JPH04353736A - 光ファイバ伝送路試験装置 - Google Patents

光ファイバ伝送路試験装置

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Publication number
JPH04353736A
JPH04353736A JP3129321A JP12932191A JPH04353736A JP H04353736 A JPH04353736 A JP H04353736A JP 3129321 A JP3129321 A JP 3129321A JP 12932191 A JP12932191 A JP 12932191A JP H04353736 A JPH04353736 A JP H04353736A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical
fiber transmission
optical fiber
optical pulse
pulse generator
Prior art date
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Pending
Application number
JP3129321A
Other languages
English (en)
Inventor
Taiji Oki
泰二 大木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP3129321A priority Critical patent/JPH04353736A/ja
Publication of JPH04353736A publication Critical patent/JPH04353736A/ja
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  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
  • Optical Communication System (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光ファイバ伝送路試験装
置に係り、特に光ファイバ伝送路長とファイバ品質とを
評価するため伝送路試験を行う光ファイバ伝送路試験装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、データ通信において、情報伝送路
の伝送媒体としてはメタリック系の導線やケーブルが用
いられ、その長さおよび品質等の試験を行う場合には、
メタリック系伝送装置に試験用パッケージを実装させ、
他の伝送装置からの制御により試験を行っていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年は、伝
送媒体として光ファイバを用いた光ファイバ伝送路が実
用化されており、このような光ファイバ伝送路では、上
述したような試験パッケージを実装させ、他の伝送装置
からの制御により試験を行う方式は適用できない。その
ため光ファイバ伝送路に適した試験装置が要望されてい
た。
【0004】本発明は上記問題点に鑑みてなされたもの
で、その目的は、光ファイバ伝送路の長さおよび品質の
試験を簡単に行うことができる光ファイバ伝送路試験装
置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の光ファイバ伝送
路試験装置は、光ファイバ伝送路の一方の終端部近傍か
ら光パルス信号を送信する光パルス発生器と、前記光フ
ァイバ伝送路の他方の終端部から戻ってきた光パルスを
受信する光パルス受信器と、前記光パルス発生器から送
信された光パルスと、前記光パルス受信器により受信さ
れた受信パルスとの時間差と波形高さの差から光ファイ
バ伝送路の長さを算出する伝送路長算出部と、前記光フ
ァイバ伝送路の試験時のみ前記光ファイバ伝送路と、光
パルス発生器および光パルス受信器との間を接続し、試
験時以外はその接続状態を解除する切替器とを具備し、
このような構成により簡単に光ファイバ伝送路の長さお
よびファイバ品質の試験を行うことができる。
【0006】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
【0007】図1は本発明の一実施例に係る光ファイバ
伝送路試験装置の構成を表すものである。
【0008】光ファイバ伝送路1〜8の各一方の終端部
にはそれぞれ終端パッケージ11〜18が設けられ、こ
れら終端パッケージ11〜18の近傍には切替器9が設
けられている。この切替器9には光伝送路評価器10が
接続されている。光伝送路評価器10は、光ファイバ伝
送路1〜8それぞれに向けて光パルスを送出する光パル
ス発生器21と、この光パルス発生器21から送出され
、光ファイバ伝送路1〜8の図示しない他方の終端部の
終端パッケージに到達し、戻ってきた光パルスを受信す
る光受信器22と、光パルス発生器21から光パルスが
送出されてから、光パルス受信器22により受信される
までの時間差と、両パルスのレベル差から光ファイバ伝
送路長とファイバ品質を検出する伝送路長算出部23と
により構成されている。
【0009】切替器9は光ファイバ伝送路1〜8の試験
を行う場合には,各ファイバ伝送路1〜8と、光パルス
発生器21および光パルス受信器22それぞれとを接続
させるもので、試験を行わない場合には各光ファイバ伝
送路1〜8と、光パルス発生器21および光パルス受信
器22との接続状態を解除するものである。
【0010】次に、図2を参照して本実施例の光ファイ
バ伝送路試験装置の動作について説明する。図2の(a
)は、光パルス発生器21から送出される光パルスを示
し、また、図2の(b)は光ファイバ伝送路1〜8を終
端して光パルス受信器22に戻ってきた光パルスの波形
を示すものである。
【0011】まず、試験を行う場合には、切替器10に
より、光ファイバ伝送路1〜8と光パルス発生器21お
よび光パルス受信器22とが接続される。この状態で、
光パルス発生器21からは光波形の高さh1 の光パル
スS1 が発生する。この光パルスS1 は切替器9を
介して光ファイバ伝送路1〜8それぞれに送出され、こ
れら光ファイバ伝送路1〜8の終端パッケージに到達し
た後、再び切替器9を介して光パルス受信器22に受信
される。ここで、光パルス受信器22に受信された光パ
ルスR1 は伝送途中で減衰され、その波形高さはh2
 と低くなり、また送出された光パルスS1 と受信さ
れた光パルスR1 との間には時間差tdがあったとす
る。
【0012】光パルス発生器21から送信された光パル
スS1 と、光パルス受信器22で受信された光パルス
R1 との波形高さの差(h1 −h2 )と、到達時
間差td は、伝送路長算出部23に送られ、この伝送
路長算出部23において光パルスの減衰の程度から光フ
ァイバ伝送路1〜8の長さと品質が算出される。
【0013】このようにして試験が終了した場合には、
図示しない制御部により切替器9が切り替わり、光ファ
イバ伝送路1〜8と光パルス発生器21および光パルス
受信器22との接続状態が解除され、これにより通常の
光データ通信状態となる。
【0014】
【発明の効果】以上説明したように本発明の光ファイバ
伝送路試験装置によれば、光ファイバ伝送路の一方の終
端部近傍から光パルス信号を送信する光パルス発生器と
、前記光ファイバ伝送路の他方の終端部から戻ってきた
光パルスを受信する光パルス受信器と、前記光パルス発
生器から送信された光パルスと、前記光パルス受信器に
より受信された受信パルスとの時間差と波形高さの差か
ら光ファイバ伝送路の長さを算出する伝送路長算出部と
、前記光ファイバ伝送路の試験時のみ前記光ファイバ伝
送路と、光パルス発生器および光パルス受信器との間を
接続し、試験時以外はその接続状態を解除する切替器と
を備える構成としたので、簡単に光ファイバ伝送路の長
さおよびファイバ品質の評価を行うことができるという
効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】  本発明の一実施例に係る光ファイバ伝送路
試験装置の構成を表す図である。
【図2】  図1の光パルス発生器から送出される光パ
ルスと光ファイバ伝送路を終端して光パルス受信器に戻
ってくる光パルスの波形を表す図である。
【符号の説明】
1〜8  光ファイバ伝送路、 9  切替器 10  光伝送路評価器 11〜18  終端パッケージ、 21  光パルス発生器 22  光パルス受信器 23  伝送路長算出部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  光ファイバ伝送路の一方の終端部近傍
    から光パルス信号を送信する光パルス発生器と、前記光
    ファイバ伝送路の他方の終端部から戻ってきた光パルス
    を受信する光パルス受信器と、前記光パルス発生器から
    送信された光パルスと、前記光パルス受信器により受信
    された受信パルスとの時間差と波形高さの差から光ファ
    イバ伝送路の長さを算出する伝送路長算出部と、前記光
    ファイバ伝送路の試験時のみ前記光ファイバ伝送路と、
    光パルス発生器および光パルス受信器との間を接続し、
    試験時以外はその接続状態を解除する切替器とを備えた
    ことを特徴とする光ファイバ伝送路試験装置。
JP3129321A 1991-05-31 1991-05-31 光ファイバ伝送路試験装置 Pending JPH04353736A (ja)

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JP3129321A JPH04353736A (ja) 1991-05-31 1991-05-31 光ファイバ伝送路試験装置

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JP (1) JPH04353736A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5546180A (en) * 1995-07-06 1996-08-13 Jds Fitel Inc. Apparatus for inserting light signals into, or receiving light signals from, one of a series of optical paths and usuable as optical time domain reflectometry apparatus
JP2010111365A (ja) * 2008-11-10 2010-05-20 Railway Technical Res Inst 列車長測定機能を有する列車安全制御システム
US8681210B2 (en) 2010-08-27 2014-03-25 Panasonic Corporation Component mounting device and component mounting method
JP2014068169A (ja) * 2012-09-26 2014-04-17 Nec Corp 逆多重伝送装置および伝送方法
CN116582176A (zh) * 2023-07-13 2023-08-11 天津瑞利通科技有限公司 光纤自动配线方法、装置、电子设备和可读存储介质

Cited By (6)

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