JPH04345994A - 半導体記憶装置、及び画像表示システム - Google Patents
半導体記憶装置、及び画像表示システムInfo
- Publication number
- JPH04345994A JPH04345994A JP3149391A JP14939191A JPH04345994A JP H04345994 A JPH04345994 A JP H04345994A JP 3149391 A JP3149391 A JP 3149391A JP 14939191 A JP14939191 A JP 14939191A JP H04345994 A JPH04345994 A JP H04345994A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- cell array
- clear
- memory cell
- input buffer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 11
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 101001022948 Homo sapiens LIM domain-binding protein 2 Proteins 0.000 description 3
- 102100035113 LIM domain-binding protein 2 Human genes 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 101001022957 Homo sapiens LIM domain-binding protein 1 Proteins 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 210000002784 stomach Anatomy 0.000 description 1
Landscapes
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Memory System (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体記憶装置の高速
クリア技術に関し、例えばCRT(カソード・レイ・チ
ューブ)ディスプレイ装置に対する表示制御用のディス
プレイコントローラにより管理される画像表示システム
、さらにはそれを含むデータ処理装置に適用して有効な
技術に関する。
クリア技術に関し、例えばCRT(カソード・レイ・チ
ューブ)ディスプレイ装置に対する表示制御用のディス
プレイコントローラにより管理される画像表示システム
、さらにはそれを含むデータ処理装置に適用して有効な
技術に関する。
【0002】
【従来の技術】CRT(カソード・レイ・チューブ)デ
ィスプレイに対する表示制御やフレームバッファなどの
ビットマップメモリに対するアドレス制御を行うディス
プレイコントローラにおいて、表示画面の内容を変更す
る描画処理をマイクロプロセッサの処理に委ねることも
できるが、昭和59年11月30日オーム社発行の「L
SIハンドブック」P556などに記載される如く、グ
ラフィックスのように画素(ピクセル)単位に比較的複
雑な処理が要求される場合、全てをマイクロプロセッサ
の処理に委ねることは、プロセッサの使用効率及び画像
処理の高速化において必ずしも得策でないことから、基
本的図形の描画や図形の塗つぶし、さらには図形の回転
や移動などの処理をディスプレイコントローラなど画像
処理専用の装置に委ねる方式が採用されている。
ィスプレイに対する表示制御やフレームバッファなどの
ビットマップメモリに対するアドレス制御を行うディス
プレイコントローラにおいて、表示画面の内容を変更す
る描画処理をマイクロプロセッサの処理に委ねることも
できるが、昭和59年11月30日オーム社発行の「L
SIハンドブック」P556などに記載される如く、グ
ラフィックスのように画素(ピクセル)単位に比較的複
雑な処理が要求される場合、全てをマイクロプロセッサ
の処理に委ねることは、プロセッサの使用効率及び画像
処理の高速化において必ずしも得策でないことから、基
本的図形の描画や図形の塗つぶし、さらには図形の回転
や移動などの処理をディスプレイコントローラなど画像
処理専用の装置に委ねる方式が採用されている。
【0003】このディスプレイコントローラのような画
像処理専用の装置は、フレームバッファと称されるビデ
オRAM(ランダム・アクセス・メモリ)を管理してい
る。このビデオRAMの一例としてHM534253A
(本願出願人会社製品)があり、それによれば、フラッ
シュライト動作/ブロックライト動作が可能とされ、そ
のような動作モードにおいて記憶データのクリアが可能
とされる。例えばフラッシュライト動作によれば、カラ
ーレジスタに予め「0」又は「1」をセットしておき、
センスアンプ・ラッチ回路を介してそれをメモリセルア
レイに転送することにより、1回のRAS(ロウアドレ
スストローブ信号)サイクルで1行分のデータを「0」
又は「1」に書き換えることができる。そのような書き
換えにより、それまでの記憶データをクリアすることが
できる。また、上記ブロックライトモードにおいては、
上記と同様にカラーレジスタに予めセットされた「0」
又は「1」をセンスアンプ・ラッチ回路経由でメモリセ
ルアレイに転送するのであるが、ロウアドレス,カラム
アドレスによって指定された1ブロック(4ワード)の
データが1回のRASサイクルで「0」又は「1」にク
リアされる。つまり、ブロック単位のデータクリアが可
能とされる。
像処理専用の装置は、フレームバッファと称されるビデ
オRAM(ランダム・アクセス・メモリ)を管理してい
る。このビデオRAMの一例としてHM534253A
(本願出願人会社製品)があり、それによれば、フラッ
シュライト動作/ブロックライト動作が可能とされ、そ
のような動作モードにおいて記憶データのクリアが可能
とされる。例えばフラッシュライト動作によれば、カラ
ーレジスタに予め「0」又は「1」をセットしておき、
センスアンプ・ラッチ回路を介してそれをメモリセルア
レイに転送することにより、1回のRAS(ロウアドレ
スストローブ信号)サイクルで1行分のデータを「0」
又は「1」に書き換えることができる。そのような書き
換えにより、それまでの記憶データをクリアすることが
できる。また、上記ブロックライトモードにおいては、
上記と同様にカラーレジスタに予めセットされた「0」
又は「1」をセンスアンプ・ラッチ回路経由でメモリセ
ルアレイに転送するのであるが、ロウアドレス,カラム
アドレスによって指定された1ブロック(4ワード)の
データが1回のRASサイクルで「0」又は「1」にク
リアされる。つまり、ブロック単位のデータクリアが可
能とされる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記フ
ラッシュライトモードやブロックライトモードにおいて
は、上記カラーレジスタに予めセットされた論理状態に
よって、1回のRASサイクルでクリアされる領域のク
リア後の論理状態が全て「0」又は全て「1」に決定さ
れてしまうため、換言すれば特定のブロック内を全て「
0」又は全て「1」とすることしかできないため、クリ
アパターンの任意性に欠けるという問題点のあることが
、本発明者により見いだされた。また上記フラッシュラ
イトモードによれば、上記のように1回のRASサイク
ルで1行分のデータをクリアするため高速クリアが可能
とされるが、ブロック単位クリアは不可能とされ、さら
に上記ブロックライトモードによれば、上記のようにブ
ロック単位のクリアが可能とされるが、当該ブロック毎
の書き込みであるため、広範囲のデータクリアの場合、
クリアに時間がかかるという問題点のあることが、本発
明者により明らかとされた。
ラッシュライトモードやブロックライトモードにおいて
は、上記カラーレジスタに予めセットされた論理状態に
よって、1回のRASサイクルでクリアされる領域のク
リア後の論理状態が全て「0」又は全て「1」に決定さ
れてしまうため、換言すれば特定のブロック内を全て「
0」又は全て「1」とすることしかできないため、クリ
アパターンの任意性に欠けるという問題点のあることが
、本発明者により見いだされた。また上記フラッシュラ
イトモードによれば、上記のように1回のRASサイク
ルで1行分のデータをクリアするため高速クリアが可能
とされるが、ブロック単位クリアは不可能とされ、さら
に上記ブロックライトモードによれば、上記のようにブ
ロック単位のクリアが可能とされるが、当該ブロック毎
の書き込みであるため、広範囲のデータクリアの場合、
クリアに時間がかかるという問題点のあることが、本発
明者により明らかとされた。
【0005】本発明の目的は、メモリセルアレイのブロ
ック単位のデータクリアを任意のクリアパターンで高速
に行い得る半導体記憶装置を提供することにある。
ック単位のデータクリアを任意のクリアパターンで高速
に行い得る半導体記憶装置を提供することにある。
【0006】本発明の前記並びにその他の目的と新規な
特徴は本明細書の記述及び添付図面から明らかになるで
あろう。
特徴は本明細書の記述及び添付図面から明らかになるで
あろう。
【0007】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば下記
の通りである。
発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば下記
の通りである。
【0008】すなわち、メモリセルアレイをブロック単
位に任意のパターンでクリアするため基本パターンとさ
れるクリアデータを取り込み可能とするデータ入力バッ
ファ部を設け、さらにこのデータ入力バッファ部の出力
に基づいて上記メモリセルアレイの1行分に相当する一
括転送用クリアデータを形成すると共に、ロウアドレス
が順次更新される毎に上記一括転送用クリアデータを上
記メモリセルアレイに繰り返し転送可能とするデータレ
ジスタ部を設けることにより半導体記憶装置を形成し、
また、そのような半導体記憶装置をフレームバッファに
適用して画像表示システムを形成するものである。上記
のようなデータクリアを、より高速に行うには、上記デ
ータ入力バッファ部によって取り込まれたクリアデータ
を上記データレジスタ部へバースト転送すると良い。
位に任意のパターンでクリアするため基本パターンとさ
れるクリアデータを取り込み可能とするデータ入力バッ
ファ部を設け、さらにこのデータ入力バッファ部の出力
に基づいて上記メモリセルアレイの1行分に相当する一
括転送用クリアデータを形成すると共に、ロウアドレス
が順次更新される毎に上記一括転送用クリアデータを上
記メモリセルアレイに繰り返し転送可能とするデータレ
ジスタ部を設けることにより半導体記憶装置を形成し、
また、そのような半導体記憶装置をフレームバッファに
適用して画像表示システムを形成するものである。上記
のようなデータクリアを、より高速に行うには、上記デ
ータ入力バッファ部によって取り込まれたクリアデータ
を上記データレジスタ部へバースト転送すると良い。
【0009】さらに具体的な態様では、上記クリアデー
タが上記データ入力バッファ部にシリアル形式で伝達さ
れるとき、当該データ入力バッファ部は、当該データを
順次取り込んで保持し、それをパラレル形式で上記デー
タレジスタへ転送するための複数の入力バッファ部形成
用セルを含んで形成することができる。
タが上記データ入力バッファ部にシリアル形式で伝達さ
れるとき、当該データ入力バッファ部は、当該データを
順次取り込んで保持し、それをパラレル形式で上記デー
タレジスタへ転送するための複数の入力バッファ部形成
用セルを含んで形成することができる。
【0010】また、カラム選択スイッチを介して上記メ
モリセルアレイのデータ線に結合されたラッチ回路と、
このラッチ回路へのクリアデータ入力を制御するための
入力制御素子と、上記カラム選択スイッチをオンさせる
ことにより上記ラッチ回路保持データを上記メモリセル
アレイへ転送可能とする転送制御素子とを結合して成る
複数のセルを含んで、上記データレジスタ部を形成する
ことができる。
モリセルアレイのデータ線に結合されたラッチ回路と、
このラッチ回路へのクリアデータ入力を制御するための
入力制御素子と、上記カラム選択スイッチをオンさせる
ことにより上記ラッチ回路保持データを上記メモリセル
アレイへ転送可能とする転送制御素子とを結合して成る
複数のセルを含んで、上記データレジスタ部を形成する
ことができる。
【0011】
【作用】上記した手段によれば、データ入力バッファ部
は、メモリセルアレイをブロック単位に任意のパターン
でクリアするため基本パターンとされるクリアデータを
取り込み、それに基づいて、データレジスタ部は、上記
メモリセルアレイの1行分に相当する一括転送用クリア
データを形成し、それを上記メモリセルアレイに繰り返
し転送可能とする。このことが、メモリセルアレイのブ
ロック単位のデータクリアを任意のクリアパターンで高
速に行い得るように作用する。
は、メモリセルアレイをブロック単位に任意のパターン
でクリアするため基本パターンとされるクリアデータを
取り込み、それに基づいて、データレジスタ部は、上記
メモリセルアレイの1行分に相当する一括転送用クリア
データを形成し、それを上記メモリセルアレイに繰り返
し転送可能とする。このことが、メモリセルアレイのブ
ロック単位のデータクリアを任意のクリアパターンで高
速に行い得るように作用する。
【0012】
【実施例】図10には本発明の一実施例に係るデータ処
理装置が示される。同図において、システムアドレスバ
スSAB及びシステムデータバスSDBには、代表的に
示されているマイクロプロセッサ51とシステムメモリ
52が結合されている。グラフィックディスプレイプロ
セッサ53は、特に制限されないが、表示手段の一例と
してのCRTディスプレイ56が含まれるシステムにお
いて、その表示制御機能や描画制御機能をサポートする
ディスプレイコントローラとして機能するものであり、
システムデータバスSDBに対するインタフェース部と
、ローカルデータバスLDB1及びローカルアドレスバ
スLAB1に対するインタフェース部とを有する。デュ
アルポートを有するフレームバッファ54の一方のアク
セスポートには、ローカルデータバスLDB1及びロー
カルアドレスバスLAB1が結合され、また、当該バッ
ファ54の他方のアクセスポートには、ドットシフタ5
5を介してCRTディスプレイ56が結合される。
理装置が示される。同図において、システムアドレスバ
スSAB及びシステムデータバスSDBには、代表的に
示されているマイクロプロセッサ51とシステムメモリ
52が結合されている。グラフィックディスプレイプロ
セッサ53は、特に制限されないが、表示手段の一例と
してのCRTディスプレイ56が含まれるシステムにお
いて、その表示制御機能や描画制御機能をサポートする
ディスプレイコントローラとして機能するものであり、
システムデータバスSDBに対するインタフェース部と
、ローカルデータバスLDB1及びローカルアドレスバ
スLAB1に対するインタフェース部とを有する。デュ
アルポートを有するフレームバッファ54の一方のアク
セスポートには、ローカルデータバスLDB1及びロー
カルアドレスバスLAB1が結合され、また、当該バッ
ファ54の他方のアクセスポートには、ドットシフタ5
5を介してCRTディスプレイ56が結合される。
【0013】上記フレームバッファ54には、後に詳述
するように、メモリセルアレイのブロック単位のデータ
クリアを任意のクリアパターンで高速に行い得る機能を
備えたビデオRAM(ランダム・アクセス・メモリ)が
適用される。
するように、メモリセルアレイのブロック単位のデータ
クリアを任意のクリアパターンで高速に行い得る機能を
備えたビデオRAM(ランダム・アクセス・メモリ)が
適用される。
【0014】さらに本実施例では、上記フレームバッフ
ァ54よりも記憶容量が少なく且つ上記画像メモリより
も高速アクセスが可能な描画専用バッファ50が設けら
れ、このバッファ50は、描画専用とされるローカルデ
ータバスLDB2,ローカルアドレスバスLAB2を介
してグラフィックディスプレイプロセッサ53に結合さ
れる。そのような描画専用バッファ50は、特に制限さ
れないが、スタティックRAMを適用することにより比
較的容易に実現される。そしてそのような描画専用バッ
ファ50の記憶情報は、シリアル形式で上記フレームバ
ッファ54に転送可能とされる。上記グラフィックディ
スプレイプロセッサ53は、上記マイクロプロセッサ5
1からシステムデータバスSDBを介して供給されるコ
マンドを解釈し、所定の図形描画、図形塗りつぶし、及
び図形の拡大,縮小,回転などを上記描画専用バッファ
50に対して実行する描画制御機能と、そのような描画
情報を上記フレームバッファ54に転送する転送制御機
能と、当該フレームバッファ54に格納された画像デー
タをCRTディスプレイ56に表示させる表示制御機能
とをサポートする。
ァ54よりも記憶容量が少なく且つ上記画像メモリより
も高速アクセスが可能な描画専用バッファ50が設けら
れ、このバッファ50は、描画専用とされるローカルデ
ータバスLDB2,ローカルアドレスバスLAB2を介
してグラフィックディスプレイプロセッサ53に結合さ
れる。そのような描画専用バッファ50は、特に制限さ
れないが、スタティックRAMを適用することにより比
較的容易に実現される。そしてそのような描画専用バッ
ファ50の記憶情報は、シリアル形式で上記フレームバ
ッファ54に転送可能とされる。上記グラフィックディ
スプレイプロセッサ53は、上記マイクロプロセッサ5
1からシステムデータバスSDBを介して供給されるコ
マンドを解釈し、所定の図形描画、図形塗りつぶし、及
び図形の拡大,縮小,回転などを上記描画専用バッファ
50に対して実行する描画制御機能と、そのような描画
情報を上記フレームバッファ54に転送する転送制御機
能と、当該フレームバッファ54に格納された画像デー
タをCRTディスプレイ56に表示させる表示制御機能
とをサポートする。
【0015】図1には上記フレームバッファ54として
のビデオRAMの詳細な構成が示される。同図に示され
るビデオRAMは、特に制限されないが、公知の半導体
集積回路製造技術によりシリコン基板などの一つの半導
体基板に形成される。
のビデオRAMの詳細な構成が示される。同図に示され
るビデオRAMは、特に制限されないが、公知の半導体
集積回路製造技術によりシリコン基板などの一つの半導
体基板に形成される。
【0016】図1において10は、特に制限されないが
、複数個のスタティック型メモリセルをマトリクス配置
したメモリセルアレイであり、図示されないメモリセル
の選択端子はロウ方向毎にワード線WLに結合され、メ
モリセルのデータ入出力端子はカラム方向毎に相補デー
タ線DL(相補ビット線とも称される)に結合される。 それぞれの相補データ線DLは、それに1対1で結合さ
れた複数個のカラム選択スイッチを含むデータレジスタ
部に共通接続されている。外部より入力されるアドレス
信号のうちA0〜An(10ビット)は、カラム選択ス
イッチを駆動するためのYデコーダ13に伝達され、ア
ドレス信号An+1〜Am(10ビット)は、ワード線
選択のためのXデコーダ12に伝達される。さらにカラ
ムアドレスとして取り込まれる信号の下位14ビットは
、後述するデータ入力バッファ部14、データレジスタ
部16、データ出力バッファ部15に、それらの内部制
御信号生成のために伝達される。データ入力バッファ部
14のデータ入力端子と、データ出力バッファ15のデ
ータ出力端子とは、図示されない共通のデータ入出力端
子に結合される。
、複数個のスタティック型メモリセルをマトリクス配置
したメモリセルアレイであり、図示されないメモリセル
の選択端子はロウ方向毎にワード線WLに結合され、メ
モリセルのデータ入出力端子はカラム方向毎に相補デー
タ線DL(相補ビット線とも称される)に結合される。 それぞれの相補データ線DLは、それに1対1で結合さ
れた複数個のカラム選択スイッチを含むデータレジスタ
部に共通接続されている。外部より入力されるアドレス
信号のうちA0〜An(10ビット)は、カラム選択ス
イッチを駆動するためのYデコーダ13に伝達され、ア
ドレス信号An+1〜Am(10ビット)は、ワード線
選択のためのXデコーダ12に伝達される。さらにカラ
ムアドレスとして取り込まれる信号の下位14ビットは
、後述するデータ入力バッファ部14、データレジスタ
部16、データ出力バッファ部15に、それらの内部制
御信号生成のために伝達される。データ入力バッファ部
14のデータ入力端子と、データ出力バッファ15のデ
ータ出力端子とは、図示されない共通のデータ入出力端
子に結合される。
【0017】さらに、外部から与えられる選択信号とし
てのチップセレクト信号CS*(*はロウアクティブ又
は信号反転を示す)及び書き込み動作指示のためのライ
トイネーブル信号WE*、データ出力指示のためのアウ
トプットイネーブル信号OE*、データレジスタ16か
らメモリアレイ10へのデータ一括転送を指示するため
の転送制御信号TR*などがそれぞれコントローラ17
に取込まれ、このコントローラ17により、多重選択信
号Tや書き込み制御信号WOを含む各種制御信号が所定
のタイミングで生成され、それが本実施例RAMの各部
に供給されることにより、書き込み(クリアを含む)/
読出しの動作制御が行われるようになっている。
てのチップセレクト信号CS*(*はロウアクティブ又
は信号反転を示す)及び書き込み動作指示のためのライ
トイネーブル信号WE*、データ出力指示のためのアウ
トプットイネーブル信号OE*、データレジスタ16か
らメモリアレイ10へのデータ一括転送を指示するため
の転送制御信号TR*などがそれぞれコントローラ17
に取込まれ、このコントローラ17により、多重選択信
号Tや書き込み制御信号WOを含む各種制御信号が所定
のタイミングで生成され、それが本実施例RAMの各部
に供給されることにより、書き込み(クリアを含む)/
読出しの動作制御が行われるようになっている。
【0018】上記データ入力バッファ部14は、上記メ
モリセルアレイをブロック単位に任意のパターンでクリ
アするため基本パターンとされるクリアデータを取り込
み可能とするもので、特に制限されないが、以下のよう
に構成される。
モリセルアレイをブロック単位に任意のパターンでクリ
アするため基本パターンとされるクリアデータを取り込
み可能とするもので、特に制限されないが、以下のよう
に構成される。
【0019】図2には上記データ入力バッファ部14の
構成例が示される。同図に示されるように、上記データ
入力バッファ部14は、データ保持機能を有する複数の
データ入力バッファ形成用セル18と、この複数のセル
18の動作制御信号を生成するデコーダ19とを含む。 特に制限されないが、上記複数のセル18は、16個配
置され、その入力(I)端子が、本実施例RAMの共通
の入出力端子に結合されることにより、16ビット構成
のラッチ回路を形成する。上記デコーダ19は、カラム
アドレスの下位4ビット信号をデコードすることにより
、上記複数のセル18を順番にラッチ動作させるための
書き込み制御信号WIを生成する。それにより、上記シ
リアル形式のクリアデータは上記複数のセル18を介す
ることにより16ビットパラレルデータ(0〜F)に変
換され、そのようなパラレルデータは、図1に示される
データレジスタ部16に伝達される。
構成例が示される。同図に示されるように、上記データ
入力バッファ部14は、データ保持機能を有する複数の
データ入力バッファ形成用セル18と、この複数のセル
18の動作制御信号を生成するデコーダ19とを含む。 特に制限されないが、上記複数のセル18は、16個配
置され、その入力(I)端子が、本実施例RAMの共通
の入出力端子に結合されることにより、16ビット構成
のラッチ回路を形成する。上記デコーダ19は、カラム
アドレスの下位4ビット信号をデコードすることにより
、上記複数のセル18を順番にラッチ動作させるための
書き込み制御信号WIを生成する。それにより、上記シ
リアル形式のクリアデータは上記複数のセル18を介す
ることにより16ビットパラレルデータ(0〜F)に変
換され、そのようなパラレルデータは、図1に示される
データレジスタ部16に伝達される。
【0020】図3には上記セル18の詳細な構成例が示
される。同図に示されるように、セル18は、クロック
ドインバータ20とインバータ21とが直列接続され、
このインバータ21にクロックドインバータ22が並列
接続され、さらに当該2つのクロックドインバータ20
,22に相補的な制御信号を与えるためのインバータ2
3が結合されて成る。上記デコーダ19からの書き込み
制御信号WIがハイレベルの場合、クロックドインバー
タ20がオン(データ通過状態)され、入力(I)端子
からの入力データがインバータ21に伝達される。この
ときクロックドインバータ22はオフ(データ通過不能
状態)とされる。上記書き込み制御信号WIがローレベ
ルとされたとき、クロックドインバータ20はオフ状態
(高出力インピーダンス状態)、クロックドインバータ
22はオン状態とされることにより、先に取り込まれた
データがラッチされる。
される。同図に示されるように、セル18は、クロック
ドインバータ20とインバータ21とが直列接続され、
このインバータ21にクロックドインバータ22が並列
接続され、さらに当該2つのクロックドインバータ20
,22に相補的な制御信号を与えるためのインバータ2
3が結合されて成る。上記デコーダ19からの書き込み
制御信号WIがハイレベルの場合、クロックドインバー
タ20がオン(データ通過状態)され、入力(I)端子
からの入力データがインバータ21に伝達される。この
ときクロックドインバータ22はオフ(データ通過不能
状態)とされる。上記書き込み制御信号WIがローレベ
ルとされたとき、クロックドインバータ20はオフ状態
(高出力インピーダンス状態)、クロックドインバータ
22はオン状態とされることにより、先に取り込まれた
データがラッチされる。
【0021】上記データレジスタ部16は、上記データ
入力バッファ部14の出力に基づいて上記メモリセルア
レイ10の1行分に相当する一括転送用クリアデータを
形成する機能を有し、以下のように形成される。
入力バッファ部14の出力に基づいて上記メモリセルア
レイ10の1行分に相当する一括転送用クリアデータを
形成する機能を有し、以下のように形成される。
【0022】図4には上記データレジスタ部16の構成
例が示される。同図に示されるように、上記データレジ
スタ部16は、複数のデータレジスタ部形成用セル27
と、それの動作制御信号を生成するデコーダ28とが結
合されて成る。上記セル27は、同図において拡大して
示されるように、データ入力(IN)端子、データ出力
(OUT)端子、相補データ(D,D*)入力端子、カ
ラム選択信号(YS)入力端子,書込み制御信号(WW
)入力端子、読出し制御信号(RW)入力端子,多重選
択信号(T)入力端子を有する。書込み制御信号WW、
読出し制御信号RWは、カラムアドレス信号の下位6ビ
ットをデコーダ28でデコードすることにより生成され
る。また、多重選択信号Tは、図1に示されるコントロ
ーラ17から供給される。
例が示される。同図に示されるように、上記データレジ
スタ部16は、複数のデータレジスタ部形成用セル27
と、それの動作制御信号を生成するデコーダ28とが結
合されて成る。上記セル27は、同図において拡大して
示されるように、データ入力(IN)端子、データ出力
(OUT)端子、相補データ(D,D*)入力端子、カ
ラム選択信号(YS)入力端子,書込み制御信号(WW
)入力端子、読出し制御信号(RW)入力端子,多重選
択信号(T)入力端子を有する。書込み制御信号WW、
読出し制御信号RWは、カラムアドレス信号の下位6ビ
ットをデコーダ28でデコードすることにより生成され
る。また、多重選択信号Tは、図1に示されるコントロ
ーラ17から供給される。
【0023】図5には上記セル27の構成例が示される
。すなわち、二つのインバータ33,34が結合される
ことによってラッチ回路が形成され、このラッチ回路に
、カラム選択信号によって駆動されるカラム選択スイッ
チ31,32が結合される。データ入力(IN)端子側
には、書き込み制御信号WWによってオン/オフ制御さ
れるNチャンネル型MOSFET29が設けられ、それ
の後段には、当該MOSFET29がオンされた際にそ
れを介して入力されるデータを反転して上記ラッチ回路
33,34の一方のノードN1に伝達するためのインバ
ータ30が配置される。上記ラッチ回路33,34の他
方のノードN2には、読出し制御信号RWによってオン
/オフ制御されるNチャンネル型MOSFET36が結
合され、このMOSFET36がオンされた際に、上記
ラッチ回路33,34の他方のノードN2の論理レベル
が後段セルに伝達可能とされる(図4参照)。図1に示
されるYデコーダ13によって生成されるカラム選択信
号YSに従ってカラム選択スイッチ31,32がオンさ
れることにより、メモリセルへのデータ書き込み、及び
当該メモリセルからのデータ読出しが可能とされるが、
上記メモリセルアレイ10の1行分に相当するクリアデ
ータを一括して読み書き可能とするため、多重選択信号
Tによってオン/オフ制御されるNチャンネル型MOS
FET34が設けられている。この多重選択信号Tがハ
イレベルにアサートされることにより、全てのセル27
内のMOSFET35がオンされる。それにより、高電
位側電源Vddがカラム選択スイッチ31,32のゲー
トに印加され、当該スイッチ31,32がオンされるこ
とにより、上記メモリセルアレイ10とデータレジスタ
部16との間で当該メモリセルアレイ10の1行分に相
当するデータの一括読み書きが可能とされる。
。すなわち、二つのインバータ33,34が結合される
ことによってラッチ回路が形成され、このラッチ回路に
、カラム選択信号によって駆動されるカラム選択スイッ
チ31,32が結合される。データ入力(IN)端子側
には、書き込み制御信号WWによってオン/オフ制御さ
れるNチャンネル型MOSFET29が設けられ、それ
の後段には、当該MOSFET29がオンされた際にそ
れを介して入力されるデータを反転して上記ラッチ回路
33,34の一方のノードN1に伝達するためのインバ
ータ30が配置される。上記ラッチ回路33,34の他
方のノードN2には、読出し制御信号RWによってオン
/オフ制御されるNチャンネル型MOSFET36が結
合され、このMOSFET36がオンされた際に、上記
ラッチ回路33,34の他方のノードN2の論理レベル
が後段セルに伝達可能とされる(図4参照)。図1に示
されるYデコーダ13によって生成されるカラム選択信
号YSに従ってカラム選択スイッチ31,32がオンさ
れることにより、メモリセルへのデータ書き込み、及び
当該メモリセルからのデータ読出しが可能とされるが、
上記メモリセルアレイ10の1行分に相当するクリアデ
ータを一括して読み書き可能とするため、多重選択信号
Tによってオン/オフ制御されるNチャンネル型MOS
FET34が設けられている。この多重選択信号Tがハ
イレベルにアサートされることにより、全てのセル27
内のMOSFET35がオンされる。それにより、高電
位側電源Vddがカラム選択スイッチ31,32のゲー
トに印加され、当該スイッチ31,32がオンされるこ
とにより、上記メモリセルアレイ10とデータレジスタ
部16との間で当該メモリセルアレイ10の1行分に相
当するデータの一括読み書きが可能とされる。
【0024】上記のように構成されたセル27は、図4
に示されるように入力データ(IN)端子,出力データ
(OUT)端子を利用して複数個直列接続されることに
より、上記データ入力バッファ部14の出力ビットに対
応する16組のセル群を形成し、書き込み制御信号WW
,読出し制御信号RWによって、図面上、左側から右側
への16ビットデータのシフトが可能とされる。
に示されるように入力データ(IN)端子,出力データ
(OUT)端子を利用して複数個直列接続されることに
より、上記データ入力バッファ部14の出力ビットに対
応する16組のセル群を形成し、書き込み制御信号WW
,読出し制御信号RWによって、図面上、左側から右側
への16ビットデータのシフトが可能とされる。
【0025】図1におけるデータ出力バッファ部15は
、上記メモリセルアレイ10からの読出しデータをシリ
アル形式で外部出力可能とするもので、以下のように構
成される。
、上記メモリセルアレイ10からの読出しデータをシリ
アル形式で外部出力可能とするもので、以下のように構
成される。
【0026】図6には上記データ出力バッファ部15の
構成例が示される。同図に示されるように、データ出力
バッファ部15は、上記データレジスタ部16の出力ビ
ット数に対応して配置された16個の出力バッファ部形
用セル40と、カラムアドレスの下位4ビットをデコー
ドすることによってこの複数のセル40の動作制御信号
を生成するためのデコーダ41とを含む。上記セル40
は、図7に示されるように、クロックドインバータ42
とインバータ44とが直列接続され、このインバータ4
4にクロックドインバータ45が並列接続され、さらに
コントローラ17からの書き込み制御信号WOを反転し
て上記2つのクロックドインバータ42,45に相補的
な制御信号を与えるためのインバータ43が結合されて
成るラッチ回路と、それの後段に配置され、上記デコー
ダ41からの読出し制御信号Rに従って上記入力部の出
力を外部出力するためのクロックドインバータ46、及
び読出し制御信号Rを反転することによって上記クロッ
クドインバータ46に相補的な制御信号を与えるための
インバータ47とを含む。
構成例が示される。同図に示されるように、データ出力
バッファ部15は、上記データレジスタ部16の出力ビ
ット数に対応して配置された16個の出力バッファ部形
用セル40と、カラムアドレスの下位4ビットをデコー
ドすることによってこの複数のセル40の動作制御信号
を生成するためのデコーダ41とを含む。上記セル40
は、図7に示されるように、クロックドインバータ42
とインバータ44とが直列接続され、このインバータ4
4にクロックドインバータ45が並列接続され、さらに
コントローラ17からの書き込み制御信号WOを反転し
て上記2つのクロックドインバータ42,45に相補的
な制御信号を与えるためのインバータ43が結合されて
成るラッチ回路と、それの後段に配置され、上記デコー
ダ41からの読出し制御信号Rに従って上記入力部の出
力を外部出力するためのクロックドインバータ46、及
び読出し制御信号Rを反転することによって上記クロッ
クドインバータ46に相補的な制御信号を与えるための
インバータ47とを含む。
【0027】上記書き込み制御信号WOがハイレベルの
場合、クロックドインバータ42がオンされ、上記デー
タレジスタ部16から伝達されたデータIがインバータ
44に伝達される。このときクロックドインバータ45
や46はオフされている。上記書き込み制御信号WOが
ローレベルとされたとき、クロックドインバータ42は
オフ状態、クロックドインバータ45はオン状態とされ
ることにより、先に取り込まれたデータがラッチされる
。このラッチデータは、上記読出し制御信号Rがハイレ
ベルにアサートされてクロックドインバータ46がオン
されることにより外部出力可能とされる。図1,図6に
示されるように、全てのセル40の出力端子は、本実施
例RAMの入出力端子に共通接続されており、セル40
に保持された16ビットのパラレルデータは、デコーダ
41の出力Rが順にハイレベルにアサートされることに
より、シリアルデータに変換されて外部出力可能とされ
る。
場合、クロックドインバータ42がオンされ、上記デー
タレジスタ部16から伝達されたデータIがインバータ
44に伝達される。このときクロックドインバータ45
や46はオフされている。上記書き込み制御信号WOが
ローレベルとされたとき、クロックドインバータ42は
オフ状態、クロックドインバータ45はオン状態とされ
ることにより、先に取り込まれたデータがラッチされる
。このラッチデータは、上記読出し制御信号Rがハイレ
ベルにアサートされてクロックドインバータ46がオン
されることにより外部出力可能とされる。図1,図6に
示されるように、全てのセル40の出力端子は、本実施
例RAMの入出力端子に共通接続されており、セル40
に保持された16ビットのパラレルデータは、デコーダ
41の出力Rが順にハイレベルにアサートされることに
より、シリアルデータに変換されて外部出力可能とされ
る。
【0028】次に、本実施例RAMの高速クリア動作(
フラッシュライト)について詳述する。このクリア動作
は、所定のデータをメモリセルアレイ10に書き込むこ
とにより可能とされるが、本実施例においてフラッシュ
ライトは、通常のリード/ライト動作と区別するため、
所定の外部ピンが所定の論理状態とされることにより、
そのようなモード選択が可能とされる。
フラッシュライト)について詳述する。このクリア動作
は、所定のデータをメモリセルアレイ10に書き込むこ
とにより可能とされるが、本実施例においてフラッシュ
ライトは、通常のリード/ライト動作と区別するため、
所定の外部ピンが所定の論理状態とされることにより、
そのようなモード選択が可能とされる。
【0029】図8にはフラッシュライトのタイムチャー
トが示される。
トが示される。
【0030】図8において外部バスは、グラフィックデ
ィスプレイプロセッサ53に結合されたローカルバスL
DBとされ、上記所定の外部ピンが所定の論理状態とさ
れることによりコマンドライトサイク61が起動され、
それに続く16個(0〜F)のライトサイクル62でデ
ータ入力バッファ部14に所望のクリアデータが書き込
まれる。このデータは、メモリセルアレイ10をブロッ
ク単位に任意のパターンでクリアするための基本パター
ンとして予め設定されるが、そのパターン内容は適宜に
変更可能とされる。そのようなクリアデータは、16ビ
ットのシリアル形式で入力され、カラムアドレスの下位
4ビットをデコードするデコーダ19の出力に基づいて
16個のセル18に1ビットづつ順次書き込まれる。そ
のようなデータ書き込みにより、当該データ入力バッフ
ァ部14の出力には、上記クリアデータが16ビットパ
ラレルデータとして現れる。
ィスプレイプロセッサ53に結合されたローカルバスL
DBとされ、上記所定の外部ピンが所定の論理状態とさ
れることによりコマンドライトサイク61が起動され、
それに続く16個(0〜F)のライトサイクル62でデ
ータ入力バッファ部14に所望のクリアデータが書き込
まれる。このデータは、メモリセルアレイ10をブロッ
ク単位に任意のパターンでクリアするための基本パター
ンとして予め設定されるが、そのパターン内容は適宜に
変更可能とされる。そのようなクリアデータは、16ビ
ットのシリアル形式で入力され、カラムアドレスの下位
4ビットをデコードするデコーダ19の出力に基づいて
16個のセル18に1ビットづつ順次書き込まれる。そ
のようなデータ書き込みにより、当該データ入力バッフ
ァ部14の出力には、上記クリアデータが16ビットパ
ラレルデータとして現れる。
【0031】そして上記のようなクリアデータ書き込み
が完了された後に、本実施例RAMは、上記データ入力
バッファ部14からデータレジスタ部16へのデータバ
ースト転送サイクル63が起動される。この転送サイク
ル63では、上記データ入力バッファ部14の16ビッ
ト同時出力が64回繰り返され、そのときカラムアドレ
スの下位6ビットをデコードするデコーダ28の出力(
00,01,…,3F)に基づいて全てのセル27にク
リアデータが書き込まれる。
が完了された後に、本実施例RAMは、上記データ入力
バッファ部14からデータレジスタ部16へのデータバ
ースト転送サイクル63が起動される。この転送サイク
ル63では、上記データ入力バッファ部14の16ビッ
ト同時出力が64回繰り返され、そのときカラムアドレ
スの下位6ビットをデコードするデコーダ28の出力(
00,01,…,3F)に基づいて全てのセル27にク
リアデータが書き込まれる。
【0032】上記データ入力バッファ部14からデータ
レジスタ部16へのデータバースト転送の終了は、特に
制限されないが、データポーリングによりグラフィック
ディスプレイプロセッサ53に知らされる。それにより
、データレジスタ部16からメモリセルアレイ10への
転送サイクル64が起動される。この転送サイクル64
においては、コントローラ17によって多重選択信号T
がハイレベルにアサートされることにより、データレジ
スタ部16における全てのセル27内のMOSFET3
5がオンされ、それによりカラム選択スイッチ31,3
2がオンされるので、全てのセル27がそれに対応する
相補データ線D,D*に導通され、それにより、上記メ
モリセルアレイ10の1行分の一括データ転送が可能と
される。そしてこのときXデコーダ12に取り込まれる
ロウアドレスが順次更新されることにより、上記データ
レジスタ部16からの1行分のクリアデータが上記メモ
リセルアレイ10に順次書き込まれ、そのようなデータ
書き込みにより、メモリセルアレイ10の全記憶領域が
上記クリアデータにより高速にクリアされる。
レジスタ部16へのデータバースト転送の終了は、特に
制限されないが、データポーリングによりグラフィック
ディスプレイプロセッサ53に知らされる。それにより
、データレジスタ部16からメモリセルアレイ10への
転送サイクル64が起動される。この転送サイクル64
においては、コントローラ17によって多重選択信号T
がハイレベルにアサートされることにより、データレジ
スタ部16における全てのセル27内のMOSFET3
5がオンされ、それによりカラム選択スイッチ31,3
2がオンされるので、全てのセル27がそれに対応する
相補データ線D,D*に導通され、それにより、上記メ
モリセルアレイ10の1行分の一括データ転送が可能と
される。そしてこのときXデコーダ12に取り込まれる
ロウアドレスが順次更新されることにより、上記データ
レジスタ部16からの1行分のクリアデータが上記メモ
リセルアレイ10に順次書き込まれ、そのようなデータ
書き込みにより、メモリセルアレイ10の全記憶領域が
上記クリアデータにより高速にクリアされる。
【0033】本実施例によれば以下の作用効果が得られ
る。
る。
【0034】(1)データ入力バッファ部14は、メモ
リセルアレイ10をブロック単位に任意のパターンでク
リアするため基本パターンとされるクリアデータを取り
込み、それに基づいて、データレジスタ部16により、
メモリセルアレイ10の1行分に相当する一括転送用ク
リアデータが形成され、それがメモリセルアレイ10に
転送されるので、上記データ入力バッファ部14に入力
されるクリアデータのパターンを適宜に変更することに
より任意のクリアパターンでブロック単位のクリアが可
能とされる。また、上記のようにデータレジスタ部16
により一括転送用クリアデータが形成され、それが上記
メモリセルアレイ10に転送されることにより、当該メ
モリセルアレイ10の高速クリアが可能とされる。
リセルアレイ10をブロック単位に任意のパターンでク
リアするため基本パターンとされるクリアデータを取り
込み、それに基づいて、データレジスタ部16により、
メモリセルアレイ10の1行分に相当する一括転送用ク
リアデータが形成され、それがメモリセルアレイ10に
転送されるので、上記データ入力バッファ部14に入力
されるクリアデータのパターンを適宜に変更することに
より任意のクリアパターンでブロック単位のクリアが可
能とされる。また、上記のようにデータレジスタ部16
により一括転送用クリアデータが形成され、それが上記
メモリセルアレイ10に転送されることにより、当該メ
モリセルアレイ10の高速クリアが可能とされる。
【0035】(2)上記のようなクリア動作において、
上記データ入力バッファ部14によって取り込まれたク
リアデータが上記データレジスタ部16へバースト転送
されることにより、データ入力バッファ部14からデー
タレジスタ部16へのデータ転送が高速に行われるので
、上記メモリセルアレイ10のクリアが、より高速に行
われる。
上記データ入力バッファ部14によって取り込まれたク
リアデータが上記データレジスタ部16へバースト転送
されることにより、データ入力バッファ部14からデー
タレジスタ部16へのデータ転送が高速に行われるので
、上記メモリセルアレイ10のクリアが、より高速に行
われる。
【0036】(3)さらに、上記クリアデータが上記デ
ータ入力バッファ部14にシリアル形式で入力される場
合は、そのようなシリアルデータを順次取り込んで保持
し、それをパラレル形式で上記データレジスタへ転送す
るための複数の入力バッファ部形成用セル18を適用す
ることにより、上記のような機能を有するデータ入力バ
ッファ部14を容易に形成することができる。
ータ入力バッファ部14にシリアル形式で入力される場
合は、そのようなシリアルデータを順次取り込んで保持
し、それをパラレル形式で上記データレジスタへ転送す
るための複数の入力バッファ部形成用セル18を適用す
ることにより、上記のような機能を有するデータ入力バ
ッファ部14を容易に形成することができる。
【0037】(4)また、カラム選択スイッチ31,3
2を介して上記メモリセルアレイ10の相補データ線d
,d*に結合されたラッチ回路33,34と、このラッ
チ回路33,34へのクリアデータ入力を制御するため
のNチャンネル型MOSFET29と、上記カラム選択
スイッチ31,32をオンさせることにより上記ラッチ
回路保持データを上記メモリセルアレイ10へ転送可能
とするNチャンネル型MOSFET35とを結合して成
る複数のセル27を適用することにより、上記のように
、メモリセルアレイ10の1行分に相当する一括転送用
クリアデータをを形成してそれを上記メモリセルアレイ
10へ転送する機能を有するデータレジスタ部16を容
易に形成することができる。
2を介して上記メモリセルアレイ10の相補データ線d
,d*に結合されたラッチ回路33,34と、このラッ
チ回路33,34へのクリアデータ入力を制御するため
のNチャンネル型MOSFET29と、上記カラム選択
スイッチ31,32をオンさせることにより上記ラッチ
回路保持データを上記メモリセルアレイ10へ転送可能
とするNチャンネル型MOSFET35とを結合して成
る複数のセル27を適用することにより、上記のように
、メモリセルアレイ10の1行分に相当する一括転送用
クリアデータをを形成してそれを上記メモリセルアレイ
10へ転送する機能を有するデータレジスタ部16を容
易に形成することができる。
【0038】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づいて具体的に説明したが、本発明はそれに限定
されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲におい
て種々変更可能であることは言うまでもない。
例に基づいて具体的に説明したが、本発明はそれに限定
されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲におい
て種々変更可能であることは言うまでもない。
【0039】例えば、上記実施例ではデータレジスタ部
14からデータレジスタ16へバースト転送するものに
ついて説明したが、それに限定されない。例えば、図9
に示されるようにノンバースト転送するようにしても良
い。すなわち図9に示されるように、所定の外部ピンが
所定の論理状態とされることによりコマンドライトサイ
クル71が起動され、それに続く16個(0〜F)のラ
イトサイクル72でデータ入力バッファ部14に所望の
クリアデータが書き込まれる。このデータは、16ビッ
トのシリアル形式で入力され、カラムアドレスの下位4
ビットをデコードするデコーダ19の出力に基づいて1
6個のセル18に1ビットづつ順次クリアデータが書き
込まれる。そのようなデータ書き込みにより、当該デー
タ入力バッファ部14の出力には、上記クリアデータが
16ビットパラレルデータとして現れる。そして上記の
ようなクリアデータ書き込みが完了された後に、上記デ
ータ入力バッファ部14からデータレジスタ部16への
ノンバースト転送サイクル73が起動される。この転送
サイクル73では、上記実施例と同様にデータ入力バッ
ファ部14の16ビット出力がデータレジスタ部16に
転送されるが、ノンバースト転送であるため断続的なデ
ータ転送とされ、上記実施例の場合より、転送速度が遅
くなる。しかしながら、従来のブロックライトモードの
ように所定のブロック毎の書き込みを行う場合に比べれ
ば、任意のクリアパターンでブロック単位のクリアを高
速に行い得る。尚、転送サイクル74で、データレジス
タ部16からメモリセルアレイ10へ1行分のデータ転
送が繰り返し行われるのは上記実施例と同様とされる。
14からデータレジスタ16へバースト転送するものに
ついて説明したが、それに限定されない。例えば、図9
に示されるようにノンバースト転送するようにしても良
い。すなわち図9に示されるように、所定の外部ピンが
所定の論理状態とされることによりコマンドライトサイ
クル71が起動され、それに続く16個(0〜F)のラ
イトサイクル72でデータ入力バッファ部14に所望の
クリアデータが書き込まれる。このデータは、16ビッ
トのシリアル形式で入力され、カラムアドレスの下位4
ビットをデコードするデコーダ19の出力に基づいて1
6個のセル18に1ビットづつ順次クリアデータが書き
込まれる。そのようなデータ書き込みにより、当該デー
タ入力バッファ部14の出力には、上記クリアデータが
16ビットパラレルデータとして現れる。そして上記の
ようなクリアデータ書き込みが完了された後に、上記デ
ータ入力バッファ部14からデータレジスタ部16への
ノンバースト転送サイクル73が起動される。この転送
サイクル73では、上記実施例と同様にデータ入力バッ
ファ部14の16ビット出力がデータレジスタ部16に
転送されるが、ノンバースト転送であるため断続的なデ
ータ転送とされ、上記実施例の場合より、転送速度が遅
くなる。しかしながら、従来のブロックライトモードの
ように所定のブロック毎の書き込みを行う場合に比べれ
ば、任意のクリアパターンでブロック単位のクリアを高
速に行い得る。尚、転送サイクル74で、データレジス
タ部16からメモリセルアレイ10へ1行分のデータ転
送が繰り返し行われるのは上記実施例と同様とされる。
【0040】また、メモリセルアレイ10をダイナミッ
ク形のメモリセルで形成することもできるし、メモリセ
ルアレイのランダムアクセスを可能とするランダムアク
セスポートを設けることもできる。さらに上記実施例で
は、シリアル形式のデータを入出力するものについて説
明したが、パラレル形式でクリアデータを取り込むよう
に構成することもできる。そして上記実施例ではクリア
パターンの単位を16ビットとしたものについて説明し
たが、それに限定されず、例えば4ビット、8ビット、
さらには32ビットとすることもできる。
ク形のメモリセルで形成することもできるし、メモリセ
ルアレイのランダムアクセスを可能とするランダムアク
セスポートを設けることもできる。さらに上記実施例で
は、シリアル形式のデータを入出力するものについて説
明したが、パラレル形式でクリアデータを取り込むよう
に構成することもできる。そして上記実施例ではクリア
パターンの単位を16ビットとしたものについて説明し
たが、それに限定されず、例えば4ビット、8ビット、
さらには32ビットとすることもできる。
【0041】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野であるビデオ
RAMに適用した場合について説明したが、本発明はそ
れに限定されるものではなく、例えば、汎用RAMやそ
れを含む各種データ処理装置、さらにはワークステーシ
ョンなどに広く適用することができる。
なされた発明をその背景となった利用分野であるビデオ
RAMに適用した場合について説明したが、本発明はそ
れに限定されるものではなく、例えば、汎用RAMやそ
れを含む各種データ処理装置、さらにはワークステーシ
ョンなどに広く適用することができる。
【0042】本発明は、少なくともメモリセルアレイを
含む条件のものに適用することができる。
含む条件のものに適用することができる。
【0043】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記
の通りである。
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記
の通りである。
【0044】すなわち、データ入力バッファ部により、
メモリセルアレイをブロック単位に任意のパターンでク
リアするため基本パターンとされるクリアデータが取り
込まれ、それに基づいてデータレジスタ部により、メモ
リセルアレイの1行分に相当する一括転送用クリアデー
タが形成され、それがメモリセルアレイに転送されるの
で、上記データ入力バッファ部に入力されるクリアデー
タのパターンを適宜に変更することにより任意のクリア
パターンでブロック単位のクリアが可能とされ、また、
そのようなクリアデータがデータレジスタ部により一括
転送用クリアデータとされて上記メモリセルアレイに転
送されることにより、当該メモリセルアレイの高速クリ
アが可能とされる。
メモリセルアレイをブロック単位に任意のパターンでク
リアするため基本パターンとされるクリアデータが取り
込まれ、それに基づいてデータレジスタ部により、メモ
リセルアレイの1行分に相当する一括転送用クリアデー
タが形成され、それがメモリセルアレイに転送されるの
で、上記データ入力バッファ部に入力されるクリアデー
タのパターンを適宜に変更することにより任意のクリア
パターンでブロック単位のクリアが可能とされ、また、
そのようなクリアデータがデータレジスタ部により一括
転送用クリアデータとされて上記メモリセルアレイに転
送されることにより、当該メモリセルアレイの高速クリ
アが可能とされる。
【図1】図1は本発明の一実施例であるビデオRAMの
構成ブロック図である。
構成ブロック図である。
【図2】図2は上記ビデオRAMに含まれるデータ入力
バッファ部の詳細な構成ブロック図である。
バッファ部の詳細な構成ブロック図である。
【図3】図3は上記データ入力バッファ部の主要部構成
ブロック図である。
ブロック図である。
【図4】図4は上記ビデオRAMに含まれるデータレジ
スタ部の詳細な構成ブロック図である。
スタ部の詳細な構成ブロック図である。
【図5】図5は上記データレジスタ部の主要部構成ブロ
ック図である。
ック図である。
【図6】図6は上記ビデオRAMに含まれるデータ出力
バッファ部の詳細な構成ブロック図である。
バッファ部の詳細な構成ブロック図である。
【図7】図7は上記データ出力バッファ部の主要部構成
ブロックである。
ブロックである。
【図8】図8は本実施例ビデオRAMのフラッシュライ
トのタイムチャートである。
トのタイムチャートである。
【図9】図9は本実施例ビデオRAMのフラッシュライ
トの他のタイムチャートである。
トの他のタイムチャートである。
【図10】図10は上記ビデオRAMが含まれるデータ
処理装置の全体的な構成ブロック図である。
処理装置の全体的な構成ブロック図である。
10 メモリセルアレイ
12 Xデコーダ
13 Yデコーダ
14 データ入力バッファ
15 データ出力バッファ
16 データレジスタ部
17 コントローラ
18 データ入力バッファ部形成用セル19 デコ
ーダ 20 クロックドインバータ 21 インバータ 22 クロックドインバータ 23 インバータ 27 データレジスタ部形成用セル 28 デコーダ 31,32 カラム選択スイッチ 29,35,36 Nチャンネル型MOSFET33
,34 インバータ 40 出力バッファ部形成用セル 41 デコーダ 42,45,46 クロックドインバータ43,44
,47 インバータ 50 描画バッファ 51 マイクロプロセッサ 52 システムメモリ 53 グラフィックディスプレイプロセッサ54
フレームバッファ 55 ドットシフタ 56 CRTディスプレイ
ーダ 20 クロックドインバータ 21 インバータ 22 クロックドインバータ 23 インバータ 27 データレジスタ部形成用セル 28 デコーダ 31,32 カラム選択スイッチ 29,35,36 Nチャンネル型MOSFET33
,34 インバータ 40 出力バッファ部形成用セル 41 デコーダ 42,45,46 クロックドインバータ43,44
,47 インバータ 50 描画バッファ 51 マイクロプロセッサ 52 システムメモリ 53 グラフィックディスプレイプロセッサ54
フレームバッファ 55 ドットシフタ 56 CRTディスプレイ
Claims (5)
- 【請求項1】 複数のメモリセルがアレイ状に配列さ
れて成るメモリセルアレイを含む半導体記憶装置におい
て、上記メモリセルアレイをブロック単位に任意のパタ
ーンでクリアするための基本パターンとされるクリアデ
ータを取り込み可能とするデータ入力バッファ部と、こ
のデータ入力バッファ部の出力に基づいて上記メモリセ
ルアレイの1行分に相当する一括転送用クリアデータを
形成すると共に、ロウアドレスが順次更新される毎に上
記一括転送用クリアデータを上記メモリセルアレイに繰
り返し転送可能とするデータレジスタ部とを含むことを
特徴とする半導体記憶装置。 - 【請求項2】 上記データ入力バッファ部によって取
り込まれたクリアデータを上記データレジスタ部へバー
スト転送するための転送制御手段を含む請求項1記載の
半導体記憶装置。 - 【請求項3】 上記クリアデータが、上記データ入力
バッファ部にシリアル形式で伝達されるとき、当該デー
タ入力バッファ部は、当該データを順次取り込んで保持
し、それをパラレル形式で上記データレジスタへ転送す
るための複数の入力バッファ部形成用セルを含む請求項
1又は2記載の半導体記憶装置。 - 【請求項4】 上記データレジスタ部は、複数のデー
タレジスタ部形成用セルが結合されて成り、このセルは
、カラム選択スイッチを介して上記メモリセルアレイの
データ線に結合されたラッチ回路と、このラッチ回路へ
のクリアデータ入力を制御するための入力制御素子と、
上記カラム選択スイッチをオンさせることにより上記ラ
ッチ回路記憶データの上記メモリセルアレイへの転送を
可能とする転送制御素子とを含む請求項1,2又は3記
載の半導体記憶装置。 - 【請求項5】 請求項1,2,3又は4記載の半導体
記憶装置をフレームバッファとして備えて成る画像表示
システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3149391A JPH04345994A (ja) | 1991-05-24 | 1991-05-24 | 半導体記憶装置、及び画像表示システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3149391A JPH04345994A (ja) | 1991-05-24 | 1991-05-24 | 半導体記憶装置、及び画像表示システム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04345994A true JPH04345994A (ja) | 1992-12-01 |
Family
ID=15474103
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3149391A Withdrawn JPH04345994A (ja) | 1991-05-24 | 1991-05-24 | 半導体記憶装置、及び画像表示システム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04345994A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20180023867A (ko) * | 2016-08-26 | 2018-03-07 | 에이알엠 리미티드 | 메모리 회로 및 데이터 처리 시스템 |
-
1991
- 1991-05-24 JP JP3149391A patent/JPH04345994A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20180023867A (ko) * | 2016-08-26 | 2018-03-07 | 에이알엠 리미티드 | 메모리 회로 및 데이터 처리 시스템 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4128234B2 (ja) | メモリ素子、処理システム、メモリ素子を制御する方法およびダイナミックランダムアクセスメモリを操作する方法 | |
US5726947A (en) | Synchronous semiconductor memory device suitable for graphic data processing | |
JP2599841B2 (ja) | データ処理装置 | |
US5815456A (en) | Multibank -- multiport memories and systems and methods using the same | |
JP2002056676A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JPH11134865A (ja) | スタティックランダムアクセスメモリ回路 | |
JPH10302462A (ja) | 半導体記憶装置 | |
US4870621A (en) | Dual port memory device with improved serial access scheme | |
JPH03216888A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JPH05151778A (ja) | スタテイツクランダムアクセスメモリおよびその制御方法 | |
US5654932A (en) | Memory devices with selectable access type and methods using the same | |
JPH02250132A (ja) | デュアルポートダイナミックメモリ | |
KR960002827B1 (ko) | 플래쉬 라이팅이 가능한 반도체 기억장치와 플래쉬 라이팅 방법 | |
JPH04345994A (ja) | 半導体記憶装置、及び画像表示システム | |
JPH1011969A (ja) | 半導体記憶装置 | |
EP0137318B1 (en) | A semiconductor memory having multiple access | |
JPH1092172A (ja) | データ読取り/書込み機能を有する半導体メモリ装置 | |
JP3216974B2 (ja) | メモリ・システム、グラフィックス・システムおよびデータ書き込み方法 | |
JPS61289596A (ja) | 半導体記憶装置 | |
KR100234415B1 (ko) | 액정표시장치 컨트롤러 램 | |
KR0172369B1 (ko) | 반도체 메모리장치 | |
JPH03173995A (ja) | マルチポート・ランダム・アクセス・メモリ | |
JPS61139990A (ja) | シリアルアクセスメモリ | |
KR0167682B1 (ko) | 반도체 메모리 장치의 데이타전송 인에이블 신호발생회로 | |
JPS6330714B2 (ja) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980806 |