JP2788826B2 - 変位測定装置 - Google Patents

変位測定装置

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ディジタルノギス等の
小型計測器に適用される変位測定装置に係り、特に変位
センサの固定要素に対する可動要素の相対位置関係に基
づいて絶対的変位量を測定することを可能としたいわゆ
るアブソリュート型の変位測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】測定値を液晶表示装置等に表示するディ
ジタルノギス,ディジタルマイクロメータ,ハイトゲー
ジ等の小型計測器として、静電容量式の変位センサを利
用するものが有望である。静電容量式変位センサは、メ
インスケール等の固定要素と、これに対して相対移動す
るスライダ等の可動要素とにそれぞれ多数の電極が配設
され、固定要素に対する可動要素の移動に伴って電極パ
ターン間に生じる周期的な容量変化の信号を取り出すこ
とにより変位量検出を行うものである。
【0003】この様な変位センサには、その出力信号の
形態によって、インクリメンタル型とアブソリュート型
の2種類がある。前者は、スライダが基準位置から移動
することにより生じる周期信号を連続的に計測すること
によって変位量を測定する。後者は、連続的な計数動作
は行わず、固定要素に対する可動要素の絶対的な変位量
(位置)を求めることが可能なもので、例えば、電極パ
ターンの形状によって、粗いピッチ,中間ピッチ,細か
いピッチの周期的信号を出力可能として、これらの各ピ
ッチの周期信号の位相情報を合成することにより、可動
要素の絶対的な変位量の検出を可能としたものである。
【0004】インクリメンタル型変位センサでは、任意
に定めた原点からのスライダの移動量を連続的に計数し
て測定を行うので、可動要素が停止しても測定動作を停
止させることはできない。測定停止期間に可動要素の移
動があると、その移動量は測定再開によって検出するこ
とができないからである。これに対してアブソリュート
型変位センサでは、ある短時間の測定で絶対位置が分か
るため、間欠測定が可能であり、測定周期を制御回路に
より設定することができる。例えば、アブソリュート型
変位センサを用いたディジタルノギスでは、測定時間4
0msec の測定を1sec 間に10回という間欠的な動作
とする。この様な間欠動作を行うことにより、インクリ
メンタル型の場合に比べると平均消費電流を小さくして
電池寿命を伸ばすことができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、アブソリュー
ト型変位センサにおいて、内蔵電池の寿命を更に伸ばす
ことができれば、電池の小型化や電池交換作業の低減,
省資源等にとって好ましい。本発明は、この様な事情を
考慮してなされたもので、システムの平均消費電流を低
減したアブソリュート型の変位測定装置を提供すること
を目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、固定要素に対
する可動要素の相対位置関係に応じた出力信号を出す変
位センサと、この変位センサの出力信号を処理して前記
固定要素に対する前記可動要素の絶対変位量を測定する
信号処理手段と、この信号処理手段を制御して測定動作
を間欠的に行う制御手段とを有するアブソリュート型変
位測定装置において、前記変位センサの可動要素の移動
または停止を検出する移動/停止状態検出手段を設け、
前記制御手段はこの移動/停止状態検出手段の出力に応
じて間欠的測定動作の間隔を可変制御するようにしたこ
とを特徴とする。
【0007】
【作用】本発明においては、変位センサの固定要素に対
する可動要素の移動または停止(以下、これを単に変位
センサの移動または停止という)の状態を検出して、そ
の状態に応じて間欠的測定動作の単位時間当たりの測定
時間を可変制御する。具体的に例えば、変位センサがあ
る期間停止している場合には、測定周期(測定間隔)を
通常測定の場合に比べて伸ばす。更に長い停止期間が経
過した場合には、電源をオフにする。この様に変位セン
サが止まっているときには測定頻度を落とすことによっ
て、システムの平均消費電力が低減される。例えば、デ
ィジタルノギスを考えると、実際にセンサが移動してい
る時間より停止している時間が圧倒的に長いので、アブ
ソリュート型変位センサを用いた場合に本発明のように
測定頻度を制御することによって、効果的に平均消費電
流を低減することができる。
【0008】
【実施例】以下、図面を参照しながら本発明の実施例を
説明する。図1は、本発明の一実施例に係る変位測定装
置のシステム構成であり、図2はここに用いられたアブ
ソリュート型の静電容量式変位センサ(以下、ABSセ
ンサという)1の構成である。ABSセンサ1は、可動
要素であるスライダ21が、固定要素であるメインスケ
ール22に対し僅かの間隙を介して対向配置され、測定
軸x方向に移動可能なものとなっている。スライダ21
には、送信電極23が所定ピッチPt0で配設されてい
る。送信電極23は、メインスケール22にピッチPr
で配設された第1受信電極24a及び第2受信電極24
bと容量結合されている。受信電極24a,24bは、
その配列方向に沿って隣接するピッチPt1,Pt2の第1
伝達電極25a,第2伝達電極25bに1対1で夫々接
続されている。伝達電極25a,25bは、夫々メイン
スケール21側に設けられた第1検出電極26a,26
b及び第2検出電極27a,27bと容量結合されてい
る。
【0009】送信電極23は、8つおきに共通接続され
て一群が8電極の複数の電極群を構成している。これら
の電極群には、計測モードではそれぞれ位相が45°ず
つずれた8相の周期信号a,b,…,hが駆動信号Sd
として供給されるようになっている。これらの駆動信号
Sdは、より具体的には、高周波パルスでチョップされ
た信号となっており、図1の送信波形発生回路2から生
成出力される。
【0010】送信電極23に駆動信号Sdが供給される
ことにより生ずる電場パターンのピッチWt は、送信電
極23のピッチPt0の8倍であり、このピッチWt は、
受信電極24a,24bのピッチPr のN倍に設定され
ている。ここでNは、1,3,5等の奇数であることが
好ましく、この実施例では3に設定されている。したが
って、8つの連続する送信電極23に対しては常に3乃
至4つの受信電極24a,24bが容量結合されること
になる。受信電極24a,24bは、三角形状又は正弦
波状の電極片を相互に挟み合う形で配設してなるもので
ある。各受信電極24a,24bで受信される信号の位
相は、送信電極23と受信電極24a,24bとの容量
結合面積によって決定されるが、これはスライダ21と
メインスケール22との相対位置によって変化する。
【0011】受信電極24a,24bと伝達電極25
a,25bとが同一ピッチで形成されていれば、検出電
極26a,26b,27a,27bは、単にメインスケ
ール21のx方向位置がピッチPr だけ変化する毎に繰
り返される周期信号を検出することになるが、この実施
例のABSセンサ1では、粗い変位量(粗スケール)、
中間の変位量(中スケール)及び細かい変位量(密スケ
ール)の3つのレベルの変位量を検出するため、伝達電
極25a,25bが、実際には受信電極24a,24b
に対してピッチを変えて夫々D1 ,D2 だけ偏位させて
いる。偏位量D1,D2 は、夫々基準位置x0 からの測
定方向の距離xの関数で、下記数1のように表すことが
できる。
【0012】
【数1】D1(x) =(Pr −Pt1)x/Pr D2(x) =(Pr −Pt2)x/Pr
【0013】伝達電極25a,25bをこのように受信
電極24a,24bに対して偏位させ、検出電極26
a,26b,27a,27bをピッチWr1(=3Pt
1),Wr2(=3Pt2)の波形パターンとすることによ
り、検出電極26,27からは、偏位量D1(x) ,D2
(x) に応じた大きな周期に検出電極25a,25b単
位の小さな周期が重畳された検出信号B1 ,B2 ,C1
,C2 を得ることができる。信号B1 ,B2 は大きな
周期が逆相、小さな周期が同相である。従って両信号の
差から大きな周期の信号が、また両信号の和から小さな
周期の信号が得られる。検出信号C1 ,C2 についても
同様である。ここで、検出信号B1 ,B2 の大きな周期
が小さな周期の数十倍、検出信号C1 ,C2 の大きな周
期が検出信号B1 ,B2 の大きな周期の数十倍になるよ
うに電極パターンを設定することにより、下記数2の演
算で各レベルの変位を得ることができる。
【0014】
【数2】 C1 −C2 (粗スケール) B1 −B2 (中スケール) (B1 +B2 )−(C1 +C2 ) (密スケール)
【0015】これらの演算出力信号C1 −C2 ,B1 −
B2 ,(B1 +B2 )−(C1 +C2 )は、それぞれ粗
スケール復調回路3,中スケール復調回路4,密スケー
ル復調回路5および位相検出回路6,7,8で処理され
る。復調は具体的には送信波形のチョップ周波数でのサ
ンプリング、ミキシング、低域ろ波、二値化等の処理を
経て、エッジに位相情報を担った矩形波の位相信号CM
Pを生成することにより行われる。位相検出回路6,
7,8からは、送信波形発生回路2から出力される0°
の駆動信号Sdを参照信号として、各入力信号の位相が
ディジタル値で出力される。
【0016】これらの位相検出回路6〜8から出力され
たディジタル値は、合成回路10で重み付けられて合成
される。合成回路10には、EEPROM等からなるオ
フセット記憶部11に記憶されたオフセット値も供給さ
れており、合成値のオフセット量が調整できるようにな
っている。合成回路10の出力は、演算回路12におい
て、例えば電極配列ピッチが実寸法値に変換される。演
算回路12は、各回路に対する電源供給のオン,オフ制
御信号、クロック信号,リセット信号等を出す制御回路
9と接続されている。演算回路12で得られた実寸法値
は、LCD表示器13に表示されるようになっている。
14は内蔵の小型電池であり、その出力が電圧レギュレ
ータ15により安定化されてシステム全体に供給されて
いる。
【0017】この実施例においてはまた、LCD表示器
13への出力信号をモニターしてABSセンサ1の移動
または停止を検出するセンサ移動/停止検出回路16が
設けられ、その出力が制御回路9に供給されている。す
なわち制御回路9は、間欠測定動作の測定周期を設定す
る機能を有するが、移動/停止検出回路16の出力によ
り、次に説明するように、ABSセンサ1の移動または
停止状態に応じて間欠測定動作の測定周期が可変制御さ
れるようになっている。
【0018】図3は、移動/停止検出回路16の出力を
受けて制御回路9が行う測定間隔制御の様子である。通
常の測定は例えば、1sec 間に10回(1回の測定時間
が40msec )という間欠測定である。ABSセンサ1
が停止すると制御回路9ではその停止時間を計測して、
停止後1分経過したら、測定を1sec 間に5回という間
引き測定に切替える。ABSセンサ1が再度移動開始す
れば、通常測定に戻す。ABSセンサ1の停止時間が3
分経過したら、電源オフとする。このようにして、この
実施例によれば、ABSセンサ1の動きの状態に応じ
て、測定頻度の制御や電源制御を行うことにより、シス
テムの平均消費電流を減らすことができ、電池寿命を伸
ばすことができる。
【0019】なお制御回路9には、Zero /ABSスイ
ッチおよびOFFスイッチが設けられている。パワーオ
フの状態からZero /ABSスイッチを押すと、制御回
路9が働いて、LCD表示器13は計測値表示を行う。
このスイッチをもう一度押すと、LCD表示がゼロとな
る(ゼロセット動作)。即ちこのZero /ABSスイッ
チは、計測値とゼロ値を交互に切り替える役割をする。
OFFスイッチは、電源が太陽電池の場合は不要であ
る。
【0020】制御回路9は、他の全ての回路にオン/オ
フ信号,リセット信号,クロック信号等を供給してお
り、センサ移動/停止検出回路16の出力だけでなく、
電源出力をモニターする電圧検出回路17の出力も入力
されている。そして、電源出力が基準値より低い時に
は、制御回路9は各回路へ測定オフの信号を供給するよ
うになっている。
【0021】実施例では、変位センサの移動/停止状態
を検出して、1分間の停止により測定間隔すなわち測定
周期を2倍に伸ばすという制御を行ったが、これらの時
間,測定周期は他の適当な値に設定することができる。
また停止時間に応じて測定周期を複数段階に切替えるよ
うにしてもよく、更に一般に単位時間当たり測定時間を
制御することによっても、同様の効果が得られる。ま
た、センサの移動/停止状態検出は、LCD表示器への
出力信号ではなく、変位センサの直接の出力や他の信号
処理回路部の適当なノードの信号を用いて行うことが可
能である。また電池として、通常の一次電池の他、二次
電池や太陽電池を用いた場合にも本発明は有効である。
その他本発明はその趣旨を逸脱しない範囲で種々変形し
て実施することができる。
【0022】
【発明の効果】以上説明したように本発明よれば、間欠
動作のアブソリュート型変位測定装置において、変位セ
ンサの移動/停止状態に応じて測定間隔を可変制御する
ことにより、システムの平均消費電流を効果的に低減す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施例に係る静電容量式変位測定
装置のブロック構成を示す図である。
【図2】 同実施例のABSセンサの構成を示す図であ
る。
【図3】 同実施例の測定動作の制御フローである。
【符号の説明】
1…ABSセンサ、2…送信信号波形発生回路、3,
4,5…復調回路、6,7,8…位相検出回路9…制御
回路、10…合成回路、11…オフセット記憶部、12
…演算回路、13…LCD表示器、14…電池、15…
電圧レギュレータ、16…センサ移動/停止状態検出回
路、17…電圧検出回路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01B 21/00 - 21/32 G01B 7/00 - 7/34 G01D 5/00 - 5/62

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 固定要素に対する可動要素の相対位置関
    係に応じた出力信号を出す変位センサと、 この変位センサの出力信号を処理して前記固定要素に対
    する前記可動要素の絶対変位量を測定する信号処理手段
    と、 前記変位センサの固定要素に対する可動要素の移動また
    は停止を検出する移動/停止状態検出手段と、 前記信号処理手段を制御して測定動作を間欠的に行うと
    共に、前記移動/停止状態検出手段の出力に応じて間欠
    的測定動作の間隔を可変制御する制御手段と、を備えた
    ことを特徴とする変位測定装置。
  2. 【請求項2】 前記制御手段は、前記可動要素が移動し
    ている間及び可動要素の停止後第1の時間が経過するま
    では単位時間当たり一定回数の測定動作を行わせ、前記
    第1の時間が経過した後可動要素の停止後第2の時間が
    経過するまでは測定動作の間隔を少なくとも1段階拡げ
    た間引き測定動作を行わせ、前記第2の時間が経過した
    後は電源をオフにするという制御を行うことを特徴とす
    る請求項1記載の変位測定装置。
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