JPH0432564Y2 - - Google Patents

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JPH0432564Y2
JPH0432564Y2 JP1986090405U JP9040586U JPH0432564Y2 JP H0432564 Y2 JPH0432564 Y2 JP H0432564Y2 JP 1986090405 U JP1986090405 U JP 1986090405U JP 9040586 U JP9040586 U JP 9040586U JP H0432564 Y2 JPH0432564 Y2 JP H0432564Y2
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JP
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light
sensor
emitting element
light emitting
receiving element
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Description

【考案の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この考案は投光素子と受光素子とを組合せてな
り、両素子の配置に特徴を有するセンサーに関す
る。
(従来の技術) 従来この種センサーは第2図図示のように投光
素子と受光素子とを並列していた。
(考案が解決しようとする課題) 従来のセンサーによれば、被測定物が傾斜して
いる時には精度が低下するおそれがあつた。特に
細い物の位置などを検出する為のセンサーにあつ
ては、センサーと被測定物との正対が必須条件で
あつたが、正確な正対を期待できない場合には検
出精度の低下はやむを得ないものとされていた。
(問題点を解決する為の手段) 然るにこの考案は投光素子の周囲に受光素子を
配置したので、被測定物の正対に多少の誤差があ
つても、比較的高精度の検出を可能にしたのであ
る。
即ちこの考案は、ケースの中心部に直径的に投
光素子を設置し、前記投光素子の周囲に半円形状
に受光素子を配置してセンサーを構成した。
また被測定物としては、例えば金属缶の溶接ビ
ード位置を検出する場合がある。前記溶接ビード
は例えば幅2mm程度であるが、その位置検出の精
度を±0.5mm以内に決めるには、金属缶の載置が
正確に直立していなければならなかつた。
然るに実用上、缶胴溶接直後にそのビード位置
を検出するのであるが、缶胴の形状精度が高くな
いのでリフト上に載置した缶胴は左右又は前後に
若干向いていることが多く、センサーと正対させ
ることは至難であつた。例えば5度以内の傾斜は
やむを得ないものとされていた。
(作用) この考案は投光素子の周囲に受光素子を配置し
たので、被測定物とセンサーとが正対していない
場合であつても高い検出精度で測定することがで
きる。
(実施例) 第1図の実施例によれば、ケース1の中央部に
直径的に投光素子2を設置し、投光素子2とケー
ス1壁との間に前記投光用素子2の左右へ半円形
に受光素子3を配置してセンサー4を構成したも
のである。上記において、投光素子2および受光
素子3は夫々ガラスフアイバーで構成されたもの
で、ケース1内に収容した多数のガラスフアイバ
ー中、中心部の数本を投光素子2とし、残りを受
光素子3とする(図は、数本のガラスフアイバー
を一つの丸で表わして投光素子2とした。)。
この実施例のセンサーによれば、第3図に示し
たように缶5の缶壁がA−Aのように正対するこ
となくB−B又はC−Cのように傾いていても、
ビード6(測定対象)で反射された反射光を前記
受光素子3で受けることができる。又第4図に鎖
線で示したように缶5の缶壁が前後に傾斜してい
ても、前記同様に投光素子2より投射した光のビ
ード6による反射光を受光素子3で受光すること
ができる。
また、投光素子2の列を垂直より傾けて設置す
ることによつて、ビード6の検出領域を広くする
ことができる。
(考案の効果) この考案によれば、投光素子の周囲に受光素子
を配置したので、センサーと被測定物とが正対し
ていなくても、位置特定の測定精度を高く保つこ
とができる効果がある。また投光用素子を直径的
に設置したので検出領域を広くすることができる
効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の実施例の正面図、第2図は
従来のセンサーの正面図、第3図はセンサーに対
し被測定物が水平方向で傾いた状態を示す説明
図、第4図はセンサーに対し、被測定物が垂直方
向で傾いた状態を示す説明図である。 1……ケース、2……投光素子、3……受光素
子、4……センサー。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. ケース内の中心部に直径的に投光素子を設置
    し、前記投光素子の周囲に受光素子を半円形状に
    配置してなるセンサー。
JP1986090405U 1986-06-13 1986-06-13 Expired JPH0432564Y2 (ja)

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JPS62201001U JPS62201001U (ja) 1987-12-22
JPH0432564Y2 true JPH0432564Y2 (ja) 1992-08-05

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5735708A (en) * 1980-08-13 1982-02-26 Mitsutoyo Mfg Co Ltd Measuring method of microscopic displacement and microscopic inclination

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5735708A (en) * 1980-08-13 1982-02-26 Mitsutoyo Mfg Co Ltd Measuring method of microscopic displacement and microscopic inclination

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JPS62201001U (ja) 1987-12-22

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