JPH0435018Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、電極検査装置に関し、詳しくは、ス
ポツト溶接装置の摩耗した電極チツプを研磨して
再使用する際、再使用に先立つて電極チツプ先端
部の研磨状態の良否を判別するのに用いられる電
極検査装置に関するものである。

〔従来の技術〕

例えば、スポツト溶接用ロボツトに装着された
スポツト溶接ガンは、一対の電極チツプを対向さ
せて配置してあり、両電極チツプによつて溶接箇
所を挾持した後、両電極チツプ間に規定の溶接電
流を流すことにより、スポツト溶接を行つてい
る。

ところで、上記スポツト溶接ガンの電極チツプ
の先端部は、溶接時に生じる熱等によつて少しず
つ摩耗していくため、電極チツプの先端部と被溶
接物との接触面積が、溶接打点数の増加に伴つて
徐々に増大し、そのため、溶接箇所を流れる電流
の密度が低下し、溶接品質が徐々低下していくと
いつた問題が発生する。そこで、従来、摩耗した
電極チツプの先端部を研磨装置により適正形状に
研磨し、かつ、研磨状態の良否を判別した後再使
用していた。

〔考案が解決しようとする課題〕

従来、研磨装置により研磨された電極チツプの
先端部の研磨状態の良否の判別は、作業者が目視
又は触手により行つていたため、検査に時間がか
かつて作業性がきわめて悪いと共に、判別ミスに
より研磨不良の溶接電極を見過ごしやすく、これ
が為、再使用時早期に溶接不良を生じるという問
題があつた。

〔課題を解決するための手段〕

電極検査装置を、上下両面に、適正形状に研磨
された電極チツプの先端部と略同一形状の円弧面
を有する凹部が形成され、かつ、この両凹部の中
央部を貫通するボール孔が穿設された、非導電性
の電極チエツク用型と、上記ボール孔内に配置さ
れる導電性の導電ボールとによつて構成し、上記
両凹部に、適正形状に研磨された一対の電極チツ
プの先端部がそれぞれ挿入された時、上記導電ボ
ールにより両者が導通するようにしたものであ
る。

〔作用〕

上記した如く、一対の電極チツプが適正形状に
研磨されている場合、電極検査装置により一対の
電極チツプを導通状態とすることにより、電極チ
ツプに通電するだけで、研磨状態の良否の判別を
行うものである。

〔実施例〕

第１図乃至第５図は、本考案に係る電極検査装
置１を示すものである。同図に於いて、２は非導
電性の素材によつて円形に形成された電極チエツ
ク用型であり、この電極チエツク用型２の上下両
面の中央部には、適正形状に研磨された電極チツ
プの先端部と略同一形状の円弧面を有する凹部３
ａ，３ａが形成してある。又、上記凹部３ａ，３
ｂの中央部間には、後述する導電ボール８を電極
チエツク用型２の中心に配置するためのボール孔
４が穿設してある。５ａ，５ｂは、電極チエツク
用型２の外周面から上記ボール孔４に向けて、両
者が対向するように穿設した貫通孔、６ａ，６ｂ
は先端がボール孔４内に突出するようにして、上
記貫通孔５ａ，５ｂ内に挿入された、ゴム等の非
導電性の弾性材によつて形成された一対のボール
押さえ、７はボール押さえ６ａ，６ｂが電極チエ
ツク用型２の外周側に逃げるのを防止するため、
電極チエツク用型２の外周に被嵌させる押さえリ
ング、８は上記一対のボール押さえ６ａ，６ｂに
よりボール孔４内に支持される導電ボールであ
る。この導電ボール８は、導電性を有する素材に
よつて形成されており、その外形は、適正形状に
研磨された一対の電極チツプの先端部をそれぞれ
凹部３ａ，３ｂ内に挿入した時、電極チツプの先
端中央部が導電ボール８の外周面と安定した状態
で接触できる径にしておく。

而して、研磨装置により研磨された、スポツト
溶接装置１０の電極チツプ１１ａ，１１ｂの先端
部の研磨状態の良否を判別するには、第３図に示
す如く、電極検査装置１の導電ボール８の上下位
置に、一対の電極チツプ１１ａ，１１ｂを位置さ
せる。次に、一対の電極チツプ１１ａ，１１ｂに
よつて電極検査装置１を挾持することにより、電
極チツプ１１ａ，１１ｂの先端部を電極検査装置
１の凹部３ａ，３ｂ内に挿入させ、電極チツプ１
１ａ，１１ｂの先端部を凹部３ａ，３ｂに接触さ
せる。又、上記動作と連動させて、スポツト溶接
装置１０のタイマコンタクタ１２からトランス１
３を介して、電極チツプ１１ａ，１１ｂに向けて
テスト通電を行う。すると、この時、電極チツプ
１１ａ，１１ｂの先端部が適正形状に研磨されて
いる場合は、第４図に示す如く、一対の電極チツ
プ１１ａ，１１ｂの各先端中央部は、導電性を有
する導電ボール８と接触しているため、両電極チ
ツプ１１ａ，１１ｂ間に電流が流れる。又、電極
チツプ１１ａ，１１ｂが研磨不良の場合は、第５
図に示す如く、電極チツプ１１ａ，１１ｂが導電
ボール８に接触しないため、両電極チツプ１１
ａ，１１ｂ間には電流が流れない。従つて、タイ
マコンタクタ１２による上記テスト通電時、電極
チツプ１１ａ，１１ｂ間に溶接電流が流れたか否
かを検出すれば、電極チツプ１１ａ，１１ｂの研
磨状態の良、不良を容易に判別することができ
る。

尚、上記溶接電流の有無の検出は、タイマコン
タクタ１２により溶接電流を制御するため、トラ
ンス１３の１次側、或いは２次側に配置されてい
る溶接電流検出用の電流検出コイル１４からの信
号をそのまま利用すればよい。又、電極検査装置
１の中心部に配置される導電ボール８は、通電が
行われる毎に徐々に摩耗して行くことになるが、
導電ボール８は、電極チエツク用金型２の外周に
位置する押さえリング７を取り外し、一対のボー
ル押さえ６ａ，６ｂを外法にスライドさせるだけ
で容易に取替えることができ、又、導電ボール８
は成形が容易なため、特に問題はない。

〔考案の効果〕

上記した如く、本考案に係る電極検査装置は、
一対の電極チツプにより電極検査装置を挾持した
時、電極チツプが適正形状に研磨されている場合
は、両電極チツプが導通し、又、電極チツプが適
正形状に研磨されていない場合は、両電極チツプ
が導通しないようにしたものである。従つて、電
極チツプの研磨終了後、一対の電極チツプにより
電極検査装置を挾持した状態で、タイマコンタク
タを作動させてテスト通電を行い、この時、一対
の電極チツプ間に電流が流れるか否かを検出すれ
ば、電極チツプの研磨状態の良、不良を容易に検
出できる。又、テスト通電時、電極チツプ間に電
流が流れるか否かの判別はタイマコンタクタと接
続されている溶接電流検出用の電流検出コイルに
よつて簡単に検出できるため、スポツト溶接装置
及び電極検査装置の両者に特別な電気回路を付加
することなく、研磨状態の良、不良の判別を行う
ことが可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案に係る電極検査装置の平面図、
第２図は側面断面図、第３図は使用状態を示す図
面、第４図及び第５図は、電極検査装置の凹部内
に電極チツプの先端部を挿入した状態を示す断面
図である。 １……電極検査装置、２……電極チエツク用
型、３ａ，３ｂ……凹部、４……ボール孔、８…
…導電ボール、１１ａ，１１ｂ……電極チツプ。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 上下両面に、適正形状に研磨された電極チツプ
   の先端部と略同一形状の円弧面を有する凹部が形
   成され、かつ、この両凹部の中央部を貫通するボ
   ール孔が穿設された、非導電性の電極チエツク用
   型と、上記ボール孔内に配置される導電性の導電
   ボールとを備え、上記両凹部に、適正形状に研磨
   された一対の電極チツプの先端部がそれぞれ挿入
   された時、上記導電ボールにより両者が導通する
   ようにしたことを特徴とする電極検査装置。