した
一方のスライスのプロファイルである。

【００４７】数５は、ＰＣ（ｚ）とＰＳ（ｚ）のスライ
スプロファイルで測定した信号データをもとに、演算に
より、あたかもＰ１（ｚ）なるスライスプロファイルで
測定したかのような信号データが得られることを示して
いる。

【００４８】数４を同様に数１と数２を使って書き直す
と、 　　　　Ｓ２＝∫ｄｚ〔ＰＣ（ｚ）・ρ（ｚ）〕　　　
　　　　　　　＋ｉ・∫ｄｚ〔ＰＳ（ｚ）・ρ（ｚ）〕
　　　　　　　　＝∫ｄｚ〔｛ＰＣ（ｚ）＋ｉ・ＰＳ（
ｚ）｝・ρ（ｚ）〕　　　　　　　　＝∫ｄｚ〔Ｐ２（
ｚ）・ρ（ｚ）〕　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　…（数６）ただし積分範囲は−∞から∞。

【００４９】ここでＰ２（ｚ）は、演算により分離した
もう一方のスライスのプロファイルである。

【００５０】同様に、数６は、ＰＣ（ｚ）とＰＳ（ｚ）
のスライスプロファイルで測定した信号データから、演
算により、あたかもＰ２（ｚ）なるスライスプロファイ
ルで測定したかのような信号データが得られることを示
している。

【００５１】（６−３）原理（３次元）以下に、本発明
の２倍スライス撮影の原理を説明する。

【００５２】はじめに記号の定義を行う。

【００５３】ｘ，ｙを撮影面の方向、ｚをスライス方向
とする。

【００５４】ρ（ｘ，ｙ，ｚ）を撮影する物体の磁化の
密度、ＰＣ（ｚ）をＣＯＳ波のスライスプロファイル１
０４、ＰＳ（ｚ）をＳＩＮ波のスライスプロファイル１
０５、Ｆを撮影を行う際に磁化に加えるｘ，ｙ方向の操
作を表す演算子、Ｇを信号データから画像を再構成する
際の演算を表す演算子とする。

【００５５】磁化に加える操作を表す演算子Ｆは、撮影
の仕方に依存する。通常の２次元フーリエ変換法を用い
た撮影では、Ｆは、２次元の逆フーリエ変換に相当する
操作になっている。画像再構成演算を表す演算子Ｇは磁
化に加えた操作の逆演算とするのが好ましい。通常の２
次元フーリエ変換法を用いた撮影では、Ｆが逆フーリエ
変換なので、Ｇはフーリエ変換である。従ってＧ・Ｆは
１であると考えてよい。

【００５６】ＣＯＳ波形１０３で振幅変調した高周波磁
場をもちいて撮影した計測データＡとＳＩＮ波形１０５
で振幅変調した高周波磁場をもちいて撮影した計測デー
タＢは、以下のように表現できる。

【００５７】 　　　　Ａ＝Ｆ・∫ｄｚ〔ＰＣ（ｚ）・ρ（ｘ，ｙ，ｚ
）〕　　　　　　　　　　　　…（数７）ただし積分範
囲は−∞から∞。

【００５８】 　　　　Ｂ＝Ｆ・∫ｄｚ〔ＰＳ（ｚ）・ρ（ｘ，ｙ，ｚ
）〕　　　　　　　　　　　　…（数８）ただし積分範
囲は−∞から∞。

【００５９】数７、及び数８を用いると、以下の数式が
成り立つ。

【００６０】 　　　　Ａ−ｉ・Ｂ＝Ｆ・∫ｄｚ〔｛ＰＣ（ｚ）−ｉ・
ＰＳ（ｚ）｝・ρ（ｘ，ｙ，ｚ）〕　　　　　　　　　
　　　　　＝Ｆ・∫ｄｚ〔Ｐ１（ｚ）・ρ（ｘ，ｙ，ｚ
）〕　　　　　　　　　　　　　　＝Ｆ・Ｓ１（ｘ，ｙ
）　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　…（数
９）ただし積分範囲は−∞から∞。

【００６１】ただし、Ｐ１（ｚ）は、演算により分離し
た一方のスライスのスライスプロファイル、Ｓ１（ｘ，
ｙ）は、そのスライス面から発生する信号分布である。

【００６２】 　　　　Ａ＋ｉ・Ｂ＝Ｆ・∫ｄｚ〔｛ＰＣ（ｚ）＋ｉ・
ＰＳ（ｚ）｝・ρ（ｘ，ｙ，ｚ）〕　　　　　　　　　
　　　　　＝Ｆ・∫ｄｚ〔Ｐ２（ｚ）・ρ（ｘ，ｙ，ｚ
）〕　　　　　　　　　　　　　　＝Ｆ・Ｓ２（ｘ，ｙ
）　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　…（数１
０）ただし積分範囲は−∞から∞。

【００６３】ただし、Ｐ２（ｚ）は、演算により分離し
たもう一方のスライスのスライスプロファイル、Ｓ２（
ｘ，ｙ）は、そのスライス面から発生する信号分布であ
る。数９および数１０から、以下のように各々のスライ
スから発生する信号分布を導きだせる。

【００６４】 　　　　Ｇ・｛Ａ−ｉ・Ｂ｝＝Ｇ・Ｆ・Ｓ１（ｘ，ｙ）
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　＝Ｓ１
（ｘ，ｙ）　　　　　　　　　　　　　　　　…（数１
１）　　　　Ｇ・｛Ａ＋ｉ・Ｂ｝＝Ｇ・Ｆ・Ｓ２（ｘ，
ｙ）　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　＝
Ｓ２（ｘ，ｙ）　　　　　　　　　　　　　　　　…（
数１２）以上により、各スライスから発生する信号分布
が得られた。なお、 　　　　Ｓ１（ｚ）＝∫ｄｚ〔Ｐ１（ｚ）・ρ（ｘ，ｙ
，ｚ）〕　　　　　　　　　　…（数１３）からわかる
ように、スライスから発生する信号分布は、スライス内
の磁化の密度分布、すなわち、スライス方向に投影して
得られたスライス面の磁化の密度分布に対応している。 以上より、各スライス内の磁化をスライス方向に投影し
た磁化の密度分布を表す画像が得られる。

【００６５】（７）手順 以下、本発明の１実施例の実施手順を簡単に述べる。

【００６６】（７−１） 項目：　　ＣＯＳ成分を中心としたフーリエ成分をもつ
高周波磁場を発生する手段と、ＳＩＮ成分を中心とした
フーリエ成分をもつ高周波磁場を発生する手段を設ける
。

【００６７】実現方法：　　高周波磁場を発生する高周
波磁場発生装置の構成および数々のタイプについては、
（２）節、（３）節、（４）節に記した。ここでは、図
３の高周波磁場発生装置を用いることにする。（６−１
）節で示したように、図３の波形テーブル３０１に、図
１で示したＣＯＳ波形１０３及びＳＩＮ波形１０５を入
れ、必要に応じてそれぞれの波形を参照した振幅変調を
行うと、上記高周波磁場が得られる。ＣＯＳ波形１０３
およびＳＩＮ波形１０５の具体的な波形の作り方は、後
ほど（９）節で示す。

【００６８】（７−２） 項目：　　ＣＯＳ成分を中心としたフーリエ成分をもつ
高周波磁場を用いて計測した信号データと、ＳＩＮ成分
を中心としたフーリエ成分をもつ高周波磁場を用いて計
測した信号データの２つの種類の信号データを得る。

【００６９】実現方法：　　（６−３）節の数７、数８
で示した計測データを得るために必要な各機器の動作を
表す撮影シーケンスについては、後ほど（８）節で示す
。

【００７０】（７−３） 項目：　　得られた２種類の信号データを演算処理して
２つの分離したスライス画像を得る。

【００７１】実現方法：　　（６−３）節の数９、数１
０、数１１、数１２の演算により、分離したスライス画
像を得る。

【００７２】（８）撮影シーケンス 撮影の際に行う各機器の動作のさせかたを撮影シーケン
スという。通常の２次元フーリエ変換法を用いた撮影法
でも、具体的な各機器の動作のさせかたを表す撮影シー
ケンスは数多く存在する。例えばスピンエコー法、グラ
ディエントエコー法、ＩＲ法などである。また、本法は
どの方法にも適用可能である。典型例としてグラディエ
ントエコー法とスピンエコー法の場合について説明する
。

【００７３】グラディエントエコー法といっても、具体
的な動作を表す撮影シーケンスは数多くある。図８に最
も簡単な場合を示す。図８のシーケンスでは、Ｚ方向の
傾斜磁場と９０度パルスを組み合わせて印加してＺ方向
のスライス選択を行い、Ｙ方向の傾斜磁場を印加、Ｘ方
向の傾斜磁場でグラディエントエコー信号を形成させデ
ータ計測を行う。これを所定回数繰り返す。各繰り返し
で、Ｙ方向の傾斜磁場の強度を所定のステップ値だけ毎
回変える。繰り返しの時間間隔や、９０度パルスによる
磁化の励起からグラディエントエコー信号を形成するま
での時間の選びかたで、被検体の緩和時間の強調がつい
た信号を形成し、緩和時間の強調のついた画像が得られ
る。グラディエントエコー法のシーケンスでは、９０度
パルス８０１のスライスプロファイルで決まるスライス
像を撮影することが特徴となっている。

【００７４】図８のグラディエントエコー法の撮影シー
ケンスを２倍スライス撮影に拡張したものが図９で示す
シーケンスである。９０度パルス８０１の代わりにＣＯ
Ｓ波形の９０度パルス９０１、およびＳＩＮ波形の９０
度パルス９０２を用いる。他は図８と同様である。ＣＯ
Ｓ波形の９０度パルス９０１を用いた場合に得られる信
号データを全て計測した後にＳＩＮ波形の９０度パルス
９０２を用いた撮影を行っても良いし、ＣＯＳ波形とＳ
ＩＮ波形を交互に繰り返しながら撮影を行っても良い。 最終的に結果として、図８の９０度パルス８０１をＣＯ
Ｓ波形の９０度パルス９０１に置き換えたときに得られ
る信号データと、９０度パルス８０１をＳＩＮ波形の９
０度パルス９０２に置き換えたときに得られる信号デー
タが得られる。

【００７５】グラディエントエコー法の撮影シーケンス
は図８の他にも、信号計測後にスポイルやリフェーズの
ための傾斜磁場を加えたものや、信号計測前にリフェー
ズのための傾斜磁場を加えたもの、９０度パルス８０１
を９０度より低い角度にしたものなどがある。それらの
シーケンスを２倍スライス撮影に拡張するのは上記の例
から分かるように容易である。すなわち、図８のシーケ
ンスに、計測後のスポイルや、計測前後のリフェーズを
するための傾斜磁場を加えたシーケンスについて２倍ス
ライス撮影のシーケンスに拡張する場合は、同様に９０
度パルス８０１をＣＯＳ波形の９０度パルス９０１に置
き換えたシーケンスと、９０度パルス８０１をＳＩＮ波
形の９０度パルス９０２に置き換えたシーケンスにする
。また、図８のシーケンスの９０度パルスの印加強度を
９０度より低い角度にしたシーケンスを２倍スライス撮
影に拡張するには、ＣＯＳ波形とＳＩＮ波形の印加強度
を同様に低くしたパルスに置き換えたシーケンスにする
。

【００７６】つぎにスピンエコー法の場合について説明
する。スピンエコー法といってもグラディエントエコー
法と同様に具体的な動作を表すシーケンスは数多くある
。図１０に、最も簡単な場合のシーケンスを示す。図１
０のシーケンスでは、Ｚ方向の傾斜磁場印加中に９０度
パルス８０１を照射してＺ方向のスライス選択励起をし
、Ｘ方向の傾斜磁場と強度を毎回同じステップ値だけ変
更するＹ方向の傾斜磁場を印加する。Ｚ方向の傾斜磁場
印加中に１８０度パルス１００１を照射し、９０度パル
スでスライス選択励起した部位と同一部位の磁化の位相
を反転し、Ｘ方向の傾斜磁場を印加して、スピンエコー
信号を発生させ信号計測を行う。Ｙ方向の傾斜磁場の強
度を変更して、所定回数繰り返し計測する。グラディエ
ントエコー法のシーケンスと同様に、繰り返し時間や９
０度パルスで励起してから計測を行うまでの時間の選び
方で、被検体の緩和時間の強調がついた画像が撮影でき
る。スピンエコー法のシーケンスでは、９０度パルスの
スライス選択特性と１８０°パルスのスライス選択特性
の重ねあわせたプロファイルが得られることが特徴であ
る。

【００７７】図１０のスピンエコーシーケンスを２倍ス
ライス撮影に拡張したのが図１１のシーケンスである。 グラディエントエコー法の場合と同様に以下の２つのシ
ーケンスを重ね合わしたシーケンスとなる。一つ目のシ
ーケンスは、９０度パルス８０１の代わりにＣＯＳ波形
の９０°パルス９０１を用い、１８０°パルス１００１
の代わりに２倍スライス撮影用の１８０°パルスを用い
たシーケンスであり、今一つのシーケンスは、９０°パ
ルス８０１の代わりにＳＩＮ波形の９０°パルス９０２
を用い、１８０°パルス１００１の代わりに２倍スライ
ス撮影用の１８０°パルスを用いたシーケンスである。 グラディエントエコー法の場合と同様に一つのシーケン
スによる撮影が終わってからもう一つのシーケンスによ
る撮影をしても良いし、撮影の各繰り返しで交互に２つ
のシーケンスを走らせても良い。最終的に２つのシーケ
ンスの撮影データが得られれる任意の組み合わせの撮影
順番が可能である。

【００７８】スピンエコー法のシーケンスは、図１０で
示したシーケンスの他に数多くの変形がある。１８０°
パルスの数を増やし、測定のエコー数を増やしたマルチ
エコーや、信号計測後にスポイルやリフェーズのための
傾斜磁場を加えたもの、信号計測前にリフェーズのため
の傾斜磁場を加えたものなどがある。それらのシーケン
スを２倍スライス撮影に拡張するのはグラディエントエ
コー法やスピンエコー法の上記例から分かるように容易
である。マルチエコーの場合は、図１０から図１１の場
合と同様の置き換えをし、新たに追加した１８０°パル
スの代わりに２倍スライス撮影用１８０°パルス１００
１に置き換えると２倍スライス撮影シーケンスになる。 同様に、信号計測後にスポイルやリフェーズのための傾
斜磁場を加えたものや、信号計測前にリフェーズのため
の傾斜磁場を加えたシーケンスの場合には、図１０から
図１１に変えたように９０°パルスと１８０°パルスを
２倍スライス撮影用のパルスに置き換える事により２倍
スライスのシーケンスになる。

【００７９】（９）高周波磁場波形 ２倍スライス撮影用の高周波磁場波形を作るプログラム
例を図１２に示す。表１にＣＯＳ波形、ＳＩＮ波形、１
８０°波形を作る場合について、波形を作る際に必要な
図１２のプログラム例中の各パラメーター値を表として
記述した。ＣＯＳ波形はＣＯＳ成分を中心としたフーリ
エ成分を持つ高周波磁場波形であり、ＳＩＮ波形はＳＩ
Ｎ成分を中心としたフーリエ成分を持つ高周波磁場波形
である。ＣＯＳ波形とＳＩＮ波形の性能の良否、帯域幅
などを問題にしなければ、数々のパラメータ値の組みあ
わせが考えられる。表１と表２に一例を示した。表１に
は２倍スライス撮影用の１８０°パルス波形として、表
１のＣＯＳ波形とＳＩＮ波形のスライス幅と一致するよ
うに設計した１８０°波形を示した。表２には、ＣＯＳ
波とＳＩＮ波についてそのほかのパラメータ例を示した
。

【００８０】

【表１】

【００８１】

【表２】

【００８２】表１のパラメーターをもとに作った高周波
磁場波形により得られるスライスプロファイルのシミュ
レーション結果を図１３と図１４に示す。シミュレーシ
ョンは、磁化の従う方程式であるブロッホ方程式を解く
ことにより行った。図１３、図１４はともに図１１で示
したスピンエコーシーケンスで２倍スライス撮影を行な
う場合に得られるスライスプロファイルのシミュレーシ
ョン結果を示した。スピンエコーのため、９０°パルス
のスライスプロファイルと１８０°パルスのスライスプ
ロファイルを掛けあわせたものとなっている。図１３は
、ＣＯＳ波の９０°パルスを使った場合のスライスプロ
ファイルである。絶対値のみを表示した。位相はスライ
ス部でおよそ同一である。図１４は、ＳＩＮ波の９０°
パルスを使った場合のスライスプロファイルを絶対値の
み示した。位相はスライスの左右でπずれたものになっ
ており、しかもＣＯＳ波の位相にたいしπ／２および−
π／２ずれたものになっている。図１５および図１６に
分離したスライス画像を示す。スライスプロファイルの
分離計算は、図１３のプロファイルをＰＣ（ｚ）、図１
４のプロファイルをＰＳ（ｚ）とすると、ＰＣ（ｚ）＋
ｉ・ＰＳ（ｚ）、およびＰＣ（ｚ）−ｉ・ＰＳ（ｚ）で
行った。

【００８３】表２には、表１の他の高周波磁場波形のパ
ラメータ例を示す。ＣＯＳ波形とＳＩＮ波形についての
み対にして記載した。表２の一番左の数字は、波形例の
番号を示している。波形例２は、表１の波形例にくらべ
てＳＩＮ波形のパラメータ値ＦＲ（１）が多少異なるも
ので結果としての差は若干あるのみである。波形例３は
波形例２にたいし、ＣＯＳ波形のパラメータ値ＦＲ（０
）を０にしたものである。スライスの中心が励起されず
、分離したスライス間にギャップが生じる。波形例４で
は、波形例３の場合よりも励起するスライスの厚さを若
干広くしたものである。波形例５では、波形例４よりも
スライスのギャップを広くした。波形例６では波形例２
よりもスライスの幅を広くしたものである。

【００８４】（１０）上記実施例の変更例上記実施例を
変更する数々の変更例がある。以下に示す。

【００８５】（１０−１）位相シフトする場合図４で示
した位相シフト機能を持つ高周波磁場発生装置の場合、
高周波磁場の位相を制御して計測する信号の位相を変え
ることができる。高周波磁場の位相をθずらせば、計測
する信号の位相もθずれる。計測信号の位相変化に伴っ
て、スライスを分離する計算も変わる。一例を示す。位
相をずらさない場合の計測信号をＳ１、Ｓ２とする。こ
の時の分離計算はＳ１＋ｉ・Ｓ２、Ｓ１−ｉ・Ｓ２であ
る。例えば、計測する一方の信号Ｓ２の位相をπ／２ず
らし、Ｓ３＝ｉ・Ｓ２とする場合、分離計算はＳ１＋ｉ
・Ｓ２＝Ｓ１＋Ｓ３、Ｓ１−ｉ・Ｓ２＝Ｓ１−Ｓ３とな
る。

【００８６】（１０−２）高周波磁場の合成上記実施例
の２倍スライス撮影に用いる２つの高周波磁場波形の線
形結合を作る方法がある。以下に記号を用いて説明する
。

【００８７】ＣＯＳ成分を中心としたフーリエ成分をも
つ高周波磁場をＨＣと記し、その時の印加強度が９０度
であるとする。ＳＩＮ成分を中心としたフーリエ成分を
もつ高周波磁場をＨＳとし、その時の印加強度が９０度
であるとする。

【００８８】以下の合成を行った高周波磁場ＨＡ、ＨＢ
を作る。

【００８９】 　　ＨＡ＝Ｋ・ＨＣ＋Ｌ・ＨＳ　　　　　　　　　　　
　　　　　　　　　…（数１４）　　ただし　　ＫＨＰ
Ｋ＋ＬＨＰＬ＝１　　ＨＢ＝Ｍ・ＨＣ＋Ｎ・ＨＳ　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　…（数１５）ＭＨ
ＰＭ＋ＮＨＰＮ＝１ Ｋ，Ｌ，Ｍ，Ｎは実数 ＨＡの高周波磁場による計測信号をＳＡ、ＨＢの高周波
磁場による計測信号をＳＢとする。このとき、スライス
を分離する計算式は以下である。

【００９０】 　　Ｓ１＝（ｎ・ＳＡ−ｌ・ＳＢ）／（ｋ・ｎ−ｌ・ｍ
）　　　　　　…（数１６）　　Ｓ２＝ｉ・（ｍ・ＨＡ
−ｋ・ＨＢ）／（ｋ・ｎ−ｌ・ｍ）　　…（数１７）（
１０−３）マルチスライスへの適用 上記実施例では、１つのスライスを撮影するシーケンス
を２倍スライス撮影のシーケンスに拡張することを示し
た。複数のスライスを撮影するマルチスライス撮影につ
いても２倍スライスに拡張することは容易である。

【００９１】以下マルチスライス撮影について簡単に説
明する。マルチスライス撮影は、通常の撮影シーケンス
を重ねあわすようにして行う。一枚のスライスを計測す
るためには、一連の機器の動作を繰り返し時間ＴＲに比
べて実際に機器を動作している一連の時間が少なく、数
倍の差が開いているシーケンスが多い。この時、ＴＲ時
間内で機器の動作を行わない空いた時間に、別のスライ
スを撮影するシーケンスを重ねる事ができる。別のスラ
イスを撮影するシーケンスは、高周波磁場の基準周波数
を変えるだけで行うことができる。ＴＲ時間内で１つの
スライスを撮影する一連の機器動作時間をＴＭとすると
、ＩＮＴ（ＴＲ／ＴＭ）枚のスライスの撮影シーケンス
を重ねる事ができる。なを、ＩＮＴは、切り捨てによる
整数化を意味する。

【００９２】以上より、マルチスライス撮影のシーケン
スを２倍スライス撮影に拡張する事が容易である事が分
かる。すなわち、１つのスライスを撮影するためのシー
ケンスを２倍スライス撮影のシーケンスにして、他のス
ライスの２倍スライス撮影用のシーケンスと重ねるとマ
ルチスライス撮影の２倍スライス撮影用シーケンスとな
る。

【００９３】（１１）数学的に同等または効果として同
等な数々の操作 上記実施例について数学的に同等な計算法、または操作
が存在する。例えば以下が考えられる。

【００９４】（１１−１）数学的に同等または、効果と
して同等な計算法 磁気共鳴診断装置で撮影した画像データは、上記実施例
でも示したように、複素数でデータを持っている。しか
し、最終的には絶対値をとった画像データを表示したり
保存したりする場合が多い。また、複素数のデータでも
、画像全体に同じ複素数の係数を掛けたデータは、診断
上元のデータと大差がない。従って数々の同等な効果が
得られる計算法がある。一例を示すと数９、数１０のＡ
−ｉ・Ｂ、Ａ＋ｉ・Ｂの変わりに−Ａ＋ｉ・Ｂ、−Ａ−
ｉ・Ｂ、ｉ・Ａ＋Ｂ、ｉ・Ａ−Ｂ、−ｉ・Ａ−Ｂ、−ｉ
・Ａ＋Ｂなどの演算を行うことや、位相シフトを行うと
きの分離計算のＳ１＋Ｓ３、Ｓ１−Ｓ３の代わりに、−
Ｓ１−Ｓ３、−Ｓ１＋Ｓ３などの演算を行うことができ
る。

【００９５】（１１−２）画像化してからスライスの分
離計算 上記実施例では、スライスを分離する計算を信号データ
で行ってから画像化の演算を行う例を示した。しかし、
画像化の演算が計測信号の重ねあわせについて線形であ
れば、画像化を行ってからスライスの分離計算を行うこ
とが可能である。画像化の演算をＧ、計測信号をＡ、Ｂ
として、以下に式で一例を示す。

【００９６】Ｇ・｛Ａ＋ｉ・Ｂ｝＝Ｇ・Ａ＋ｉ・Ｇ・Ｂ
（１１−３）計測時の信号の入れ替え 計測信号にｉを掛ける操作は、計測信号の実数部を虚数
部に、虚数部を符号をかえて実数部にする操作に相当す
る。従って、計算で行うかわりに、Ａ／Ｄで信号を計測
してから計測信号の入れ替え一方の符号を反転する操作
を行っても良い。

【００９７】

【発明の効果】本発明により、図３で示す高周波磁場発
生装置でも２倍スライス撮影ができるようになった。

【図面の簡単な説明】

【図１】高周波磁場波形とスライスプロファイルの対応
を示した図。

【図２】磁気共鳴診断装置のブロック構成図。

【図３】通常良く用いられる典型的な高周波磁場発生装
置の構成図。

【図４】位相シフト機能を持つ高周波磁場発生装置の構
成図。

【図５】ＱＤ信号発生機能を持つ高周波磁場発生装置の
構成図。

【図６】簡略化したＱＤ信号発生機能を持つ高周波磁場
発生装置の構成図。

【図７】高周波磁場印加前後の磁化の状態と表現方法を
表す図。

【図８】グラディエントエコー法のシーケンス例を示す
図。

【図９】グラディエントエコー法で２倍スライス撮影を
実現するシーケンスを示す図。

【図１０】スピンエコー法のシーケンス例を示す図。

【図１１】スピンエコー法で２倍スライス撮影を実現す
るシーケンス例を示す図。

【図１２】高周波パルス波形を作るプログラム例を示す
図。

【図１３】ＣＯＳ波を用いた場合のスライスプロファイ
ルを示す図。

【図１４】ＳＩＮ波を用いた場合のスライスプロファイ
ルを示す図。

【図１５】分離したスライスプロファイルのうちの１つ
を示す図。

【図１６】分離したスライスプロファイルのうちのもう
一方を示す図。

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】（１）ＣＯＳ成分を中心としたフーリエ成
   分をもつ高周波磁場と、ＳＩＮ成分を中心としたフーリ
   エ成分をもつ高周波磁場とを発生させ、（２）各々の高
   周波磁場を検査対象に印加して検査対象から発生する信
   号をそれぞれ計測し、（３）得られた２種類の信号デー
   タを処理して２つの分離したスライス画像を得る、こと
   を特徴とする磁気共鳴診断装置における２倍スライス撮
   影方法。
2. 【請求項２】上記（１）における高周波磁場の発生時に
   、基準周波数信号の位相をコントロールしない場合には
   、上記（３）の処理は、得られた２種類の信号データＡ
   、Ｂから、 Ａ＋ｉ・Ｂ、Ａ−ｉ・Ｂなる演算処理；または、 −Ａ−ｉ・Ｂ、−Ａ＋ｉ・Ｂ、ｉ・Ａ−Ｂ、ｉ・Ａ＋Ｂ
   、ただし、ＡはＣＯＳ成分を中心とした高周波磁場を印
   加して得られる信号データ、ＢはＳＩＮ成分を中心とし
   た高周波磁場を印加して得られる信号データ、ｉは虚数
   単位である。 −ｉ・Ａ＋Ｂ、−ｉ・Ａ−Ｂなる演算処理；を行う請求
   項１項記載の磁気共鳴診断装置における２倍スライス撮
   影方法。
3. 【請求項３】上記（１）における高周波磁場の発生時に
   、基準周波数信号の位相をコントロールする場合には、
   上記（２）では各々の高周波磁場の基準周波数信号の位
   相がお互いの関係として、９０度異なるように印加し、
   上記（３）の処理は得られた２種類の信号データＣ、Ｄ
   から、 Ｃ＋Ｄ、Ｃ−Ｄなる演算処理； または、 −Ｃ−Ｄ、−Ｃ＋Ｄなる演算処理； を行う請求項１項記載の磁気共鳴診断装置における２倍
   スライス撮影方法。
4. 【請求項４】（１）ＣＯＳ成分を中心としたフーリエ成
   分をもつ高周波磁場と、ＳＩＮ成分を中心としたフーリ
   エ成分をもつ高周波磁場とを、下記の様に合成した高周
   波磁場ＨＡ、ＨＢを発生させ、 記 ＣＯＳ成分を中心としたフーリエ成分をもつ高周波磁場
   をＨＣと記し、その時の印加強度が９０度であるとする
   。ＳＩＮ成分を中心としたフーリエ成分をもつ高周波磁
   場をＨＳとし、その時の印加強度が９０度であるとする
   。この時、以下の２つの合成を行う。 　　ＨＡ＝Ｋ・ＨＣ＋Ｌ・ＨＳ　　　　　　　　　　　
   　ただし　　ＫＨＰＫ＋ＬＨＰＬ＝１　　ＨＢ＝Ｍ・Ｈ
   Ｃ＋Ｎ・ＨＳ　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
   　ＭＨＰＭ＋ＮＨＰＮ＝１　　　　　　　　　　　　　
   　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
   　　　　Ｋ，Ｌ，Ｍ，Ｎは実数（２）各々の高周波磁場
   を検査対象に印加して検査対象から発生する信号をそれ
   ぞれ計測し、（３）得られた２種類の信号データを処理
   して２つの分離したスライス画像を得る、ことを特徴と
   する磁気共鳴診断装置における２倍スライス撮影方法。