JPH04355315A - 電解用アノードまたはカソードの平坦度および厚み連続測定装置 - Google Patents

電解用アノードまたはカソードの平坦度および厚み連続測定装置

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JPH04355315A
JPH04355315A JP15549691A JP15549691A JPH04355315A JP H04355315 A JPH04355315 A JP H04355315A JP 15549691 A JP15549691 A JP 15549691A JP 15549691 A JP15549691 A JP 15549691A JP H04355315 A JPH04355315 A JP H04355315A
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JP
Japan
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cathode
anode
thickness
flatness
pair
Prior art date
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Pending
Application number
JP15549691A
Other languages
English (en)
Inventor
Shingo Mukai
臣五 向井
Koji Ando
孝治 安藤
Mitsuharu Onishi
光治 大西
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Metal Mining Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Metal Mining Co Ltd
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Publication date
Application filed by Sumitomo Metal Mining Co Ltd filed Critical Sumitomo Metal Mining Co Ltd
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Publication of JPH04355315A publication Critical patent/JPH04355315A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電解用アノードまたは
カソードの平坦度、即ち吊り下げた状態での垂直性およ
び平坦性および厚みを連続的に測定する装置に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】銅等の金属電解精製を行なう電解槽には
、アノードとカソードとが一定の間隔をもって配列され
て電解が行なわれ、一定時間毎に両極を引き上げて電解
精製した金属を得ている。この場合において、アノード
およびカソードの平坦度、即ち垂直性や平面性および厚
みの均一性が十分でないとアノードとカソードとの極間
距離が不均一となり、電着金属の板厚が不均一となった
り、表面状態が悪化して不良品を生ずるおそれがある。 そのような場合には不良品となった電着金属は仕掛り品
となるために経済的に好ましくなかった。また、極間距
離が極端に不均一な場合には、電解槽の中でアノードと
カソードとが短絡して異常電流が流れ、生産を著しく阻
害する恐れもあった。したがって、アノードおよびカソ
ードの平坦度および厚みを測定することは電解精製の操
業管理上きわめて重要であった。
【0003】そして、この種の測定装置としては特開平
1−319696号公報に開示されたものや、実開昭6
4−33607号公報に開示されたものがある。特開平
1−319696号公報に開示された装置は、電解用種
板(カソード)を吊り下げる機構と、その吊り下げられ
た種板に対向する垂直面に複数個配置された非接触式距
離計とを備えたものであって、この装置によっては種板
の固定された点の部分を測定することはできても、面を
全体として正確に測定することは困難であり、また厚み
を測定することは全くできない。
【0004】また、実開昭64−33607号公報にお
いて開示された装置は、垂直に懸吊されているカソード
に相対する平面とカソードとの距離を非接触式に計測す
るセンサーと、そのセンサーを平面上の直交する二方向
に移動させる機構とを備えたものであって、この場合は
点ではなく面において平坦度の測定を行なうことができ
るように構成されているが、厚みの測定についてはやは
りできない構成となっている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】したがって、本発明は
上記した従来の測定装置における欠点を解消して、電解
用アノードまたはカソードの平坦度と厚みとをともに測
定し得るようにするとともに、その測定を平面に対して
連続的に行ない得るような装置を提供することを課題と
するものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めの本発明は、電解用アノードまたはカソードを載置し
て吊り下げる架台と、吊り下げられたアノードまたはカ
ソードの表裏両面側にあって鉛直面に垂直な同軸上に相
対向する一対の非接触式距離計と、その一対の距離計を
鉛直な二次元平面上に同期して移動させる機構とを備え
てなる電解用アノードまたはカソードの平坦度および厚
み連続測定装置である。
【0007】
【作用】本発明の装置は上記したように構成されている
ので、架台に電解用アノードまたはカソードを載置して
吊り下げ、一対の非接触式距離計を同期させながら移動
させれば、アノードまたはカソードの鉛直平面に対する
傾き、表面の変形状態および厚みの測定が二次元平面の
任意の箇所で行なうことができる。したがって、アノー
ドまたはカソードの平坦度と厚みを平面的に測定するこ
とが可能となる。
【0008】
【実施例】次に本発明の詳細を実施例に基づいて説明す
る。図1は本発明の一実施態様を示す斜視図である。図
において、1は一対の平行な水平枠であり、その位置を
水平に調節維持するためのレベラー2の上に設けられて
いる。水平枠1の中央部には対を成す架台3が直角に立
設されている。架台3は電解用アノートまたはカソード
4がその吊手部を介して吊り下げられるように形成され
ている。5はポジショナーであり、架台3の両面に平行
に配設されている。
【0009】このポジショナー5は、水平方向に延長し
水平枠1に固設されたガイド5aおよびガイド5aの一
端に設けられた直流サーボモーター5bとを具えており
、ガイド5a中央部には図示しないボールネジが直流サ
ーボモーター5bによって回転可能に配設され、そのボ
ールネジの回転によって移動するテーブル5cを具えて
構成されている。また、直流サーボモーター5bはテー
ブル5cの位置検出のためのエンコーダーを具備してい
る。
【0010】テーブル5cには、ガイド5aと直角上方
向に立設されたポジショナー6が固着されている。ポジ
ショナー6は前記したポジショナー5と同一の構造を有
していて、下端部に直流サーボモーター6bを具備して
いる。ポジショナー6のテーブル6cには非接触式距離
計7が固設されている。そしてポジショナー6は架台3
の両側に平行に設けられたポジショナー5の各々に1基
づつ配置されているので、非接触式距離計7も一対が設
けられていることになる。
【0011】また、一対のポジショナー5の直流サーボ
モーター5bおよび同じく一対のポジショナー6の直流
サーボモーター6bはエンコーダーの出力によって同期
して作動するように構成されている。したがって、一対
の非接触式距離計7は、架台3に載置されたアノード4
をはさんで一直線に常に相対向する。そして、レベラー
2を適切に調節してポジショナー5を水平に保てば、ポ
ジショナー6はポジショナー5と直角をなして直立して
いるので、非接触式距離計7は鉛直面に垂直な同軸上に
配設され、直流サーボモーター5b、直流サーボモータ
ー6bを作動させることによって鉛直面内に移動する。
【0012】なお非接触式距離計7を移動させる軌跡は
図示しないシーケンスコントローラーで制御されるよう
に構成されており、測定したアノードまたはカソード4
までの距離信号は直流サーボモーター5bおよび6bが
出力する位置信号とともに、例えばパーソナルコンピュ
ーター等で処理されるように構成する。
【0013】以上のような構成を有する本発明の装置に
おいて、先ずレベラー2を調節してポジショナー5を水
平に位置させた後、電解用アノードまたはカソード4の
吊手を架台3に載置して吊り下げる。次に非接触式距離
計7を任意の軌跡、例えば、先ず上部から水平方向に走
査し、順次下方に下げていくように動かせば、アノード
またはカソード4の平坦度および厚みの測定を行なうこ
とができる。特に、本発明においてはアノードまたはカ
ソードの両面に対向する非接触式距離計7を備えている
ので、同時に厚みの測定をも行なうことができる。
【0014】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明の平
坦度および厚み連続測定装置によるときは電解用アノー
ドまたはカソードの平坦度が二次元平面的に測定でき、
且つ従来測定することのできなかった厚みの測定をも同
時に行なうことができるので、きわめて正確にアノード
またはカソードの形状確認を行なうことができるので金
属の電解精製を効率よく行なうための適切な情報資料と
することができる優れた効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施態様を示す実施例の斜視図であ
る。
【符号の説明】
1  水平枠 2  レベラー 3  架台 4  アノード(カソード) 5  ポジショナー 5a  ガイド 5b  直流サーボモーター 5c  テーブル 6  ポジショナー 6b  直流サーボモーター 6c  テーブル 7  非接触式距離計

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  電解用アノードまたはカソードを載置
    して吊り下げる架台と、吊り下げられたアノードまたは
    カソードの表裏両面側にあって鉛直面に垂直な同軸上に
    相対向する一対の非接触式距離計と、その一対の距離計
    を鉛直な二次元平面上に同期して移動させる機構とを備
    えてなる電解用アノードまたはカソードの平坦度および
    厚み連続測定装置。
JP15549691A 1991-05-31 1991-05-31 電解用アノードまたはカソードの平坦度および厚み連続測定装置 Pending JPH04355315A (ja)

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006105878A (ja) * 2004-10-07 2006-04-20 Toshiba Ceramics Co Ltd 基板の平坦度測定装置および形状寸法測定装置
JP2006234679A (ja) * 2005-02-25 2006-09-07 Kuroda Precision Ind Ltd 薄板の表面形状測定装置
JP2007046946A (ja) * 2005-08-08 2007-02-22 Toshiba Mach Co Ltd 基板の両面形状測定装置及び基板の両面形状測定方法
JP2007057502A (ja) * 2005-08-26 2007-03-08 Toshiba Mach Co Ltd 基板の両面形状測定システム
JP2007171026A (ja) * 2005-12-22 2007-07-05 Toshiba Mach Co Ltd 垂直2次元面の走査機構および走査方法
JP2007183144A (ja) * 2006-01-06 2007-07-19 Toshiba Mach Co Ltd 基板の両面形状測定方法及び装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62134514A (ja) * 1985-12-09 1987-06-17 Nippon Light Metal Co Ltd 磁気デイスク等の板厚・平坦度測定装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62134514A (ja) * 1985-12-09 1987-06-17 Nippon Light Metal Co Ltd 磁気デイスク等の板厚・平坦度測定装置

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006105878A (ja) * 2004-10-07 2006-04-20 Toshiba Ceramics Co Ltd 基板の平坦度測定装置および形状寸法測定装置
JP2006234679A (ja) * 2005-02-25 2006-09-07 Kuroda Precision Ind Ltd 薄板の表面形状測定装置
JP4592445B2 (ja) * 2005-02-25 2010-12-01 黒田精工株式会社 薄板の表面形状測定装置
JP2007046946A (ja) * 2005-08-08 2007-02-22 Toshiba Mach Co Ltd 基板の両面形状測定装置及び基板の両面形状測定方法
US7677121B2 (en) * 2005-08-08 2010-03-16 Toshiba Kikai Kabushiki Kaisha Apparatus and methods for measuring shape of both sides of a plate
JP2007057502A (ja) * 2005-08-26 2007-03-08 Toshiba Mach Co Ltd 基板の両面形状測定システム
JP2007171026A (ja) * 2005-12-22 2007-07-05 Toshiba Mach Co Ltd 垂直2次元面の走査機構および走査方法
JP2007183144A (ja) * 2006-01-06 2007-07-19 Toshiba Mach Co Ltd 基板の両面形状測定方法及び装置

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