CN209745889U - 带有未焊透结构的相控阵检测对比试块 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及无损检测技术领域，尤其是一种带有未焊透结构的相控阵检测对比试块，包括试块本体，试块本体为圆环状结构，试块本体的圆环内侧等角度均分设有若干人工缺陷，人工缺陷为机械加工的横通孔结构，若干人工缺陷的横通孔的孔径呈阶梯式递增，试块本体的侧面通过胶接等角度均分固定设有若干标尺，标尺与人工缺陷一一对应，若干人工缺陷距试块本体的侧面平面的距离呈阶梯式递增趋势，标尺上记载有与其相对应的人工缺陷的横通孔的孔径及距试块本体的侧面平面的距离数据。本实用新型结构简单，通用对比性强，具有市场前景，适合推广。

Description

带有未焊透结构的相控阵检测对比试块

技术领域

本实用新型涉及无损检测技术领域，具体说，涉及一种带有未焊透结构的相控阵检测对比试块。

背景技术

对带有未焊透结构的焊缝进行超声检测时，采用常规超声检测的方法无法区分焊缝中焊接缺陷的波形显示与焊缝中未焊透结构的波形显示，需要采用相控阵超声波检测技术通过成像来判定不同的具体的波形显示，进而实现对焊缝焊接质量的有效判定。在采用相控阵超声检测技术对带有未焊透结构的焊缝进行检测时，需要制作专用的对比试块，根据具体的检测需求加工人工缺陷，进行检测工艺的具体验证以及基准灵敏度的调整，现有的对比试块缺陷位置及缺陷数据未明确标注，使用不便捷，为此我们提出一种带有未焊透结构相控阵检测对比试块来解决以上问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在现有的对比试块缺陷位置及缺陷数据未明确标注，使用不便捷的缺点，而提出的一种带有未焊透结构的相控阵检测对比试块。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

设计一种带有未焊透结构的相控阵检测对比试块，包括试块本体，所述试块本体为圆环状结构，所述试块本体的圆环内侧等角度均分设有若干人工缺陷，所述人工缺陷为机械加工的横通孔结构，若干所述人工缺陷的横通孔的孔径呈阶梯式递增，所述试块本体的侧面通过胶接等角度均分固定设有若干标尺，所述标尺与所述人工缺陷一一对应，若干所述人工缺陷距所述试块本体的侧面平面的距离呈阶梯式递增趋势，所述标尺上记载有与其相对应的所述人工缺陷的横通孔的孔径及距所述试块本体的侧面平面的距离数据。

优选的，所述试块本体采用分区结构。

优选的，所述试块本体的圆环内侧的人工缺陷的数量为六个，六个所述人工缺陷的孔径从小到大依次为2mm、3mm、4mm、5mm、6mm和7mm，所述人工缺陷距所述试块本体的侧面平面的距离从小到大依次为8mm、10mm、12mm、14mm、16mm和18mm。

优选的，所述标尺在所述试块本体外壁上位置与所述人工缺陷在所述试块本体内的位置一一对应。

优选的，所述试块本体的材质与待检测物的材质相同。

本实用新型提出的一种带有未焊透结构的相控阵检测对比试块，有益效果在于：通过人工缺陷、标尺及试块本体间的相互配合，可根据需要在试块本体不同位置按照对比需求制作多个横通孔人工缺陷，用于不同焊接结构类型的验收标准的检测需求，适用范围广，同时试块本体上多个横通孔人工缺陷的位置和孔径在试块本体端面沿半径方向均有标明，且各均标注刻度，便于检测时人工缺陷的选取，横通孔人工缺陷对比试块在超声检测中可直接用于对发现缺陷的判定，提升了带有未焊透结构相控阵检测对比试块的使用通用性和实用性能。

附图说明

图1为本实用新型提出的带有未焊透结构的相控阵检测对比试块的结构示意图。

图中：试块本体1、人工缺陷2、标尺3。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

参照图1，带有未焊透结构的相控阵检测对比试块，包括试块本体1，试块本体1的材质与待检测物的材质相同，试块本体1采用分区结构，试块本体1为圆环状结构，试块本体1的圆环内侧等角度均分设有若干人工缺陷2，人工缺陷2为机械加工的横通孔结构，若干人工缺陷2的横通孔的孔径呈阶梯式递增，试块本体1的侧面通过胶接等角度均分固定设有若干标尺3，标尺3与人工缺陷2一一对应，标尺3在试块本体1外壁上位置与人工缺陷2在试块本体1内的位置一一对应，若干人工缺陷2距试块本体1的侧面平面的距离呈阶梯式递增趋势，标尺3上记载有与其相对应的人工缺陷2的横通孔的孔径及距试块本体1的侧面平面的距离数据，试块本体1的圆环内侧的人工缺陷2的数量为六个，六个人工缺陷2的孔径从小到大依次为2mm、3mm、4mm、5mm、6mm和7mm，人工缺陷2距试块本体1的侧面平面的距离从小到大依次为8mm、10mm、12mm、14mm、16mm和18mm。

使用时，通过人工缺陷2、标尺3及试块本体1间的相互配合，可根据需要在试块本体1不同位置按照对比需求制作多个横通孔人工缺陷2，用于不同焊接结构类型的验收标准的检测需求，适用范围广，同时试块本体1上多个横通孔人工缺陷2的位置和孔径在试块本体1端面沿半径方向均有标明，且各均标注刻度，便于检测时人工缺陷的选取，横通孔人工缺陷2对比试块在超声检测中可直接用于对发现缺陷的判定，提升了带有未焊透结构相控阵检测对比试块的使用通用性和实用性能。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种带有未焊透结构的相控阵检测对比试块，包括试块本体(1)，其特征在于，所述试块本体(1)为圆环状结构，所述试块本体(1)的圆环内侧等角度均分设有若干人工缺陷(2)，所述人工缺陷(2)为机械加工的横通孔结构，若干所述人工缺陷(2)的横通孔的孔径呈阶梯式递增，所述试块本体(1)的侧面通过胶接等角度均分固定设有若干标尺(3)，所述标尺(3)与所述人工缺陷(2)一一对应，若干所述人工缺陷(2)距所述试块本体(1)的侧面平面的距离呈阶梯式递增趋势，所述标尺(3)上记载有与其相对应的所述人工缺陷(2)的横通孔的孔径及距所述试块本体(1)的侧面平面的距离数据。

2.根据权利要求1所述带有未焊透结构的相控阵检测对比试块，其特征在于，所述试块本体(1)采用分区结构。

3.根据权利要求1所述带有未焊透结构的相控阵检测对比试块，其特征在于，所述试块本体(1)的圆环内侧的人工缺陷(2)的数量为六个，六个所述人工缺陷(2)的孔径从小到大依次为2mm、3mm、4mm、5mm、6mm和7mm，所述人工缺陷(2)距所述试块本体(1)的侧面平面的距离从小到大依次为8mm、10mm、12mm、14mm、16mm和18mm。

4.根据权利要求1所述带有未焊透结构的相控阵检测对比试块，其特征在于，所述标尺(3)在所述试块本体(1)外壁上位置与所述人工缺陷(2)在所述试块本体(1)内的位置一一对应。

5.根据权利要求1所述带有未焊透结构的相控阵检测对比试块，其特征在于，所述试块本体(1)的材质与待检测物的材质相同。