JPH04320913A - 絶対測定用変位測定装置 - Google Patents

絶対測定用変位測定装置

Info

Publication number
JPH04320913A
JPH04320913A JP11685691A JP11685691A JPH04320913A JP H04320913 A JPH04320913 A JP H04320913A JP 11685691 A JP11685691 A JP 11685691A JP 11685691 A JP11685691 A JP 11685691A JP H04320913 A JPH04320913 A JP H04320913A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
system clock
circuit
supplied
value
electrodes
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP11685691A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2568322B2 (ja
Inventor
Toru Yaku
亨 夜久
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitutoyo Corp
Mitsutoyo Kiko Co Ltd
Original Assignee
Mitutoyo Corp
Mitsutoyo Kiko Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitutoyo Corp, Mitsutoyo Kiko Co Ltd filed Critical Mitutoyo Corp
Priority to JP3116856A priority Critical patent/JP2568322B2/ja
Publication of JPH04320913A publication Critical patent/JPH04320913A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2568322B2 publication Critical patent/JP2568322B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ディジタルノギス、デ
ィジタルマイクロメータ、ハイトゲージ等の小型計測器
に適用される絶対測定用変位測定装置、特に制御部で使
用するシステムクロックを切換えて消費電力を低減する
絶対測定用変位測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】計測値を液晶表示装置等に表示するディ
ジタルノギス、ディジタルマイクロメータ、ハイトゲー
ジ等の小型な変位測定装置として、静電容量式の変位セ
ンサを利用するものが有望である。この変位センサは、
複数の送信電極を配列した第一の部材と、複数の受信電
極を配列した第二の部材とをスライド可能に対向させ、
前記送信電極と受信電極との間の容量値から前記第一の
部材と前記第二の部材との位置関係を測定できるように
したものである。ディジタルノギスを例にとると、長尺
なメインスケールに複数の受信電極を配列し、これと対
向する短寸のスライダに受信電極とはピッチの異なる複
数の送信電極を配列し、複数の送信電極のそれぞれに位
相のずれた送信信号を印加してスライダとメインスケー
ルとの位置関係を測定する。この変位測定装置にも二種
類あるが、基準点からの変位をインクリメントすること
で現在の変位量を計測する相対方式より、現在の変位量
を直接計測できる絶対方式の方が有利な面もある。例え
ば、電源に太陽電池を用いた場合、相対方式では暗部で
の測定を期待できない。これに対し、絶対方式ではスラ
イダを移動させている間は電源を必要としないため、暗
部で対象物を測定しその状態を保持して明部にノギスを
移動すれば、太陽電池から供給される電力で絶対変位量
が計測できる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した絶対測定用変
位測定装置を小型で携帯可能とするにはその電源に太陽
電池や小型電池を使用する。この場合、消費電力の節減
がシステム設計上重要になる。特に、オフセット値を記
憶する不揮発性メモリ(例えばEEPROM)の書き込
み電流を作る充電回路や、システムクロックを使用して
多くの計算を行う制御部(マイクロコンピュータ)、さ
らには測定値を表示する表示器の消費電流は無視できな
い。
【0004】本発明は、絶対測定用変位測定装置が変位
量の変化がないときはさほどの処理を要しない点に着目
し、システムクロックの周波数や制御間隔を切換えるこ
とで消費電力を低減することを目的とするものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明は、複数の送信電極を配列した第一の部材と複数
の受信電極を配列した第二の部材とをスライド可能に対
向させ、前記送信電極と受信電極との間の容量値から前
記第一の部材と前記第二の部材との絶対位置関係を計算
して表示する絶対測定用変位測定装置において、前記絶
対位置関係が変化してから一定時間経過するまでは高速
システムクロックを使用し、また前記一定時間経過後は
低速システムクロックに切換えると共に制御回数を減少
させることを特徴とする。
【0006】
【作用】制御部で使用するシステムクロックは高速にな
るほど消費電流が増大する。絶対測定用変位測定装置で
は位置変化のあった直後は高速に演算して変位量を算出
する必要があるが、位置変化のない待機状態では位置変
化の有無を判断する程度の処理しかないため、低速のシ
ステムクロックでも問題ない。そこで、本発明ではシス
テムクロックの周波数や制御間隔を切換えることにより
消費電力の低減を図る。
【0007】
【実施例】図1は本発明の一実施例を示す静電容量式の
絶対測定用変位測定装置のブロック図である。同図にお
いて、1は静電容量式アブソリュートタイプの変位セン
サ(以下ABSセンサと呼ぶ)である。このABSセン
サ1は、例えば図2に示すように構成されている。可動
要素であるスライダ21は、固定要素であるメインスケ
ール22に対し僅かの間隙を介して対向配置され、測定
軸X方向に移動可能なものとなっている。スライダ21
には、送信電極23が所定ピッチPt0で配設されてい
る。送信電極23は、メインスケール22にピッチPr
 で配設された第1受信電極24a及び第2受信電極2
4bと容量結合されている。受信電極24a,24bは
、その配列方向に沿って隣接するピッチPt1,Pt2
の第1伝達電極25a及び第2伝達電極25bに1対1
で夫々接続されている。伝達電極25a,25bは、夫
々スケール21側に設けられた第1検出電極26a,2
6b及び第2検出電極27a,27bと容量結合されて
いる。
【0008】送信電極23は、7つおきに共通接続され
て一群が8電極の複数の電極群を構成している。これら
の電極群には、それぞれ位相が45°ずつずれた8相の
周期信号a,b,…,hが駆動信号Sdとして供給され
るようになっている。これらの駆動信号Sdは、より具
体的には、図3に示すように、高周波パルスでチョップ
された信号となっており、図1の送信波形発生回路2か
ら生成出力されるようになっている。送信電極23に駆
動信号Sdが供給されることにより生ずる電場パターン
のピッチWt は、送信電極23のピッチPt0の8倍
であり、このピッチWt は、受信電極24a,24b
のピッチPrのN(例えば3)倍に設定されている。し
たがって、8つの連続する送信電極23に対しては常に
3乃至4つの受信電極24a,24bが容量結合される
ことになる。受信電極24a,24bは、三角形状(又
はsin 波形状)の電極片を相互に挟み合う形で配設
してなるものである。各受信電極24a,24bで受信
される信号の位相は、送信電極23と受信電極24a,
24bとの容量結合面積によって決定されるが、これは
スライダ21とメインスケール22との相対位置によっ
て変化する。
【0009】受信電極24a,24bと伝達電極25a
,25bとが同一ピッチで形成されていれば、検出電極
26a,26b,27a,27bは、単にスケール21
のx方向位置がピッチPr だけ変化する毎に繰り返さ
れる周期信号を検出することになるが、このABSセン
サ1では、粗い変位量、中間の変位量及び細かい変位量
の3つのレベルの変位量を検出するため、伝達電極25
a,25bが、実際には受信電極24a,24bに対し
て夫々D1 ,D2 だけ偏位するようになっている。 偏位量D1 ,D2 は、夫々基準位置x0 からの測
定方向の距離xの関数で、下記数1のように表すことが
できる。
【0010】
【数1】 D1(x) =(Pr −Pt1)x/PrD2(x)
 =(Pr −Pt2)x/Pr
【0011】伝達電極
25a,25bをこのように受信電極24a,24bに
対して偏位させ、検出電極26a,26b,27a,2
7bをピッチWr1(=3Pt1),Wr2(=3Pt
2)の波形パターンとすることにより、検出電極26,
27からは、偏位量D1(x) ,D2(x) に応じ
た大きな周期に検出電極24a,24b単位の小さな周
期が重畳された検出信号B1 ,B2 ,C1 ,C2
 を得ることができる。図4はこの信号B1 ,B2 
の位相成分を電極間容量として示したものである。信号
B1 ,B2 は大きな周期が逆相、小さな周期が同相
である。従って両信号の差から大きな周期の信号が、ま
た両信号の和から小さな周期の信号が得られる。信号C
1 ,C2 についても同様である。ここで、検出信号
B1 ,B2 の大きな周期が小さな周期の数十倍、検
出信号C1 ,C2 の大きな周期が検出信号B1 ,
B2 の大きな周期の数十倍になるように電極パターン
を設定することにより、下記数2の演算で各レベルの変
位を得ることができる。
【0012】
【数2】 C1 −C2                   
  (粗スケール)B1 −B2          
           (中スケール)(B1 +B2
 )−(C1 +C2 )  (密スケール)
【001
3】これらの演算は、図1の粗スケール復調回路3、中
スケール復調回路4及び密スケール復調回路5で行なわ
れるようになっている。復調は、具体的には、図3に示
した送信波形のチョップ周波数でのサンプリング、ミキ
シング、低域ろ波、2値化等の処理を経て、エッジに位
相情報を担った矩形波の位相信号CMPを生成すること
により行なわれる。
【0014】各スケール復調回路3,4,5から出力さ
れる位相信号CMPCOA.、CMPMED.、CMP
FINEは、夫々粗位相検出回路6、中位相検出回路7
、密位相検出回路8に入力されている。これらの位相検
出回路6〜8は、図5に示すように、位相信号CMPの
立ち上がりタイミング(立ち下がりでもよい)でカウン
タ9のカウント値をラッチするようになっている。カウ
ンタ9は、0°の駆動信号Sdに同期した基準位相信号
CPOの1周期で0からNまでをカウントするので、各
位相検出回路6〜8には夫々位相信号CMPと基準位相
信号CPOとの位相差に相当するカウント値がラッチさ
れることになる。
【0015】これらの位相検出回路6〜8で夫々ラッチ
された計数値は、合成回路10で重み付けられて合成さ
れる。また、合成回路10には、オフセット記憶部11
に記憶されたオフセット値も供給されており、合成値の
オフセット量を調整するようになっている。このオフセ
ット記憶部11は、例えばEEPROM等の不揮発性メ
モリからなっている。合成回路10の出力は、演算回路
12において、例えば電極配列ピッチを実寸法値に変換
される。そして、得られた実寸法値は、LCD表示器1
3に表示されるようになっている。そして、これらの各
回路には、ソーラセル14で発生しレギュレータ15で
安定化させた電源電圧VDDが供給され、この電源供給
によって装置が作動するようになっている。
【0016】本装置の各部にはクロック発生回路16で
発生したシステムクロックを供給する。このシステムク
ロックを直接使用するか分周して使用するかは各部の条
件による。カウンタ9で使用するクロックCKもこの一
種である。この他に演算回路12や位相検出回路6 ̄8
等でもクロックが必要である。但し、ノギス等ではスラ
イダ21が移動していない停止時間の方が長く、しかも
絶対方式では停止状態で演算する必要が殆どないため、
主として表示制御等を行えば足りる。そこで本発明では
停止状態になったらシステムクロックを低速側に切換え
、さらに制御間隔を長くすることで消費電流の節減を図
る。
【0017】システムクロックの切換えは制御部17に
おいて行う。図6はこの制御部17の処理を示すフロー
チャートである。最初はステップS1で高速システムク
ロックを選択する。そしてこの状態で全体を動作させス
テップS2でABSセンサを制御する。ここで各部の処
理結果が得られたら最終的な結果、つまり距離を表示器
に表示する。ステップS3がこの表示処理である。つぎ
にステップS4で移動判定を行う。これは前回の測定値
と今回の測定値との差が一定値(たとえばaμm)を越
えたら移動ありと判定し、そうでなければ停止している
と判定する論理をとる。ここで移動したと判定されたら
ステップS1へ戻るが、移動していない、つまり停止状
態にあると判定されたらステップS5へジャンプして低
速システムクロックを選択する。これで各部の動作周期
は長くなるので、その分消費電流が減少する。加えてス
テップS6で所定の時間待ちを行ってからステップS2
へ戻るようにしているので、これで制御間隔が長くなり
一層消費電流を削減できる。
【0018】一例を挙げると、高速システムクロックは
200kHz、低速システムクロックは32kHzであ
る。これにより移動中は一秒間に10回の割合で測定が
行われるが、停止中は2回の割合に減少する。尚、移動
判定は迅速に行う必要があるが、停止判定には多少時間
をかけても良い。
【0019】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、絶対
測定用変位測定装置において、可動要素の移動中と停止
中とでシステムクロックの周波数や制御間隔を切換える
ようにしたので、消費電力の節減を図ることができる。 このため、小型電池や太陽電池等を使用しても長時間動
作させることができる利点がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】  本発明の一実施例を示すブロック図である
【図2】  ABSセンサの構成図である。
【図3】  送信信号の波形図である。
【図4】  受信信号の波形図である。
【図5】  図1の動作波形図である。
【図6】  本発明のフローチャートである。
【符号の説明】
1…ABSセンサ、9…カウンタ、12…演算回路、1
3…LCD表示器、16…クロック発生回路、17…制
御部、21…スライダ、22…メインスケール。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  複数の送信電極を配列した第一の部材
    と複数の受信電極を配列した第二の部材とをスライド可
    能に対向させ、前記送信電極と受信電極との間の容量値
    から前記第一の部材と前記第二の部材との絶対位置関係
    を計算して表示する絶対測定用変位測定装置において、
    前記絶対位置関係が変化してから一定時間経過するまで
    は高速システムクロックを使用し、また前記一定時間経
    過後は低速システムクロックに切換えると共に制御回数
    を減少させることを特徴とする絶対測定用変位測定装置
JP3116856A 1991-04-19 1991-04-19 絶対測定用変位測定装置 Expired - Fee Related JP2568322B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3116856A JP2568322B2 (ja) 1991-04-19 1991-04-19 絶対測定用変位測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3116856A JP2568322B2 (ja) 1991-04-19 1991-04-19 絶対測定用変位測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04320913A true JPH04320913A (ja) 1992-11-11
JP2568322B2 JP2568322B2 (ja) 1997-01-08

Family

ID=14697324

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3116856A Expired - Fee Related JP2568322B2 (ja) 1991-04-19 1991-04-19 絶対測定用変位測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2568322B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000052426A1 (fr) * 1999-02-26 2000-09-08 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Codeur de valeur absolue
JP2013040960A (ja) * 2007-06-25 2013-02-28 Allegro Microsyst Inc 低電力磁場センサ

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61213605A (ja) * 1985-03-19 1986-09-22 Mitsutoyo Mfg Co Ltd 静電容量型デジタルノギス
JPS62287116A (ja) * 1986-06-04 1987-12-14 Mitsutoyo Corp 容量型位置測定トランスデユ−サ
JPS649313A (en) * 1987-07-01 1989-01-12 Mitutoyo Corp Division circuit of measuring apparatus

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61213605A (ja) * 1985-03-19 1986-09-22 Mitsutoyo Mfg Co Ltd 静電容量型デジタルノギス
JPS62287116A (ja) * 1986-06-04 1987-12-14 Mitsutoyo Corp 容量型位置測定トランスデユ−サ
JPS649313A (en) * 1987-07-01 1989-01-12 Mitutoyo Corp Division circuit of measuring apparatus

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000052426A1 (fr) * 1999-02-26 2000-09-08 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Codeur de valeur absolue
US6323786B1 (en) 1999-02-26 2001-11-27 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Absolute-value encoder device
JP2013040960A (ja) * 2007-06-25 2013-02-28 Allegro Microsyst Inc 低電力磁場センサ

Also Published As

Publication number Publication date
JP2568322B2 (ja) 1997-01-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9024642B2 (en) Absolute position measurement capacitive grating displacement measurement method, sensor, and operating method thereof
EP0248165B1 (en) Capacitance-type transducer for measuring positions
JPS6093312A (ja) 容量式変位測定機
JP2878913B2 (ja) 変位測定装置
JP2593257B2 (ja) 変位測定装置
JPH04320913A (ja) 絶対測定用変位測定装置
JPS62239019A (ja) 容量型位置測定トランスデユ−サ
JP2738996B2 (ja) 変位測定装置
JP2996447B2 (ja) 絶対測定用変位測定装置
JP3212838B2 (ja) 静電容量式変位測定装置
JP2611094B2 (ja) 変位測定装置
JP2788826B2 (ja) 変位測定装置
EP0241913A2 (en) Method and circuitry for detecting signals of capacitance type transducers for measuring positions
JP3131182B2 (ja) 変位測定装置
JP2909338B2 (ja) 変位測定装置
JP2588346B2 (ja) 変位測定装置
JP2731638B2 (ja) 静電容量式変位測定装置
JP4233679B2 (ja) 変位測定装置
JPH04309806A (ja) 変位測定装置
JPH04121356U (ja) 電源電圧制御回路
JPH05187804A (ja) 静電容量式変位測定装置
JP2548495B2 (ja) 変位測定装置
JP2744869B2 (ja) 電源回路およびこれを用いた静電容量式変位センサ装置
JPS62238412A (ja) 容量型位置測定トランスデユ−サ
RU43353U1 (ru) Дифференциальный емкостной измеритель перемещений

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees