JPH04326311A - 光導波路端面結合装置 - Google Patents

光導波路端面結合装置

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JPH04326311A
JPH04326311A JP3097738A JP9773891A JPH04326311A JP H04326311 A JPH04326311 A JP H04326311A JP 3097738 A JP3097738 A JP 3097738A JP 9773891 A JP9773891 A JP 9773891A JP H04326311 A JPH04326311 A JP H04326311A
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optical waveguide
axis
light
lens system
optical
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Kouichirou Kijima
公一朗 木島
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Sony Corp
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    • G02B6/42Coupling light guides with opto-electronic elements
    • G02B6/4201Packages, e.g. shape, construction, internal or external details
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    • G02B6/422Active alignment, i.e. moving the elements in response to the detected degree of coupling or position of the elements
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば導波路型光2次
高調波発生装置(SHG)のような光導波路を有する光
導波路デバイスに対し、例えばその基本波のレーザ光を
入射させる光導波路端面結合装置に係わる。
【0002】
【従来の技術】導波モード型SHG、チェレンコフ型S
HG等の光導波路型SHG等の光導波路を有する光導波
路デバイスにおいて、その光導波路に対する入射光例え
ば基本波光の入射は、大きな問題となる。
【0003】例えばSHGにおける2次高調波のパワー
Pwは、入射波のパワーPwの2乗に比例することから
、その入射光を効率よく入射させることは重要な問題と
なる。
【0004】さらに、入射波のパワーのゆらぎ、すなわ
ち光導波路に入射させる光量の変化は、出力光量に大き
く影響する。
【0005】また、一般にこの種の光導波路デバイスで
は、その光源部特にその集光レンズ系(対物レンズ系)
は、光導波路デバイス端面に対する位置関係を決定した
状態で接着剤によって固定されている。したがって、こ
の場合外震、温度変化等の何等かの原因で位置ずれが生
じた場合、使用不能になってしまう。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、光導波路デ
バイスの光導波路に対する光源部からの光、特にレーザ
光を安定に最良状態をもって高効率に入射することがで
きるようにした光導波路端面結合装置を提供する。
【0007】すなわち、光導波路デバイスに対するレー
ザ光を入射させる光導波路端面結合装置においては、実
際上その光源部を光導波路デバイスの導波路に対して粗
調整して後、光源部のレーザ光を光導波路デバイスの光
導波路に対して集光入射させる集光レンズ系すなわち対
物レンズの光軸位置及び光軸方向に沿う位置(すなわち
フォーカシング調整)の微調整を行う。
【0008】本発明はこの集光レンズ系の位置の微調整
を確実に行うことができるようにする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、図1に本発明
による光導波路結合端面結合装置の一例の構成図を示す
ように、本発明は光導波路デバイス1の光導波路2に対
し、その入射端面2aからレーザ光Lを集光入射させる
集光レンズ系3を有する光源部4が設けられてなる光導
波路端面結合装置において、少なくとも集光レンズ系3
は、その光軸のz軸と、このz軸に直交しかつ互いに直
交するx軸及びy軸の3方向に関して微調整するアクチ
ュエータ5を設ける。
【0010】そして、光源部4からのレーザ光Lの、導
波路2の光入射端2aが臨む光導波路デバイス1の端面
1aからの戻り光の光量または光量分布を検出して、こ
れによってアクチュエータ5を制御して集光レンズ3の
上述したx、y及びz軸方向に関する位置制御を行う。
【0011】
【作用】上述したように本発明装置によれば、光源部4
の集光レンズ系3をアクチュエータ5によって位置調整
するようにし、このアクチュエータ5の制御をレーザ光
Lの光導波路デバイスからの戻り光の光量または光量分
布を検出することによって行うようにしたことから、確
実に光導波路デバイス1の光導波路2に対するレーザ光
の入射位置とフォーカシングを行うことができる。
【0012】したがって、その入射効率を高めることが
できることから、光導波路デバイスが例えばSHGであ
る場合において、その出力の2次高調波パワーの増大化
と安定化をはかることができる。
【0013】また、本発明によれば、光導波路デバイス
1に対するレーザ光Lの入射を、その光源部4の特に集
光レンズ系3を接着剤等によって光導波路デバイス1に
接着すなわち固定するという手法を回避したことによっ
て、外震等によって位置ずれが生じた場合においても即
応的に確実にその位置調整を行うことができるので、常
時また長期にわたって安定した入射光量を得ることがで
き、これによって安定した動作を行わしめることができ
る。
【0014】さらにまた、上述したように光源部4の光
導波路デバイス1に対する位置合わせは、アクチュエー
タ5によって微調整が行われることから最初の位置決め
すなわち粗調整の精度は目的の精度の1桁以上緩和させ
ることができる。
【0015】
【実施例】図面を参照して本発明装置の一例を説明する
。本発明においては、光導波路デバイス1の端面1aに
対向して光源部4を配置する。
【0016】光導波路デバイス1は、例えば図2にその
一例の斜視図を示すように、導波モード型あるいはチェ
レンコフ放射型の導波路型SHGであって例えば非線形
光学結晶よりなる基体lsにチャンネル型の線形もしく
は非線形の光導波路2が設けられてなる。
【0017】光導波路2の光入射端2aは、光デバイス
の光入射端面1aに臨んで設けられる。
【0018】光源部4は例えば半導体レーザ6からのレ
ーザ光Lをコリメートレンズ7及びハーフミラー8を介
して集光レンズ系3によって光導波路デバイス1の端面
1aに臨む光導波路2の光入射端2aにフォーカシング
して入射させるようになされる。
【0019】集光レンズ系3は、アクチュエータ5によ
ってその光軸すなわちz軸、及びこのz軸に対して直交
しかつ互いに直交するx軸及びy軸に関して微小移動し
得るようになされる。
【0020】一方、光源部4から光導波路デバイス1の
端面1aに照射して反射した戻り光は、集光レンズ系3
を通じて例えば平行光とされ、これがハーフミラー8に
よって反射されて、他の集光レンズ系9によって光検出
部10にその戻り光を入射するようになされる。
【0021】光検出部10は、例えば図3A〜Cに示す
ように、互いに直交する軸x1 及びy1 に対してそ
れぞれ対称的に配置された4つのフォトダイオード素子
10A〜10Dが配置されてなる。
【0022】また、この光検出部10の前方には、これ
に対する入射光が上述したx1 及びy1 の交点(原
点)からその光軸がずれた場合に光検出部10上におい
ての光スポットが歪みを発生するような非点収差発生手
段11を配置する。
【0023】アクチュエータ5は、図4にその一例の略
線的斜視図を示し、図5にその分解斜視図を示すように
、レーザ光Lを通過させる中心孔12hを有する固定台
12が設けられ、この固定台12上にマグネット群13
が取着される。
【0024】そして、このマグネット群13を例えば包
み込むように、集光レンズ系3すなわち対物レンズ系が
取着されz軸方向のサーボ用コイルすなわちフォーカス
サーボ用コイルCzと、さらにx軸及びy軸方向のサー
ボ用コイルCx及びCyが配置されたコイルブロック1
4が被冠される。
【0025】このコイルブロック14は、図示しないが
適当なばね機構によって固定台12上に互いに直交する
すなわちレンズ系3の光軸方向、すなわちz軸方向と、
これと直交するx軸及びy軸に関してそれぞれ移動可能
に支持構成される。
【0026】z軸方向のサーボ用コイルすなわちフォー
カスサーボ用コイルCzは集光レンズ系3の交軸の回り
に巻回するようになされ、またx軸方向サーボ用コイル
Cx及びy軸方向のサーボ用コイルCyはそれぞれ互い
に直交しかつz軸方向と直交するx軸及びy軸方向を中
心として巻回するコイルよりなる。
【0027】一方、マグネット群13は、それぞれサー
ボ用コイルCx、Cy及びCzへのサーボ電流通電によ
って各コイルをx、y及びz軸方向に移行し得るように
着磁されたそれぞれz軸サーボ用すなわちフォーカスサ
ーボ用マグネット13zと、x及びy方向サーボ用マグ
ネット13x及び13yが配置されてなる。
【0028】このようにして各サーボコイルCx、Cy
及びCzへの通電によって発生する磁界と、マグネット
群13の各マグネット13x、13y及び13zとの共
働によってコイルブロック14、したがって集光レンズ
系3がx軸y軸及び2軸上に移動することができるよう
になされている。
【0029】一方、非点収差発生手段11は、例えば周
知の手段例えばシリンドリカルレンズを用いてその所定
の光軸からの位置ずれが生じたときに非点収差を発生す
るようになされた構成を採るいわゆる非点収差法を適用
し得る。
【0030】このような構成において、光検出部10の
各4分割フォトダイオード10A〜10Dより得られた
出力A〜Dは、演算回路15によってそれぞれA+C−
(B+D)、A+B−(C+D)及びA+D−(B+C
)の出力を得るようになされる。
【0031】このような構成において、光導波路デバイ
ス1に対してその光源部4を、光導波路デバイス1に結
合させるには、先ずレーザ光Lの光軸(z軸)がほぼ光
導波路2の端面2aの中心に一致するように設定する。
【0032】この状態で半導体レーザ6からのそのレー
ザ光Lを、集光レンズ系3を通じて光導波路デバイス1
の端面1aに照射する。
【0033】このときこの端面1aからの反射光による
戻り光が集光レンズ系3、ハーフミラー8、集光レンズ
系9、非点収差発生手段11を通じて光検出部10に導
入される。
【0034】光導波路デバイスの端面1aには実際上無
反射コートARが施されるもので、この場合レーザ光L
が、端面1aの光導波路2のない部分に集光されている
場合と、光導波路2に集光されている場合とでは反射率
が異なり戻り光の光量が変化する。すなわち、例えば光
導波路デバイス1がSHGである場合において、その非
線形光学結晶基体lsがニオブ酸リチウム等の屈折率が
2.1〜2.2程度である場合、その基体lsに、屈折
率上昇量が3〜4%程度の光導波路2が形成されるが、
この場合その端面にSiO2 のスパッタ膜例えば屈折
率がn=1.45の単層膜により無反射コートARを被
着する。このとき端面1aに100mWのレーザ光Lを
集光すると光導波路2がない部分に集光された場合その
戻り光は100μW程度の戻り光量であるのに対し、光
導波路2のある部分に集光された場合の戻り光は20μ
W程度あるいはそれ以下の戻り光量に減少し、戻り光の
導波路2に対する集光位置によって5倍程度変化する。
【0035】したがって、この光量変化の検出によって
、レーザ光Lが少なくとも光導波路デバイス1の端面1
aにおいて光導波路2上にあるか否かを検出することが
できる。
【0036】そして、今、そのレーザ光Lの照射位置が
集光レンズ系3のフォーカスより近すぎる場合、すなわ
ちオーバーフォーカスの場合、逆に遠い場合すなわちア
ンダーフォーカスである場合において端面1aからの戻
り光が非点収差発生手段11を通過して4分割フォトダ
イオード10A〜10Dによる光検出部10上に集光さ
れたときの、その4分割フォトダイオード上の光スポッ
ト像を、図3Aまたは図3Cに例示する。図3Bは例え
ばジャストフォーカス状態を示す。
【0037】図6はそのA+C−(B+D)の出力と、
フォーカス状態との関係を示したものである。この場合
、例えばそのフォーカス状態が近すぎる場合と、遠すぎ
る場合とで、図3Aあるいは図3Cに示すようにx1 
軸方向とy1 軸方向に長軸を有し、他方向に短軸を有
する斜線を付して示す楕円状のスポットSが得られ、ジ
ャストフォーカスにおいては、図3Bに示すように各x
1 軸及びy1 軸に対して同一径、即ち中心軸に対し
て円対称のスポットとすることができるので、これによ
ってそのA+C−(B+D)の出力は、図6に示すよう
にジャストフォーカス時においては0となり、これより
フォーカスが近すぎる場合あるいは遠すぎる場合にはそ
の出力が正方向あるいは負方向に生じてくる、したがっ
て、このA+C−(B+D)をフォーカス用のサーボ信
号としてこれをアクチュエータ5のz軸方向のサーボ用
コイルCzに通電することによってz軸方向の調整を行
う。
【0038】また、光導波路デバイス1の端面1aの光
導波路2の端面2aに対し、レーザ光Lのスポットが位
置ずれした場合についてみると、この場合集光レンズ系
3のフォーカス時において図7に示すようにこのスポッ
トLsがx軸方向に位置ずれを生じた場合の光検出部1
0における4分割フォトダイオード上のスポット像は図
8に示すように、明るさが一様でないスポットSとなる
。この場合のその4分割フォトダイオードからの電気信
号よりA+B−(C+D)の強度とx方向の光導波路位
置からのずれとの関係は、例えば図9に示すようになる
。すなわち、この場合においても、中心においてA+B
−(C+D)の出力は0となるがx軸方向の何れかの方
向にずれることによって出力が生じて図9に示す関係が
得られる。したがって、このA+B−(C+D)の信号
をx軸方向の光導波路2からのずれのエラー信号として
取り出し、これをサーボコイルCxに供給することによ
ってx軸方向の位置のサーボを行うことができる。また
、y軸方向のサーボについてはA+D−(B+C)の信
号をy方向の位置のエラー信号として同様の方法によっ
て適用する。
【0039】また、前述したように、レーザ光Lのビー
ムスポットLsが光導波路デバイス1の光導波路2の光
入射端2aから全くずれた場合と、光導波路2の光入射
端2a内に集光している場合について更に述べると、こ
の場合上述した各エラー信号に差異は生じないが、4分
割フォトダイオードに入力される光量の和A+B+C+
Dは、光導波路デバイス1の端面1aの反射コートAR
の条件等によって変化する。そこで、この場合のサーチ
は、フォトダイオード10A〜10Dに入力される戻り
光の和の信号A+B+C+Dをモニターすることにより
区別することができるので、この出力A+B+C+Dを
モニターしながら上述したアクチュエータ5を移動させ
ることにより、A+B+C+Dの信号の例えば極小値と
なる位置を探すことによって行うことができる。尚、反
射コートの条件が、光導波路のない部分に設定してある
場合にはA+B+C+D値の極大値が光導波路2への位
置となる。
【0040】
【発明の効果】上述したように本発明によれば、アクチ
ュエータ5を具備する集光レンズ系3によってレーザ光
Lを光導波路デバイス1への光導波路2の光入射端2a
に対して集光させるようにして、その戻り光によってそ
のアクチュエータ5を制御してその位置の最適状態を微
調整して設定するようにしたので、常時安定して確実に
また最良の条件をもって光導波路2に対する入射光の選
定を行うことができる。
【0041】したがって例えばSHG等に適用してその
2次高調波出力の大なる出力パワーを得ることができ、
また外震、外周温度等の外乱によって位置ずれが生じた
場合においても確実に最適状態への設定を自動的に行う
ことができるので、常時安定した動作を行わしめること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による光導波路端面結合装置の一例の構
成図である。
【図2】光導波路デバイスの一例の略線的斜視図である
【図3】光検出部における4分割フォトダイオード上の
戻り光スポットの態様図である。
【図4】アクチュエータの一例の斜視図である。
【図5】アクチュエータの一例の分解斜視図である。
【図6】フォーカスサーボ用信号A+C−(B+D)の
特性曲線図である。
【図7】レーザ光スポットと光導波路デバイスとの位置
関係の説明図である。
【図8】4分割フォトダイオード上における戻り光ビー
ムスポットの態様図である。
【図9】x軸方向のサーボ信号A+B−(C+D)の特
性曲線図である。
【符号の説明】
1  光導波路デバイス 2  光導波路 3  集光レンズ系 4  光源部 5  アクチュエータ 10  光検出部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  光導波路デバイスの光導波路に対し、
    その入射端からレーザ光を集光入射させる集光レンズ系
    を有する光源部が設けられてなる光導波路端面結合装置
    において、少なくとも上記集光レンズ系は、その光軸上
    のz軸と、このz軸に直交しかつ互いに直交するx軸及
    びy軸の3方向に関して微調整するアクチュエータを具
    備し、上記光源部からのレーザ光の、上記導波路の光入
    射端が臨む上記光導波路デバイス端面からの戻り光の光
    量または光量分布を検出してこれにより上記アクチュエ
    ータを制御して上記集光レンズ系の上記x、y及びz軸
    に関する位置制御を行うようにしたことを特徴とする光
    導波路端面結合装置。
JP3097738A 1991-04-26 1991-04-26 光導波路端面結合装置 Pending JPH04326311A (ja)

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