JPH04314006A - 光ファイバの自動測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ホルダに保持された光
ファイバの端末処理、光ファイバの光学的測定を行う測
定システムへの接続及び光学的測定を自動的に行う光フ
ァイバの自動測定装置に関する。

【０００２】

【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】光ファ
イバの光学的測定、例えば、損失測定を行う場合、従来
は、先ず、測定対象の光ファイバをホルダに保持し、こ
の光ファイバを手作業により端末処理した後、ホルダを
所定の突合せ装置にセットして測定システムと突合せ接
続し、損失測定のための光学的測定を行っていた。

【０００３】このため、ホルダへの保持から光学的測定
に至る一連の工程においては、各工程間で光ファイバを
保持したホルダをその都度人手により受け渡さなければ
ならず、多数の光ファイバの損失測定を行う場合には、
１本毎に各作業を繰り返すことから非常に作業が煩雑で
、作業に多くの時間を要するという問題があった。本発
明は上記の点に鑑みてなされたもので、光ファイバの端
末処理、測定システムへの接続及び光学的測定を人手を
煩わせることなく自動的に行うことが可能な光ファイバ
の自動測定装置を提供することを目的とする。

【０００４】

【課題を解決するための手段】本発明によれば上記目的
を達成するため、光ファイバ素線に被覆が施され、光学
的測定が行われる光ファイバを保持したホルダが複数配
列されたホルダ配列部、前記各ホルダに保持された前記
光ファイバの端末を処理する端末処理装置、端末処理さ
れた前記光ファイバを、光ファイバ素線に被覆が施され
た測定ファイバを介して光源に接続し、該光源から伝送
されてくる光を光学測定手段で測定することにより前記
光ファイバの光学的測定を行う接続装置、及び前記ホル
ダ配列部に配列されたホルダを、前記端末処理装置から
接続装置へ順次搬送する搬送装置を備え、光ファイバの
端末処理から光学的測定までの一連の操作を自動的に行
う構成としたものである。

【０００５】好ましくは、前記端末処理装置は、前記光
ファイバの先端側を延出させて保持する光ファイバ保持
部、前記光ファイバから先端側の被覆を所望長さ除去す
る除去処理を行う被覆除去部、該被覆除去部における被
覆除去により露出した光ファイバ素線をクリーニング処
理するクリーニング部、該クリーニング部でクリーニン
グ処理された前記光ファイバ素線を所定長さに切り揃え
る切断処理を行う切断部とを備え、前記被覆の除去、ク
リーニング及び切断の各処理を行う構成とする。

【０００６】更に好ましくは、前記接続装置は、少なく
とも光ファイバ及び測定ファイバの光ファイバ素線相互
を突合せ接続する溝を有する突合せ部材と、該突合せ部
材の両側に回動自在に配置され、前記光ファイバ及び測
定ファイバを夫々保持したホルダを装着して一方が前記
突合せ部材に離接自在な一組の装着台とを備え、前記突
合せ部材の溝内で前記両ファイバの各光ファイバ素線相
互を突合せ接続する構成とする。

【０００７】

【作用】測定対象の光ファイバの先端を所定長さ延出さ
せてホルダに保持させ、このホルダを予めホルダ配列部
に配列しておくと、搬送装置が光ファイバを保持したホ
ルダをホルダ配列部から取り出し、端末処理装置、接続
装置へと順次搬送する。端末処理装置は、搬送装置がホ
ルダ配列部から搬送してきたホルダに保持された光ファ
イバの被覆を除去し、露出した光ファイバ素線をクリー
ニングした後、光ファイバ素線を所定長さに切り揃える
。

【０００８】接続装置は、搬送装置が端末処理装置から
搬送してきたホルダに保持された光ファイバを測定シス
テムの測定ファイバに光接続する。これにより、光源か
ら測定ファイバを通って伝送されてくる光は、光学測定
手段で測定され、光ファイバの光学的測定が終了する。 そして、光学的測定が終了した光ファイバを保持したホ
ルダは、搬送装置により接続装置からホルダ配列部に搬
送され、元の位置に戻される。

【０００９】

【実施例】以下、測定システムとしてＯＴＤＲ（ｏｐｔ
ｉｃａｌ　ｔｉｍｅ　ｄｏｍａｉｎ　ｒｅｆｌｅｃｔｏ
ｍｅｔｅｒ）　を用いた本発明の一実施例を、図１乃至
図２８に基づいて詳細に説明する。光ファイバの自動測
定装置１は、図１及び図２に示すように、ホルダパレッ
ト１０、端末処理装置２０、突合せ接続装置３０、搬送
装置４０及び掴み替装置５０を備えており、端末処理装
置２０、突合せ接続装置３０及び掴み替装置５０はベー
ス２上に配置されている。

【００１０】ホルダパレット１０は、測定対象の光ファ
イバ３を所定長さ延出させて保持したホルダ１１を複数
配列するもので、ホルダ１１を配列する配列部１０ａが
長手方向に複数形成されている。ホルダ１１は、２個の
磁性金属板材を蝶番状に連結して光ファイバ３を磁力に
より保持するもので、各装置における光ファイバ３のハ
ンドリングを容易にするものである。光ファイバ３は、
例えば、図３に示すように、直径　１２５μｍの複数の
光ファイバ素線３ａを平行に配列し、これらを合成樹脂
等の被覆３ｂで覆った厚さ０．４ｍｍのテープ心線であ
る。

【００１１】端末処理装置２０は、光学的測定が行われ
る光ファイバ３における被覆３ｂの除去処理、露出した
光ファイバ素線３ａの表面を払拭するクリーニング処理
及び光ファイバ素線３ａを所定長さに切り揃える切断処
理の３機能を組込んだ、いわゆる３イン１（ｔｈｒｅｅ
　ｉｎ　ｏｎｅ）機能を有する装置であり、図４乃至図
７に示すように、基台２１上に、レーザセンサ２２，２
２、光ファイバ保持部（以下、「保持部」という）２１
０、被覆除去部２２０、クリーニング部２３０及び切断
部２４０等が夫々配置されており、図示の位置が作動開
始前あるいは作動終了後の初期位置における状態である
。

【００１２】レーザセンサ２２，２２は、例えば、透過
型のセンサを用い、帯状の平行光束にしたレーザ光を、
一方のセンサ２２から他方のセンサ２２に出射し、後述
する端末処理した光ファイバ３の先端部分をセンサ２２
，２２間に挿通させて、受光側のセンサ２２で受けたレ
ーザ光の状態に基づいて、光ファイバ３の端末処理状態
の良否を検査する。

【００１３】保持部２１０は、図４及び図６に示すよう
に、基台２１の一側中央に立設した支持フレーム２１１
の上部に設けられ、可動テーブル２１２、このテーブル
２１２の下部に設けた垂下部２１２ａを貫通し、テーブ
ル２１２を被覆除去部２２０側へ離接自在に移動させる
ネジ軸２１３、ネジ軸２１３を回転駆動させる駆動モー
タ２１４等を有している。

【００１４】また、可動テーブル２１２上には、光ファ
イバ３を保持したホルダ１１を固定する固定手段２１５
、ホルダ１１から後方へ延出している光ファイバ３を把
持する把持手段２１６、ホルダ１１の後部に当接して前
方へ付勢するＬ形アーム２１７及び前方へ付勢されたホ
ルダ１１の前部を当接させて係止するストッパ２１２ｂ
が設けられている。

【００１５】固定手段２１５は、ホルダ１１を解除自在
に固定するもので、固定シリンダ２１５ａにより駆動さ
れる。ここで、ホルダ１１は、図４及び図５に示すよう
に、端末処理される光ファイバ３の先端が被覆除去部２
２０に略到達する程度に、所定長さ突出させて固定手段
２１５により固定される。把持手段２１６は、被覆除去
部２２０が保持部２１０と協動して光ファイバ３の先端
側の被覆３ｂを除去するときに、光ファイバ３がホルダ
１１から抜け出さないようゴム等の摩擦片を介して強固
に把持するもので、把持シリンダ２１６ａにより駆動さ
れる。

【００１６】Ｌ形アーム２１７は、固定手段２１５と把
持手段２１６との間に配置され、中間の折曲部で支持軸
２１７ａにより可動テーブル２１２に回動自在に支持さ
れ、固定手段２１５との間に架設した引張バネ２１８に
より、常時、ホルダ１１側へ付勢されている。被覆除去
部２２０は、図４に示すように、支持台２２１，２２１
（一方は図示せず）上に配置され、図５及び図６に示す
ように、光ファイバ３の先端側の被覆３ｂを除去する一
組の剥離手段２２２，２２２と、各剥離手段２２２を互
いに離接作動させる駆動シリンダ２２３，２２３とを夫
々有しており、支持台２２１，２２１間の剥離手段２２
２，２２２直下には、図示のように、光ファイバ３の端
末処理によって生ずる、被覆３ｂや光ファイバ３のファ
イバ屑を収容する屑箱２２４が配置されている。

【００１７】各剥離手段２２２は、図４乃至図６に示す
ように、支持台２２１上に設けた案内レール２２１ａと
スライド自在に係合するスライダ２２２ａ及び光ファイ
バ３の先端側を挾持する剥離刃２２２ｂを有しており、
被覆除去部２２０側へ離接する可動テーブル２１２と協
動して被覆３ｂを除去する。駆動シリンダ２２３は、支
持台２２１上に設置されてスライダ２２２ａを駆動する
もので、各シリンダ２２３は、駆動ロッド２２３ａを繰
り出して剥離刃２２２ｂ，２２２ｂで光ファイバ３を挾
持したときに、剥離刃２２２ｂ，２２２ｂ間の隙間が、
光ファイバ３の光ファイバ素線３ａの直径（＝１２５　
μｍ）よりも大きく、被覆３ｂの厚み（０．４ｍｍ）よ
りも小さくなるように、駆動ロッド２２３ａの繰出量が
設定されている。

【００１８】クリーニング部２３０は、光ファイバ３の
被覆３ｂを除去して露出した光ファイバ素線３ａを、後
述する払拭布ＣＢ　により払拭し、付着している汚れ、
塵あるいはシリコンオイル等をクリーニング処理する部
分で、図４に示すように、保持部２１０と被覆除去部２
２０との間に配置されている。クリーニング部２３０は
、図４乃至図６に示すように、スライドテーブル２３１
と、テーブル２３１の上方に板面が上下方向となるよう
に配置される昇降板２３２とを有している。

【００１９】スライドテーブル２３１は、図示のように
、基台２１の両側に敷設したレール２１ａ，２１ａに、
スライダ２３１ａ，２３１ａを介して水平に配置され、
幅方向略中央には開口２３１ｂが形成されている。 このテーブル２３１は、押動シリンダ２３３によって被
覆除去部２２０側、即ち、図４において、左右方向とな
る支持台２２１，２２１に離接する前後方向に押動され
る。

【００２０】昇降板２３２は、図５に示すように、略方
形の板材の中央上部を切除して開放凹部２３２ａを形成
したもので、側部にはスライダ２３２ｂが設けられてい
る。スライダ２３２ｂは、ガイドレール２３１ｃにスラ
イド自在に係合されており、ガイドレール２３１ｃはス
ライドテーブル２３１の一側に立設したフレーム２３１
ｄに上下方向に取付けられている。また、スライドテー
ブル２３１のガイドレール２３１ｃに対する他側には、
図５に示すように、昇降板２３２を昇降作動させる昇降
シリンダ２３４が設置されている。

【００２１】また、昇降板２３２は、図５に示すように
、開放凹部２３２ａを挟む両側上部に払拭布ＣＢ　を巻
回した巻出しドラム２３５，２３５が、開放凹部２３２
ａの両側に挾持シリンダ２３６，２３６が、開放凹部２
３２ａの下部に互いに噛合する一組の平歯車２３７，２
３７が夫々設けられ、裏面の被覆除去部２２０側には、
図４に示すように、回動モータ２３８が設けられている
。

【００２２】巻出しドラム２３５に巻回されている払拭
布ＣＢ　は、昇降板２３２の適宜箇所に設置した各案内
ローラ２３９に案内されて平歯車２３７，２３７の噛合
部分へと案内され、下方のスライドテーブル２３１に形
成した開口２３１ｂから排出される。ここで、払拭布Ｃ
Ｂ　としては、溶剤に対する耐性があり、払拭した光フ
ァイバ素線３ａに繊維カスが残らない不織布を使用する
。

【００２３】挾持シリンダ２３６は、複数の光ファイバ
素線３ａを払拭してクリーニング処理する際に、案内ロ
ーラ２３９に案内されて平歯車２３７，２３７の噛合部
分へと案内される払拭布ＣＢ　を側方から押圧し、払拭
布ＣＢ　を介して複数の光ファイバ素線３ａを挾持する
ものである。各平歯車２３７は、一方の平歯車２３７を
回動モータ２３８で回動させることにより、各巻出しド
ラム２３５から払拭布ＣＢ　を巻出し、払拭済の払拭布
ＣＢを下方のスライドテーブル２３１に設けた開口２３
１ｂから排出させる。

【００２４】切断部２４０は、図４、図５及び図７に示
すように、基台２１の一隅に立設した設置フレーム２４
の上部に設けられ、支持板２４１、支持板２４１に支持
される把持部材２４２，２４３、ロータリーカッタ２４
４及びプッシュアーム２４５を有しており、支持板２４
１は設置フレーム２４の上部に設置した昇降シリンダ２
４６によって昇降される。そして、支持板２４１は、図
４及び図５に示すように、通常は、被覆除去部２２０の
上方に配置され、複数の光ファイバ素線３ａを切断処理
するときだけ下降される。

【００２５】把持部材２４２，２４３は、ゴム等の摩擦
部材を介して互いに先端を突合わせて複数の光ファイバ
素線３ａを２点で開放自在に把持するもので、図４及び
図５に示すように、夫々プッシュシリンダ２４２ａ，２
４３ａにより駆動される。ロータリーカッタ２４４は、
外周に形成したキズ付刃で光ファイバ素線３ａにキズを
付ける円板状のカッタで、光ファイバ素線３ａにキズを
付けるときには回動が規制される。そして、ロータリー
カッタ２４４は、所定回数だけ使用する度に駆動モータ
２４７（図４参照）によって所定角度回動され、キズ付
刃の位置が変更される。プッシュアーム２４５は、切断
用のキズを付けられた複数の光ファイバ素線３ａを、軸
線に直交する方向から押圧して切断するもので、図５及
び図７に示すように、Ｌ字形の部材で、複数の光ファイ
バ素線３ａを押圧する先端部分が円弧状又は平面状に形
成されており、プッシュシリンダ２４５ａにより駆動さ
れる。

【００２６】突合せ接続装置３０は、測定対象の光ファ
イバ３と測定ファイバ（図示せず）とを一時的に突合せ
接続することにより、光ファイバ３を測定システム、即
ち、前記したＯＴＤＲに光接続し、光ファイバ３の光学
的測定を行うもので、図８及び図９に示すように、台座
３１上に、突合せ部材３１０、突合せ部材３１０の長手
方向両側に配置される装着台３２０，３３０、支持テー
ブル３４０、突合せステージ３５０、ぜんまいばね３６
０、移動規制手段３７０及び回動規制手段３８０を備え
ている。

【００２７】突合せ部材３１０は、複数のＶ溝３１１が
前面に形成された直方体形状の部材で、端末処理された
光ファイバ３及び前記測定ファイバの各光ファイバ素線
を各Ｖ溝３１１内に案内し、それらの端面同士を突合せ
接続させるもので、台座３１に立設した支持部材３２の
上部先端に取付けられている。装着台３２０，３３０は
、光ファイバ３及び前記測定ファイバを挾持したホルダ
１１を装着する互いに対称な台で、図８に示すように、
固定ステージ３２１と突合せステージ３５０に回動ピン
３２２，３３１により、夫々突合せ部材３１０側が回動
自在に支持されている。

【００２８】ここで、装着台３２０は、突合せ部材３１
０に対し、予め、所定角度回動させて固定ステージ３２
１に固定され、装着部ＨＦ　に前記測定ファイバを保持
したホルダ１１が装着される。この測定ファイバは、測
定対象の光ファイバ３を、図示しない光源側に配置した
ＯＴＤＲに光接続させるもので、予め、両端を端末処理
し、一端側は前記ＯＴＤＲと光源に、他端は突合せ部材
３１０のＶ溝３１１内に撓ませて配置される。一方、装
着台３３０は、前部一側にアーム３３２が幅方向に突設
され、コイルスプリング３３３によって、回動ピン３３
１を中心として、図８に２点鎖線で示す回動方向に付勢
されており、装着部ＨＭ　に光ファイバ３を保持したホ
ルダ１１が装着される。

【００２９】支持テーブル３４０は、図９に示すように
、台座３１上を長手方向（図中左右方向）に移動自在な
可動台３３に載置され、可動台３３に設けた駆動モータ
３４１と、このモータ３４１の回転軸に取付けた偏心カ
ム３４２及びカム３４２に外嵌したベアリング３４３と
により上下方向に昇降される。可動台３３は、図１０に
示すように、駆動モータ３４４の回転軸に取付けたピニ
オン３４５を、側部のラック３３ａに噛合させることに
より、支持テーブル３４０と共に長手方向に移動される
。

【００３０】突合せステージ３５０は、支持テーブル３
４０との間にスライド機構３４６を介して長手方向に移
動自在に載置され、外側面に設置したぜんまいばね３６
０により前進方向の突合せ部材３１０側へ付勢されてい
る。このばね３６０は、先端が突合せステージ３５０の
前端側に設けた連結フランジ３５１に連結され、基端側
はスプール３６１に巻回されている。スプール３６１は
、支持テーブル３４０の側面に取付けた支持軸３６２に
回動自在に支持されている。ここで、ぜんまいばね３６
０は、突合せステージ３５０の付勢力が、光ファイバ３
の素線数によって異なるが、例えば、単心〜５心の光フ
ァイバの場合で略７ｇ重〜２５ｇ重程度のものを使用す
る。

【００３１】移動規制手段３７０は、突合せステージ３
５０の突合せ部材３１０側への移動を規制・解除するも
ので、図８に示すように、支持テーブル３４０に設けら
れる駆動モータ３７１及びモータ３７１の回転軸に取付
けたカム板３７２を有している。カム板３７２は、カム
面が突合せステージ３５０の前縁に当接され、これによ
りぜんまいばね３６０の付勢によるステージ３５０の突
合せ部材３１０側への移動を規制している。

【００３２】回動規制手段３８０は、コイルスプリング
３３３の付勢力による装着台３３０の回動ピン３３１を
中心とする回動を規制・解除するもので、支持テーブル
３４０に設置されている。回動規制手段３８０は、図８
に示すように、支持枠３８１に長手方向に移動自在に取
付けられる押動部材３８２、その下面に取付けられる平
歯車３８３、押動部材３８２を移動させる駆動モータ３
８４を備えており、駆動モータ３８４の回転軸には平歯
車３８３と噛合する歯車３８５が嵌着されている。押動
部材３８２は、先端を装着台３３０に設けたアーム３３
２に当接しながら長手方向に移動し、コイルスプリング
３３３によって回動方向に付勢されている装着台３３０
の回動を規制・解除する。

【００３３】以上のように構成される突合せ接続装置３
０においては、可動台３３の長手方向への移動位置、支
持テーブル３４０の上下位置、突合せステージ３５０の
長手方向における位置を規制するカム板３７０の回動位
置及び装着台３３０の回動を規制・解除する押動部材３
８２の位置は、個々に設けた近接センサ等の位置センサ
により検出され、移動あるいは回動位置に夫々正しく位
置決めされる。

【００３４】搬送装置４０は、複数のホルダ１１を配列
したホルダパレット１０から、ホルダ１１を把持して、
順次、端末処理装置２０から突合せ装置３０へ搬送し、
光学的測定が済んだホルダ１１を再度ホルダパレット１
０上の元の位置へと搬送するもので、端末処理装置２０
における端末処理が不良の場合には、掴み替装置５０へ
移送する。

【００３５】搬送装置４０は、図２に示すように、スラ
イドテーブル４１、スライドテーブル４１の下面に設置
された移動手段４２、移動手段４２に吊持される把持手
段４３を有しており、移動手段４２及び把持手段４３は
、スライドテーブル４１の下面に長手方向に所定間隔を
置いて２組設けられている。これは、自動測定測定１に
おいて、光ファイバ３の端末処理と突合せ接続の作業を
並行して行うためである。

【００３６】スライドテーブル４１は、ベース２上方の
天板４下部にスライド機構４１ａ，４１ａを介して設け
られ、駆動ベルト４４によりベース２の長手方向に沿っ
てスライドされる。駆動ベルト４４は、図示しない駆動
モータとプーリとの間に巻掛けられ、中間がテーブル４
１の一側に固定されている。移動手段４２は、支持部材
４２ａ，４２ｂ、両部材４２ａ，４２ｂ間に架設された
ロッドレスシリンダ４２ｃと２本のガイドバー（図示せ
ず）、これらシリンダ４２ｃ及びガイドバーに移動自在
に支持されるスライドブロック４２ｄを有している。

【００３７】把持手段４３は、スライドブロック４２ｄ
の下部に設けられ、シリンダ本体４３ａ、ロッド４３ｂ
，４３ｂ、支持板４３ｃ及び支持板４３ｃに設けられる
２組のハンドチャック４３ｄ，４３ｄを有している。 したがって、搬送装置４０は、ホルダパレット１０上に
配列された各ホルダ１１を把持して、自動測定装置１の
ベース２上を長手方向、幅方向及び上下方向の３次元方
向に任意の位置へ搬送することができる。

【００３８】掴み替装置５０は、端末処理装置２０にお
ける光ファイバ３の端末処理が不良の場合に、光ファイ
バ３を再度、端末処理前の状態に切り戻すもので、図１
１及び図１２に示すように、設置台５１上に、ホルダ１
１を装着する装着部５２、ホルダ１１に保持された処理
不良の光ファイバ３を把持するチャック部５３、ホルダ
１１に保持された光ファイバ３を引き出す引出シリンダ
５４及びホルダ１１から引き出した光ファイバの先端を
元の端末処理前の状態に切り戻す切断部５５を備えてい
る。

【００３９】装着部５２は、装着台５２ａにホルダ１１
を装着する装着壁５２ｂ，５２ｂが立設され、装着台５
２ａの下部にはシリンダ５２ｃが取付けられている。こ
のシリンダ５２ｃは、装着台５２ａ後部に設けたチャッ
クアーム５２ｄの下端を押し、これによりアーム５２ｄ
の上端でホルダ１１の後部を前方に押し、ホルダ１１を
装着台５２ａの前部に形成したストッパ５２ｅに圧接さ
せる。

【００４０】チャック部５３は、支持部材５３ａにチャ
ックシリンダ５３ｂ，５３ｂが互いに対向させて配置さ
れており、各チャックシリンダ５３ｂは、ロッド５３ｃ
の先端に把持具５３ｄが取付けられている。引出シリン
ダ５４は、設置台５１の一側に形成した支持壁５１ａ上
部に取付けられ、シリンダロッド５４ａの先端は支持部
材５３ａに接続されている。

【００４１】切断部５５は、昇降シリンダ５５ａ、昇降
板５５ｂ、昇降板５５ｂ上に設けられるファイバ押え５
５ｃ，５５ｄ、カットシリンダ５５ｅ及びカッタ５５ｆ
を有しており、カッタ５５ｆはファイバ押え５５ｃとの
間に押圧バネ５５ｇを介装してシリンダロッド５５ｈと
連結されている。また、図中、符号５６は、ホルダ１１
から光ファイバ３が引き出されたことを確認する、光フ
ァイバ３の検出センサである。

【００４２】自動測定装置１は、以上のように構成され
ており、予め、ホルダパレット１０に配列されているホ
ルダ１１を、搬送装置４０により端末処理装置２０から
突合せ接続装置３０へと順次搬送し、ホルダ１１に保持
された光ファイバ３の光学的測定を行った後、このホル
ダ１１を再度ホルダパレット１０の元の位置へと戻す作
業を自動的に行う。ここにおいて、搬送装置４０は、移
動手段４２及び把持手段４３を２組有しており、一度に
２個のホルダ１１を１工程ずらせて搬送しながら、端末
処理及び突合せ接続の作業を並行して実行することがで
きるが、以下の説明では、簡単のため単一のホルダ１１
に保持された光ファイバ３を測定する場合について説明
する。

【００４３】自動測定装置１においては、先ず、搬送装
置４０が作動し、駆動ベルト４４によりスライドテーブ
ル４１を長手方向に移動させると共に、移動手段４２が
スライドブロック４２ｄを幅方向に移動させ、把持手段
４３のハンドチャック４３ｄ，４３ｄをホルダパレット
１０上の第１番目のホルダ１１の位置まで移動する。次
に、把持手段４３が、ロッド４３ｂ，４３ｂを繰り出し
、図２に示したように、ハンドチャック４３ｄ，４３ｄ
で第１番目のホルダ１１を把持する。

【００４４】次いで、把持手段４３は、ロッド４３ｂ，
４３ｂを取り込んで把持したホルダ１１を引き上げる。 かかる作動と並行して、移動手段４２及び駆動ベルト４
４により、把持手段４３に把持されたホルダ１１を端末
処理装置２０へ搬送し、保持部２１０の可動テーブル２
１２上の固定手段２１５にホルダ１１を置く。端末処理
装置２０では、固定手段２１５及び把持手段２１６が作
動し、ホルダ１１を固定すると共に、ホルダ１１の後部
に延出している光ファイバ３を強固に把持する。

【００４５】このとき、把持手段２１６が作動して把持
シリンダ２１６ａのロッドが繰り出されるのに伴い、図
６において、Ｌ形アーム２１７が、引張バネ２１８の引
張力により支持軸１７ａを中心として左方へ回動する。 これにより、ホルダ１１は、Ｌ形アーム２１７により後
部を押され、前部が可動テーブル２１２のストッパ２１
２ｂに当接し、適切な位置に位置決めされた状態で、固
定手段２１５により固定される。

【００４６】次に、駆動モータ２１４が作動し、ネジ軸
２１３が回転して可動テーブル２１２を前方の被覆除去
部２２０に隣接する所定位置まで移動させる。すると、
被覆除去部２２０では、図１３に示すように、駆動シリ
ンダ２２３，２２３が作動して駆動ロッド２２３ａ，２
２３ａを繰り出し、剥離刃２２２ｂ，２２２ｂが、先端
から所定距離離れた部分で光ファイバ３を挾持する。

【００４７】次いで、保持部２１０の駆動モータ２１４
が逆転し、可動テーブル２１２を所定距離後退させて被
覆３ｂの除去処理が行われ、図１４に示すように、光フ
ァイバ３から、先端に被覆３ｂを所定長さ残して、可動
テーブル２１２の後退量に相当する長さだけ被覆３ｂが
除去される。この状態において、光ファイバ３は、図１
５に示すように、端末側に複数の光ファイバ素線３ａが
所定長さ露出した状態にあり、以下この状態をセミスト
リップの状態と呼ぶ。

【００４８】このように、光ファイバ３をセミストリッ
プの状態にすると、端末全体の被覆３ｂを除去した場合
に比べ、露出した複数の光ファイバ素線３ａがバラけず
、複数の光ファイバ素線３ａを平行に矯正する等の必要
がなくなり、引き続くクリーニング処理や切断処理をス
ムースに実行することができる。かくして光ファイバ３
をセミストリップの状態に処理した後、クリーニング部
２３０が作動を開始し、昇降シリンダ２３４により昇降
板２３２が、図１６に示すように上昇され、図示しない
スプレー装置から、各挾持シリンダ２３６の近傍に位置
する各払拭布ＣＢ　にアルコールが塗布される。次いで
、各挾持シリンダ２３６のシリンダロッドが繰り出され
、光ファイバ３が図１７に示すように、複数の光ファイ
バ素線３ａが払拭布ＣＢ　を介して挾持される。

【００４９】しかる後、押動シリンダ２３３が作動し、
図１８に矢印で示すように、スライドテーブル２３１が
被覆除去部２２０側へ前進して、複数の光ファイバ素線
３ａがアルコールを含んだ払拭布ＣＢ　によって払拭さ
れ、表面に付着している汚れ、塵あるいはシリコンオイ
ル等が除去される。複数の光ファイバ素線３ａの払拭が
終了すると、各挾持シリンダ２３６のシリンダロッドが
引っ込み、複数の光ファイバ素線３ａの挾持が解除され
、クリーニング部２３０は、図１６に示す払拭前の状態
に復帰する。

【００５０】次いで、押動シリンダ２３３が逆作動して
スライドテーブル２３１を後退させると共に、回動モー
タ２３８により平歯車２３７，２３７を回転させ、各巻
取ドラム２３５から払拭布ＣＢ　を所定量巻出させる。 これにより、各払拭布ＣＢ　は、払拭によって汚れた部
分が下方へ移動し、光ファイバ素線３ａが常に清潔な払
拭布ＣＢ　で払拭される状態になる。また、このような
払拭により汚損した各払拭布ＣＢ　は、スライドテーブ
ル２３１の開口２３１ｂから連続的に排出される。

【００５１】そして、かかる払拭操作が２〜３回繰り返
され、複数の光ファイバ素線３ａのクリーニング処理が
終了すると、昇降シリンダ２３４が逆作動し、図１９に
示すように、昇降板２３２を下降させて、クリーニング
部２３０におけるクリーニング処理に伴う全ての作動が
終了する。次に、切断部２４０が作動を開始し、昇降シ
リンダ２４６が、支持板４１を図１９に示す位置から図
２０に示す位置まで下降させる。このとき、光ファイバ
３と切断部２４０の各構成部材とを上方から見た位置関
係を図２１に示す。

【００５２】次いで、図２２に示すように、把持部材２
４２，２４３が作動し、複数の光ファイバ素線３ａを２
点で把持すると共に、被覆除去部２２０の各駆動シリン
ダ２２３が逆作動して駆動ロッド２２３ａを引き込み、
剥離刃２２２ｂ，２２２ｂによる光ファイバ３の挾持が
開放される。この状態における、切断部２４０を正面か
ら見た図を図２３に示す。

【００５３】しかる後、図２４に示すように、ロータリ
ーカッタ２４４が降下し、複数の光ファイバ素線３ａの
各々は、軸線に直交する一定の位置に切断用のキズが付
けられる。次に、図２５に示すように、プッシュシリン
ダ２４５ａが作動し、把持部材２４２，２４３により２
点間を把持された複数の光ファイバ素線３ａは、プッシ
ュアーム２４５で切断用のキズが付けられた部分を押圧
されて切断され、所定長さに切り揃えられる。

【００５４】次いで、図２６に示すように、プッシュシ
リンダ２４２ａ，２４３ａが逆作動して把持部材２４２
，２４３による光ファイバ素線３ａの２点把持が開放さ
れると共に、プッシュシリンダ２４５ａが逆作動してプ
ッシュアーム２４５が後退する。このとき、切断によっ
て生じた光ファイバ３先端側の光ファイバ屑は、下方の
屑箱２２４内へと落下する。

【００５５】しかる後、ロータリーカッタ２４４が初期
位置に復帰すると共に、昇降シリンダ２４６により支持
板２４１が押上げられ、切断部２４０における切断処理
が終了する。以上のようにして複数の光ファイバ素線３
ａを所定長さに切り揃える切断処理が終了すると、レー
ザセンサ２２，２２により複数の光ファイバ素線３ａの
端末処理状態の良否が検査される。即ち、図２７に示す
ように、駆動モータ２１４が作動して可動テーブル２１
２を所定距離前進させ、図中２点鎖線で示すレーザ光の
光路ＬＰ　に切断処理された複数の光ファイバ素線３ａ
の先端を挿通し、受光側のレーザセンサ２２における受
光量から切断状態の良否を判定し、検査が終了すると駆
動モータ２１４が作動して、図２８に示すように、可動
テーブル２１２を初期位置に復帰させる。

【００５６】かかる検査の結果、端末処理が良好に行わ
れている場合、搬送装置４０のハンドチャック４３ｄ，
４３ｄは、この光ファイバ３を保持しているホルダ１１
を把持し、次の突合せ接続装置３０へと搬送する。一方
、端末処理が不良の場合、搬送装置４０はこの光ファイ
バ３を保持しているホルダ１１を、後述する掴み替装置
５０へと搬送する。

【００５７】搬送装置４０によって突合せ接続装置３０
に搬送されたホルダ１１は、ハンドチャック４３ｄ，４
３ｄによって装着台３３０の装着部ＨＭ　に装着される
。 すると、先ず、駆動モータ３４１が作動し、支持テーブ
ル３４０が所定位置まで上昇される。この上昇位置は、
装着部ＨＭ　に装着されたホルダ１１から延出している
複数の光ファイバ素線３ａが、突合せ部材３１０の複数
のＶ溝３１１に対応する高さ位置で、複数の光ファイバ
素線３ａを図示しない位置センサによりモニタして決定
される。

【００５８】次いで、駆動モータ３４４が作動し、各光
ファイバ素線３ａが各Ｖ溝３１１に対応する位置に来る
まで、可動台３３が突合せ部材３１０側へ所定距離だけ
前方へ移動させられる。次に、回動規制手段３８０が作
動し、駆動モータ３８４により押動部材３８２が後退さ
せられ、装着台３３０がコイルスプリング３３３の付勢
力により、図８に２点鎖線で示す位置まで回動する。こ
れにより、ホルダ１１から延出している光ファイバ３は
、先端に露出している複数の光ファイバ素線３ａの夫々
が、突合せ部材３１０の各Ｖ溝３１１に先端を当接させ
つつ押付けられ、各Ｖ溝３１１内で適度に撓む。

【００５９】しかる後、移動規制手段３７０が作動し、
駆動モータ３７１によりカム板３７２が回転され、突合
せステージ３５０がぜんまいばね３６０の付勢力によっ
て前進する。これにより、各Ｖ溝３１１内で適度に撓ん
でいる各光ファイバ素線３ａは、光源及びＯＴＤＲ側に
接続されている前記測定ファイバの各光ファイバ素線と
一時的に突合せ接続され、ＯＴＤＲによる各光ファイバ
素線３ａの光学的測定が行われる。このとき、光ファイ
バ３及び前記測定ファイバの各光ファイバ素線は、各Ｖ
溝３１１内で撓んでいるため、各光ファイバ素線の長さ
に僅かな相違があっても、突合される光ファイバ素線相
互は適切に接続され、光学的測定を行う上で不都合を生
ずることはない。

【００６０】このようにして、光ファイバ３の光学的測
定が終了すると、上記と逆の作動により、装着台３３０
が元の位置まで復帰させられる。しかる後、装着台３３
０の装着部ＨＭ　に装着されたホルダ１１は、搬送装置
４０のハンドチャック４３ｄ，４３ｄで把持されてホル
ダパレット１０の元の位置に戻され、ホルダパレット１
０上の第１番目のホルダ１１の測定が終了する。

【００６１】次いで、搬送装置４０は、ホルダパレット
１０に配列された第２，第３のホルダ１１を把持して、
順次、端末処理装置２０及び突合せ接続装置３０へと搬
送してゆく。一方、端末処理装置２０における端末処理
が不良の場合、ホルダ１１は、搬送装置４０により掴み
替装置５０に搬送され、ホルダ１１に保持された光ファ
イバ３は、再度、端末処理前の状態に切り戻される。

【００６２】即ち、ホルダ１１は、搬送装置４０によっ
て端末処理装置２０から掴み替装置５０に搬送され、図
１１に示すように、装着部５２に装着される。すると、
掴み替装置５０では、チャックシリンダ５３ｂ，５３ｂ
が作動し、ホルダ１１から延出している光ファイバ３の
先端側をチャック部５３の把持具５３ｄ，５３ｄで把持
する。

【００６３】次に、引出シリンダ５４が支持部材５３ａ
を、図１１の左方へ引っ張り、磁力による保持力に抗し
て、ホルダ３に保持されている光ファイバ３を所定長さ
引き出す。かかる光ファイバ３の引き出しは、検出セン
サ５６により確認される。次いで、切断部５５が作動し
、昇降シリンダ５５ａにより昇降板５５ｂが上昇され、
ファイバ押え５５ｃ，５５ｄ間に光ファイバ３が配置さ
れる。

【００６４】しかる後、カットシリンダ５５ｅによりカ
ッタ５５ｆがファイバ押え５５ｄと共に前進させられ、
ファイバ押え５５ｃ，５５ｄで光ファイバ３を把持する
と共に、カッタ５５ｆにより光ファイバ３が切断される
。このように、切断によって端末加工前の元の状態に切
り戻された光ファイバ３は、搬送装置４０により端末処
理装置２０及び突合せ接続装置３０に順次搬送され、前
記した端末処理及び光学的測定が行われた後、ホルダパ
レット１０の所定位置に戻される。

【００６５】従って、自動測定装置１は、掴み替装置５
０を設けたことにより、光ファイバ３の端末処理が不良
な場合であっても、この光ファイバ３を処理して再使用
することができるという利点がある。次に、測定システ
ムとしてパワーメータを用い、カットバック法により光
ファイバ３の光学的測定を行う自動測定装置の他の実施
例を、図２９乃至図３３に基づいて説明する。

【００６６】尚、本実施例の自動測定装置は、前記した
自動測定装置１と同一の構成装置を有しているので、か
かる装置については図中同一の符号を付して詳細な説明
を省略する。また、測定システムとしてパワーメータを
用いたことから、突合せ接続装置３０の装着台３２０に
装着するホルダ１１は、一端がＬＥＤ、半導体レーザあ
るいはハロゲンランプ等の光源（図示せず）に接続され
た測定ファイバを保持し、測定ファイバの他端は突合せ
接続装置３０で光ファイバ３と突合せ接続される。

【００６７】自動測定装置６０は、第１構成部６１、第
２構成部６２及び第３構成部６３の３部から構成され、
一つの測定ユニットとして一体に組立てられている。第
１構成部６１は、光ファイバ３の一端を受光装置に突合
せる部分で、図２９及び図３０に示すように、ベース６
０ａ上に設置され、ホルダパレット１０、端末処理装置
２０、突合せ接続装置３０、搬送装置４０、掴み替装置
５０、受光装置７０及び押上手段８０を備えている。

【００６８】ここで、ホルダパレット１０には、前記実
施例に比べてホルダ１１が密に配列され、図３０に示す
ように、パレット１０はベース６０ａの設置ハウジング
６０ｂ上に載置されている。受光装置７０は、パワーメ
ータ等が使用される。また、突合せ接続装置３０は、カ
ットバック法によって光ファイバ３を測定する場合のみ
ならず、ＯＴＤＲによって光ファイバ３の光学的測定を
行う場合を考慮して設置したものであり、本実施例にお
いては使用しない。

【００６９】押上手段８０は、ホルダパレット１０に密
に配列されたホルダ１１の、搬送装置４０による把持を
考慮して、配列されたホルダ１１を順次押上げるもので
、設置ハウジング６０ｂ内に設けられている。押上手段
８０は、図示のように、ベース６０ａにスライダ８０ａ
を介して配置されたスライドテーブル８１、このテーブ
ル８１上に設けられるプッシャ８２及びプッシャ８２を
駆動する押上シリンダ８３を有している。

【００７０】スライドテーブル８１は、図示しないモー
タとプーリとの間に巻掛けられた駆動ベルト８４が一側
に固定されており、この駆動ベルト８４によりベース６
０ａの長手方向に沿ってスライドされ、ホルダパレット
１０に配列された各ホルダ１１の位置へ押上手段８０を
搬送する。プッシャ８２は、ホルダパレット１０に配列
した各ホルダ１１を、設置ハウジング６０ｂの天板に形
成した開口から押上げる。

【００７１】第２構成部６２は、第１構成部６１と隣接
して配置され、受光装置７０に突合せ接続された光ファ
イバ３の他端側近傍を切断し、前記測定ファイバと突合
せ接続される残余の光ファイバ３を他の受光装置７０に
突合せ接続してカットバックする部分である。第２構成
部６２は、図３１及び図３２に示すように、ホルダパレ
ット１０、端末処理装置２０、搬送装置４０、掴み替装
置５０、受光装置７０及び押上・切断機構９０を備えて
おり、端末処理装置２０、掴み替装置５０及び受光装置
７０はベース６０ａ上に設けた設置台６０ｃ上に配置さ
れ、搬送装置４０は第２構成部６２と第３構成部６３と
を上下に区画する隔壁６４の下面に設けられている。

【００７２】ホルダパレット１０は、第１構成部６１の
場合と同様に、測定する光ファイバ３のカットバックに
伴う切断部近傍を保持するホルダ１１が多数配列されて
おり、パレット１０は設置ハウジング６０ｄ上に載置さ
れている。押上・切断機構９０は、図３２に示すように
、設置ハウジング６０ｄ内に収容され、ハウジング６０
ｄの底壁にスライダ９０ａを介して配置されたスライド
テーブル９１、スライドテーブル９１上に設けられる光
ファイバ３の切断手段９２及び押上手段９３を有してい
る。

【００７３】スライドテーブル９１は、モータに巻掛け
て駆動される駆動ベルト９４が一側に固定されており、
この駆動ベルト９４によりベース６０ａの長手方向に沿
ってスライドされ、ホルダパレット１０上に配列された
各ホルダ１１の位置へ切断手段９２及び押上手段９３を
搬送する。切断手段９２は、スライドテーブル９１上の
一側に配置され、Ｖ溝を有するＶブロック９２ａ、この
Ｖブロック９２ａに回動自在に取付けられるカッタ９２
ｂ及び昇降シリンダ９２ｃを有している。この切断手段
９２は、シリンダ９２ｃによりＶブロック９２ａをカッ
タ９２ｂと共に上昇させて、前記Ｖ溝内にホルダ１１に
保持された光ファイバ３を配置し、カッタ９２ｂをＶブ
ロック９２ａに対して回動させることで、光ファイバ３
を剪断的に切断する。

【００７４】押上手段９３は、スライドテーブル９１に
切断手段９２と隣接して配置され、プッシャ９３ａと、
このプッシャ９３ａを駆動する押上シリンダ９３ｂを有
しており、プッシャ９３ａは、設置ハウジング６０ｄに
形成した開口を通してホルダパレット１０に配列した各
ホルダ１１を押上げる。第３構成部６３は、図３２及び
図３３に示すように、端末処理装置２０、突合せ接続装
置３０、搬送装置４０、掴み替装置５０及び押上手段８
５を備えており、端末処理装置２０、突合せ接続装置３
０及び掴み替装置５０は、第２構成部６２との間を仕切
る隔壁６４上に配置され、搬送装置４０は天板６５の下
面に設けられている。

【００７５】ここで、ホルダパレット１０は、隔壁６４
上に設けた設置ハウジング６０ｅ上に載置され、配列さ
れた各ホルダ１１は、押上手段８５によって設置ハウジ
ング６０ｅ内から押上げられる。また、突合せ接続装置
３０は、光ファイバ３の他端を前記測定ファイバに突合
せ接続する。

【００７６】押上手段８５は、図示のように、第２構成
部６２のスライドテーブル４１に設置され、隔壁６４に
形成した開口６４ａを通ってハウジング６０ｅ内に突出
する押上シリンダ８６、このシリンダ８６から繰り出さ
れるロッド８６ａの先端に取付けられたプッシャ８７を
有している。したがって、押上手段８５は、第２構成部
６２において押上・切断機構９０がホルダパレット１０
に配列された各ホルダ１１を押上げるのと同じ順序で、
第３構成部６３においてホルダパレット１０に配列され
た各ホルダ１１を押上げる。

【００７７】自動測定装置６０は、以上のように構成さ
れており各構成部６１〜６３がシーケンシャルに作動し
て各ホルダ１１に把持された光ファイバ３がハンドリン
グされて、光ファイバ３の光学的測定が実行される。先
ず、第１構成部６１では、ホルダパレット１０に配列さ
れた各ホルダ１１を搬送装置４０によって順次把持し、
端末処理装置２０によりホルダ１１に保持された光ファ
イバ３の一端を端末処理し、ホルダ１１に保持された光
ファイバ３の一端を受光装置７０に突合せる。

【００７８】第３構成部６３では、ホルダパレット１０
に配列された各ホルダ１１を搬送装置４０によって順次
把持し、端末処理装置２０によりホルダ１１に保持され
た光ファイバ３の他端を端末処理した後、突合せ接続装
置３０の装着台３３０に搬送し、装着部ＨＭ　にそのホ
ルダ１１を装着して、ホルダ１１に把持された光ファイ
バ３の他端を前記測定ファイバに突合せ接続する。これ
により、光ファイバ３は、一端が受光装置７０に、他端
が測定ファイバを介して前記光源に、夫々光接続され、
前記光源から伝送されてくる測定光を受光装置７０で測
定することにより光ファイバ３の全長における光学的測
定が実行される。

【００７９】第２構成部６２では、このようにして光学
的測定が実行された光ファイバ３を切断し、前記測定フ
ァイバ側に残った光ファイバ３の端部を端末処理装置２
０で端末処理した後、受光装置７０に突合せる（カット
バック）。このカットバック状態における前記測定ファ
イバ及び光ファイバ３の光学的測定が、受光装置７０に
よって行われ、前記した光ファイバ３が全長の場合にお
ける測定結果と、このカットバック状態における測定結
果とに基づいて、光ファイバ３自体の伝送損失が決定さ
れる。

【００８０】尚、本実施例においては、光ファイバ３の
光学的測定をカットバック法によって測定したが、ＯＴ
ＤＲによってバックスキャタリングを測定して、光ファ
イバ３の伝送損失を測定することも可能である。また、
上記両実施例は、光ファイバが多心ファイバ（テープフ
ァイバ）の場合について説明したが、単心の光ファイバ
であっても使用可能なことは言うまでもない。

【００８１】

【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明の
光ファイバの自動測定装置によれば、測定対象の光ファ
イバを保持したホルダを、予めホルダ配列部に複数まと
めてセットしておくだけで、光ファイバの端末処理、測
定システムへの接続及び光学的測定の各作業を、人手を
煩わせることなく、並行、且つ、連続して自動的に実行
することができ、作業時間を飛躍的に短縮すると共に、
処理作業に要する人手を大幅に削減することができると
いう優れた効果を奏する。

【００８２】また、端末処理装置は、光ファイバの先端
側を延出させて保持する光ファイバ保持部、光ファイバ
から先端側の被覆を所望長さ除去する除去処理を行う被
覆除去部、被覆除去部における被覆除去により露出した
光ファイバ素線をクリーニング処理するクリーニング部
、クリーニング部でクリーニング処理された光ファイバ
素線を所定長さに切り揃える切断処理を行う切断部とを
備え、被覆の除去、クリーニング及び切断の各処理を行
う構成としたため、端末処理に伴う作業が１ヵ所で行わ
れ、装置の小型化や作業時間の短縮に有効である。

【００８３】更に、接続装置は、少なくとも光ファイバ
及び測定ファイバの光ファイバ素線相互を突合せ接続す
る溝を有する突合せ部材と、該突合せ部材の両側に回動
自在に配置され、前記光ファイバ及び測定ファイバを夫
々保持したホルダを装着して一方が前記突合せ部材に離
接自在な一組の装着台とを備え、前記突合せ部材の溝内
で前記両ファイバの各光ファイバ素線相互を突合せ接続
する構成としたので、光ファイバ相互の一時的な突合せ
接続を簡単、且つ、迅速に行うことができるという利点
がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光ファイバの自動測定装置の一実施例
を示すもので、自動測定装置の平面図である。

【図２】図１のＩＩ−ＩＩ断面図である。

【図３】測定対象の光ファイバの端末処理前の状態を示
す斜視図である。

【図４】図１に示す自動測定装置を構成する端末処理装
置を左側から見た部分断面側面図である。

【図５】図４に示す端末処理装置の部分断面正面図であ
る。

【図６】図４に示す端末処理装置の平面図である。

【図７】図５のＶＩＩ−ＶＩＩ矢視図である。

【図８】突合せ接続装置の平面図である。

【図９】図８のＩＸ−ＩＸ断面図である。

【図１０】図９のＸ−Ｘ断面図である。

【図１１】図１に示す自動測定装置を構成する掴み替装
置の平面図である。

【図１２】図１１に示す掴み替装置の正面図である。

【図１３】図４に示す端末処理装置の保持部に保持され
た光ファイバの先端側を被覆除去部で挾持した状態を示
す要部拡大図である。

【図１４】先端に被覆を残し、被覆除去部と保持部との
協動により光ファイバの被覆を除去処理してセミストリ
ップ状態としたときにおける端末処理装置の要部拡大図
である。

【図１５】図１４のセミストリップ状態における光ファ
イバを示す斜視図である。

【図１６】クリーニング部を上昇させて作動状態とした
端末処理装置の部分断面正面図である。

【図１７】クリーニング部において複数の光ファイバ素
線を挾持シリンダで挾持した状態を示す拡大正面図であ
る。

【図１８】図１７に示す状態において、複数の光ファイ
バ素線を払拭布で払拭してクリーニング処理したときの
端末処理装置の部分断面側面図である。

【図１９】払拭による複数の光ファイバ素線のクリーニ
ング処理が終了し、クリーニング部が下降した状態の部
分断面側面図である。

【図２０】切断部が下降して作動状態にある端末処理装
置の要部拡大側面図である。

【図２１】図２０の平面図である。

【図２２】光ファイバの剥離手段により挾持が解かれ、
光ファイバ素線が把持部材により把持された状態を示す
拡大平面図である。

【図２３】図２２の切断部を正面から見た拡大正面図で
ある。

【図２４】図２３の状態においてロータリーカッタを下
降させ、複数の光ファイバ素線に切断用のキズを付けた
状態を示す拡大正面図である。

【図２５】切断用のキズを付けた複数の光ファイバ素線
を所定長さに切り揃える切断処理において、切断部の要
部を拡大した拡大平面図である。

【図２６】複数の光ファイバ素線の切断処理が終了し、
把持部材による光ファイバ素線の把持が解かれた状態を
示す、平面図である。

【図２７】端末が所定長さに切り揃えられた複数の光フ
ァイバ素線において、切断状態の良否の検査を示す、端
末処理装置の平面図である。

【図２８】複数の光ファイバ素線の切断処理が終了し、
保持部の可動テーブルが初期位置に復帰した状態を示す
端末処理装置の平面図である。

【図２９】本発明の光ファイバの自動測定装置の他の実
施例を示し、自動測定装置を構成する第１構成部の平面
図である。

【図３０】図２９に示す第１構成部を幅方向に切断した
断面正面図である。

【図３１】自動測定装置を構成する第２構成部の平面図
である。

【図３２】自動測定装置を構成する第２構成部及び第３
構成部を示す、幅方向に切断した断面正面図である。

【図３３】自動測定装置を構成する第３構成部の平面図
である。

【符号の説明】

１　　　　　　　　光ファイバの自動測定装置３　　　
　　　　　光ファイバ ３ａ　　　　　　光ファイバ素線 ３ｂ　　　　　　被覆 １０　　　　　　ホルダパレット（ホルダ配列部）１１
　　　　　　ホルダ ２０　　　　　　端末処理装置 ２１０　　　　光ファイバ保持部 ２２０　　　　被覆除去部 ２３０　　　　クリーニング部 ２４０　　　　切断部 ３０　　　　　　突合せ接続装置 ３１０　　　　突合せ部材 ３１１　　　　Ｖ溝 ３２０　　　　装着台 ３３０　　　　装着台 ４０　　　　　　搬送装置 ６０　　　　　　光ファイバの自動測定装置６１　　　
　　　第１構成部 ６２　　　　　　第２構成部 ６３　　　　　　第３構成部 ７０　　　　　　受光装置 ８０　　　　　　押上手段 ８５　　　　　　押上手段 ９０　　　　　　押上・切断機構

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　光ファイバ素線に被覆が施され、光学
   的測定が行われる光ファイバを保持したホルダが複数配
   列されたホルダ配列部、前記各ホルダに保持された前記
   光ファイバの端末を処理する端末処理装置、端末処理さ
   れた前記光ファイバを、光ファイバ素線に被覆が施され
   た測定ファイバを介して光源に接続し、該光源から伝送
   されてくる光を光学測定手段で測定することにより前記
   光ファイバの光学的測定を行う接続装置、及び前記ホル
   ダ配列部に配列されたホルダを、前記端末処理装置から
   接続装置へ順次搬送する搬送装置を備え、光ファイバの
   端末処理から光学的測定までの一連の操作を自動的に行
   うことを特徴とする光ファイバの自動測定装置。
2. 【請求項２】　　前記端末処理装置は、前記光ファイバ
   の先端側を延出させて保持する光ファイバ保持部、前記
   光ファイバから先端側の被覆を所望長さ除去する除去処
   理を行う被覆除去部、該被覆除去部における被覆除去に
   より露出した光ファイバ素線をクリーニング処理するク
   リーニング部、該クリーニング部でクリーニング処理さ
   れた前記光ファイバ素線を所定長さに切り揃える切断処
   理を行う切断部とを備え、前記被覆の除去、クリーニン
   グ及び切断の各処理を行う、請求項１記載の光ファイバ
   の自動測定装置。
3. 【請求項３】　　前記接続装置は、少なくとも光ファイ
   バ及び測定ファイバの光ファイバ素線相互を突合せ接続
   する溝を有する突合せ部材と、該突合せ部材の両側に回
   動自在に配置され、前記光ファイバ及び測定ファイバを
   夫々保持したホルダを装着して一方が前記突合せ部材に
   離接自在な一組の装着台とを備え、前記突合せ部材の溝
   内で前記両ファイバの各光ファイバ素線相互を突合せ接
   続する、請求項１記載の光ファイバの自動測定装置。