JPH04147439A - 誤差信号検出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 Ａ、産業上の利用分野 本発明は、光ディスク等の光記録媒体に情報信号を記録
及び／又は再生するにあたって、該記録媒体上に照射さ
れる光束の集光状態を示す誤差信号を検出する誤差信号
検出方法に関する。

Ｂ０発明の概要 本発明は、光ディスク等の光記録媒体に情報信号を記録
及び／又は再生するにあたって該記録媒体上に照射され
る光束の集光状態を示す誤差信号を検出する誤差信号検
出方法であって、光記録媒体上に集光して照射された光
束の該光記録媒体よりの反射光束を干渉フィルタを透過
させた後に光検出器の受光部上に照射し、この受光部に
照射された光量に応じて光検出器より出力される光検出
出力に基づいて、光記録媒体上における光束の焦点ずれ
の量を示す誤差信号を検出するようにして、光検出器の
受光部上において光束が光軸に直交する方向に移動し、
または、光検出器の受光部が光軸に対して傾きを生じて
も、正確に誤差信号か得られるようにしたものである。

Ｃ１従来の技術 従来、光ディスク等の如く、光束を集光して照射するこ
とにより、情報信号の書込み及び／又は読出しが行える
ように構成された光記録媒体か提案されている。このよ
うな光記録媒体に対して情報信号の書込み及び／又は読
出しを行うにあたっては、該光記録媒体の信号記録面上
に正確に上記光束を集光させる必要がある。

そのため、従来より、上記光記録媒体の信号記録面と、
上記光束の集光点とのずれ、すなわち光記録媒体上にお
ける焦点ずれ量を示す誤差信号を検出する誤差信号検出
方法が提案されている。

すなわち、この誤差信号検出方法として、第１Ｏ図に示
すように、光記録媒体上に集光されて照射された光束の
該光記録媒体よりの反射光束す。

を図示しない集光レンズにより収束させ、シリンドリカ
ルレンズ（円筒面レンズ）１０１を透して、光検出器１
０２上に集光させる、いわゆる非点収差法が提案されて
いる。

この非点収差法においては、上記集光レンズにより形成
される焦点の前後において、上記シリンドリカルレンズ
１０１が上記光束に付与した非点収差の方向は、互いに
直交する方向となっている。

そして、上記光記録媒体上における焦点ずれの方向及び
量に応じて、上記集光レンズにより形成される焦点の位
置は、第１０図中に矢印ａで示すように、光軸方向に移
動する。したがって、上記光検出器１０２の受光部上に
おける上記光束の非点収差の方向及び量を検出すれば、
上記焦点ずれの方向及び量を検出することができる。上
記光検出器１０２の受光部は、上記光束の光軸を囲むよ
うに配列された第１乃至第４の受光面１０２ａ、１０２
ｂ、１０２ｃ、１０２ｄから構成されている。

これら各受光面１０２ａ、１０２ｂ、１０２ｃ１０２ｄ
は、互いに等しい形状及び大きさを有している。そして
、これら各受光面１０２ａ、１０２ｂ、１０２ｃ、１０
２ｄは、それぞれ独立して、照射された光束の強度に対
応する光検出出力を出力する。

この非点収差法においては、上記光束の光軸を介して対
向する２個の受光面よりの光検出出力をそれぞれ加算し
、これら加算された出力同士を減算することにより、誤
差信号が検出される。すなわち、第１乃至第４の受光面
１０２ａ、１０２ｂ１０２ｃ、１０２ｄよりの光検出出
力をそれぞれａ、ｂ、ｃ、ｄとすると、誤差信号Ｆｅは
、Ｆｅ＝　（ａ十ｃ）−（ｂ十ｄ） により検出される。この演算は、減算器１０３により行
われる。

また、誤差信号検出方法として、第１１図に示すように
、光記録媒体上に集光されて照射された光束の該光記録
媒体よりの反射光束ｂＲを集光レンズ１０４により収束
させ、フーコー・プリズム（屋根型プリズム）１０５を
透して、光検出器１０６上に集光させる、いわゆるフー
コー・プリズム法が提案されている。

このフーコー・プリズム法においては、上記集光レンズ
１０４により収束される光束ｂ１１は、上記フーコー・
プリズム１０５によって、２本の光束に分割される。そ
して、上記フーコー・プリズム１０５により分割された
光束のそれぞれは、上記集光レンズ１０４による収束状
態に応じた角度を有して互いに逆の方向に偏向される。

したがって、上記光記録媒体上における焦点ずれの方向
及び量に応じて、上記フーコー・プリズム１０５により
分割された各光束の偏向角度は、第１１図中に矢印すで
示すように、光軸に直交する方向に変化する。そして、
上記光検出器１０６の受光部」二における上記フーコー
・プリズム１０５により分割された２本の光束の偏向方
向の変化を検出すれば、上記焦点ずれの方向及び量を検
出することができる。上記光検出器１０６の受光部は、
フーコー・プリズム１０５による上記各光束の偏向方向
に並列に配列された第１乃至第４の受光面１０６ａ、１
０６ｂ、１０６ｃ、１０６ｄから構成されている。これ
ら各受光面１０６ａ、１０６ｂ、１０６ｃ、１０６ｄは
、互いに等しい形状及び大きさを有している。そして、
これら各受光面１０６ａ、１０６ｂ、１０６ｃ、ｌ０６
ｄは、それぞれ独立して、照射された光束の強度に対応
する光検出出力を出力する。

このフーコー・プリズム法においては、光記録媒体上に
おける焦点ずれの量が零のときに、上記フーコー・プリ
ズム１０５により分割された光束の一方を上記第１及び
第２の受光面１０６ａ、１０６ｂが等分して受光し、上
記フーコー・プリズム１０５により分割された光束の他
方を上記第３及び第４の受光面１０６ｃ、１０６ｄが等
分して受光するようになされている。したがって、上記
フーコー・プリズム１０５により分割された各光束の偏
向角度が大きくなったときに光検出出力が増大する２個
の受光面よりの光検出出力をそれぞれ加算し、また、上
記各光束の偏向角度が小さくなったときに光検出出力が
増大する２個の受光面よりの光検出出力をそれぞれ加算
して、これら加算された出力同士を減算することにより
、誤差信号が検出される。すなわち、第１乃至第４の受
光面１０６ａ、１０６ｂ、１０６ｃ、１０６ｄよりの光
検出出力をそれぞれａ、　　ｂ、　　ｃ、　　ｄとする
と、誤差信号Ｆｅは、 Ｆｅ＝　（ａ十ｄ）　−（ｂ十ｃ） により検出される。この演算は、減算器１０７により行
われる。

さらに、誤差信号検出方法として、第１２図に示すよう
に、光記録媒体上に集光されて照射された光束の該光記
録媒体よりの反射光束す、ｌを図示しない集光レンズに
より収束させ、この光束の光軸に交差する第１の受光面
１０８ａとこの第１の受光面１０８ａの周囲を囲むよう
に形成された第２の受光面１０８ｂとからなる受光部を
有する光検出器１０８上に集光させる、いわゆる内外差
法（ビームサイズ法）が提案されている。

上記光検出器１０８の各受光面１０８ａ、１０８ｂは、
それぞれ独立して、照射された光束の強度に対応する光
検出出力を出力する。そして、この光検出器１０８は、
上記集光レンズにより形成される焦点より光軸方向にや
や外れた位置において、上記光束を受光する。また、こ
の光検出器１０８は、光記録媒体上における焦点ずれの
量か零のときに、上記第１及び第２の受光面１０８　ａ
。

１０８ｂよりの光検出出力が等しくなるようになされて
いる。

この内外差法においては、上記集光レンズにより収束さ
れる光束は、上記集光レンズによる収束状態に応じて、
上記光検出器１０８の受光部上における面積が変化する
。したがって、上記光記録媒体上における焦点ずれの方
向及び量に応じて、上記各受光面１０８ａ、１０８ｂよ
りの光検出出力が互いに逆の極性を有して変化する。

この内外差法においては、上記各受光面１０８ａ、１０
８ｂよりの各光検出出力を互いに減算することにより、
誤差信号が検出される。すなわち、第１及び第２の受光
部１０８ａ、１０８ｂよりの光検出出力をそれぞれａ、
　ｂとすると、誤差信号Ｆｅは、 Ｆｅ＝ａ−ｂ により検出される。この演算は、減算器１０９により行
われる。

Ｄ１発明が解決しようとする課題 ところで、上述のような種々の誤差信号検出方法を行う
にあたっては、光記録媒体よりの反射光束の光軸と光検
出器の受光部の中心とを一致させる必要がある。すなわ
ち、上述した各誤差信号検出方法において、上記光記録
媒体により反射されて上記集光レンズにより収束される
光束の光軸と、光検出器の受光部の中心とが一致してい
ないと、該光記録媒体上における焦点ずれの量が零であ
るときに、誤差信号が零でなくなってしまい、誤差信号
の正確な検出が行えない。

そのため、このような誤差信号検出方法を行うための、
例えば光学ピックアップ装置の如き装置の製造時におい
ては、光検出器の位置が正確に所定位置となるように調
整しなければならず、製造工程が煩雑なものとなってい
る。

また、このような誤差信号検出方法を行うための装置に
おいては、いわゆる経時変化によって、上記光検出器が
僅かでも移動すると、誤差信号の正確な検出ができなく
なってしまう。

そこで、本発明は、上述の実情に鑑みて提案されるもの
であって、誤差信号検出を行う装置の製造を容易化する
ことができ、また、該装置の経時変化による特性の劣化
の防止を図ることができる誤差信号検出方法を提供する
ことを目的とする。

８１課題を解決するための手段 上述の課題を解決し上記目的を達成するため、本発明に
係る誤差信号検出方法は、光記録媒体上に集光して照射
された光束の該光記録媒体よりの反射光束を干渉フィル
タを透過させた後に光検出器の受光部上に照射させ、上
記受光部に照射された光量に応じて上記光検出器より出
力される光検出出力に基づいて上記光記録媒体上におけ
る光束の焦点ずれの量を示す誤差信号を検出するように
したものである。

Ｆ０作用 本発明に係る誤差信号検出方法においては、光検出器の
受光部上に、光記録媒体上に集光して照射された光束の
該光記録媒体よりの反射光束を干渉フィルタを透過させ
た後に照射させ、上記受光部に照射された光量に応じて
上記光検出器より出力される光検出出力に基づいて上記
光記録媒体上における光束の焦点ずれの量を示す誤差信
号を検出するようにしているので、上記光検出出力は、
上記干渉フィルタを透過するときの上記反射光束の集束
角度に応じて変化し、上記反射光束の光軸と上記光検出
器の受光部の中心との該反射光束の光軸に直交する方向
の位置ずれ及び上記光検出器の受光部の該光軸に対する
傾きによっては変化しない。

Ｇ、実施例 以下、本発明の具体的な実施例を図面を参照しながら説
明する。

本発明に係る誤差信号検出方法は、光ディスクの如き光
記録媒体に情報信号の書込み及び／又は読出しを行うに
あたって、該光記録媒体に集光して照射される光束の焦
点と、該光記録媒体の信号記録面との光軸方向のずれ量
、すなわち、光記録媒体上における焦点ずれ量を示す焦
点誤差信号を検出する方法である。

この誤差信号検出方法においては、受光部を有しこの受
光部に照射された光量に応じた光検出器力を出力する光
検出器を用いる。そして、光記録媒体上に集光して照射
された光束の該光記録媒体よりの反射光束を、干渉フィ
ルタを透過させて、上記光検出器の受光部上に照射する
。次に、上記光検出器より出力される光検出出力に基づ
いて、上記光記録媒体上における焦点ずれの量を示す誤
差信号を検出する。

この誤差信号検出方法を行う装置としては、第１図に示
すように、光学ピックアップ装置を用いることができる
。この光学ピックアップ装置は、レーザダイオード等の
光源１を有してなる。この光学ピックアップ装置におい
ては、上記光源１より発せられた光束Ｂは、発散しなが
ら第１のビームスプリッタ２を透過し、対物レンズ２に
入射される。この対物レンズ２は、入射された上記光束
Ｂを収束させ、光記録媒体４の信号記録面４ａ上に照射
する。

上記信号記録面４ａ上に照射された上記光束Ｂは、該信
号記録面４ａにより反射され、反射光束Ｒとして発散し
ながら再び上記対物しンズ２に入射する。この対物レン
ズ２は、入射した反射光束Ｒを収束させて、上記第１の
ビームスプリッタ２に入射させる。この第１のビームス
プリッタ２に入射された上記反射光束Ｒは、該第１のビ
ームスプリッタ２の反射面２ａにより反射される。上記
反射面２ａにより反射された反射光束Ｒは、上記光源ｌ
に戻ることなく、収束しながら干渉フィルタ６を透過し
て、光検出器５の受光部５ａ上に照射される。

上記干渉フィルタ６は、第５図に示すように、この干渉
フィルタ６への入射光束の入射角に応じて、透過率が変
化するように構成されている。この干渉フィルタ６は、
この干渉フィルタ６に対して垂直に入射する光束、すな
わち、入射角０で入射する光束については高い透過率を
有する。そして、この干渉フィルタ６の入射光束につい
ての透過率は、入射角が大きいほど低い。この干渉フィ
ルタ６における入射光束の入射角と透過率との関係を第
６図のようにグラフに示すと、上記透過率を示す値は、
入射角０を中心として入射角の絶対値の増大につれて急
峻に落ち込む。したがって、この干渉フィルタ６は、こ
の干渉フィルタ６に略垂直に入射する光束のみを透過さ
せ、これ以外の光束の殆どを遮断する作用を存している
。

上記第１の光検出器５は、受光部５ａに照射された光束
の強度に対応する光検出出力を出力するように構成され
ている。なお、上記光検出器５は、第２図に示すように
、上記反射光束Ｒが略集光される位置においてこの反射
光束Ｒを上記受光部５ａにより受光するように、位置決
めされている。

上記光検出器５より出力される光検出出力は、減算器（
作動増幅器）７の反転入力端子に入力される。この減算
器７の非反転入力端子には、基準値出力回路８により生
成される基準値に相当する出力が入力される。すなわち
、上記減算器７は、上記光検出出力と上記基準値とを比
較して、これら光検出出力と基準値との差に相当する出
力を生成する。この減算器７の出力が、焦点誤差信号Ｆ
ｅとなる。

上述のように構成された光学ピックアップ装置において
、上記反射光束Ｒは、上記対物レンズ３により形成され
る上記光束Ｂの焦点と上記信号記録面４ａとの光軸方向
のずれ、すなわち焦点ずれの方向及び量に応じて、上記
干渉フィルタ、６における集束角度が変化する。したが
って、上記光記録媒体４上において焦点ずれが生ずると
、この焦点ずれの方向及び量に応じて、上記光検出器５
よりの光検出出力が変化する。

上記焦点ずれがないきには、第２図に示すように、上記
反射光束Ｒは、上記光検出器５の受光部５ａ上に略集光
されている。このとき、上記反射光束Ｒのうち上記干渉
フィルタ６を透過する透過光束Ｐは、この干渉フィルタ
６に略垂直に入射する光束であって、この干渉フィルタ
６に対する垂線を中心とする第２図中矢印θで示す微小
角度範囲内の光束である。このとき、上記反射光束Ｒの
上記干渉フィルタ６の位置における集束角度をψとし、
上記反射光束Ｒの断面における光強度分布を一様と見做
せば、上記透過光束Ｐの光強度は、上記反射光束Ｒの光
強度に対して、略（θ／ψυ２倍であることになる。

そして、上記信号記録面４ａが上記対物レンズ３より離
間する方向に移動して焦点ずれが生ずると、第３図に示
すように、上記反射光束Ｒは、上記光検出器５の受光部
５ａに到達する前に集光される。このときも、上記反射
光束Ｒのうち上記干渉フィルタ６を透過する透過光束Ｐ
は、この干渉フィルタ６に略垂直に入射する光束であっ
て、この干渉フィルタ６に対する垂線を中心とする第３
図中矢印θで示す微小角度範囲内の光束である。

このとき、上記反射光束Ｒの上記干渉フィルタ６の位置
における集束角度をφ２とし、上記反射光束Ｒの断面に
おける光強度分布を一様と見做せば、上記透過光束Ｐの
光強度は、上記反射光束Ｒの光強度に対して、略（θ／
ψ２）２倍であることになる。ここで、φ、〉φ、であ
るので、 （θ／φ１）２〉てθ／φ２）２であり、上記光検出器
５より出力される光検出出力は、焦点ずれかないときよ
りも減少する。

逆に、上記信号記録面４ａが上記対物レンズ３に接近す
る方向に移動して焦点ずれが生ずると、第４図に示すよ
うに、上記反射光束Ｒは、集光されないまま上記光検出
器５の受光部５ａに到達する。このときも、上記反射光
束Ｒのうち上記干渉フィルタ６を透過する透過光束Ｐは
、この干渉フィルタ６に略垂直に入射する光束であって
、この干渉フィルタ６に対する垂線を中心とする第３図
中矢印θで示す微小角度範囲内の光束である。このとき
、上記反射光束Ｒの上記干渉フィルタ６の位置における
集束角度をψ３とし、上記反射光束Ｒの断面における光
強度分布を一様と見做せば、上記透過光束Ｐの光強度は
、上記反射光束Ｒの光強度に対して、略（θ／ψ３）２
倍であることになる。ここで、ψ、くφ１であるので、 （θ／ψ、）’　＜　（θ／ψ３）２であり、上記光検
出器５より出力される光検出出力は、焦点ずれかないと
きよりも増大する。

したがって、上記基準値を上記焦点ずれかないときの光
検出出力に等しく設定しておけば、上記減算器７より出
力される焦点誤差信号Ｆｅは、第６図に示すように、上
記焦点ずれかないときにＯＶとなる。そして、この焦点
誤差信号Ｆｅの値は、上記焦点ずれの方向及び量に応じ
て単調増加（または単調減少）する。

すなわち、第６図中に矢印Ｓで示すように、上記光記録
媒体４上における焦点ずれかないときの上記焦点誤差信
号Ｆｅの値、例えばＯｖを中心とする区間において、い
わゆるフォーカスサーボを作動させることができる。こ
のフォーカスサーボは、上記焦点誤差信号Ｆｅの値に基
づいて、この焦点誤差信号Ｆｅの値が例えばＯＶとなる
ように、上記対物レンズ３を光軸方向に移動制御する等
の手段により、上記光記録媒体４上における焦点ずれか
ないようにするものである。

そして、この光学ピックアップ装置においては、上記反
射光束Ｒの光軸に対して、上記光検出器５の位置や角度
が変化しても、この反射光束Ｒが上記受光部５ａ上に照
射されている限り、上記焦点誤差信号Ｆｅに変動が生ず
ることがない。

また、本発明に係る誤差信号検出方法を行う光学ピック
アップ装置は、第７図に示すように、上記反射光束Ｒを
、楔形プリズム９を透過させた後に、上記干渉フィルタ
６に透過させて、上記光検出器５により受光するように
構成してもよい。

このように、上記楔形プリズム９を用いて構成された光
学ピックアップ装置においては、上記反射光束Ｒの進行
方向及び集束角度が上記楔形プリズム９によって変化さ
せられるため、上記焦点ずれの量に対する上記干渉フィ
ルタ６を透過する光量の変化が急峻となり、良好な検出
感度を有して焦点誤差信号Ｆｅを検出することができる
。

また、この光学ピックアップ装置においても、上記反射
光束Ｒの光軸に対して上記光検出器５の位置や角度が変
化しても、この反射光束Ｒが上記受光部５ａ上に照射さ
れている限り、上記焦点誤差信号Ｆｅに変動が生ずるこ
とがない。

そして、本発明に係る誤差信号検出方法を行う光学ピッ
クアップ装置は、第８図に示すように、上記反射光束Ｒ
を第２のビ　ムスプリッタｌＯにより分割し、この第２
のビームスプリッタｌＯにより分割された各光束を、上
記光検出器５及び第２の光検出器１２により対応して受
光するように構成することもできる。上記第２のビーム
スプリッタ１０は、上記ビームスプリッタ２と同様に構
成され、このビームスプリッタ２より射出された反射光
束Ｒを２本の光束に分割させる。また、上記第２の光検
出器１２は、上記光検出器５と同様に構成されている。

この光学ピックアップ装置においては、上記第２のビー
ムスプリッタ１０により分割された光束のうちの一方で
ある第１の光束Ｒ１は、上記干渉フィルタ６を透過して
後、上記光検出器５により受光される。そして、上記第
２のビームスプリッタｌＯにより分割された光束のうち
の他方である第２の光束Ｒ２は、まず光路長変更素子１
３を透過し、次に反射ミラー１１により光路を変更され
、さらに上記干渉フィルタ６を透過して後、上記第２の
光検出器１２により受光される。

上記光路長変更素子１３としては、光学硝子からなる平
行平面板、凹または凸のレンズ、あるいはホログラムレ
ンズ等を用いることができる。

そして、上記各光検出器５．１２より出力される各光検
出出力は、上記減算器７の反転入力端子及び非反転入力
端子に対応して送られる。この減算器７の出力が、焦点
誤差信号Ｆｅとなる。

この光学ピックアップ装置においては、上記光記録媒体
４上における焦点ずれかない状態において、上記第１及
びＩＩ２の光束Ｒ，，Ｒ，が互いに等しい集束角度また
は拡散角度を有して上記干渉フィルタ６を透過するよう
に構成されている。すなわち、上記焦点ずれかないとき
、上記各光検出器５．１２より出力される光検出出力の
値は、互いに等しい。

そして、上記焦点ずれが起こると、上記光検出器５に受
光される第１の光束Ｒ１及び上記第２の光検出器１２に
受光される第２の光束Ｒ６は、上記焦点ずれの方向及び
量に応じて、上記干渉フィルタ６の位置における集束角
度が変化する。ここで、上記焦点ずれに対する上記第１
の光束Ｒ１の上記干渉フィルタ６における集束角度の変
化と、該焦点ずれに対する上記第２の光束Ｒ２の上記干
渉フィルタ６における拡散角度の変化とは、上記光路長
変更素子１３の作用により、位相の異なった変化となっ
ている。そのため、上記減算器７より出力される上記焦
点誤差信号Ｆｅは、第９図に示すように、上記各光検出
器５，１２より出力される光検出出力の値が互いに等し
いときに、０■となる。そして、この焦点誤差信号Ｆｅ
は、上記各光検出器５，１２より出力される光検出出力
の値の差が最大となったときに極値をとる。

この焦点誤差信号Ｆｅの値は、Ｏｖを含んで単調増加（
または単調減少）する区間においては、上記光記録媒体
４上における焦点ずれの方向及び量に対応している。す
なわち、第９図中に矢印Ｓで示すように、上記光記録媒
体４上における焦点ずれかないときの上記焦点誤差信号
Ｆｅの値、すなわちＯＶを中心とするこの焦点誤差信号
Ｆｅの値が単調増加（または単調減少）する区間におい
て、いわゆるフォーカスサーボを作動させることができ
る。

そして、この光学ピックアップ装置においても、上記反
射光束Ｒの光軸に対する上記各光検出器５゜１２の位置
及び傾きが変化しても、上記各光束ＲＲ２が上記各光検
出器５，１２の受光部上に照射されている限り、上記焦
点誤差信号Ｆｅに変動か生ずることがない。

Ｈ１発明の効果 上述のように、本発明に係る誤差信号検出方法において
は、光検出器の受光部上に、光記録媒体上に集光して照
射された光束の該光記録媒体よりの反射光束を干渉フィ
ルタを透過させた後に照射させ、上記受光部に照射され
た光量に応じて上記光検出器より出力される光検出出力
に基づいて上記光記録媒体上における光束の焦点ずれの
量を示す誤差信号を検出するようにしている。

そのため、上記光検出出力は、上記干渉フィルタを透過
するときの上記反射光束の集束角度に応じて変化し、上
記反射光束の光軸と上記光検出器の受光部の中心との該
反射光束の光軸に直交する方向の位置ずれ及び上記光検
出器の受光部の該光軸に対する傾きによっては変化しな
い。すなわち、この誤差信号検出方法においては、上記
反射光束の光軸と上記光検出器の受光部の中心とが該光
束の光軸に直交する方向に位置ずれし、または、上記光
検出器の受光部が該光軸に対して傾いても、良好に誤差
信号の検出を行うことができる。

したがって、この誤差信号検出方法を実施するための光
学ピックアップ装置等の装置においては、製造時におい
て、光検出器の上記反射光束の光軸を基準とした位置調
整が不要であり、製造工程を簡素化することができる。

また、この光学ピックアップ装置においては、光検出器
が、経時的変化等によって、上記反射光束の光軸に対し
て移動しても、変動のない誤差信号の検出を行うことが
でき、誤差信号検出特性の劣化が起こることがない。

すなわち、本発明は、誤差信号検出を行う装置の製造を
容易化することができ、また、該装置の経時変化による
特性の劣化の防止を図ることができる誤差信号検出方法
を提供することができるも

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る誤差信号検出方法を実施するため
に用いられる光学ピックアップ装置の構成を模式的に示
す側面図である。 第２図は上記光学ピックアップ装置の干渉フィルタ及び
光検出器の構成を模式的に示す拡大側面図であり、第３
図は上記光学ピックアップ装置の干渉フィルタ及び光検
出器において一方向に焦点ずれが生じた状態を示す模式
的に示す拡大側面図であり、第４図は上記光学ピックア
ップ装置の干渉フィルタ及び光検出器において他方向に
焦点ずれが生じた状態を示す模式的に示す拡大側面図で
ある。 第５図は上記干渉フィルタの透過率の特性を示すグラフ
である。 第６図は上記光学ピックアップ装置において検出される
焦点誤差信号の値を示すグラフである。 第７図は上記光学ピックアップ装置の干渉フイルタ及び
光検出器の構成の他の例を模式的に示す拡大側面図であ
る。 第８図は上記光学ピックアップ装置の干渉フィルタ及び
光検出器の構成のさらに他の例を模式的に示す拡大側面
図であり、第９図は上記第８図に示す光学ピックアップ
装置において検出される焦点誤差信号の値を示すグラフ
である。 第１Ｏ図は従来の誤差信号検出方法を実施するための装
置の構成を模式的に示す斜視図であり、第１１図は従来
の誤差信号検出方法の他の例を実施するための装置の構
成を模式的に示す斜視図であり、第１２図は従来の誤差
信号検出方法のさらに他の例を実施するための装置の構
成を模式的に示す斜視図である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 光記録媒体上に集光して照射された光束の該光記録媒体
   よりの反射光束を、干渉フィルタを透過させた後に光検
   出器の受光部上に照射させ、上記受光部に照射された光
   量に応じて上記光検出器より出力される光検出出力に基
   づいて、上記光記録媒体上における光束の焦点ずれの量
   を示す誤差信号を検出するようにした誤差信号検出方法
   。