JPH04336411A - 半導体製造装置 - Google Patents
半導体製造装置Info
- Publication number
- JPH04336411A JPH04336411A JP10790891A JP10790891A JPH04336411A JP H04336411 A JPH04336411 A JP H04336411A JP 10790891 A JP10790891 A JP 10790891A JP 10790891 A JP10790891 A JP 10790891A JP H04336411 A JPH04336411 A JP H04336411A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor manufacturing
- clean room
- air
- semiconductor
- manufacturing equipment
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 53
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 48
- 239000000428 dust Substances 0.000 abstract description 7
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 3
- 230000003749 cleanliness Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 1
- 230000001143 conditioned effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Ventilation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ダウンフロー式クリー
ンルームに設置される半導体製造装置に関するものであ
る。
ンルームに設置される半導体製造装置に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体チップの微細化技術が進歩
するにしたがって次第にクリーンレベルの高いクリーン
ルームが要求されるようになってきた。そのため、クリ
ーンルームとしては、室内に下方へ向かう垂直層流を発
生させ、その気流によって空気中の塵埃をグレーチング
床から排出するようにしていた。そして、前記グレーチ
ング床に半導体製造装置が設置されていた。この種の従
来のダウンフロー式クリーンルームを図3によって説明
する。
するにしたがって次第にクリーンレベルの高いクリーン
ルームが要求されるようになってきた。そのため、クリ
ーンルームとしては、室内に下方へ向かう垂直層流を発
生させ、その気流によって空気中の塵埃をグレーチング
床から排出するようにしていた。そして、前記グレーチ
ング床に半導体製造装置が設置されていた。この種の従
来のダウンフロー式クリーンルームを図3によって説明
する。
【0003】図3は従来のクリーンルームの概略構成を
示す図である。同図において、1はシステム天井内に組
み込まれたフィルター、2は室内空気を排出するための
グレーチング床である。グレーチング床2より空気流れ
方向下流側には、グレーチング床2の床下に開口する吸
込み側ダクト3を介して空気調和器4が連通されている
。この空気調和器4はグレーチング床2から吸い込んだ
空気の湿度,温度を調整する構造で、その調和空気出口
は送風器5および供給側ダクト6を介して前記天井部の
フィルター1に連通されている。そして、このクリーン
ルームは、室内の気流が天井部から下方へ向かう垂直層
流となるように構成されている。その気流を図3中矢印
Aで示す。
示す図である。同図において、1はシステム天井内に組
み込まれたフィルター、2は室内空気を排出するための
グレーチング床である。グレーチング床2より空気流れ
方向下流側には、グレーチング床2の床下に開口する吸
込み側ダクト3を介して空気調和器4が連通されている
。この空気調和器4はグレーチング床2から吸い込んだ
空気の湿度,温度を調整する構造で、その調和空気出口
は送風器5および供給側ダクト6を介して前記天井部の
フィルター1に連通されている。そして、このクリーン
ルームは、室内の気流が天井部から下方へ向かう垂直層
流となるように構成されている。その気流を図3中矢印
Aで示す。
【0004】7は前記グレーチング床2上に設置された
半導体製造装置で、この半導体製造装置7の本体7aの
上面は水平な平面とされている。8はウエハ収納用カセ
ットで、このウエハ収納用カセット8は、内部に半導体
ウエハ(図示せず)を複数枚収納する構造で、前記半導
体製造装置7のローダ部7bに装着されている。
半導体製造装置で、この半導体製造装置7の本体7aの
上面は水平な平面とされている。8はウエハ収納用カセ
ットで、このウエハ収納用カセット8は、内部に半導体
ウエハ(図示せず)を複数枚収納する構造で、前記半導
体製造装置7のローダ部7bに装着されている。
【0005】このように構成された従来のクリーンルー
ムでは、空気調和器4で湿度,温度が調整された空気は
送風器5によって天井部に送風される。そして、天井部
のフィルター1によって異物が除去され、室内に供給さ
れる。フィルター1で清浄された空気は、図中矢印Aで
示すように天井からグレーチング床2に向かって流され
る。この際、クリーンルーム内に漂う異物はこの空気流
(ダウンフロー)に乗ってグレーチング床2の多数の開
口部から床下へ排出される。床下に導かれた空気は空気
調和器4で再び湿度と温度が調整された後、送風器5に
送り込まれる。すなわち、空気と一緒に送り込まれた異
物は天井部のフィルター1によって捕捉されることにな
る。上述したように空気を循環させることによってクリ
ーンレベルを向上させることができる。
ムでは、空気調和器4で湿度,温度が調整された空気は
送風器5によって天井部に送風される。そして、天井部
のフィルター1によって異物が除去され、室内に供給さ
れる。フィルター1で清浄された空気は、図中矢印Aで
示すように天井からグレーチング床2に向かって流され
る。この際、クリーンルーム内に漂う異物はこの空気流
(ダウンフロー)に乗ってグレーチング床2の多数の開
口部から床下へ排出される。床下に導かれた空気は空気
調和器4で再び湿度と温度が調整された後、送風器5に
送り込まれる。すなわち、空気と一緒に送り込まれた異
物は天井部のフィルター1によって捕捉されることにな
る。上述したように空気を循環させることによってクリ
ーンレベルを向上させることができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかるに、従来のクリ
ーンルームでは、半導体製造装置7のローダ部7bに装
着されたウエハ収納用カセット8内の半導体ウエハに塵
埃が付着し、歩留まりが低下するという問題があった。 これは、半導体製造装置7の本体7aの上部が水平な平
面であり、装置本体7aの上面に沿って空気が横方向へ
流れてクリーンルーム内のダウンフローが乱されるから
であった。すなわち、図中矢印Bで示すように下から吹
き上がるような乱流が生じてしまい、塵埃が半導体製造
装置7の上面および装置周辺に滞留する。そして、その
塵埃がウエハ収納用カセット8に落下してしまう。
ーンルームでは、半導体製造装置7のローダ部7bに装
着されたウエハ収納用カセット8内の半導体ウエハに塵
埃が付着し、歩留まりが低下するという問題があった。 これは、半導体製造装置7の本体7aの上部が水平な平
面であり、装置本体7aの上面に沿って空気が横方向へ
流れてクリーンルーム内のダウンフローが乱されるから
であった。すなわち、図中矢印Bで示すように下から吹
き上がるような乱流が生じてしまい、塵埃が半導体製造
装置7の上面および装置周辺に滞留する。そして、その
塵埃がウエハ収納用カセット8に落下してしまう。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明に係る半導体製造
装置は、装置本体の上部に、装置本体の上面を全面にわ
たって覆いかつ上側へ向かうにしたがって次第に幅狭に
なる整流部を設けたものである。
装置は、装置本体の上部に、装置本体の上面を全面にわ
たって覆いかつ上側へ向かうにしたがって次第に幅狭に
なる整流部を設けたものである。
【0008】
【作用】半導体製造装置に真上から送られるクリーンル
ーム内の空気は、整流部の表面に沿って流れて半導体製
造装置の側方へ導かれるから、クリーンルーム内のダウ
ンフローが乱され難くなる。
ーム内の空気は、整流部の表面に沿って流れて半導体製
造装置の側方へ導かれるから、クリーンルーム内のダウ
ンフローが乱され難くなる。
【0009】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1によって詳細
に説明する。図1は本発明に係る半導体製造装置をクリ
ーンルームに設置した状態を示す概略構成図である。同
図において前記図3で説明したものと同一もしくは同等
部材については、同一符号を付し詳細な説明は省略する
。図1において、11はクリーンルームのグレーチング
床2上に設置された半導体製造装置で、この半導体製造
装置11は、半導体製造装置本体12と、ウエハ収納用
カセット8が装着されるローダ部13と、半導体製造装
置本体12上に取付けられた整流部としての整流装置1
4等とから構成されている。なお、半導体製造装置本体
12とローダ部13は、従来の半導体製造装置と同等に
構成されている。また、図1ではクリーンルーム内のみ
を示したが、このクリーンルームにも従来と同様にして
空気調和器や送風器が連通されている。
に説明する。図1は本発明に係る半導体製造装置をクリ
ーンルームに設置した状態を示す概略構成図である。同
図において前記図3で説明したものと同一もしくは同等
部材については、同一符号を付し詳細な説明は省略する
。図1において、11はクリーンルームのグレーチング
床2上に設置された半導体製造装置で、この半導体製造
装置11は、半導体製造装置本体12と、ウエハ収納用
カセット8が装着されるローダ部13と、半導体製造装
置本体12上に取付けられた整流部としての整流装置1
4等とから構成されている。なお、半導体製造装置本体
12とローダ部13は、従来の半導体製造装置と同等に
構成されている。また、図1ではクリーンルーム内のみ
を示したが、このクリーンルームにも従来と同様にして
空気調和器や送風器が連通されている。
【0010】前記整流装置14は、半導体製造装置本体
12の上面を全面にわたって覆う構造とされ、上側へ向
かうにしたがって次第に幅狭になるようにキャップ状に
形成されている。言い換えれば、この整流装置14は略
半球状に形成されている。そして、この整流装置14は
、半導体製造装置本体12の上部に取付けボルト(図示
せず)によって固定され、半導体製造装置本体12との
間に隙間が開かないように取付けられている。なお、前
記整流装置14の材料としては、金属やプラスチック等
どのようなものでもよく、どのような材料で形成しても
同等の効果が得られる。
12の上面を全面にわたって覆う構造とされ、上側へ向
かうにしたがって次第に幅狭になるようにキャップ状に
形成されている。言い換えれば、この整流装置14は略
半球状に形成されている。そして、この整流装置14は
、半導体製造装置本体12の上部に取付けボルト(図示
せず)によって固定され、半導体製造装置本体12との
間に隙間が開かないように取付けられている。なお、前
記整流装置14の材料としては、金属やプラスチック等
どのようなものでもよく、どのような材料で形成しても
同等の効果が得られる。
【0011】このように整流装置14が取付けられた半
導体製造装置11をグレーチング床2上に設置すると、
この半導体製造装置11に真上から送られるクリーンル
ーム内の空気は、図1中矢印Aで示すように整流装置1
4の表面に沿って流れ、半導体製造装置11の側方へ導
かれる。
導体製造装置11をグレーチング床2上に設置すると、
この半導体製造装置11に真上から送られるクリーンル
ーム内の空気は、図1中矢印Aで示すように整流装置1
4の表面に沿って流れ、半導体製造装置11の側方へ導
かれる。
【0012】したがって、整流装置14を半導体製造装
置11に取付けることによって、クリーンルーム内のダ
ウンフローが乱され難くなる。
置11に取付けることによって、クリーンルーム内のダ
ウンフローが乱され難くなる。
【0013】なお、本実施例では整流装置14を半導体
製造装置本体12上にボルト止めした例を示したが、図
2に示すように整流装置14に脱落防止用爪片を設けれ
ば、半導体製造装置本体12上に載置させるだけでもよ
い。図2は半導体製造装置の他の実施例を示す側面図で
、同図において前記図1で説明したものと同一もしくは
同等部材については、同一符号を付し詳細な説明は省略
する。21は整流装置14の下縁部に設けられた脱落防
止用の爪片で、この爪片21は、半導体製造装置本体1
2の側面に対接するように整流装置14の下縁から下方
へ向けて突設されている。整流装置14はこの爪片21
によって横方向へは移動しないので、半導体製造装置本
体12上に載置するだけで使用することができる。
製造装置本体12上にボルト止めした例を示したが、図
2に示すように整流装置14に脱落防止用爪片を設けれ
ば、半導体製造装置本体12上に載置させるだけでもよ
い。図2は半導体製造装置の他の実施例を示す側面図で
、同図において前記図1で説明したものと同一もしくは
同等部材については、同一符号を付し詳細な説明は省略
する。21は整流装置14の下縁部に設けられた脱落防
止用の爪片で、この爪片21は、半導体製造装置本体1
2の側面に対接するように整流装置14の下縁から下方
へ向けて突設されている。整流装置14はこの爪片21
によって横方向へは移動しないので、半導体製造装置本
体12上に載置するだけで使用することができる。
【0014】上述した2つの実施例のように整流装置1
4を半導体製造装置本体12とは別体に形成し、半導体
製造装置本体12上に取付ける構造とすると、従来の半
導体製造装置にも直ちに本発明を適用できる。
4を半導体製造装置本体12とは別体に形成し、半導体
製造装置本体12上に取付ける構造とすると、従来の半
導体製造装置にも直ちに本発明を適用できる。
【0015】また、上述した各実施例では整流部を半導
体製造装置本体とは別体に形成した例を示したが、半導
体製造装置本体の上部に前記整流装置と同等形状の帽冠
体を一体に設けることもできる。そのようにすると、半
導体製造装置本体と上部の整流部との間に隙間がなくな
るので、塵埃が装置内部に侵入し難くなる。このように
しても空気を円滑に流すことができる。さらに、整流部
の形状は、上述したように半球状に限定されるものでは
なく、断面半円形の柱状物を横にしたような形状とする
こともできる。
体製造装置本体とは別体に形成した例を示したが、半導
体製造装置本体の上部に前記整流装置と同等形状の帽冠
体を一体に設けることもできる。そのようにすると、半
導体製造装置本体と上部の整流部との間に隙間がなくな
るので、塵埃が装置内部に侵入し難くなる。このように
しても空気を円滑に流すことができる。さらに、整流部
の形状は、上述したように半球状に限定されるものでは
なく、断面半円形の柱状物を横にしたような形状とする
こともできる。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係る半導体
製造装置は、装置本体の上部に、装置本体の上面を全面
にわたって覆いかつ上側へ向かうにしたがって次第に幅
狭になる整流部を設けたため、半導体製造装置に真上か
ら送られるクリーンルーム内の空気は、整流部の表面に
沿って流れて半導体製造装置の側方へ導かれる。したが
って、クリーンルーム内のダウンフローが乱され難くな
るから、クリーンルーム内の異物が確実に排出されるよ
うになる。このため、半導体製造装置の近傍に半導体ウ
エハ収納用カセットを載置したとしても半導体ウエハに
は塵埃が付着し難くくなるから、歩留まりを向上させる
ことができる。また、整流部は単純な構造で製作費用が
安いから、安価に歩留まり向上策を図ることができると
いう効果もある。
製造装置は、装置本体の上部に、装置本体の上面を全面
にわたって覆いかつ上側へ向かうにしたがって次第に幅
狭になる整流部を設けたため、半導体製造装置に真上か
ら送られるクリーンルーム内の空気は、整流部の表面に
沿って流れて半導体製造装置の側方へ導かれる。したが
って、クリーンルーム内のダウンフローが乱され難くな
るから、クリーンルーム内の異物が確実に排出されるよ
うになる。このため、半導体製造装置の近傍に半導体ウ
エハ収納用カセットを載置したとしても半導体ウエハに
は塵埃が付着し難くくなるから、歩留まりを向上させる
ことができる。また、整流部は単純な構造で製作費用が
安いから、安価に歩留まり向上策を図ることができると
いう効果もある。
【図1】本発明に係る半導体製造装置をクリーンルーム
に設置した状態を示す概略構成図である。
に設置した状態を示す概略構成図である。
【図2】半導体製造装置の他の実施例を示す側面図であ
る。
る。
【図3】従来のクリーンルームの概略構成を示す図であ
る。
る。
1 フィルター
2 グレーチング床
11 半導体製造装置
12 半導体製造装置本体
14 整流装置
Claims (1)
- 【請求項1】 ダウンフロー式クリーンルームに設置
される半導体製造装置において、装置本体の上部に、装
置本体の上面を全面にわたって覆いかつ上側へ向かうに
したがって次第に幅狭になる整流部を設けたことを特徴
とする半導体製造装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10790891A JPH04336411A (ja) | 1991-05-14 | 1991-05-14 | 半導体製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10790891A JPH04336411A (ja) | 1991-05-14 | 1991-05-14 | 半導体製造装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04336411A true JPH04336411A (ja) | 1992-11-24 |
Family
ID=14471111
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10790891A Pending JPH04336411A (ja) | 1991-05-14 | 1991-05-14 | 半導体製造装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04336411A (ja) |
-
1991
- 1991-05-14 JP JP10790891A patent/JPH04336411A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5910727A (en) | Electrical inspecting apparatus with ventilation system | |
JPH04336411A (ja) | 半導体製造装置 | |
JP2549910B2 (ja) | 二重空気膜構造クリーンルーム | |
JPH11166757A (ja) | クリーンルーム | |
JPH01281350A (ja) | クリーンルーム | |
JP4256185B2 (ja) | クリーンルームにおける気流制御構造 | |
JPH10141723A (ja) | クリーンルーム構造 | |
JPH07310941A (ja) | クリーンルーム | |
EP3096092A1 (en) | Air-conditioning device | |
JPS61168735A (ja) | クリ−ンル−ム | |
JP3799538B2 (ja) | クリーンルームにおける局所クリーン度保持システム | |
JPH0437614Y2 (ja) | ||
JPS59185923A (ja) | クリーンルームの形成方法 | |
CN112466771B (zh) | 半导体装置 | |
JP3420722B2 (ja) | 局所空気清浄装置 | |
CN218395078U (zh) | 一种具有多向出风结构的晶圆片分拣设备送风装置 | |
JPH06101881A (ja) | クリーンルームの空気調和装置 | |
JPS6315018A (ja) | 半導体装置製造用清浄室 | |
JPH10281519A (ja) | クリーンルーム | |
JPH1163602A (ja) | クリーンルーム | |
JPS62268940A (ja) | 局所清浄装置 | |
JPS62244418A (ja) | エアフイルタ | |
JPH01281351A (ja) | クリーンルーム | |
CN115614855A (zh) | 洁净棚 | |
JPH08261532A (ja) | クリーンルーム |