JPH04357453A - 渦電流検査器 - Google Patents
渦電流検査器Info
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- JPH04357453A JPH04357453A JP3012189A JP1218991A JPH04357453A JP H04357453 A JPH04357453 A JP H04357453A JP 3012189 A JP3012189 A JP 3012189A JP 1218991 A JP1218991 A JP 1218991A JP H04357453 A JPH04357453 A JP H04357453A
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- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 6
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9013—Arrangements for scanning
Landscapes
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、請求項１の上位概念に
記載の回転する回転ヘッドと間隔補償装置とを有するう
ず電流検査器に関する。
記載の回転する回転ヘッドと間隔補償装置とを有するう
ず電流検査器に関する。
【０００２】
【従来の技術】回転する回転ヘッドを有するうず電流検
査器は、非破壊材料検査において長い間にわたり公知で
ある。ほぼ同様に長い間にわたり、しかし少なくとも非
摩擦形センサの導入以来、このような機器において間隔
補償装置を使用することが公知である（米国特許第３２
８１６６７号明細書、西独特許出願公開第１７７３５０
１号公報）。このような間隔補償装置は必要であること
が分かった、何故ならば間隔補償装置が無い場合には、
不可避の間隔変動に起因して著しく感度変化に曝される
欠陥信号を、欠陥値に対応して意味ある評価を行うこと
は可能でない。当時、調整素子として、非線形制御特性
曲線を有する制御可能な増幅器を使用した。この非線形
制御特性曲線は、間隔信号の種々異なる関数と、欠陥信
号の感度変化の種々異なる関数とがセンサ間隔に依存す
る事情を考慮するために所定の変化を有しなければなら
なかった。到達可能な制御精度に関して妥協を覚悟しな
ければならなかった。種々異なる特性曲線を有するセン
サを交換することは不可能ではないにしても問題があっ
た。これらの問題は、線形制御可能な増幅器を有する、
適当な回路定数の抵抗連鎖接続体により間隔関数の組合
せを行うデジタル制御装置を有する間隔補償装置により
ただ部分的に解決されたにすぎなかった（西独特許出願
公開第２５３０８１６号公報）。種々異なるセンサ配置
に対して種々異なる抵抗連鎖接続体が必要であった。現
在までの以前として残る実際の上での重大な欠点は、円
形トラックに沿ってずらして配置されている各検査ヘッ
ドが間隔センサ、間隔信号調整装置及び間隔関数組合せ
回路網を必要とする点である。その理由は、例えば偏心
性又は被検査部分の円形歪等の間隔変動の発生源が特定
の時点で、円形トラックの各点に対して、ひいてはずら
して配置されている検査ヘッドに対して異なって作用す
ることにある。回転ヘッドにおいて、回転部分から固定
部分への信号伝達が常に必要であるので、各検査ヘッド
の間隔信号のために例えば回転変圧器の形の固有の伝送
チャネルが使用される。多数のいずれにせよ必要である
伝送チャネルにおいてこれは、満足することがしばしば
困難な要求である。
査器は、非破壊材料検査において長い間にわたり公知で
ある。ほぼ同様に長い間にわたり、しかし少なくとも非
摩擦形センサの導入以来、このような機器において間隔
補償装置を使用することが公知である（米国特許第３２
８１６６７号明細書、西独特許出願公開第１７７３５０
１号公報）。このような間隔補償装置は必要であること
が分かった、何故ならば間隔補償装置が無い場合には、
不可避の間隔変動に起因して著しく感度変化に曝される
欠陥信号を、欠陥値に対応して意味ある評価を行うこと
は可能でない。当時、調整素子として、非線形制御特性
曲線を有する制御可能な増幅器を使用した。この非線形
制御特性曲線は、間隔信号の種々異なる関数と、欠陥信
号の感度変化の種々異なる関数とがセンサ間隔に依存す
る事情を考慮するために所定の変化を有しなければなら
なかった。到達可能な制御精度に関して妥協を覚悟しな
ければならなかった。種々異なる特性曲線を有するセン
サを交換することは不可能ではないにしても問題があっ
た。これらの問題は、線形制御可能な増幅器を有する、
適当な回路定数の抵抗連鎖接続体により間隔関数の組合
せを行うデジタル制御装置を有する間隔補償装置により
ただ部分的に解決されたにすぎなかった（西独特許出願
公開第２５３０８１６号公報）。種々異なるセンサ配置
に対して種々異なる抵抗連鎖接続体が必要であった。現
在までの以前として残る実際の上での重大な欠点は、円
形トラックに沿ってずらして配置されている各検査ヘッ
ドが間隔センサ、間隔信号調整装置及び間隔関数組合せ
回路網を必要とする点である。その理由は、例えば偏心
性又は被検査部分の円形歪等の間隔変動の発生源が特定
の時点で、円形トラックの各点に対して、ひいてはずら
して配置されている検査ヘッドに対して異なって作用す
ることにある。回転ヘッドにおいて、回転部分から固定
部分への信号伝達が常に必要であるので、各検査ヘッド
の間隔信号のために例えば回転変圧器の形の固有の伝送
チャネルが使用される。多数のいずれにせよ必要である
伝送チャネルにおいてこれは、満足することがしばしば
困難な要求である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、円形
トラックに沿ってずらして配置されている複数の検査ヘ
ッドの間隔補償をただ１つの間隔センサにより可能にす
る冒頭に記載の形式のうず電流検査器を提供することに
ある。
トラックに沿ってずらして配置されている複数の検査ヘ
ッドの間隔補償をただ１つの間隔センサにより可能にす
る冒頭に記載の形式のうず電流検査器を提供することに
ある。
【０００４】
【課題を解決するための手段及び発明の効果】上記課題
は請求項１の特徴部分に記載の構成を有するうず電流検
査器により解決される。
は請求項１の特徴部分に記載の構成を有するうず電流検
査器により解決される。
【０００５】本発明の解決方法においては、円形トラッ
クの経過及び位置を所要の精度の範囲内で一定と見なす
ことができ、更に、通常の回転ヘッドにおいては回転速
度が高速の場合には円形部分に対する被検査部分の位置
が僅かしか変化しないことから出発した。これは、１回
転内にただ１つの間隔センサにより被検査部分の幾何学
的形状を検出して記憶し、存在する検査ヘッドのそれぞ
れに対して適当な瞬間に、間隔補償を実施する適切な情
報を正しい場所から呼出すことを可能にしかつ意味のあ
るものにする。本発明の解決方法は、使用される検査ヘ
ッドの数が大きければ大きいほど利点も大きくする。し
かし、ただ２つの検査ヘッドにおいても、１つの間隔セ
ンサ、１つの信号調整装置、１つの伝送チャネルが不要
となることにより著しくコストを低減することができる
。例えば１つの前もって与えられている回転変圧器を使
用することにより伝送チャネルの数が一定の場合、第１
の検査ヘッドの他の各検査ヘッドに対して、伝送チャネ
ルが自由になり付可的な他の検査チャネルとして占有す
ることができる。
クの経過及び位置を所要の精度の範囲内で一定と見なす
ことができ、更に、通常の回転ヘッドにおいては回転速
度が高速の場合には円形部分に対する被検査部分の位置
が僅かしか変化しないことから出発した。これは、１回
転内にただ１つの間隔センサにより被検査部分の幾何学
的形状を検出して記憶し、存在する検査ヘッドのそれぞ
れに対して適当な瞬間に、間隔補償を実施する適切な情
報を正しい場所から呼出すことを可能にしかつ意味のあ
るものにする。本発明の解決方法は、使用される検査ヘ
ッドの数が大きければ大きいほど利点も大きくする。し
かし、ただ２つの検査ヘッドにおいても、１つの間隔セ
ンサ、１つの信号調整装置、１つの伝送チャネルが不要
となることにより著しくコストを低減することができる
。例えば１つの前もって与えられている回転変圧器を使
用することにより伝送チャネルの数が一定の場合、第１
の検査ヘッドの他の各検査ヘッドに対して、伝送チャネ
ルが自由になり付可的な他の検査チャネルとして占有す
ることができる。
【０００６】本発明の１つの実施例において、回転中に
導出される制御信号を第１の表の正しい場所に記憶する
ことが簡単な方法で、すなわちパルス切換回路の中で周
縁クロックパルスを発生し、これらの周縁クロックパル
スを、円形トラックに設けられているパルス発生器によ
り同期する方法で可能となる。次いで更に複数の順次に
続く周縁クロックパルスを１つの走査クロック信号に統
合し、この走査クロック信号のクロック時間内で制御信
号の記憶及び呼出しを実施することができる。本発明の
別の１つの実施例においては、アナログ間隔信号はＡ／
Ｄ変換器でデジタル化される。Ａ／Ｄ変換器で得られた
デジタル間隔信号により第２の表から、間隔ｈに直接対
応するデジタル補助信号が取出される。このデジタル補
助信号により第３の表からデジタル信号が取出され、こ
のデジタル制御信号は前記第１の表に記憶されて、後に
正しい場所から呼出される。本発明の別の１つの実施例
においては、間隔補償のプロセスをマイクロコンピュー
タにより制御することができる。本発明の別の１つの実
施例においては、間隔センサからの間隔信号は先ず初め
に被制御整流器で、２つの成分を有するベクトル信号に
整流され、次いでこのベクトル信号からベクトル値形成
器で値信号が形成される。
導出される制御信号を第１の表の正しい場所に記憶する
ことが簡単な方法で、すなわちパルス切換回路の中で周
縁クロックパルスを発生し、これらの周縁クロックパル
スを、円形トラックに設けられているパルス発生器によ
り同期する方法で可能となる。次いで更に複数の順次に
続く周縁クロックパルスを１つの走査クロック信号に統
合し、この走査クロック信号のクロック時間内で制御信
号の記憶及び呼出しを実施することができる。本発明の
別の１つの実施例においては、アナログ間隔信号はＡ／
Ｄ変換器でデジタル化される。Ａ／Ｄ変換器で得られた
デジタル間隔信号により第２の表から、間隔ｈに直接対
応するデジタル補助信号が取出される。このデジタル補
助信号により第３の表からデジタル信号が取出され、こ
のデジタル制御信号は前記第１の表に記憶されて、後に
正しい場所から呼出される。本発明の別の１つの実施例
においては、間隔補償のプロセスをマイクロコンピュー
タにより制御することができる。本発明の別の１つの実
施例においては、間隔センサからの間隔信号は先ず初め
に被制御整流器で、２つの成分を有するベクトル信号に
整流され、次いでこのベクトル信号からベクトル値形成
器で値信号が形成される。
【０００７】
【実施例】次に本発明を実施例に基づき図を用いて詳し
く説明する。
く説明する。
【０００８】図１には、うず電流検査器における図示さ
れていない回転ヘッドに属する検査ヘッド１０の一部の
断面が略示されている。検査ヘッド１０は、検査ヘッド
１０の回転の際に矢印方向に移動する管状被検査部分に
おける、検査ヘッド１０から間隔ｈをおいて走査する表
面を検出する２つの欠陥センサ１２と１つの間隔センサ
１４とを有する。間隔ｈは、被検査部分１６が衝撃を受
けずに案内され被検査部分１６の横断面が正確に円形で
ある場合にのみ一定である。実際の上では案内誤差及び
形状誤差を覚悟しなければならない。例えば値ａの偏心
が存在するとすると間隔ｈは値ａと共に正弦関数に従っ
て変化する。欠陥１８によりセンサ１２で導出された欠
陥信号は、間隔変動に相応する変化を受ける。
れていない回転ヘッドに属する検査ヘッド１０の一部の
断面が略示されている。検査ヘッド１０は、検査ヘッド
１０の回転の際に矢印方向に移動する管状被検査部分に
おける、検査ヘッド１０から間隔ｈをおいて走査する表
面を検出する２つの欠陥センサ１２と１つの間隔センサ
１４とを有する。間隔ｈは、被検査部分１６が衝撃を受
けずに案内され被検査部分１６の横断面が正確に円形で
ある場合にのみ一定である。実際の上では案内誤差及び
形状誤差を覚悟しなければならない。例えば値ａの偏心
が存在するとすると間隔ｈは値ａと共に正弦関数に従っ
て変化する。欠陥１８によりセンサ１２で導出された欠
陥信号は、間隔変動に相応する変化を受ける。
【０００９】図２には、２つの異なるタイプのセンサに
対応しこれらのセンサから取出すことのできる、間隔ｈ
に依存して欠陥信号Ｆの振幅がいかに変化するかを示す
２つの関数２０，２２が示されている。センサのタイプ
の他に、関数２０，２２の変化のためのその他のパラメ
ータ、すなわち主に検査周波数、被検査材料及び被検査
部分の幾何学的形状が重要である。
対応しこれらのセンサから取出すことのできる、間隔ｈ
に依存して欠陥信号Ｆの振幅がいかに変化するかを示す
２つの関数２０，２２が示されている。センサのタイプ
の他に、関数２０，２２の変化のためのその他のパラメ
ータ、すなわち主に検査周波数、被検査材料及び被検査
部分の幾何学的形状が重要である。
【００１０】各間隔補償の目的は、間隔ｈに対する欠陥
信号Ｆの依存性を、例えばｈｏからｈｕまでに及ぶこと
もある十分に広い動作領域において除去することにある
。 このために必要な間隔センサ１４は間隔信号Ａを供給し
、間隔ｈに対する間隔信号Ａの依存性は、間隔センサと
してうず電流センサを使用する場合には図３の関数２４
に相応することもある。この場合、関数２４の変化も前
述のパラメータにより決まる。間隔補償を行うために２
つの関数Ａ＝ｆ（ｈ）及びＦ＝ｆ（ｈ）を結合する場合
、これらのパラメータのうちの１つのパラメータが顕著
に変化する都度に、対応する関数の変化曲線も変化し、
この変化は、間隔補償を有効に保持するためには考慮し
なければならないことから出発しなければならない。こ
れは、後述のように本発明の範囲内で非常に簡単に可能
である。
信号Ｆの依存性を、例えばｈｏからｈｕまでに及ぶこと
もある十分に広い動作領域において除去することにある
。 このために必要な間隔センサ１４は間隔信号Ａを供給し
、間隔ｈに対する間隔信号Ａの依存性は、間隔センサと
してうず電流センサを使用する場合には図３の関数２４
に相応することもある。この場合、関数２４の変化も前
述のパラメータにより決まる。間隔補償を行うために２
つの関数Ａ＝ｆ（ｈ）及びＦ＝ｆ（ｈ）を結合する場合
、これらのパラメータのうちの１つのパラメータが顕著
に変化する都度に、対応する関数の変化曲線も変化し、
この変化は、間隔補償を有効に保持するためには考慮し
なければならないことから出発しなければならない。こ
れは、後述のように本発明の範囲内で非常に簡単に可能
である。
【００１１】図４のブロック回路図は、本発明のうず電
流検査器の全構成を略示し、このうず電流検査器は、検
査センサ３２−３８及び間隔センサ４０を有する回転ヘ
ッド３０と、検査センサ３２−３８からの欠陥信号を処
理する、４２のみが完全に図示されている一連の信号処
理装置４２−４８と、同様にただ１つのみが図示されて
いる対応する一連の評価装置５２−５８と、間隔信号を
導出し処理し間隔補償に使用する間隔補償装置６０とに
大まかに分割することができる。
流検査器の全構成を略示し、このうず電流検査器は、検
査センサ３２−３８及び間隔センサ４０を有する回転ヘ
ッド３０と、検査センサ３２−３８からの欠陥信号を処
理する、４２のみが完全に図示されている一連の信号処
理装置４２−４８と、同様にただ１つのみが図示されて
いる対応する一連の評価装置５２−５８と、間隔信号を
導出し処理し間隔補償に使用する間隔補償装置６０とに
大まかに分割することができる。
【００１２】回転ヘッド３０の検査センサ３２−３８は
、互いに９０゜ずらして配置されている４つの検査ヘッ
ドの中に組込まれている。検査センサ３２−３８は発電
機６２により回転変圧器６４を介して交流電流が給電さ
れる。図１に示されているように、この場合に使用され
ている１つの検査センサの代わりに、より大きい検査幅
を得るために複数の検査センサを互いに隣同士で検査ヘ
ッドの中に設けることもできる。動作中に検査センサ３
２−３８は中心点６８の周りを円状の円形トラック６６
を描く。中心点６８に対して被検査部分１６の軸７０は
ずれており、従って検査表面と検査センサ３２−３８と
の間の間隔ｈは周期的に正弦関数に従って変化する。
、互いに９０゜ずらして配置されている４つの検査ヘッ
ドの中に組込まれている。検査センサ３２−３８は発電
機６２により回転変圧器６４を介して交流電流が給電さ
れる。図１に示されているように、この場合に使用され
ている１つの検査センサの代わりに、より大きい検査幅
を得るために複数の検査センサを互いに隣同士で検査ヘ
ッドの中に設けることもできる。動作中に検査センサ３
２−３８は中心点６８の周りを円状の円形トラック６６
を描く。中心点６８に対して被検査部分１６の軸７０は
ずれており、従って検査表面と検査センサ３２−３８と
の間の間隔ｈは周期的に正弦関数に従って変化する。
【００１３】検査センサ３２−３８からの欠陥信号は回
転変圧器７２−７８を介して、信号処理装置４２−４８
に対応して配置されている増幅器８２−８８の入力側に
供給される。信号処理装置４４−４８は全部が図示され
ていない、何故ならば一方ではスペースが無く、他方で
は信号処理装置４２と正確に同一に構成されているから
である。信号処理装置４２において欠陥信号Ｆは増幅器
８２から被制御整流器９０の入力側に到達し、整流器９
０で欠陥信号Ｆは、互いに垂直な欠陥信号成分ＸＦ及び
ＹＦに分解される。欠陥信号成分ＸＦ及びＹＦは低域フ
ィルタ９２，９４で、例えば搬送波周波数等の高い周波
数の障害信号が除去され、高域フィルタ９６，９８で、
例えば回転ヘッド３０の回転周波数等の低い周波数の障
害信号が除去される。
転変圧器７２−７８を介して、信号処理装置４２−４８
に対応して配置されている増幅器８２−８８の入力側に
供給される。信号処理装置４４−４８は全部が図示され
ていない、何故ならば一方ではスペースが無く、他方で
は信号処理装置４２と正確に同一に構成されているから
である。信号処理装置４２において欠陥信号Ｆは増幅器
８２から被制御整流器９０の入力側に到達し、整流器９
０で欠陥信号Ｆは、互いに垂直な欠陥信号成分ＸＦ及び
ＹＦに分解される。欠陥信号成分ＸＦ及びＹＦは低域フ
ィルタ９２，９４で、例えば搬送波周波数等の高い周波
数の障害信号が除去され、高域フィルタ９６，９８で、
例えば回転ヘッド３０の回転周波数等の低い周波数の障
害信号が除去される。
【００１４】信号処理装置４２−４８のそれぞれには評
価装置５２−５８も対応して配置されている。評価装置
５２−５８は、例えばディスプレー画面における表示及
び記録装置等、また特に計算機制御される欠陥解析装置
等の通常の評価手段を有することもある。
価装置５２−５８も対応して配置されている。評価装置
５２−５８は、例えばディスプレー画面における表示及
び記録装置等、また特に計算機制御される欠陥解析装置
等の通常の評価手段を有することもある。
【００１５】良好な評価の前提条件は、前述のように補
償装置６０の中での十分な間隔補償である。補償装置６
０は主に間隔センサ４０に支持されており、間隔センサ
４０は検査センサ３２と共に１つの共通の検査ヘッドに
より担持されている。間隔センサ４０の中で発生された
間隔信号は回転変圧器１００及び増幅器１０２を介して
被制御整流器１０４の入力側に到達し、整流器１０４で
２つの互いに垂直な間隔信号ＸＡ及びＹＡに分解される
。 被制御整流は、間隔信号が変質する可能性を除去するた
めに意味があり有益であることが分かった。低域フィル
タ１０６，１０８を介して信号成分ＸＡ，ＹＡが零補償
段１１０，１１２の入力側に供給される。零補償段１１
０，１１２は、間隔センサ４０の補償不足及びばらつき
特に回転変圧器の中のばらつきに起因するオフセット電
圧を信号成分ＸＡ，ＹＡから取除くために用いられる。 このために被検査部分の無い状態の回転ヘッドにおいて
零補償段１１０，１１２の入力側におけるオフセット電
圧を求め、これらのオフセット電圧を、大きさは等しい
が正負が逆の補償電圧を重畳する。更に信号成分ＸＡ，
ＹＡは整合増幅器１１４，１１６及び絶対値形成器１１
８を介してアナログ／デジタル変換器１２０の入力側に
供給される。２つの整合増幅器１１４，１１６は、間隔
信号を間隔補償の動作領域に整合するために用いられる
。
償装置６０の中での十分な間隔補償である。補償装置６
０は主に間隔センサ４０に支持されており、間隔センサ
４０は検査センサ３２と共に１つの共通の検査ヘッドに
より担持されている。間隔センサ４０の中で発生された
間隔信号は回転変圧器１００及び増幅器１０２を介して
被制御整流器１０４の入力側に到達し、整流器１０４で
２つの互いに垂直な間隔信号ＸＡ及びＹＡに分解される
。 被制御整流は、間隔信号が変質する可能性を除去するた
めに意味があり有益であることが分かった。低域フィル
タ１０６，１０８を介して信号成分ＸＡ，ＹＡが零補償
段１１０，１１２の入力側に供給される。零補償段１１
０，１１２は、間隔センサ４０の補償不足及びばらつき
特に回転変圧器の中のばらつきに起因するオフセット電
圧を信号成分ＸＡ，ＹＡから取除くために用いられる。 このために被検査部分の無い状態の回転ヘッドにおいて
零補償段１１０，１１２の入力側におけるオフセット電
圧を求め、これらのオフセット電圧を、大きさは等しい
が正負が逆の補償電圧を重畳する。更に信号成分ＸＡ，
ＹＡは整合増幅器１１４，１１６及び絶対値形成器１１
８を介してアナログ／デジタル変換器１２０の入力側に
供給される。２つの整合増幅器１１４，１１６は、間隔
信号を間隔補償の動作領域に整合するために用いられる
。
【００１６】この整合は有利には、可及的最大の間隔信
号電圧で、すなわち被検査部分表面と間隔センサ４０と
の間のｈが可及的最小すなわちｈ＝０に調整されて実施
される。絶対値形成器１１８においてアナログ計算素子
により計算動作
号電圧で、すなわち被検査部分表面と間隔センサ４０と
の間のｈが可及的最小すなわちｈ＝０に調整されて実施
される。絶対値形成器１１８においてアナログ計算素子
により計算動作
【００１７】
【数１】
【００１８】が実施される。このようにして得られたア
ナログ量（Ａ）は、間隔補償を実施するために、すなわ
ち信号処理装置４２−４８と評価装置５２−５８との間
に挿入接続されている一連のデジタル調整素子１２１−
１２８を制御するために必要とされるデジタル間隔信号
に変換される。この場合、４つの信号処理装置４２−４
８の各信号成分ＸＦ，ＹＦに対して１つの固有の調整素
子が必要であり、従って全部で８つの調整素子が必要で
ある。
ナログ量（Ａ）は、間隔補償を実施するために、すなわ
ち信号処理装置４２−４８と評価装置５２−５８との間
に挿入接続されている一連のデジタル調整素子１２１−
１２８を制御するために必要とされるデジタル間隔信号
に変換される。この場合、４つの信号処理装置４２−４
８の各信号成分ＸＦ，ＹＦに対して１つの固有の調整素
子が必要であり、従って全部で８つの調整素子が必要で
ある。
【００１９】間隔補償、零補償及び増幅器整合のシーケ
ンスはマイクロプロセッサ１３０により制御され、この
ためにマイクロプロセッサ１３０はバス１３２を介して
アナログ／デジタル変換器１２０、調整素子１２１−１
２８、零補償段１１０，１１２及び整合増幅器１１４，
１１６と接続されている。線１３４及び１３６を介して
アドレス又はデータを伝達するバス１３２には更に第１
のデジタルメモリ素子１３８及び第２のデジタルメモリ
素子１４０とが接続されている。例えばＲＡＭにより実
現されている第１のデジタルメモリ素子は、タスクにつ
いては後述する３つのテーブルＩ及びＩＩ及びＩＩＩを
記憶するために用いられ、例えばＥＰＲＯＭにより実現
されている第２のデジタルメモリ素子１４０においては
前述のシーケンスのためのプログラムが記憶されている
。
ンスはマイクロプロセッサ１３０により制御され、この
ためにマイクロプロセッサ１３０はバス１３２を介して
アナログ／デジタル変換器１２０、調整素子１２１−１
２８、零補償段１１０，１１２及び整合増幅器１１４，
１１６と接続されている。線１３４及び１３６を介して
アドレス又はデータを伝達するバス１３２には更に第１
のデジタルメモリ素子１３８及び第２のデジタルメモリ
素子１４０とが接続されている。例えばＲＡＭにより実
現されている第１のデジタルメモリ素子は、タスクにつ
いては後述する３つのテーブルＩ及びＩＩ及びＩＩＩを
記憶するために用いられ、例えばＥＰＲＯＭにより実現
されている第２のデジタルメモリ素子１４０においては
前述のシーケンスのためのプログラムが記憶されている
。
【００２０】表ＩＩは関数（Ａ）＝ｆ（ｈ）から導出さ
れ、値（Ａ）に対応するアドレスから、値ｈに対応する
デジタル補助信号を示す。表ＩＩＩは関数Ｆ＝ｆ（ｈ）
から導出され、アドレスとしての前述のデジタル補助信
号により、間隔ｈと無関係にするためにすなわち所望の
制御信号を得るために誤差信号成分ＸＦ及びＹＦを乗算
するデジタル乗算器に供給する。
れ、値（Ａ）に対応するアドレスから、値ｈに対応する
デジタル補助信号を示す。表ＩＩＩは関数Ｆ＝ｆ（ｈ）
から導出され、アドレスとしての前述のデジタル補助信
号により、間隔ｈと無関係にするためにすなわち所望の
制御信号を得るために誤差信号成分ＸＦ及びＹＦを乗算
するデジタル乗算器に供給する。
【００２１】検査センサ３４，３６，３８に対応する調
整素子１２３−１２８は、必要な制御信号を求めるため
に、制御信号が周縁場所に依存して記憶されている表Ｉ
が更に付加的に必要である。このために更にパルス発生
器１４２及びパルス切換回路１４４が必要であり、パル
ス切換回路１４４はマイクロプロセッサ１３０により制
御され、マイクロプロセッサ１４２に情報を供給する。 パルス発生器１４２はライトバリヤと共働し、このライ
トバリアから送光される光線は回転ヘッド３０の各回転
毎に１度中断され、中断の都度に１つのパルスを発生し
、このパルスにより、パルス切換回路１４４で発生され
る１連の例えば３６０個の周縁クロックパルスが同期さ
れる。例えば３又は６つの順次に続く周縁クロックパル
スを１つの走査クロックパルスに統合すると１回転毎に
１２０又は６０個の走査クロック信号が得られる。検査
ヘッドから検査ヘッドへの区間に整数のクロック信号が
対応する場合、１回転毎の走査クロック信号の数は検査
ヘッドの数により割切れなければならず、これはこれら
２つの場合に当嵌まる。検査部分の直径が小さい場合又
は要求が厳しくない場合には６０個の走査クロック信号
で十分である。表Ｉを記憶し読出すことは、その都度の
１つの走査クロック信号のクロック時間内で行われる。 各クロック時間の経過中に表Ｉは、表ＩＩＩからのその
時に丁度存在する情報を表Ｉにおける正しい個所に、す
なわち間隔センサ４０の周縁場所に対応するアドレスに
記憶することにより更新される。次いで、検査ヘッドの
周縁場所に対応するその都度のアドレスにより表Ｉが読
出され、先行の回転の際に記憶された対応する情報が、
検査ヘッドに対応する調整素子に供給される。このよう
にしてすべての調整素子１２３−１２８は、それらに対
応する制御信号を受取る。
整素子１２３−１２８は、必要な制御信号を求めるため
に、制御信号が周縁場所に依存して記憶されている表Ｉ
が更に付加的に必要である。このために更にパルス発生
器１４２及びパルス切換回路１４４が必要であり、パル
ス切換回路１４４はマイクロプロセッサ１３０により制
御され、マイクロプロセッサ１４２に情報を供給する。 パルス発生器１４２はライトバリヤと共働し、このライ
トバリアから送光される光線は回転ヘッド３０の各回転
毎に１度中断され、中断の都度に１つのパルスを発生し
、このパルスにより、パルス切換回路１４４で発生され
る１連の例えば３６０個の周縁クロックパルスが同期さ
れる。例えば３又は６つの順次に続く周縁クロックパル
スを１つの走査クロックパルスに統合すると１回転毎に
１２０又は６０個の走査クロック信号が得られる。検査
ヘッドから検査ヘッドへの区間に整数のクロック信号が
対応する場合、１回転毎の走査クロック信号の数は検査
ヘッドの数により割切れなければならず、これはこれら
２つの場合に当嵌まる。検査部分の直径が小さい場合又
は要求が厳しくない場合には６０個の走査クロック信号
で十分である。表Ｉを記憶し読出すことは、その都度の
１つの走査クロック信号のクロック時間内で行われる。 各クロック時間の経過中に表Ｉは、表ＩＩＩからのその
時に丁度存在する情報を表Ｉにおける正しい個所に、す
なわち間隔センサ４０の周縁場所に対応するアドレスに
記憶することにより更新される。次いで、検査ヘッドの
周縁場所に対応するその都度のアドレスにより表Ｉが読
出され、先行の回転の際に記憶された対応する情報が、
検査ヘッドに対応する調整素子に供給される。このよう
にしてすべての調整素子１２３−１２８は、それらに対
応する制御信号を受取る。
【００２２】表ＩＩ及びＩＩＩによる前述の動作は、間
隔センサを、異なる特性を有する別の間隔センサにより
置換する、又は検査センサを別のタイプの検査センサに
より置換する必要がある場合、又はセンサの特性をパラ
メータを変えることにより変化させる必要がある場合に
は非常に有利である。この場合、表ＩＩ及び／又は表Ｉ
ＩＩは、対応する補助メモリにより外部から短時間にわ
たりかつコストをかけずに転移させることもできる。こ
のためとそして表を一度だけ記憶するためとにマイクロ
プロセッサ１３０において、ホスト計算機のための入力
側１４６が設けられている。別個の表ＩＩ及びＩＩＩに
よる動作は別の１つの利点を有する。表ＩＩＩからの、
間隔ｈに直接に対応するデジタル補助信号は外部に供給
することもでき、付加的な監視タスクに使用することも
できる。
隔センサを、異なる特性を有する別の間隔センサにより
置換する、又は検査センサを別のタイプの検査センサに
より置換する必要がある場合、又はセンサの特性をパラ
メータを変えることにより変化させる必要がある場合に
は非常に有利である。この場合、表ＩＩ及び／又は表Ｉ
ＩＩは、対応する補助メモリにより外部から短時間にわ
たりかつコストをかけずに転移させることもできる。こ
のためとそして表を一度だけ記憶するためとにマイクロ
プロセッサ１３０において、ホスト計算機のための入力
側１４６が設けられている。別個の表ＩＩ及びＩＩＩに
よる動作は別の１つの利点を有する。表ＩＩＩからの、
間隔ｈに直接に対応するデジタル補助信号は外部に供給
することもでき、付加的な監視タスクに使用することも
できる。
【図１】検査ヘッドの側面図。
【図２】欠陥特性曲線図。
【図３】間隔信号特性曲線図。
【図４】うず電流検査器のブロック回路図。
１０ 検査ヘッド
１２ 欠陥センサ
１４ 間隔センサ
１６ 被検査部分
１８ 欠陥
２０ 関数
２２ 関数
Ｆ 欠陥信号
２４ 関数
３０ 回転ヘッド
３２〜３８ 検査センサ
４０ 間隔センサ
５２〜５８ 評価装置
６０ 間隔補償装置
６２ 発電機
６４ 回転変圧器
６６ 円形トラック
６８ 中心点
７０ 軸
７２〜７８ 回転変圧器
８２〜８８ 増幅器
９０ 整流器
９２ 低域フィルタ
９４ 低域フィルタ
９６ 高域フィルタ
９８ 高域フィルタ
１０２ 増幅器
１０６ 低域フィルタ
１０８ 低域フィルタ
１１０ 零補償段
１１２ 零補償段
１１４ 整合増幅器
１１６ 整合増幅器
１１８ 絶対値形成器
１２０ アナログ／デジタル変換器
１３２ バス
１３４ 線
１３６ 線
１３８ メモリ素子
１４０ メモリ素子
１４２ パルス発生器
１４４ パルス切換回路
Claims (1)
- 【請求項１】 円状トラック（６６）に沿ってずらし
て配置されており被検査材料（１６）を走査するうず電
流検査センサ（３２，３４，３６，３８）を有する少く
とも２つの検査ヘッド（１０）を有する回転する回転ヘ
ッドと、検査センサ（３２，３４，３６，３８）の中で
被検査材料（１６）の欠陥原因に起因する欠陥信号を導
出するのに用いられこれらの欠陥信号を処理する信号処
理装置（４２，４４，４６，４８）と、欠陥信号を評価
する評価装置（５２，５４，５６，５８）と、間隔セン
サ（３２，３４，３６，３８）と被検査材料（１６）と
の間の間隔ｈに関して欠陥信号を補償する間隔補償装置
（６０）とを具備し、間隔ｈから間隔信号を導出する間
隔センサ（４０）と、間隔信号を制御信号に整形する信
号調整装置（１０２−１２０）と、信号処理装置（４２
，４４，４６，４８）と評価装置（５２，５４，５６，
５８）との間に接続されており、一方の制御入力側への
制御信号に依存して欠陥信号を変化させ、間隔信号から
調整された制御信号が他方の制御入力側に供給される調
整素子（１２１−１２８）とから成るうず電流検査器に
おいて、ただ１つの間隔センサ（４０）と１つの信号調
整装置（１０２−１２０）とを設け、この間隔センサ（
４０）の中で該回転中に導出される制御信号を周縁場所
に依存して第１の表（ＩＩ）に記憶し、１つの周縁場所
を通過する都度に検査センサ（３２，３４，３６，３８
）により、この周縁場所のために記憶されている制御信
号を呼出し、前記の検査ヘッド（１９）の検査センサ（
３２，３４，３６，３８）に対応する１つ又は複数の調
整素子（１２１−１２８）を制御するためにこの制御信
号を用いることを特徴とするうず電流検査器。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4003330.9 | 1990-02-05 | ||
| DE4003330A DE4003330A1 (de) | 1990-02-05 | 1990-02-05 | Wirbelstrompruefgeraet |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04357453A true JPH04357453A (ja) | 1992-12-10 |
| JP2546546B2 JP2546546B2 (ja) | 1996-10-23 |
Family
ID=6399440
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3012189A Expired - Lifetime JP2546546B2 (ja) | 1990-02-05 | 1991-02-01 | 渦電流検査器 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5184070A (ja) |
| EP (1) | EP0440931B1 (ja) |
| JP (1) | JP2546546B2 (ja) |
| DE (2) | DE4003330A1 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008304471A (ja) * | 2000-03-28 | 2008-12-18 | Toshiba Corp | 膜厚測定装置、膜厚測定方法および記録媒体 |
| JP2011196980A (ja) * | 2010-03-24 | 2011-10-06 | Ntn Corp | バルクハウゼンノイズ検査装置 |
| JP2012163338A (ja) * | 2011-02-03 | 2012-08-30 | Suzuki Motor Corp | 渦流探傷装置および渦流探傷方法 |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5371461A (en) * | 1992-06-26 | 1994-12-06 | General Electric Company | Apparatus and method for compensating for variations in the lift-off of eddy current surface inspection array elements |
| DE4342602A1 (de) * | 1993-12-14 | 1995-06-22 | Busch Dieter & Co Prueftech | Elektronisches Bauelement, inbesondere Spuleneinheit |
| DE10161973A1 (de) * | 2001-12-17 | 2003-06-26 | Busch Dieter & Co Prueftech | Vorrichtung und Verfahren zur Wirbelstromprüfung eines Prüflings mit einer planaren Oberfläche |
| GB2425610A (en) * | 2005-04-29 | 2006-11-01 | Univ London | Magnetic properties sensing system |
| EP1952135A4 (en) * | 2005-11-03 | 2011-12-14 | Coastal Res Corp | CONVIVIAL FOUCAULT CURRENT NETWORK |
| JP4842784B2 (ja) * | 2006-12-04 | 2011-12-21 | 住友金属工業株式会社 | 管の探傷用追従装置及びこれを用いた管の自動探傷装置 |
| DE102007039434A1 (de) | 2007-08-21 | 2009-02-26 | Prüftechnik Dieter Busch AG | Verfahren und Vorrichtung zum Erfassen von Partikeln in einer strömenden Flüssigkeit |
| DE102008038174A1 (de) | 2008-08-18 | 2010-02-25 | Prüftechnik Dieter Busch AG | Vorrichtung und Verfahren zur zerstörungs- und berührungsfreien Erfassung von Fehlern in einem Prüfling |
| DE102008053778B4 (de) | 2008-10-23 | 2020-08-06 | Institut Dr. Foerster Gmbh & Co. Kg | Prüfverfahren und Prüfvorrichtung zur Prüfung von langgestreckten Gegenständen mittels Durchlaufspule |
| DE102009022138A1 (de) | 2009-05-20 | 2010-11-25 | Prüftechnik Dieter Busch AG | Vorrichtung und Verfahren für induktive Messungen |
| DE102009022136A1 (de) | 2009-05-20 | 2010-11-25 | Prüftechnik Dieter Busch AG | Vorrichtung und Verfahren für induktive Messungen |
| EP2287603B1 (de) | 2009-08-19 | 2016-05-04 | PRÜFTECHNIK Dieter Busch AG | Vorrichtung und verfahren zur zerstörungs- und berührungsfreien erfassung von fehlern in einem prüfling |
| US9427186B2 (en) * | 2009-12-04 | 2016-08-30 | Endomagnetics Ltd. | Magnetic probe apparatus |
| US10634741B2 (en) | 2009-12-04 | 2020-04-28 | Endomagnetics Ltd. | Magnetic probe apparatus |
| DE102012202800A1 (de) | 2012-02-23 | 2013-08-29 | Institut Dr. Foerster Gmbh & Co. Kg | Durchlaufspulenanordnung, Prüfvorrichtung mit Durchlaufspulenanordnung und Prüfverfahren |
| MX2015012587A (es) | 2013-03-11 | 2016-10-13 | Endomagnetics Ltd | Soluciones hipoosmóticas para la detección de ganglio linfático. |
| US9239314B2 (en) | 2013-03-13 | 2016-01-19 | Endomagnetics Ltd. | Magnetic detector |
| US9234877B2 (en) | 2013-03-13 | 2016-01-12 | Endomagnetics Ltd. | Magnetic detector |
| CN107920865B (zh) | 2015-06-04 | 2021-07-09 | 安都磁学有限公司 | 用于磁标记定位（mml）的标记材料和形式 |
| BR112019000625A2 (pt) * | 2016-08-12 | 2019-04-24 | Halliburton Energy Services, Inc. | método de inspecionar um tubo em um poço, ferramenta de inspeção de tubos baseada em correntes parasitas para inspecionar um tubo em um poço e meio legível por computador que armazena instruções legíveis por computador |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5344077A (en) * | 1976-10-04 | 1978-04-20 | Nippon Kokan Kk | Method of compensating sensitivity of probe type eddy current flaw detector |
| JPS55113949A (en) * | 1979-02-26 | 1980-09-02 | Kubota Ltd | Flaw detector for cast iron pipe |
| JPS593347A (ja) * | 1982-06-30 | 1984-01-10 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 探傷装置 |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3109139A (en) * | 1960-04-22 | 1963-10-29 | Republic Aviat Corp | Electromagnetic apparatus for sensing discontinuities in structural members |
| GB1005815A (en) * | 1960-10-14 | 1965-09-29 | Gkn Group Services Ltd | Improvements relating to methods of and apparatus for the detection of flaws |
| DE2530816C3 (de) * | 1975-07-10 | 1980-07-31 | Institut Dr. Friedrich Foerster Pruefgeraetebau, 7410 Reutlingen | Wirbelstromprüfgerät zum Abtasten der Oberfläche eines Prüfteils |
| JPS5940265B2 (ja) * | 1978-02-13 | 1984-09-28 | 日本鋼管株式会社 | 熱ビレツト渦流探傷装置 |
| DE3005915C2 (de) * | 1980-02-16 | 1985-01-10 | Skf Kugellagerfabriken Gmbh, 8720 Schweinfurt | Wirbelstromprüfgerät für Oberflächenfehler |
| BE892243A (fr) * | 1982-02-23 | 1982-06-16 | Dev Et D Industrialisation Des | Appareil de controle par courants de foucault a moyens d'equilibrage electroniques. |
| US4641092A (en) * | 1982-07-08 | 1987-02-03 | Sumitomo Metal Industries, Ltd. | Rotary probe apparatus for detecting flaws in a test object |
| DE3313820A1 (de) * | 1983-04-16 | 1984-10-18 | Institut Dr. Friedrich Förster Prüfgerätebau GmbH & Co KG, 7410 Reutlingen | Einrichtung zum pruefen der oberflaeche eines metallischen pruefteiles |
| DE3404720A1 (de) * | 1984-02-10 | 1985-08-14 | Karl Deutsch Prüf- und Meßgerätebau GmbH + Co KG, 5600 Wuppertal | Verfahren und vorrichtung zur schichtdickenmessung |
| IT1177991B (it) * | 1984-09-25 | 1987-09-03 | Centro Speriment Metallurg | Sonda industriale di tipo differenziale ad una sola bobina per il controllo non distruttivo di prodotti siderurgici |
| DE3525376A1 (de) * | 1985-07-16 | 1987-01-29 | Nukem Gmbh | Verfahren und vorrichtung zur zerstoerungsfreien pruefung von ferromagnetischen koerpern mit oberflaechenabschnitten, die an kanten und/oder ecken aneinandergrenzen |
| DE3542159A1 (de) * | 1985-11-28 | 1987-06-04 | Nukem Gmbh | Verfahren zur werkstoffpruefung nach dem wirbelstromprinzip und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
| SE456611B (sv) * | 1986-04-18 | 1988-10-17 | Tornbloms Kvalitetskontroll Ab | Anordning for signallagring och/eller signalbehandling av fran en givare erhallna signaler |
-
1990
- 1990-02-05 DE DE4003330A patent/DE4003330A1/de not_active Withdrawn
- 1990-12-13 DE DE59010639T patent/DE59010639D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-12-13 EP EP90124060A patent/EP0440931B1/de not_active Expired - Lifetime
-
1991
- 1991-01-29 US US07/647,752 patent/US5184070A/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-02-01 JP JP3012189A patent/JP2546546B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5344077A (en) * | 1976-10-04 | 1978-04-20 | Nippon Kokan Kk | Method of compensating sensitivity of probe type eddy current flaw detector |
| JPS55113949A (en) * | 1979-02-26 | 1980-09-02 | Kubota Ltd | Flaw detector for cast iron pipe |
| JPS593347A (ja) * | 1982-06-30 | 1984-01-10 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 探傷装置 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008304471A (ja) * | 2000-03-28 | 2008-12-18 | Toshiba Corp | 膜厚測定装置、膜厚測定方法および記録媒体 |
| JP2011196980A (ja) * | 2010-03-24 | 2011-10-06 | Ntn Corp | バルクハウゼンノイズ検査装置 |
| JP2012163338A (ja) * | 2011-02-03 | 2012-08-30 | Suzuki Motor Corp | 渦流探傷装置および渦流探傷方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE4003330A1 (de) | 1991-08-08 |
| JP2546546B2 (ja) | 1996-10-23 |
| EP0440931B1 (de) | 1997-01-22 |
| DE59010639D1 (de) | 1997-03-06 |
| EP0440931A1 (de) | 1991-08-14 |
| US5184070A (en) | 1993-02-02 |
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