JP2003515143A - 光ファイバの試験および測定の自動化のための方法および装置 - Google Patents
光ファイバの試験および測定の自動化のための方法および装置Info
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
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- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】
光ファイバの試験を自動化するための方法および装置が記載されている。本発明の一つの態様によれば、パレット上の光ファイバを巻回したスプールをテストステーションからテストステーションへ移動させる自動化されたコンベアを含む。本発明の他の態様によれば、単一のスプールが特別な構成を有するパレットに載置される。本発明の別の態様によれば、上記スプールが装置に到達すると、その装置はファイバの両端末に対し自動的に被覆を剥ぎ取り、クリーニングし、かつ割断する。次にファイバの両端末は、所定の試験を施されるために適当な位置に自動的に介入される。本発明の別の態様によれば、装置が所要の長さのサンプルを自動的に取得し、かつサンプルの両端に対し自動的に被覆を剥ぎ取り、クリーニングし、かつ割断する。次にこの所要の長さのサンプルは所定の第２の試験を施されるために適当な位置に自動的に介入される。
Description
【０００１】
発明の分野
本発明は、光ファイバの製造における改良に関する。本発明は、特にスプール
に巻回された光ファイバの試験および測定を自動化するための方法および装置に
関するものである。
に巻回された光ファイバの試験および測定を自動化するための方法および装置に
関するものである。
【０００２】
発明の背景
現在の光ファイバの製造工程において、光ファイバは、測定および試験、顧客
への出荷ならびにその後での顧客の設備における処理のために、一般にスプール
に巻回される。光ファイバの試験および測定は現在、多くのスプールを積んだカ
ートがテストステーションからテストステーションへ人力によって移動せしめら
れる態様で、多くの作業者達の手によって行なわれている。テストステーション
において作業者は、スプールをカートから降ろし、このスプールを測定ラックに
乗せる。次に作業者は、光ファイバの両端からプラスチック製ファイバ被覆を剥
ぎ取り、余分の被覆および残留屑を拭き取る。ファイバの両端は作業者によって
クリーヴァ（ｃｌｅａｖｅｒ）で処理され切断される。次に作業者はファイバの
両端をコンピュータ制御の測定システムに装填し、光ファイバの少なくとも一つ
の特性、例えばファイバの遮断周波数、減衰、ファイバカール、クラッドの外径
、または被覆の外径を試験する測定シーケンスを開始する。次にファイバは試験
システムから取り外され、スプールはカートに戻される。カート上のスプールの
全数または選択されたスプールのみが必要に応じて試験される。次にカートは、
次の一連の試験のために次のテストステーションへ移動せしめられる。多大の肉
体労働を必要とするために、高い労働コストを必要とし、光ファイバの製造コス
トを上昇させることになる。
への出荷ならびにその後での顧客の設備における処理のために、一般にスプール
に巻回される。光ファイバの試験および測定は現在、多くのスプールを積んだカ
ートがテストステーションからテストステーションへ人力によって移動せしめら
れる態様で、多くの作業者達の手によって行なわれている。テストステーション
において作業者は、スプールをカートから降ろし、このスプールを測定ラックに
乗せる。次に作業者は、光ファイバの両端からプラスチック製ファイバ被覆を剥
ぎ取り、余分の被覆および残留屑を拭き取る。ファイバの両端は作業者によって
クリーヴァ（ｃｌｅａｖｅｒ）で処理され切断される。次に作業者はファイバの
両端をコンピュータ制御の測定システムに装填し、光ファイバの少なくとも一つ
の特性、例えばファイバの遮断周波数、減衰、ファイバカール、クラッドの外径
、または被覆の外径を試験する測定シーケンスを開始する。次にファイバは試験
システムから取り外され、スプールはカートに戻される。カート上のスプールの
全数または選択されたスプールのみが必要に応じて試験される。次にカートは、
次の一連の試験のために次のテストステーションへ移動せしめられる。多大の肉
体労働を必要とするために、高い労働コストを必要とし、光ファイバの製造コス
トを上昇させることになる。
【０００３】
したがって、光ファイバの測定および試験の手作業工程を自動化すれば、測定
および試験に必要な時間を短縮し、光ファイバの製造コストを低減し、製造工程
に対し、より速やかなフィードバックを提供する点で大きな利益となるであろう
。さらに、人為ミスの発生機会を低減し、再現可能な工程を提供する、光ファイ
バの自動化された試験のための方法および装置を提供することは、大きな効果を
生むはずである。
および試験に必要な時間を短縮し、光ファイバの製造コストを低減し、製造工程
に対し、より速やかなフィードバックを提供する点で大きな利益となるであろう
。さらに、人為ミスの発生機会を低減し、再現可能な工程を提供する、光ファイ
バの自動化された試験のための方法および装置を提供することは、大きな効果を
生むはずである。
【０００４】
発明の概要
本発明は、光ファイバの試験を自動化するための優れた方法および装置を提供
するものである。本発明は、パレット上の光ファイバを巻回したスプールをテス
トステーションからテストステーションへ移動させる自動化されたコンベアを含
む。本発明の一つの態様によれば、単一のスプールが、後述するような数々の優
れた特徴を備えた、特別な構成を有するパレットに載置される。本発明の別の態
様によれば、上記スプールが装置に到達すると、その装置はファイバの両端末の
被覆を自動的に剥ぎ取り、クリーニングし、かつ割断する。次にファイバの両端
末は、所定の試験を実施するために適当な位置に自動的に介入される。本発明の
別の態様によれば、装置が所要の長さのサンプルを自動的に取得し、かつサンプ
ルの両端の被覆を自動的に剥ぎ取り、クリーニングし、かつ割断する。次にこの
所要の長さのサンプルは所定の第２の試験を実施するために適当な位置に自動的
に介入される。
するものである。本発明は、パレット上の光ファイバを巻回したスプールをテス
トステーションからテストステーションへ移動させる自動化されたコンベアを含
む。本発明の一つの態様によれば、単一のスプールが、後述するような数々の優
れた特徴を備えた、特別な構成を有するパレットに載置される。本発明の別の態
様によれば、上記スプールが装置に到達すると、その装置はファイバの両端末の
被覆を自動的に剥ぎ取り、クリーニングし、かつ割断する。次にファイバの両端
末は、所定の試験を実施するために適当な位置に自動的に介入される。本発明の
別の態様によれば、装置が所要の長さのサンプルを自動的に取得し、かつサンプ
ルの両端の被覆を自動的に剥ぎ取り、クリーニングし、かつ割断する。次にこの
所要の長さのサンプルは所定の第２の試験を実施するために適当な位置に自動的
に介入される。
【０００５】
本発明のこれらおよびその他の特徴、態様および利点は、添付の図面を参照し
た後述の詳細な説明から。当業者には明らかとなるであろう。
た後述の詳細な説明から。当業者には明らかとなるであろう。
【０００６】
実施の形態
ここに本発明が、いくつかの好ましい実施の形態を示す図面を参照して、より
詳細に記述されている。しかしながら、本発明は、種々の実施の形態を採り得る
ものであり、ここに示された実施例の構成に限定されるべきものではない。むし
ろこれらの代表的な実施の形態は、この明細書を周到かつ完全にして本発明の意
図、構成、動作、機能性、および応用能力を当業者に伝えんがために詳細に記載
されている。
詳細に記述されている。しかしながら、本発明は、種々の実施の形態を採り得る
ものであり、ここに示された実施例の構成に限定されるべきものではない。むし
ろこれらの代表的な実施の形態は、この明細書を周到かつ完全にして本発明の意
図、構成、動作、機能性、および応用能力を当業者に伝えんがために詳細に記載
されている。
【０００７】
図面を参照すると、図１は本発明に使用するのに有利なスプール１０の平面図
を示す。このスプール１０は、外部フランジ１６によって互いに隔離された主バ
レル１４とリードメーターバレル１５とを備えている。製造工程において長尺の
光ファイバ１２が主バレル１４およびリードメーターバレル１５上に巻回される
。好ましい実施の形態において、スプール１０には、例えば長さ２５ｋｍの光フ
ァイバが主バレル１４上に巻回された「シングル」スプール、または、長さ５０
ｋｍの光ファイバが主バレル１４上に巻回された「ダブル」スプールとがある。
長さの短い光ファイバ１２がリードメーターバレル１５上にすでに巻回されてい
る。外側フランジ１６は、リードメーターバレル１５と主バレル１４との間の通
路を提供するスロット１７を備えている。図１の平面図に見られるように、光フ
ァイバ１２の外側端末１２ａは主バレル１４の下側から延出し、内側端末１２ｂ
はリードメーターバレル１５の下側から延出している。光ファイバ１２はまた、
一般にプラスチック被覆１３を備えている。本発明に使用するための好ましいス
プール１０は、“System And Methods For Providing Under-Wrap Access To Op
tical Fiber Woud Onto Spools”と題して、１９９９年１月１２日付けで出願さ
れた米国特許出願第 ６０／１１５,５４０号に記載されており、その全文がここ
に引例として組み入れられる。
を示す。このスプール１０は、外部フランジ１６によって互いに隔離された主バ
レル１４とリードメーターバレル１５とを備えている。製造工程において長尺の
光ファイバ１２が主バレル１４およびリードメーターバレル１５上に巻回される
。好ましい実施の形態において、スプール１０には、例えば長さ２５ｋｍの光フ
ァイバが主バレル１４上に巻回された「シングル」スプール、または、長さ５０
ｋｍの光ファイバが主バレル１４上に巻回された「ダブル」スプールとがある。
長さの短い光ファイバ１２がリードメーターバレル１５上にすでに巻回されてい
る。外側フランジ１６は、リードメーターバレル１５と主バレル１４との間の通
路を提供するスロット１７を備えている。図１の平面図に見られるように、光フ
ァイバ１２の外側端末１２ａは主バレル１４の下側から延出し、内側端末１２ｂ
はリードメーターバレル１５の下側から延出している。光ファイバ１２はまた、
一般にプラスチック被覆１３を備えている。本発明に使用するための好ましいス
プール１０は、“System And Methods For Providing Under-Wrap Access To Op
tical Fiber Woud Onto Spools”と題して、１９９９年１月１２日付けで出願さ
れた米国特許出願第 ６０／１１５,５４０号に記載されており、その全文がここ
に引例として組み入れられる。
【０００８】
図２は、本発明の第１の実施の形態によるパレット５０の斜視図を示す。この
パレット５０は、後述する自動化されたファイバ測定システム１００の試験装置
にファイバ端末１２ａおよび１２ｂが接続可能なように光ファイバ１２のスプー
ル１０を載置するのに適している。パレット５０は、スプール１０を載置するの
に適した基台５４上に取り付けられたローラーアセンブリ５２を備えている。ロ
ーラーアセンブリ５２は、一対のローラ５６と、一対の基板５８とを備えている
。また、基台５４上には、垂直ブラケット６０，６２と、直立ガイドローラ６４
も取り付けられている。図３Ａおよび３Ｃに示されているように、基台５４上に
はガイドバー６６が取り付けられている。フィードフィンガーアセンブリ６８、
ピックオフアセンブリ７０、およびクラッチアセンブリ７１が垂直ブラケット６
０上に回転可能に取り付けられている。ピックオフアセンブリ７０には、輪７４
を備えたファイバガイド７２が取り付けられている。フィードフィンガーアセン
ブリ７６、ガイドローラ８０、および輪８３を備えたファイバガイド８１が垂直
ブラケット６２上に取り付けられている。図４から明らかなように、フィードフ
ィンガーアセンブリ６８の回転中心、ピックオフアセンブリ７０、および垂直ブ
ラケット６０を貫通して中心孔８４が延びている。
パレット５０は、後述する自動化されたファイバ測定システム１００の試験装置
にファイバ端末１２ａおよび１２ｂが接続可能なように光ファイバ１２のスプー
ル１０を載置するのに適している。パレット５０は、スプール１０を載置するの
に適した基台５４上に取り付けられたローラーアセンブリ５２を備えている。ロ
ーラーアセンブリ５２は、一対のローラ５６と、一対の基板５８とを備えている
。また、基台５４上には、垂直ブラケット６０，６２と、直立ガイドローラ６４
も取り付けられている。図３Ａおよび３Ｃに示されているように、基台５４上に
はガイドバー６６が取り付けられている。フィードフィンガーアセンブリ６８、
ピックオフアセンブリ７０、およびクラッチアセンブリ７１が垂直ブラケット６
０上に回転可能に取り付けられている。ピックオフアセンブリ７０には、輪７４
を備えたファイバガイド７２が取り付けられている。フィードフィンガーアセン
ブリ７６、ガイドローラ８０、および輪８３を備えたファイバガイド８１が垂直
ブラケット６２上に取り付けられている。図４から明らかなように、フィードフ
ィンガーアセンブリ６８の回転中心、ピックオフアセンブリ７０、および垂直ブ
ラケット６０を貫通して中心孔８４が延びている。
【０００９】
図３Ｄに示されているように、高周波（ＲＦ）識別タグ８２が垂直ブラケット
６０に貼られている。ＲＦタグ８２は、スプール１０の識別に加えて、そこに書
き込まれた情報を格納することができ、スプール１０がシステム１００を通過す
るときにスプール１０に関する履歴データベースを提供する。ＲＦタグ８２は、
個々のテストステーションに対し処理命令を提供し、かつ試験結果データを格納
する。各スプール１０がシステム１００の個々のテストステーションによって処
理されると、各試験の結果がＲＦタグ８２に書き込まれる。かくして、スプール
１０が適切なテストステーションのそれぞれによって処理されたときに、ＲＦタ
グ８２は、実施されたすべての試験の試験結果を格納することになる。さらに、
ＲＦタグ８２は、どのテストステーションがスプールを処理する必要があるかを
示す手順指令をも格納している。
６０に貼られている。ＲＦタグ８２は、スプール１０の識別に加えて、そこに書
き込まれた情報を格納することができ、スプール１０がシステム１００を通過す
るときにスプール１０に関する履歴データベースを提供する。ＲＦタグ８２は、
個々のテストステーションに対し処理命令を提供し、かつ試験結果データを格納
する。各スプール１０がシステム１００の個々のテストステーションによって処
理されると、各試験の結果がＲＦタグ８２に書き込まれる。かくして、スプール
１０が適切なテストステーションのそれぞれによって処理されたときに、ＲＦタ
グ８２は、実施されたすべての試験の試験結果を格納することになる。さらに、
ＲＦタグ８２は、どのテストステーションがスプールを処理する必要があるかを
示す手順指令をも格納している。
【００１０】
図４はスプール１０を載せるパレット５０の外観を示す。スプール１０をパレ
ット５０に装填するために、作業者はスプール１０をローラ５６上に手で乗せ、
かつ光ファイバの内側端末１２ｂをリードメーターバレル１５から輪７４、中心
孔８４、およびフィードフィンガーアセンブリ６８を通して、内側端末１２ｂが
フィードフィンガーアセンブリ６８から外部に延出するようにフィードする。
ット５０に装填するために、作業者はスプール１０をローラ５６上に手で乗せ、
かつ光ファイバの内側端末１２ｂをリードメーターバレル１５から輪７４、中心
孔８４、およびフィードフィンガーアセンブリ６８を通して、内側端末１２ｂが
フィードフィンガーアセンブリ６８から外部に延出するようにフィードする。
【００１１】
主バレル１４からの光ファイバの外側端末１２ａは、先ずガイドローラ６４の周
りからガイドローラ８０の上方にフィードされ、次に輪８３およびフィードフィ
ンガーアセンブリ７６を通して、外側端末１２ａがフィードフィンガーアセンブ
リ７６から外部に延出するようにフィードされる。かくして、図４に示されてい
るように、パレット５０は、自動化された試験装置および人手による試験装置の
双方に対して、光ファイバの両端１２ａ，１２ｂの便利なアクセス手段を提供す
る。
りからガイドローラ８０の上方にフィードされ、次に輪８３およびフィードフィ
ンガーアセンブリ７６を通して、外側端末１２ａがフィードフィンガーアセンブ
リ７６から外部に延出するようにフィードされる。かくして、図４に示されてい
るように、パレット５０は、自動化された試験装置および人手による試験装置の
双方に対して、光ファイバの両端１２ａ，１２ｂの便利なアクセス手段を提供す
る。
【００１２】
さらに、スプール１０およびパレット５０は、光ファイバ１２が、反対側の端
末に妨げられることなしに、光ファイバ１２が内側端末１２ｂから、または外側
端末１２ａから個別に、あるいは内側端末１２ｂおよび外側端末１２ａの双方か
ら同時にほどかれるのを可能にしている。このことは、自動化された試験装置お
よび人手による試験装置の双方において、内側端末１２ｂまたは外側端末１２ａ
のいずれからも、あるいは双方からも光ファイバのサンプルを容易に得ることを
可能にする。ファイバの両端末１２ａ，１２ｂはまた、テストステーションに対
し容易に接続され、引き出され、あるいは挿入されることができ、光ファイバが
スプール１０に巻回されている間に試験されるのを可能にする。
末に妨げられることなしに、光ファイバ１２が内側端末１２ｂから、または外側
端末１２ａから個別に、あるいは内側端末１２ｂおよび外側端末１２ａの双方か
ら同時にほどかれるのを可能にしている。このことは、自動化された試験装置お
よび人手による試験装置の双方において、内側端末１２ｂまたは外側端末１２ａ
のいずれからも、あるいは双方からも光ファイバのサンプルを容易に得ることを
可能にする。ファイバの両端末１２ａ，１２ｂはまた、テストステーションに対
し容易に接続され、引き出され、あるいは挿入されることができ、光ファイバが
スプール１０に巻回されている間に試験されるのを可能にする。
【００１３】
クラッチ機構７１は、スプール１０に接触するように付勢された少なくとも１
個の単一のホイール１５０を備えている。このクラッチ機構７１上のホイール１
５０は、ファイバをファイバ端１２ｂから引き出すことを可能にする一方向に、
この場合は矢印１５１で示された方向に回転する。光ファイバ１２が外側端末１
２ａからほどかれるのにつれて、スプール１０は反時計方向（図４の矢印８５に
示された方向）に回転し、光ファイバ１２を繰り出す。クラッチ機構７１上のホ
イール１５０は矢印１５１で示された方向とは反対の方向には回転しないために
、スプール１０の反時計方向の回転によって生じた力は、クラッチアセンブリ７
１全体、ピックオフアセンブリ７０、およびフィードフィンガーアセンブリ６８
を、フィードフィンガーアセンブリ６８の中心孔８４の軸線の周りで回転させる
。この回転は、光ファイバ１２の内側端末１２ｂがスプール１０から外れるのを
禁止する。
個の単一のホイール１５０を備えている。このクラッチ機構７１上のホイール１
５０は、ファイバをファイバ端１２ｂから引き出すことを可能にする一方向に、
この場合は矢印１５１で示された方向に回転する。光ファイバ１２が外側端末１
２ａからほどかれるのにつれて、スプール１０は反時計方向（図４の矢印８５に
示された方向）に回転し、光ファイバ１２を繰り出す。クラッチ機構７１上のホ
イール１５０は矢印１５１で示された方向とは反対の方向には回転しないために
、スプール１０の反時計方向の回転によって生じた力は、クラッチアセンブリ７
１全体、ピックオフアセンブリ７０、およびフィードフィンガーアセンブリ６８
を、フィードフィンガーアセンブリ６８の中心孔８４の軸線の周りで回転させる
。この回転は、光ファイバ１２の内側端末１２ｂがスプール１０から外れるのを
禁止する。
【００１４】
光ファイバ１２の外側端末１２ａがスプールからほどかれるのにつれて、ファ
イバガイド輪７４によって保たれる光ファイバ１２の内側端末１２ｂ上の張力は
、ファイバガイド輪７４上に反時計方向の力を生じさせ、クラッチアセンブリ７
１、ピックオフアセンブリ７０、およびフィードフィンガーアセンブリ６８をス
プール１０に同期して回転させる。換言すれば、外側端末１２ａからほどかれる
光ファイバによってスプール１０が反時計方向に回転せしめられるのにつれて、
スプール１０からファイバガイド７２の輪７４を通って延びている光ファイバ１
２が、回転するスプール１０とともに、クラッチアセンブリ７１、ピックオフア
センブリ７０、およびフィードフィンガーアセンブリ６８を引張ることになる。
イバガイド輪７４によって保たれる光ファイバ１２の内側端末１２ｂ上の張力は
、ファイバガイド輪７４上に反時計方向の力を生じさせ、クラッチアセンブリ７
１、ピックオフアセンブリ７０、およびフィードフィンガーアセンブリ６８をス
プール１０に同期して回転させる。換言すれば、外側端末１２ａからほどかれる
光ファイバによってスプール１０が反時計方向に回転せしめられるのにつれて、
スプール１０からファイバガイド７２の輪７４を通って延びている光ファイバ１
２が、回転するスプール１０とともに、クラッチアセンブリ７１、ピックオフア
センブリ７０、およびフィードフィンガーアセンブリ６８を引張ることになる。
【００１５】
光ファイバ１２が内側端末１２ｂからほどかれるのにつれて、クラッチアセン
ブリ７１、ピックオフアセンブリ７０、およびフィードフィンガーアセンブリ６
８が反時計方向（矢印８５の方向）に回転し、ホイール１５０を矢印１５１で示
す方向に回転させ、スプール１０は固定状態を保ちながら、光ファイバ１２はリ
ードメーターバレル１５から除去され、光ファイバ１２の外側端末１２ａがスプ
ール１０から解けるのを阻止する。ファイバ１２が内側端末１２ｂからほどかれ
るときには、スプール１０の重量がスプール１０の回転を阻止する。光ファイバ
１２がファイバガイド輪７４を通して引かれることによって生じる張力は、ファ
イバガイド７２に対し、したがってクラッチアセンブリ７１、ピックオフアセン
ブリ７０、およびフィードフィンガーアセンブリ６８に対し反時計方向の力を加
え、光ファイバ１２がフィードフィンガーアセンブリ６８を通して引かれると、
これらの部材を反時計方向に回転させる。
ブリ７１、ピックオフアセンブリ７０、およびフィードフィンガーアセンブリ６
８が反時計方向（矢印８５の方向）に回転し、ホイール１５０を矢印１５１で示
す方向に回転させ、スプール１０は固定状態を保ちながら、光ファイバ１２はリ
ードメーターバレル１５から除去され、光ファイバ１２の外側端末１２ａがスプ
ール１０から解けるのを阻止する。ファイバ１２が内側端末１２ｂからほどかれ
るときには、スプール１０の重量がスプール１０の回転を阻止する。光ファイバ
１２がファイバガイド輪７４を通して引かれることによって生じる張力は、ファ
イバガイド７２に対し、したがってクラッチアセンブリ７１、ピックオフアセン
ブリ７０、およびフィードフィンガーアセンブリ６８に対し反時計方向の力を加
え、光ファイバ１２がフィードフィンガーアセンブリ６８を通して引かれると、
これらの部材を反時計方向に回転させる。
【００１６】
あるいは、ファイバの両端が同時に引かれることによって、同時にファイバを
スプール１０からほどくことができる。
スプール１０からほどくことができる。
【００１７】
図５は、本発明の第２の実施の形態によるパレット９０の斜視図である。多く
の部品が第１の実施の形態と同様に配置されているので、双方の実施の形態に共
通する部材には同じ符号を付してある。パレット９０は、ファイバの両端末１２
ａおよび１２ｂが上記システム１００の試験装置に接続可能なように光ファイバ
１２のスプール１０を載置するのに適している。パレット９０は、スプール１０
を載置するのに適した基台５４上に取り付けられたローラーアセンブリ５２を備
えている。ローラーアセンブリ５２は、一対のローラ５６と、一対の基板５８と
を備えている。基台５４上には、垂直ブラケット６０，６２が取り付けられてい
る。図６Ａおよび６Ｃから明らかなように、垂直ブラケット９２も基台５４上に
取り付けられている。図５に示されているように、フィードフィンガーアセンブ
リ６８、ピックオフアセンブリ７０、およびクラッチアセンブリ７１が垂直ブラ
ケット６０上に回転可能に取り付けられている。ピックオフアセンブリ７０には
、輪７４を備えたファイバガイド７２が取り付けられている。フィードフィンガ
ーアセンブリ７６、および輪８３を備えたファイバガイド８１が垂直ブラケット
６２上に取り付けられている。図６Ｂから明らかなように、輪９５を備えたファ
イバガイド９４、および輪９７を備えたファイバガイド９６が垂直ブラケット９
２上に取り付けられている。フィードフィンガーアセンブリ６８の回転中心、ピ
ックオフアセンブリ７０、および垂直ブラケット６０を貫通して中心孔８４が延
びている。
の部品が第１の実施の形態と同様に配置されているので、双方の実施の形態に共
通する部材には同じ符号を付してある。パレット９０は、ファイバの両端末１２
ａおよび１２ｂが上記システム１００の試験装置に接続可能なように光ファイバ
１２のスプール１０を載置するのに適している。パレット９０は、スプール１０
を載置するのに適した基台５４上に取り付けられたローラーアセンブリ５２を備
えている。ローラーアセンブリ５２は、一対のローラ５６と、一対の基板５８と
を備えている。基台５４上には、垂直ブラケット６０，６２が取り付けられてい
る。図６Ａおよび６Ｃから明らかなように、垂直ブラケット９２も基台５４上に
取り付けられている。図５に示されているように、フィードフィンガーアセンブ
リ６８、ピックオフアセンブリ７０、およびクラッチアセンブリ７１が垂直ブラ
ケット６０上に回転可能に取り付けられている。ピックオフアセンブリ７０には
、輪７４を備えたファイバガイド７２が取り付けられている。フィードフィンガ
ーアセンブリ７６、および輪８３を備えたファイバガイド８１が垂直ブラケット
６２上に取り付けられている。図６Ｂから明らかなように、輪９５を備えたファ
イバガイド９４、および輪９７を備えたファイバガイド９６が垂直ブラケット９
２上に取り付けられている。フィードフィンガーアセンブリ６８の回転中心、ピ
ックオフアセンブリ７０、および垂直ブラケット６０を貫通して中心孔８４が延
びている。
【００１８】
図６Ｄに示されているように、スプール１０を識別する高周波（ＲＦ）識別タ
グ８２が垂直ブラケット６０に貼られている。ＲＦタグ８２は、スプール１０の
識別に加えて、そこに書き込まれた情報を格納することができ、スプール１０が
システム１００を通過するときにスプール１０に関する履歴データベースを提供
する。ＲＦタグ８２は、個々のテストステーションに対し処理命令を提供し、か
つ試験結果のデータを格納する。各スプール１０がシステム１００の個々のテス
トステーションによって処理されると、試験結果がＲＦタグ８２に書き込まれる
。ＲＦタグ８２は、どのテストステーションがスプールを処理する必要があるか
を示す手順指令をも包含している。
グ８２が垂直ブラケット６０に貼られている。ＲＦタグ８２は、スプール１０の
識別に加えて、そこに書き込まれた情報を格納することができ、スプール１０が
システム１００を通過するときにスプール１０に関する履歴データベースを提供
する。ＲＦタグ８２は、個々のテストステーションに対し処理命令を提供し、か
つ試験結果のデータを格納する。各スプール１０がシステム１００の個々のテス
トステーションによって処理されると、試験結果がＲＦタグ８２に書き込まれる
。ＲＦタグ８２は、どのテストステーションがスプールを処理する必要があるか
を示す手順指令をも包含している。
【００１９】
図７はスプール１０を載置するパレット９０の外観を示す。スプール１０をパ
レット５０に装填するために、作業者はスプール１０をローラ５６上に手で乗せ
、かつ光ファイバの内側端末１２ｂを輪７４、中心孔８４、およびフィードフィ
ンガーアセンブリ６８を通して、内側端末１２ｂがフィードフィンガーアセンブ
リ６８から外部に延出するようにフィードする。光ファイバの外側端末１２ａは
、輪９７，９５および８３をこの順に通し、次にフィードフィンガーアセンブリ
７６を通して、外側端末１２ａがフィードフィンガーアセンブリ７６から外部に
延出するようにフィードされる。かくして、図５および図７に示されているよう
に、パレット９０は、自動化された試験装置および人手による試験装置の双方に
対して、光ファイバの両端１２ａ，１２ｂの便利なアクセス手段を提供する。
レット５０に装填するために、作業者はスプール１０をローラ５６上に手で乗せ
、かつ光ファイバの内側端末１２ｂを輪７４、中心孔８４、およびフィードフィ
ンガーアセンブリ６８を通して、内側端末１２ｂがフィードフィンガーアセンブ
リ６８から外部に延出するようにフィードする。光ファイバの外側端末１２ａは
、輪９７，９５および８３をこの順に通し、次にフィードフィンガーアセンブリ
７６を通して、外側端末１２ａがフィードフィンガーアセンブリ７６から外部に
延出するようにフィードされる。かくして、図５および図７に示されているよう
に、パレット９０は、自動化された試験装置および人手による試験装置の双方に
対して、光ファイバの両端１２ａ，１２ｂの便利なアクセス手段を提供する。
【００２０】
さらに、スプール１０およびパレット９０は、反対側の端末に妨げられること
なしに、光ファイバ１２が内側端末１２ｂから、または外側端末１２ａから個別
に、あるいは内側端末１２ｂおよび外側端末１２ａの双方から同時にほどかれる
のを可能にしている。光ファイバ１２の外側端末１２ａがほどかれるのにつれて
、スプールが反時計方向（図７の矢印８５の方向）に回転し、光ファイバを繰り
出す。スプールが反時計方向に回転する間、クラッチアセンブリ７１、ピックオ
フアセンブリ７０、およびフィードフィンガーアセンブリ６８も反時計方向に回
転して、光ファイバがフィードフィンガーアセンブリ６８から引き出されるのを
阻止する。光ファイバ１２の外側端末１２ａがほどかれるのにつれて、ファイバ
ガイド輪７４によって保たれた光ファイバ１２の内側端末１２ｂ上の張力は、フ
ァイバガイド輪７４上に反時計方向の力を生じさせ、クラッチアセンブリ７１、
ピックオフアセンブリ７０、およびフィードフィンガーアセンブリ６８をスプー
ル１０に同期して回転させる。換言すれば、外側端末１２ａからほどかれる光フ
ァイバによってスプール１０が反時計方向に回転せしめられるのにつれて、スプ
ール１０からファイバガイド７２の輪７４を通して延びている光ファイバ１２が
、回転するスプール１０とともに、クラッチアセンブリ７１、ピックオフアセン
ブリ７０、およびフィードフィンガーアセンブリ６８を引張ることになる。
なしに、光ファイバ１２が内側端末１２ｂから、または外側端末１２ａから個別
に、あるいは内側端末１２ｂおよび外側端末１２ａの双方から同時にほどかれる
のを可能にしている。光ファイバ１２の外側端末１２ａがほどかれるのにつれて
、スプールが反時計方向（図７の矢印８５の方向）に回転し、光ファイバを繰り
出す。スプールが反時計方向に回転する間、クラッチアセンブリ７１、ピックオ
フアセンブリ７０、およびフィードフィンガーアセンブリ６８も反時計方向に回
転して、光ファイバがフィードフィンガーアセンブリ６８から引き出されるのを
阻止する。光ファイバ１２の外側端末１２ａがほどかれるのにつれて、ファイバ
ガイド輪７４によって保たれた光ファイバ１２の内側端末１２ｂ上の張力は、フ
ァイバガイド輪７４上に反時計方向の力を生じさせ、クラッチアセンブリ７１、
ピックオフアセンブリ７０、およびフィードフィンガーアセンブリ６８をスプー
ル１０に同期して回転させる。換言すれば、外側端末１２ａからほどかれる光フ
ァイバによってスプール１０が反時計方向に回転せしめられるのにつれて、スプ
ール１０からファイバガイド７２の輪７４を通して延びている光ファイバ１２が
、回転するスプール１０とともに、クラッチアセンブリ７１、ピックオフアセン
ブリ７０、およびフィードフィンガーアセンブリ６８を引張ることになる。
【００２１】
光ファイバ１２が内側端末１２ｂからほどかれるのにつれて、クラッチアセン
ブリ７１、ピックオフアセンブリ７０、およびフィードフィンガーアセンブリ６
８が反時計方向に回転して、スプール１０は固定状態に保たれながら光ファイバ
１２はリードメーターバレル１５から除去され、光ファイバ１２の外側端末１２
ａがスプール１０から解けるのを阻止する。ファイバ１２が内側端末１２ｂから
ほどかれるときには、スプール１０の重量がスプール１０の回転を阻止する。光
ファイバ１２がファイバガイド輪７４を通して引かれることによって生じる張力
は、クラッチアセンブリ７１、ピックオフアセンブリ７０、およびフィードフィ
ンガーアセンブリ６８に対し反時計方向（図７の矢印８５の方向）の力を加え、
光ファイバ１２がフィードフィンガーアセンブリ６８を通して引かれるのにつれ
て、これらの部材を反時計方向に回転させる。ファイバ１２が内側端末１２ｂか
らほどかれるときには、スプール１０の重量がスプール１０の回転を阻止する。
ブリ７１、ピックオフアセンブリ７０、およびフィードフィンガーアセンブリ６
８が反時計方向に回転して、スプール１０は固定状態に保たれながら光ファイバ
１２はリードメーターバレル１５から除去され、光ファイバ１２の外側端末１２
ａがスプール１０から解けるのを阻止する。ファイバ１２が内側端末１２ｂから
ほどかれるときには、スプール１０の重量がスプール１０の回転を阻止する。光
ファイバ１２がファイバガイド輪７４を通して引かれることによって生じる張力
は、クラッチアセンブリ７１、ピックオフアセンブリ７０、およびフィードフィ
ンガーアセンブリ６８に対し反時計方向（図７の矢印８５の方向）の力を加え、
光ファイバ１２がフィードフィンガーアセンブリ６８を通して引かれるのにつれ
て、これらの部材を反時計方向に回転させる。ファイバ１２が内側端末１２ｂか
らほどかれるときには、スプール１０の重量がスプール１０の回転を阻止する。
【００２２】
図８は、本発明による、自動化された光ファイバ測定システム１００の全体図
を示す。このシステム１００は、装填ステーション１０２と、光ファイバがファ
イバ保管スプール上に保管されている間に所用の長さの光ファイバ両端を準備す
るための自動化された準備ステーション１０４とを適当に備えることができる。
かかるスプールは、例えば大量保管用スプールまたは実際のファイバ出荷用スプ
ールであり得る。ここで用いられている出荷用スプールとは、１本の長尺ファイ
バを巻回したスプールまたはリールを意味し、顧客に出荷されるされるべきもの
でる。またシステム１００は、光学的時間領域反射率測定（ＯＴＤＲ）および光
学的分散測定ステーション１０６、ガラスジオミトリー測定およびファイバ遮断
波長テストステーション１０８、ファイバ偏向および光ファイバ被覆ジオミトリ
ーテストステーション１１０、偏光モード分散（ＰＭＤ）テストステーション１
１２、外観検査ステーション１１４、および取外しステーション１１６を備える
ことができる。ここには好ましい光ファイバ試験およびテストステーションが記
載されているが、本発明は、これよりも少ない、または多い試験およびテストス
テーションを利用し得るものであり、ここの記載された試験およびテストステー
ションに限定されると解釈されるべきでないことを当業者であれば認識するであ
ろう。自動化された測定システム１００は、光ファイバ１２を巻回したスプール
１０を載せたパレット５０または９０をテストステーションからテストステーシ
ョンへ搬送するのコンベアシステム１１８を備えている。ローカル・プログラマ
ブルロジックコントローラ（ＰＬＣ）が、装填ステーション１０２、準備ステー
ション１０４、外観検査ステーション１１４、および取外しステーション１１６
の動作を制御する。さらに後述するように、付加的なローカルＰＬＣを用いて他
のステーション１１６の動作を制御してもよい。さらに後述するように、パレッ
ト５０または９０に貼られたＲＦタグ８２に対する読出しおよび／または書込み
に適した複数のＲＦ装置１１５が、コンベアシステム１１８近傍の複数箇所に配
置されている。ＲＦタグ８２から読み出された指令がローカルＰＬＣを経てコン
ベアシステム１１８を通じてパレット５０または９０の進行を制御する。
を示す。このシステム１００は、装填ステーション１０２と、光ファイバがファ
イバ保管スプール上に保管されている間に所用の長さの光ファイバ両端を準備す
るための自動化された準備ステーション１０４とを適当に備えることができる。
かかるスプールは、例えば大量保管用スプールまたは実際のファイバ出荷用スプ
ールであり得る。ここで用いられている出荷用スプールとは、１本の長尺ファイ
バを巻回したスプールまたはリールを意味し、顧客に出荷されるされるべきもの
でる。またシステム１００は、光学的時間領域反射率測定（ＯＴＤＲ）および光
学的分散測定ステーション１０６、ガラスジオミトリー測定およびファイバ遮断
波長テストステーション１０８、ファイバ偏向および光ファイバ被覆ジオミトリ
ーテストステーション１１０、偏光モード分散（ＰＭＤ）テストステーション１
１２、外観検査ステーション１１４、および取外しステーション１１６を備える
ことができる。ここには好ましい光ファイバ試験およびテストステーションが記
載されているが、本発明は、これよりも少ない、または多い試験およびテストス
テーションを利用し得るものであり、ここの記載された試験およびテストステー
ションに限定されると解釈されるべきでないことを当業者であれば認識するであ
ろう。自動化された測定システム１００は、光ファイバ１２を巻回したスプール
１０を載せたパレット５０または９０をテストステーションからテストステーシ
ョンへ搬送するのコンベアシステム１１８を備えている。ローカル・プログラマ
ブルロジックコントローラ（ＰＬＣ）が、装填ステーション１０２、準備ステー
ション１０４、外観検査ステーション１１４、および取外しステーション１１６
の動作を制御する。さらに後述するように、付加的なローカルＰＬＣを用いて他
のステーション１１６の動作を制御してもよい。さらに後述するように、パレッ
ト５０または９０に貼られたＲＦタグ８２に対する読出しおよび／または書込み
に適した複数のＲＦ装置１１５が、コンベアシステム１１８近傍の複数箇所に配
置されている。ＲＦタグ８２から読み出された指令がローカルＰＬＣを経てコン
ベアシステム１１８を通じてパレット５０または９０の進行を制御する。
【００２３】
処理を開始するために、前記したようにシステム１００の個々のテストステー
ションに直ちにアクセスできるように両端１２ａ，１２ｂが位置決めされる態様
でスプール１０がパレット５０または９０上に装填される。図８に示されている
ように、スプールは、装填ステーション１０２においてコンベアシステム１１８
のパレット５０または９０上に装填される。次にコンベアシステム１１８がパレ
ット５０または９０を準備ステーション１０４に移動させる。
ションに直ちにアクセスできるように両端１２ａ，１２ｂが位置決めされる態様
でスプール１０がパレット５０または９０上に装填される。図８に示されている
ように、スプールは、装填ステーション１０２においてコンベアシステム１１８
のパレット５０または９０上に装填される。次にコンベアシステム１１８がパレ
ット５０または９０を準備ステーション１０４に移動させる。
【００２４】
図９に示されているように、準備ステーション１０４は、光ファイバの保護被
覆を剥ぎ取るためのストリッピング装置１３０と、光ファイバから被覆が剥ぎ取
られた後にファイバを清浄にするためのクリーニング装置１３２とを備えている
。ストリッピング装置およびクリーニング装置の双方はエアで制御されて作動さ
れるのが好ましく、かつこれら装置はローカルＰＬＣ１２１（図８参照）で制御
されるのが好ましい。さらに、ＰＬＣ１２１は、パレット５０または９０が準備
ステーション１０４で処理されている間に、パレット５０または９０の動きを制
御する。ＰＬＣ１２１がパレット５０または９０を、光ファイバの端末１２ａが
ストリッピング装置１３０に近接するように位置決めした後、ストリッピング装
置１３０は先ず端末１２ａの下方へ移動し、次いで上昇して端末１２ａを取り囲
む位置を占める。補助的なファイバクリップ（図示は省略）がストリッピング装
置１３０とパレット５０または９０との間で端末１２ａに係合しかつこれをしっ
かりと保持する。次にストリッピング装置１３０が端末１２ａの周りで閉じ、パ
レットから遠ざかる方向に引っ込んで端末１２ａから被覆１３を取り除く。スト
リッピング装置はまた、ファイバを大ざっぱに切断して、フィードフィンガーア
センブリから延出しているファイバを所望の長さにするファイバカッティング装
置を備えている。例えば、一つの実施の形態では、長さ約１０ｃｍのファイバが
フィードフィンガーアセンブリから延出し、約５ｃｍのファイバ部分の保護被覆
が除去された。次にバキュームノズルが保護被覆屑を中央バキュームシステムに
吸い込んだ。
覆を剥ぎ取るためのストリッピング装置１３０と、光ファイバから被覆が剥ぎ取
られた後にファイバを清浄にするためのクリーニング装置１３２とを備えている
。ストリッピング装置およびクリーニング装置の双方はエアで制御されて作動さ
れるのが好ましく、かつこれら装置はローカルＰＬＣ１２１（図８参照）で制御
されるのが好ましい。さらに、ＰＬＣ１２１は、パレット５０または９０が準備
ステーション１０４で処理されている間に、パレット５０または９０の動きを制
御する。ＰＬＣ１２１がパレット５０または９０を、光ファイバの端末１２ａが
ストリッピング装置１３０に近接するように位置決めした後、ストリッピング装
置１３０は先ず端末１２ａの下方へ移動し、次いで上昇して端末１２ａを取り囲
む位置を占める。補助的なファイバクリップ（図示は省略）がストリッピング装
置１３０とパレット５０または９０との間で端末１２ａに係合しかつこれをしっ
かりと保持する。次にストリッピング装置１３０が端末１２ａの周りで閉じ、パ
レットから遠ざかる方向に引っ込んで端末１２ａから被覆１３を取り除く。スト
リッピング装置はまた、ファイバを大ざっぱに切断して、フィードフィンガーア
センブリから延出しているファイバを所望の長さにするファイバカッティング装
置を備えている。例えば、一つの実施の形態では、長さ約１０ｃｍのファイバが
フィードフィンガーアセンブリから延出し、約５ｃｍのファイバ部分の保護被覆
が除去された。次にバキュームノズルが保護被覆屑を中央バキュームシステムに
吸い込んだ。
【００２５】
保護ポリマー被覆を除去するためにここで用いられるファイバストリッピング
装置は、例えば、米国コネチカット州クロムウエル所在のMiller Riplay Compan
y のミラーディビジョンから販売されているような通常のファイバストリッピン
グ装置とすることができる。ここで用いられるストリッピング装置は、コンピュ
ータで制御されるエアバルブに接続されて、ストリッピング装置の動作を制御す
るのが好ましい。ファイバのカッティングは、ファイバを大ざっぱに切断するこ
とができる通常の剪断機を用いて行なうことができる。
装置は、例えば、米国コネチカット州クロムウエル所在のMiller Riplay Compan
y のミラーディビジョンから販売されているような通常のファイバストリッピン
グ装置とすることができる。ここで用いられるストリッピング装置は、コンピュ
ータで制御されるエアバルブに接続されて、ストリッピング装置の動作を制御す
るのが好ましい。ファイバのカッティングは、ファイバを大ざっぱに切断するこ
とができる通常の剪断機を用いて行なうことができる。
【００２６】
次にパレット５０または９０は、端末１２ａがクリーニング装置１３２に近接
するように前進せしめられる。このクリーニング装置１３２はファイバ端末１２
ａからいかなる屑をも除去するように動作する。この装置１３２は、フェルトパ
ッドまたはスポンジパッド、もしくはポリウレタンフォーム材料を備えた一対の
アームを有する掴み機構とすることができる。最初にニードルがパッド上にアル
コールを吹き付けてパッドを湿らせる。次に掴み機構がファイバ端末１２ａに向
かって前進して、アルコールで湿らされたパッドでファイバ端末１２ａを挟む。
次に掴み機構がパレット５０または９０から後退し、これによってファイバ端末
１２ａをクリーニングする。次に掴み機構が９０度回転して、上記クリーニング
動作を反復するのが好ましい。
するように前進せしめられる。このクリーニング装置１３２はファイバ端末１２
ａからいかなる屑をも除去するように動作する。この装置１３２は、フェルトパ
ッドまたはスポンジパッド、もしくはポリウレタンフォーム材料を備えた一対の
アームを有する掴み機構とすることができる。最初にニードルがパッド上にアル
コールを吹き付けてパッドを湿らせる。次に掴み機構がファイバ端末１２ａに向
かって前進して、アルコールで湿らされたパッドでファイバ端末１２ａを挟む。
次に掴み機構がパレット５０または９０から後退し、これによってファイバ端末
１２ａをクリーニングする。次に掴み機構が９０度回転して、上記クリーニング
動作を反復するのが好ましい。
【００２７】
次にＰＬＣ１２１は、パレット５０または９０を、端末１２ｂがストリッピン
グ装置１３０に近接するように位置決めする。端末１２ｂに対しても、ストリッ
ピング、カッティングおよびクリーニング処理が施される。あるいは、被覆１３
の除去と光ファイバのクリーニングとは手作業で行なってもよい。ストリッピン
グ・カッティング装置１３０とクリーニング装置１３２とは、ファイバの一方の
端末が被覆を剥ぎ取られかつ所望の長さに切断されるときに、他方の端末がクリ
ーニングされるように位置決めされることが好ましい。この自動化されたストリ
ッピング・カッティングおよびクリーニングステーションは、保護ポリマー被覆
の除去、およびファイバ端末の切断を含む、ファイバの試験のための準備作業が
、初めて作業者が何等手を下すことなしに自動的に行なわれることに意義がある
。
グ装置１３０に近接するように位置決めする。端末１２ｂに対しても、ストリッ
ピング、カッティングおよびクリーニング処理が施される。あるいは、被覆１３
の除去と光ファイバのクリーニングとは手作業で行なってもよい。ストリッピン
グ・カッティング装置１３０とクリーニング装置１３２とは、ファイバの一方の
端末が被覆を剥ぎ取られかつ所望の長さに切断されるときに、他方の端末がクリ
ーニングされるように位置決めされることが好ましい。この自動化されたストリ
ッピング・カッティングおよびクリーニングステーションは、保護ポリマー被覆
の除去、およびファイバ端末の切断を含む、ファイバの試験のための準備作業が
、初めて作業者が何等手を下すことなしに自動的に行なわれることに意義がある
。
【００２８】
図８に示された実施の形態においては、適当な長さの各ファイバ端末１２ａ，
１２ｂが被覆を剥ぎ取られ、切断され、クリーニングされた後、パレット５０ま
たは９０がテストステーション１０６に搬送される。しかしながら、もし必要で
あれば、他のテストステーションに搬送されるようにしてもよい。図１０Ａに示
されているように、ＯＴＤＲおよび光の分散測定ステーション１０６は、カッテ
ィング装置１４０、割断装置１４２、ファイバ心合せ器１４４、およびファイバ
廃棄装置１４６を備えている。本発明に用いるのに適したファイバ心合せ器は、
１１００型シングルファイバ心合せ器（オレゴン州９７００８、ビーバートン所
在のＰＫ Technology Inc. ）である。テストステーション１０６はまた、コン
ピュータ１５４と通信可能に接続されたローカルＰＬＣ１５２と、ＲＦタグ読取
り装置１６０、およびＲＦタグ書込み装置１６２を備えている。一対のファイバ
クリップ１５６がサーボスライド１５８に取り付けられ、かつローカルＰＬＣ１
５２で制御される。コンピュータ１５４を含むテストステーション１０６動作は
、ローカルＰＬＣ１５２で制御される。
１２ｂが被覆を剥ぎ取られ、切断され、クリーニングされた後、パレット５０ま
たは９０がテストステーション１０６に搬送される。しかしながら、もし必要で
あれば、他のテストステーションに搬送されるようにしてもよい。図１０Ａに示
されているように、ＯＴＤＲおよび光の分散測定ステーション１０６は、カッテ
ィング装置１４０、割断装置１４２、ファイバ心合せ器１４４、およびファイバ
廃棄装置１４６を備えている。本発明に用いるのに適したファイバ心合せ器は、
１１００型シングルファイバ心合せ器（オレゴン州９７００８、ビーバートン所
在のＰＫ Technology Inc. ）である。テストステーション１０６はまた、コン
ピュータ１５４と通信可能に接続されたローカルＰＬＣ１５２と、ＲＦタグ読取
り装置１６０、およびＲＦタグ書込み装置１６２を備えている。一対のファイバ
クリップ１５６がサーボスライド１５８に取り付けられ、かつローカルＰＬＣ１
５２で制御される。コンピュータ１５４を含むテストステーション１０６動作は
、ローカルＰＬＣ１５２で制御される。
【００２９】
図１０Ｂは、図１０Ａに示されているテストステーション１０６を利用したＯ
ＴＤＲおよび光の分散試験の実施を自動化するための手法１７０の様相を示す。
第１ステップ１７１においては、ＲＦタグ読取り装置１６０が、そのスプール１
０に関する経路指令および処理指令を格納しているＲＦ識別タグ８２を読み取る
。第２ステップ１７２においては、ＰＬＣは、そのスプール１０がテストステー
ション１０６で処理されるべきであることを経路指令が示しているか否かを判定
する。もしＰＬＣ１８２がそのスプール１０はテストステーション１０６で処理
されるべきでないと判定した場合には、パレット５０または９０はステップ１７
３で次のステーションに移動せしめられる。もしＰＬＣ１５２がそのスプール１
０はテストステーション１０６で処理されるべきであると判定した場合には、パ
レット５０または９０は、ステップ１７４で図１０Ａに示されているように、サ
ーボスライド１５８の近傍位置に移動せしめられる。ファイバの両端末を掴むた
めにクリップ１５６が設けられている。クリップ１５６として用いるのに適した
クリップは、英国バージ、ウォーキンガム所在のEG&G Fiber Optics から販売さ
れている「光ファイバクリップ」と呼ばれているもの、あるいは、米国オレゴン
州、ビーバートン所在のPK Technologies Inc.からも販売されている光ファイバ
クリップとすることができる。ファイバクリップ１５６は、クリップへのファイ
バの挿入方向と平行なＶ字溝を備えているのが好ましく、このＶ字溝内でファイ
バがクリップに掴まれる。クリップの開閉はエアを用いて制御されるのが好まし
い。クリップ１５６はサーボスライド１５８によって両端末１２ａ，１２ｂに向
かって移動せしめられ、そこでクリップ１５６がファイバ両端末１２ａ，１２ｂ
に係合して保持する。ステップ１７５においては、サーボスライド１５８が、フ
ァイバの両端末を保持しているクリップ１５６を割断装置１４２へ移動させ、そ
こでファイバの両端末１２ａ，１２ｂは割断され、あるいは各クリップ１５６か
ら突出している所要の長さの光ファイバ１２を残して精密に切り取られる。割断
装置は、例えばここに記載されている試験装置の一つに対し割断面が光学的に結
合されるように光ファイバの割断が可能なことが好ましい。このような割断は、
ドイツ国のシーメンス社から入手可能なような光ファイバ割断装置を用いること
によって達成することができる。このようなファイバ切断装置は、コンピュータ
制御のエア圧装置で制御するのに適していることが好ましい。光学的に質の高い
割断がなされた後、ステップ１７６において、サーボスライド１５８がクリップ
１５６をファイバ心合せ器１４４に向かって移動させて、適当な長さのファイバ
端末１２ａ，１２ｂをファイバ心合せ器１４４に挿入する。
ＴＤＲおよび光の分散試験の実施を自動化するための手法１７０の様相を示す。
第１ステップ１７１においては、ＲＦタグ読取り装置１６０が、そのスプール１
０に関する経路指令および処理指令を格納しているＲＦ識別タグ８２を読み取る
。第２ステップ１７２においては、ＰＬＣは、そのスプール１０がテストステー
ション１０６で処理されるべきであることを経路指令が示しているか否かを判定
する。もしＰＬＣ１８２がそのスプール１０はテストステーション１０６で処理
されるべきでないと判定した場合には、パレット５０または９０はステップ１７
３で次のステーションに移動せしめられる。もしＰＬＣ１５２がそのスプール１
０はテストステーション１０６で処理されるべきであると判定した場合には、パ
レット５０または９０は、ステップ１７４で図１０Ａに示されているように、サ
ーボスライド１５８の近傍位置に移動せしめられる。ファイバの両端末を掴むた
めにクリップ１５６が設けられている。クリップ１５６として用いるのに適した
クリップは、英国バージ、ウォーキンガム所在のEG&G Fiber Optics から販売さ
れている「光ファイバクリップ」と呼ばれているもの、あるいは、米国オレゴン
州、ビーバートン所在のPK Technologies Inc.からも販売されている光ファイバ
クリップとすることができる。ファイバクリップ１５６は、クリップへのファイ
バの挿入方向と平行なＶ字溝を備えているのが好ましく、このＶ字溝内でファイ
バがクリップに掴まれる。クリップの開閉はエアを用いて制御されるのが好まし
い。クリップ１５６はサーボスライド１５８によって両端末１２ａ，１２ｂに向
かって移動せしめられ、そこでクリップ１５６がファイバ両端末１２ａ，１２ｂ
に係合して保持する。ステップ１７５においては、サーボスライド１５８が、フ
ァイバの両端末を保持しているクリップ１５６を割断装置１４２へ移動させ、そ
こでファイバの両端末１２ａ，１２ｂは割断され、あるいは各クリップ１５６か
ら突出している所要の長さの光ファイバ１２を残して精密に切り取られる。割断
装置は、例えばここに記載されている試験装置の一つに対し割断面が光学的に結
合されるように光ファイバの割断が可能なことが好ましい。このような割断は、
ドイツ国のシーメンス社から入手可能なような光ファイバ割断装置を用いること
によって達成することができる。このようなファイバ切断装置は、コンピュータ
制御のエア圧装置で制御するのに適していることが好ましい。光学的に質の高い
割断がなされた後、ステップ１７６において、サーボスライド１５８がクリップ
１５６をファイバ心合せ器１４４に向かって移動させて、適当な長さのファイバ
端末１２ａ，１２ｂをファイバ心合せ器１４４に挿入する。
【００３０】
次にステップ１７８において、上述したファイバ心合せ器１４４の光学的に接
続されているＯＴＤＲ試験装置１４８に対しコンピュータ１５４が指令を発して
光ファイバを試験する。ＯＴＤＲ試験装置１４８は、選択された波長範囲に亘る
光ファイバ１２の減衰測定を行なう。ＯＴＤＲ減衰測定は、予め選択された所定
の範囲内の複数の波長において実施される。測定された減衰特性は、解析されて
、選択された範囲内の波長に関する減衰度、すなわちスプクトル減衰度を表す曲
線を得る。
続されているＯＴＤＲ試験装置１４８に対しコンピュータ１５４が指令を発して
光ファイバを試験する。ＯＴＤＲ試験装置１４８は、選択された波長範囲に亘る
光ファイバ１２の減衰測定を行なう。ＯＴＤＲ減衰測定は、予め選択された所定
の範囲内の複数の波長において実施される。測定された減衰特性は、解析されて
、選択された範囲内の波長に関する減衰度、すなわちスプクトル減衰度を表す曲
線を得る。
【００３１】
次に、ステップ１８０において、コンピュータ１５４は、上述のように同じく
ファイバ心合せ器１４４に光学的に接続されている光の分散試験器１５０に指令
して、光ファイバ１２を試験する。光の分散測定は、光信号が光ファイバ１２を
伝播するときの光信号の歪みを測定する。次にステップ１８２において、ファイ
バ廃棄装置１４６が光ファイバの両端末１２ａ，１２ｂを捕捉して掴み、切断装
置１５６が光ファイバの被覆を剥がされた両端末１２ａ，１２ｂを切断し、ファ
イバ廃棄装置１４６は、試験領域から剪断された光ファイバ部分を取り除く。こ
のファイバ廃棄装置１４６は、ロッドに取り付けられた掴み手段を用いて光ファ
イバの剪断された部分を掴み、それらをスクラップトラフに移動させる。あるい
は、スクラップファイバに極めて近い位置に取り付けられたまたはその位置に移
動可能なバキューム手段を介してスクラップファイバを除去してもよい。次にス
テップ１８４において、ＲＦタグ書込み装置１６２が、ＯＴＤＲおよび光の分散
測定の結果をＲＦ識別タグ８２に書き込むことが好ましい。次にコンベア１１８
がパレット５０または９０を次のテストステーションに搬送する。
ファイバ心合せ器１４４に光学的に接続されている光の分散試験器１５０に指令
して、光ファイバ１２を試験する。光の分散測定は、光信号が光ファイバ１２を
伝播するときの光信号の歪みを測定する。次にステップ１８２において、ファイ
バ廃棄装置１４６が光ファイバの両端末１２ａ，１２ｂを捕捉して掴み、切断装
置１５６が光ファイバの被覆を剥がされた両端末１２ａ，１２ｂを切断し、ファ
イバ廃棄装置１４６は、試験領域から剪断された光ファイバ部分を取り除く。こ
のファイバ廃棄装置１４６は、ロッドに取り付けられた掴み手段を用いて光ファ
イバの剪断された部分を掴み、それらをスクラップトラフに移動させる。あるい
は、スクラップファイバに極めて近い位置に取り付けられたまたはその位置に移
動可能なバキューム手段を介してスクラップファイバを除去してもよい。次にス
テップ１８４において、ＲＦタグ書込み装置１６２が、ＯＴＤＲおよび光の分散
測定の結果をＲＦ識別タグ８２に書き込むことが好ましい。次にコンベア１１８
がパレット５０または９０を次のテストステーションに搬送する。
【００３２】
図１１Ａに示されているように、ガラスジオミトリー測定および遮断波長テス
トステーション１０８は、展開スライド２０２に取り付けられたファイバクリッ
プ２００と、切断装置２０４と、ファイバ廃棄装置２０６とを備えている。また
、テストステーション１０８は、ダイアルプレート２１０上に回転可能に取り付
けられたマンドレル２０８ａ，２０８ｂ，２０８ｃ，２０８ｄを備えている。各
マンドレル２０８ａ，２０８ｂ，２０８ｃ，２０８ｄ上には、延長アーム２１５
ａ，２１５ｂの端部に配置された掴みクリップ２１２，２１３が取り付けられて
いる。ストリッピング装置２１４、カッティング装置２１６、および割断装置２
１８がスライド２２０上に取り付けられている。遮断波長テスタ２２２およびガ
ラス測定テスタ２２４は外観心合せシステム２２６に通信可能に接続されている
。またテストステーション１０８は、ＲＦタグ読取り装置２３２およびＲＦタグ
書込み装置２３４を備えている。１個または複数のコンピュータ２３０を備えた
テストステーション１０８の動作は、ローカルＰＬＣ２２８によって制御される
。
トステーション１０８は、展開スライド２０２に取り付けられたファイバクリッ
プ２００と、切断装置２０４と、ファイバ廃棄装置２０６とを備えている。また
、テストステーション１０８は、ダイアルプレート２１０上に回転可能に取り付
けられたマンドレル２０８ａ，２０８ｂ，２０８ｃ，２０８ｄを備えている。各
マンドレル２０８ａ，２０８ｂ，２０８ｃ，２０８ｄ上には、延長アーム２１５
ａ，２１５ｂの端部に配置された掴みクリップ２１２，２１３が取り付けられて
いる。ストリッピング装置２１４、カッティング装置２１６、および割断装置２
１８がスライド２２０上に取り付けられている。遮断波長テスタ２２２およびガ
ラス測定テスタ２２４は外観心合せシステム２２６に通信可能に接続されている
。またテストステーション１０８は、ＲＦタグ読取り装置２３２およびＲＦタグ
書込み装置２３４を備えている。１個または複数のコンピュータ２３０を備えた
テストステーション１０８の動作は、ローカルＰＬＣ２２８によって制御される
。
【００３３】
図１１Ｂおよび図１１Ｃは、図１１Ａに示されているテストステーション１０
８を利用したガラス測定および遮断波長試験の実施を自動化するための手法２５
０を示す。第１ステップ２５１においては、ＲＦタグ読取り装置２３２が、その
スプール１０に関する経路指令および処理指令を格納しているＲＦ識別タグ８２
を読み取る。第２ステップ２５２においては、ローカルＰＬＣ２２８は、そのス
プール１０がテストステーション１０８で処理されるべきであることを経路指令
が示しているか否かを判定する。もしＰＬＣ２２８がそのスプール１０はテスト
ステーション１０６で処理されるべきでないと判定した場合には、パレット５０
または９０はステップ２５３で次のステーションに移動せしめられる。もしＰＬ
Ｃ２２８がそのスプール１０はテストステーション１０６で処理されるべきであ
ると判定した場合には、パレット５０または９０は、図１１Ａに示されているよ
うに、ステップ２５４でスライド２０２の近傍位置に移動せしめられる。ファイ
バクリップ２００が展開スライドによってスプール１０に向かって移動せしめら
れ、ファイバクリップ２００がファイバ端末１２ａを捕捉して掴む。次に展開ス
ライド２０２がクリップ２００をパレット５０または９０から離れるように移動
させ、適当な長さの光ファイバを引き出す。ステップ２５５においては、ファイ
バクリップ２００がファイバ端末１２ａを，マンドレル２０８ａ上に取り付けら
れたファイバクリップ２１２に渡す。このステップの間、ファイバクリップ２０
０は、マンドレル延長アーム２１５ａ上のクリップ２１２に向かって、スライド
２０２から横方向外方に移動してクリップ２１２に接近する。次にステップ２５
６において、マンドレル２０８ａが反時計方向に１．５回転して、基本的に約１
１インチ、すなわち２８０ｃｍの外径を有する円筒であるマンドレル２０８ａの
周囲に長さ約２メートルの光ファイバ１２を巻き付ける。このステップの間、フ
ァイバがマンドレルに巻き付けられるときに、光ファイバ１２が正しくマンドレ
ルに装着されることをファイバガイドが保証する。次にステップ２５８において
、マンドレルに取り付けられているクリップ２１３が光ファイバ１２を捕捉し、
切断装置２０４が、試験のために露出されている約２インチ（５ｃｍ）のファイ
バ端末を残して光ファイバ１２を切断する。かくして、テストステーション１０
８は、マンドレル２０８の周囲に巻き付けられ、かつクリップ２１２および２１
３により保持された所要の長さのサンプルを取得する。勿論、この手法は１１イ
ンチ（２８０ｃｍ）のマンドレルに限定されるものではなく、異なる直径、例え
ば３インチ（７．６ｃｍ）を有するマンドレルを用いてもよい。
８を利用したガラス測定および遮断波長試験の実施を自動化するための手法２５
０を示す。第１ステップ２５１においては、ＲＦタグ読取り装置２３２が、その
スプール１０に関する経路指令および処理指令を格納しているＲＦ識別タグ８２
を読み取る。第２ステップ２５２においては、ローカルＰＬＣ２２８は、そのス
プール１０がテストステーション１０８で処理されるべきであることを経路指令
が示しているか否かを判定する。もしＰＬＣ２２８がそのスプール１０はテスト
ステーション１０６で処理されるべきでないと判定した場合には、パレット５０
または９０はステップ２５３で次のステーションに移動せしめられる。もしＰＬ
Ｃ２２８がそのスプール１０はテストステーション１０６で処理されるべきであ
ると判定した場合には、パレット５０または９０は、図１１Ａに示されているよ
うに、ステップ２５４でスライド２０２の近傍位置に移動せしめられる。ファイ
バクリップ２００が展開スライドによってスプール１０に向かって移動せしめら
れ、ファイバクリップ２００がファイバ端末１２ａを捕捉して掴む。次に展開ス
ライド２０２がクリップ２００をパレット５０または９０から離れるように移動
させ、適当な長さの光ファイバを引き出す。ステップ２５５においては、ファイ
バクリップ２００がファイバ端末１２ａを，マンドレル２０８ａ上に取り付けら
れたファイバクリップ２１２に渡す。このステップの間、ファイバクリップ２０
０は、マンドレル延長アーム２１５ａ上のクリップ２１２に向かって、スライド
２０２から横方向外方に移動してクリップ２１２に接近する。次にステップ２５
６において、マンドレル２０８ａが反時計方向に１．５回転して、基本的に約１
１インチ、すなわち２８０ｃｍの外径を有する円筒であるマンドレル２０８ａの
周囲に長さ約２メートルの光ファイバ１２を巻き付ける。このステップの間、フ
ァイバがマンドレルに巻き付けられるときに、光ファイバ１２が正しくマンドレ
ルに装着されることをファイバガイドが保証する。次にステップ２５８において
、マンドレルに取り付けられているクリップ２１３が光ファイバ１２を捕捉し、
切断装置２０４が、試験のために露出されている約２インチ（５ｃｍ）のファイ
バ端末を残して光ファイバ１２を切断する。かくして、テストステーション１０
８は、マンドレル２０８の周囲に巻き付けられ、かつクリップ２１２および２１
３により保持された所要の長さのサンプルを取得する。勿論、この手法は１１イ
ンチ（２８０ｃｍ）のマンドレルに限定されるものではなく、異なる直径、例え
ば３インチ（７．６ｃｍ）を有するマンドレルを用いてもよい。
【００３４】
ステップ２６０においては、ダイアルプレート２１０が反時計方向に９０°回
転して、マンドレル２０８ａをスライド２１６の近傍に移動させる。次のステッ
プ２６２において、クリップ２１２および２１３により保持されたファイバ端末
が、図９に示されたストリッピング・クリーヴィング・クリーニングステーショ
ンに関して上述したのと全く同様に、ストリッピング装置２１４により被覆を剥
がされ、クリーニング装置２１６により残り屑を清掃され、クリーヴィング装置
２１８により割断される。ストリッピング装置２１４、クリーニング装置２１６
、およびクリーヴィング装置２１８はスライド２２０に沿って移動可能に設けら
れており、端末１２ａおよび１２ｂに対するストリッピング、カッティング、お
よびクリーニング作業を容易にするために、これらの装置をスライド２２０を横
切る方向に移動させることができる直交スライド（図示は省略）も設けられてい
る。これらの作業の後、ステップ２６４において、ダイアルプレート２１０が反
時計方向に９０°回転して、マンドレル２０８ｃによって示されているように、
マンドレルを遮断波長テスタ２２２に対向させる。回転可能なマンドレルのそれ
ぞれは、矢印２１７で示された方向のマンドレルの移動を可能にすベくマンドレ
ル下方のスライド上に配置されている。ファイバ端末１２ａおよび１２ｂを遮断
波長テスタ２２２に接続するために、マンドレル２０８ｃ全体が遮断波長テスタ
に向かって移動せしめられて、ファイバ端末１２ａおよび１２ｂを遮断波長テス
タ２２２に挿入する。次にステップ２６６において、ＰＬＣ２２８はコンピュー
タ２３０に指令を発して、遮断波長テスタ２２２に光ファイバのテストサンプル
を処理させる。このステップ２６６においては、コンピュータ２３０は、外観装
置２２６に指令を発して、遮断波長テスタ２２２のレンズを、クリップ２１２お
よび２１３によって保持されたファイバ端末に心合わせさせる。次にコンピュー
タ２３０は、遮断波長テスタ２２２に指令を発して、光ファイバトサンプルを試
験させる。遮断波長試験は、光ファイバが単一モード光ファイバのように動作を
開始する遮断波長を測定する。
転して、マンドレル２０８ａをスライド２１６の近傍に移動させる。次のステッ
プ２６２において、クリップ２１２および２１３により保持されたファイバ端末
が、図９に示されたストリッピング・クリーヴィング・クリーニングステーショ
ンに関して上述したのと全く同様に、ストリッピング装置２１４により被覆を剥
がされ、クリーニング装置２１６により残り屑を清掃され、クリーヴィング装置
２１８により割断される。ストリッピング装置２１４、クリーニング装置２１６
、およびクリーヴィング装置２１８はスライド２２０に沿って移動可能に設けら
れており、端末１２ａおよび１２ｂに対するストリッピング、カッティング、お
よびクリーニング作業を容易にするために、これらの装置をスライド２２０を横
切る方向に移動させることができる直交スライド（図示は省略）も設けられてい
る。これらの作業の後、ステップ２６４において、ダイアルプレート２１０が反
時計方向に９０°回転して、マンドレル２０８ｃによって示されているように、
マンドレルを遮断波長テスタ２２２に対向させる。回転可能なマンドレルのそれ
ぞれは、矢印２１７で示された方向のマンドレルの移動を可能にすベくマンドレ
ル下方のスライド上に配置されている。ファイバ端末１２ａおよび１２ｂを遮断
波長テスタ２２２に接続するために、マンドレル２０８ｃ全体が遮断波長テスタ
に向かって移動せしめられて、ファイバ端末１２ａおよび１２ｂを遮断波長テス
タ２２２に挿入する。次にステップ２６６において、ＰＬＣ２２８はコンピュー
タ２３０に指令を発して、遮断波長テスタ２２２に光ファイバのテストサンプル
を処理させる。このステップ２６６においては、コンピュータ２３０は、外観装
置２２６に指令を発して、遮断波長テスタ２２２のレンズを、クリップ２１２お
よび２１３によって保持されたファイバ端末に心合わせさせる。次にコンピュー
タ２３０は、遮断波長テスタ２２２に指令を発して、光ファイバトサンプルを試
験させる。遮断波長試験は、光ファイバが単一モード光ファイバのように動作を
開始する遮断波長を測定する。
【００３５】
次にステップ２６８において、マンドレルを後退させて、ファイバ端末１２ａ
および１２ｂを遮断波長テスタ２２２から引き抜き、ダイアルプレート２１０を
反時計方向に９０°回転させ、マンドレル２０８ａをガラス測定テスタ２２４の
近傍に移動させる。ステップ２７０においては、ＰＬＣ２２８がコンピュータ２
３０に指令を発して光ファイバのサンプルを試験させる。このステップ２７０に
おいては、外観装置２２６がガラス測定テスタ２２４のレンズにファイバ端末を
心合わせさせ、ガラス測定テスタ２２４が光ファイバを試験する。ガラス測定テ
スタ２２４は、光ファイバのサンプルのコア部分およびクラッド部分の相対的な
幾何学的パラメータを測定する。さらにガラス測定テスタ２２４は、コアとクラ
ッドとの同心度も測定可能である。
および１２ｂを遮断波長テスタ２２２から引き抜き、ダイアルプレート２１０を
反時計方向に９０°回転させ、マンドレル２０８ａをガラス測定テスタ２２４の
近傍に移動させる。ステップ２７０においては、ＰＬＣ２２８がコンピュータ２
３０に指令を発して光ファイバのサンプルを試験させる。このステップ２７０に
おいては、外観装置２２６がガラス測定テスタ２２４のレンズにファイバ端末を
心合わせさせ、ガラス測定テスタ２２４が光ファイバを試験する。ガラス測定テ
スタ２２４は、光ファイバのサンプルのコア部分およびクラッド部分の相対的な
幾何学的パラメータを測定する。さらにガラス測定テスタ２２４は、コアとクラ
ッドとの同心度も測定可能である。
【００３６】
次にステップ２７２に示されているように、ダイアルプレート２１０を反時計
方向に９０°回転させ、マンドレル２０８ａをパレット５０または９０に対向さ
せる。次にステップ２７４において、ファイバ廃棄装置２０６がファイバ端末の
一方を掴み、ファイバクリップ２１２，２１３がファイバ端末を解放し、ファイ
バ廃棄装置２０６はファイバサンプルを取り除いて廃棄する。次にステップ２７
６において、ＲＦタグ書込み装置２３４が遮断波長およびガラス測定の試験結果
をＲＦ識別タグ８２に書き込む。次にコンベア１１８がパレット５０または９０
を、次のテストステーションに移動させるのに先立って、準備ステーション１０
４に搬送する。
方向に９０°回転させ、マンドレル２０８ａをパレット５０または９０に対向さ
せる。次にステップ２７４において、ファイバ廃棄装置２０６がファイバ端末の
一方を掴み、ファイバクリップ２１２，２１３がファイバ端末を解放し、ファイ
バ廃棄装置２０６はファイバサンプルを取り除いて廃棄する。次にステップ２７
６において、ＲＦタグ書込み装置２３４が遮断波長およびガラス測定の試験結果
をＲＦ識別タグ８２に書き込む。次にコンベア１１８がパレット５０または９０
を、次のテストステーションに移動させるのに先立って、準備ステーション１０
４に搬送する。
【００３７】
４個のマンドレル２０８ａ，２０８ｂ，２０８ｃ，２０８ｄは、光ファイバの
４個のサンプルを同時に処理することを可能にし、設備コストを低減し、処理効
率を向上させる。第１のファイバサンプルが取得されかつマンドレル２０８ａの
周囲に巻き付けられる間に、マンドレル２０８ｂに巻き付けられている第２のフ
ァイバサンプルが、被覆を剥ぎ取られ、クリーニングされ、かつ割断され、マン
ドレル２０８ｃに巻き付けられている第３のファイバサンプルが遮断波長試験に
付され、マンドレル２０８ｄに巻き付けられている第４のファイバサンプルがガ
ラス測定試験を受けることができる。
４個のサンプルを同時に処理することを可能にし、設備コストを低減し、処理効
率を向上させる。第１のファイバサンプルが取得されかつマンドレル２０８ａの
周囲に巻き付けられる間に、マンドレル２０８ｂに巻き付けられている第２のフ
ァイバサンプルが、被覆を剥ぎ取られ、クリーニングされ、かつ割断され、マン
ドレル２０８ｃに巻き付けられている第３のファイバサンプルが遮断波長試験に
付され、マンドレル２０８ｄに巻き付けられている第４のファイバサンプルがガ
ラス測定試験を受けることができる。
【００３８】
図１２Ａに示されているように、ファイバ偏向および被覆ジオミトリーテスト
ステーション１１０は、展開スライド３０２に設けられたファイバクリップ３０
０と、カッティング装置３０４と、ファイバ廃棄装置３０６と、被覆ジオミトリ
ーテスタ３０８とを備えている。ファイバ偏向テスタ３１０はスピンドライブ３
１２を備えている。またテストステーション１１０は、ＲＦタグ識別読取り装置
３１８と、ＲＦタグ識別書込み装置３２０とを備えている。１個または複数のコ
ンピュータ３１６を備えているこのステーション１１０の動作は、ローカルＰＦ
Ｃ３１４によって制御される。本発明の好ましい実施の形態によれば、各スプー
ルから得られる二つのサンプルが同時に処理される。
ステーション１１０は、展開スライド３０２に設けられたファイバクリップ３０
０と、カッティング装置３０４と、ファイバ廃棄装置３０６と、被覆ジオミトリ
ーテスタ３０８とを備えている。ファイバ偏向テスタ３１０はスピンドライブ３
１２を備えている。またテストステーション１１０は、ＲＦタグ識別読取り装置
３１８と、ＲＦタグ識別書込み装置３２０とを備えている。１個または複数のコ
ンピュータ３１６を備えているこのステーション１１０の動作は、ローカルＰＦ
Ｃ３１４によって制御される。本発明の好ましい実施の形態によれば、各スプー
ルから得られる二つのサンプルが同時に処理される。
【００３９】
図１２Ｂは、図１２Ａに示されているテストステーション１１０を利用したフ
ァイバカールおよび被覆ジオミトリー試験の実施を自動化するための手法３５０
を示す。第１ステップ３５１においては、ＲＦタグ読取り装置３１８がＲＦ識別
タグ８２を読み取り、そのスプール１０に関する経路指令および処理指令を判定
する。第２ステップ３５２においては、ローカルＰＬＣ３１４は、そのスプール
１０がテストステーション１１０で処理されるべきであることを経路指令が示し
ているか否かを判定する。もしＰＬＣ３１４がそのスプール１０はテストステー
ション１１０で処理されるべきでないと判定した場合には、パレット５０または
９０はステップ３５３で次のステーションに移動せしめられる。もしＰＬＣ３１
４がそのスプール１０はテストステーション１１０で処理されるべきであると判
定した場合には、パレット５０または９０はステップ３５４で、図１２Ａに示さ
れているように、スライド３０２の近傍位置に移動せしめられる。ファイバクリ
ップ３００が展開スライド３０２によってスプール１０に向かって移動せしめら
れ、ファイバ端末１２ａを捕捉して掴む。展開スライド３０２がクリップ３００
をパレット５０または９０から離れるように移動させ、適当な長さ（例えば８イ
ンチ、２０ｃｍ）の光ファイバを引き出す。ステップ３５５においては、クリッ
プ３００によって保持された光ファイバのサンプルを残して、カッティング装置
３０４が光ファイバを切断する。ステップ３５６においては、ファイバクリップ
３００がスライド３０２に沿って移動して、光ファイバのサンプルをスピンドラ
イブ３１２に渡し、スピンドライブ３１２はファイバサンプルを一端で保持する
。
ァイバカールおよび被覆ジオミトリー試験の実施を自動化するための手法３５０
を示す。第１ステップ３５１においては、ＲＦタグ読取り装置３１８がＲＦ識別
タグ８２を読み取り、そのスプール１０に関する経路指令および処理指令を判定
する。第２ステップ３５２においては、ローカルＰＬＣ３１４は、そのスプール
１０がテストステーション１１０で処理されるべきであることを経路指令が示し
ているか否かを判定する。もしＰＬＣ３１４がそのスプール１０はテストステー
ション１１０で処理されるべきでないと判定した場合には、パレット５０または
９０はステップ３５３で次のステーションに移動せしめられる。もしＰＬＣ３１
４がそのスプール１０はテストステーション１１０で処理されるべきであると判
定した場合には、パレット５０または９０はステップ３５４で、図１２Ａに示さ
れているように、スライド３０２の近傍位置に移動せしめられる。ファイバクリ
ップ３００が展開スライド３０２によってスプール１０に向かって移動せしめら
れ、ファイバ端末１２ａを捕捉して掴む。展開スライド３０２がクリップ３００
をパレット５０または９０から離れるように移動させ、適当な長さ（例えば８イ
ンチ、２０ｃｍ）の光ファイバを引き出す。ステップ３５５においては、クリッ
プ３００によって保持された光ファイバのサンプルを残して、カッティング装置
３０４が光ファイバを切断する。ステップ３５６においては、ファイバクリップ
３００がスライド３０２に沿って移動して、光ファイバのサンプルをスピンドラ
イブ３１２に渡し、スピンドライブ３１２はファイバサンプルを一端で保持する
。
【００４０】
次にステップ３５８において、ＰＬＣ３１４はコンピュータ３１６に指令を発
してファイバカールテスタ３１０を作動させる。光ファイバのサンプルは、基準
に対する偏向測定が周期的になされている間、スピンドライブ３１２によって軸
線の周りで回転せしめられる。このデータから、ファイバカールの測定が判定さ
れる。ステップ３６０においては、クリップ３００がサンプルをスピンドライブ
３１２から再取得し、このサンプルをスライド３０２に沿って被覆ジオミトリー
テスタ３０８まで摺動させる。ステップ３６２においては、ファイバサンプルは
クランプまたはファイバ掴み装置へ移り、次にクランプがファイバサンンプルを
垂直方向へ回転させ、被覆ジオミトリーテスタ３０８に挿入する。ＰＬＣ３１４
はコンピュータ３１６に指令を発して被覆ジオミトリーテスタ３０８を作動させ
る。この試験においては、ファイバサンンプルは垂直に配置され、被覆とガラス
ファイバとの相対ジオミトリーに関するデータが測定されている間、被覆ジオミ
トリーテスタ３０８によってその軸線の周りで回転せしめられる。このデータか
ら、被覆内部のファイバの配置に関する種々のパラメータが測定される。次にス
テップ３６４において、ファイバサンプルは、クランプによって被覆ジオミトリ
ーテスタ３０８から取り外され、クリップに渡される。クリップ３００はファイ
バサンプルを展開スライド３０２に沿ってファイバ廃棄装置３０６まで移動させ
、ファイバ廃棄装置３０６はファイバサンプルを取得して廃棄する。ステップ３
６６においては、ＲＦタグ書込み装置３２０が、被覆ジオミトリおよびファイバ
偏向試験の結果をＲＦ識別タグ８２に書き込む。コンベア１１８はパレット５０
または９０を次のテストステーションに移動させる。
してファイバカールテスタ３１０を作動させる。光ファイバのサンプルは、基準
に対する偏向測定が周期的になされている間、スピンドライブ３１２によって軸
線の周りで回転せしめられる。このデータから、ファイバカールの測定が判定さ
れる。ステップ３６０においては、クリップ３００がサンプルをスピンドライブ
３１２から再取得し、このサンプルをスライド３０２に沿って被覆ジオミトリー
テスタ３０８まで摺動させる。ステップ３６２においては、ファイバサンプルは
クランプまたはファイバ掴み装置へ移り、次にクランプがファイバサンンプルを
垂直方向へ回転させ、被覆ジオミトリーテスタ３０８に挿入する。ＰＬＣ３１４
はコンピュータ３１６に指令を発して被覆ジオミトリーテスタ３０８を作動させ
る。この試験においては、ファイバサンンプルは垂直に配置され、被覆とガラス
ファイバとの相対ジオミトリーに関するデータが測定されている間、被覆ジオミ
トリーテスタ３０８によってその軸線の周りで回転せしめられる。このデータか
ら、被覆内部のファイバの配置に関する種々のパラメータが測定される。次にス
テップ３６４において、ファイバサンプルは、クランプによって被覆ジオミトリ
ーテスタ３０８から取り外され、クリップに渡される。クリップ３００はファイ
バサンプルを展開スライド３０２に沿ってファイバ廃棄装置３０６まで移動させ
、ファイバ廃棄装置３０６はファイバサンプルを取得して廃棄する。ステップ３
６６においては、ＲＦタグ書込み装置３２０が、被覆ジオミトリおよびファイバ
偏向試験の結果をＲＦ識別タグ８２に書き込む。コンベア１１８はパレット５０
または９０を次のテストステーションに移動させる。
【００４１】
図１３Ａに示されているように、ＰＭＤテストステーション１１２は、展開ス
ライド４０２に設けられたファイバクリップ４００および掴み４０１と、カッテ
ィング装置４０４と、ＰＭＤテスタ４０８とを備えている。クリップ４１４を備
えたＶ溝治具４１０が展開スライド４１０の近傍に配置されている。テストステ
ーション１１２はまた、ファイバクリップ４１３を備えた移送スライド４１２を
備えている。ストリッピング装置４１６、クリーニング装置４１８、およびクリ
ーヴィング装置４２０が移送スライド４１２の近傍に配置されている。ＰＭＤテ
スタ４０８はクリップ４１２を備えている。テストステーション１１２はまた、
ＲＦタグ識別読取り装置４２４と、ＲＦタグ識別書込み装置４２６とを備えてい
る。１個または複数のコンピュータ４２８を備えているこのステーション１１２
の動作は、ローカルＰＦＣ４３０によって制御される。
ライド４０２に設けられたファイバクリップ４００および掴み４０１と、カッテ
ィング装置４０４と、ＰＭＤテスタ４０８とを備えている。クリップ４１４を備
えたＶ溝治具４１０が展開スライド４１０の近傍に配置されている。テストステ
ーション１１２はまた、ファイバクリップ４１３を備えた移送スライド４１２を
備えている。ストリッピング装置４１６、クリーニング装置４１８、およびクリ
ーヴィング装置４２０が移送スライド４１２の近傍に配置されている。ＰＭＤテ
スタ４０８はクリップ４１２を備えている。テストステーション１１２はまた、
ＲＦタグ識別読取り装置４２４と、ＲＦタグ識別書込み装置４２６とを備えてい
る。１個または複数のコンピュータ４２８を備えているこのステーション１１２
の動作は、ローカルＰＦＣ４３０によって制御される。
【００４２】
本発明に用いるのに好適なＰＭＤテスタの一例が、「製造環境に適した偏光モ
ード分散測定システムおよび方法」と題して１９９９年３月３１日付けで出願さ
れた米国仮特許出願第６０／１２７,１０７号 に記載されており、これは引例と
して全体が本明細書に組み入れられる。
ード分散測定システムおよび方法」と題して１９９９年３月３１日付けで出願さ
れた米国仮特許出願第６０／１２７,１０７号 に記載されており、これは引例と
して全体が本明細書に組み入れられる。
【００４３】
図１３Ｂおよび図１３Ｃは、図１３Ａに示されているテストステーション１１
２を利用したファイバＰＭＤテストの実施を自動化するための手法４５０を示す
。第１ステップ４５１においては、ＲＦタグ読取り装置４２４がＲＦ識別タグ８
２を読み取り、そのスプール１０に関する経路指令および処理指令を判定する。
第２ステップ４５２においては、ローカルＰＬＣ４５２は、そのスプール１０が
テストステーション１１２で処理されるべきであることを経路指令が示している
か否かを判定する。もしＰＬＣ４５２がそのスプール１０はテストステーション
１１２で処理されるべきでないと判定した場合には、パレット５０または９０は
ステップ４５３で次のステーションに移動せしめられる。もしＰＬＣ４５２がそ
のスプール１０はテストステーション１１２で処理されるべきであると判定した
場合には、パレット５０または９０はステップ４５４で、図１３Ａに示されてい
るように、スライド４０２の近傍位置に移動せしめられる。ファイバクリップ４
００がスライド４０２によってスプール１０に向かって移動せしめられ、ファイ
バ端末１２ａを捕捉して掴み、かつ展開スライド４０２がクリップ４００をパレ
ット５０または９０から離れるように移動させ、Ｖ溝治具４１０のＶ溝上に適当
な長さ（例えば１２インチ、３０ｃｍ）の光ファイバ１２を引き出す。ステップ
４５５においては、Ｖ溝治具４１０のクリップ４１４が上昇し、クリップ４００
が光ファイバを放すのでクリップ４１４が光ファイバを取得する。ステップ４５
６においては、カッティング装置４０４が光ファイバを切断し、クリップ４１４
によって保持された光ファイバのサンプルが残る。ステップ４５７においては、
クリップ４１４が光ファイバのサンプルをＶ溝の底に降ろし、コンベア１１８の
最も近いクリップ４１４が解放される。またステップ４５７において、Ｖ溝の底
の孔を通じてエアが噴出せしめられて、光ファイバのサンプルがそれ自身のねじ
れを利用して捻られていない状態になるようになることを許容するエアベッドを
生成させる。ステップ４５８においては、スライド４０２に設けられている、フ
ェルトを先端にかぶせた掴み４０１が下降して、クリップ４１４によって保持さ
れたサンプルの端部をクランプする。次に掴み４０１がサンプルの長さ方向に沿
って移動してサンプルを真っ直ぐにする。以前のステップ４５７において光ファ
イバのサンプルを放したクリップ４１４がサンプルを再び取得する。
２を利用したファイバＰＭＤテストの実施を自動化するための手法４５０を示す
。第１ステップ４５１においては、ＲＦタグ読取り装置４２４がＲＦ識別タグ８
２を読み取り、そのスプール１０に関する経路指令および処理指令を判定する。
第２ステップ４５２においては、ローカルＰＬＣ４５２は、そのスプール１０が
テストステーション１１２で処理されるべきであることを経路指令が示している
か否かを判定する。もしＰＬＣ４５２がそのスプール１０はテストステーション
１１２で処理されるべきでないと判定した場合には、パレット５０または９０は
ステップ４５３で次のステーションに移動せしめられる。もしＰＬＣ４５２がそ
のスプール１０はテストステーション１１２で処理されるべきであると判定した
場合には、パレット５０または９０はステップ４５４で、図１３Ａに示されてい
るように、スライド４０２の近傍位置に移動せしめられる。ファイバクリップ４
００がスライド４０２によってスプール１０に向かって移動せしめられ、ファイ
バ端末１２ａを捕捉して掴み、かつ展開スライド４０２がクリップ４００をパレ
ット５０または９０から離れるように移動させ、Ｖ溝治具４１０のＶ溝上に適当
な長さ（例えば１２インチ、３０ｃｍ）の光ファイバ１２を引き出す。ステップ
４５５においては、Ｖ溝治具４１０のクリップ４１４が上昇し、クリップ４００
が光ファイバを放すのでクリップ４１４が光ファイバを取得する。ステップ４５
６においては、カッティング装置４０４が光ファイバを切断し、クリップ４１４
によって保持された光ファイバのサンプルが残る。ステップ４５７においては、
クリップ４１４が光ファイバのサンプルをＶ溝の底に降ろし、コンベア１１８の
最も近いクリップ４１４が解放される。またステップ４５７において、Ｖ溝の底
の孔を通じてエアが噴出せしめられて、光ファイバのサンプルがそれ自身のねじ
れを利用して捻られていない状態になるようになることを許容するエアベッドを
生成させる。ステップ４５８においては、スライド４０２に設けられている、フ
ェルトを先端にかぶせた掴み４０１が下降して、クリップ４１４によって保持さ
れたサンプルの端部をクランプする。次に掴み４０１がサンプルの長さ方向に沿
って移動してサンプルを真っ直ぐにする。以前のステップ４５７において光ファ
イバのサンプルを放したクリップ４１４がサンプルを再び取得する。
【００４４】
次にステップ４５９において、クリップ４１３がスライド４１２に沿ってＶ溝
まで移動し、ファイバサンプルをクリップ４１４から取得する。サンプルを取得
した後、両クリップは互いに僅かに接近して、光ファイバサンプルの僅かな弛み
を許容する。ステップ４６０においては、クリップ４１３がサンプルをスライド
４１２に沿って移動させて、光ファイバの両端がストリッピング装置４１６によ
って被覆を剥ぎ取られ、クリーンニング装置４１８によってクリニングされ、ク
リーヴィング装置４２０によって割断される。ステップ４６２においては、クリ
ップ４１３がスライド４１２に沿って移動し、光ファイバサンプルをテストする
ＰＭＤテスタ４０８のクリップ４２１にサンプルを渡す。ステップ４６４におい
ては、光ファイバサンプルが廃棄装置によって廃棄される。ステップ４６６にお
いては、ＲＦタグ書込み装置４２６がＲＦ識別タグ８２にＰＭＤテストの結果を
書き込む。次にコンベア１１８がパレット５０または９０を次のステーションに
搬送する。
まで移動し、ファイバサンプルをクリップ４１４から取得する。サンプルを取得
した後、両クリップは互いに僅かに接近して、光ファイバサンプルの僅かな弛み
を許容する。ステップ４６０においては、クリップ４１３がサンプルをスライド
４１２に沿って移動させて、光ファイバの両端がストリッピング装置４１６によ
って被覆を剥ぎ取られ、クリーンニング装置４１８によってクリニングされ、ク
リーヴィング装置４２０によって割断される。ステップ４６２においては、クリ
ップ４１３がスライド４１２に沿って移動し、光ファイバサンプルをテストする
ＰＭＤテスタ４０８のクリップ４２１にサンプルを渡す。ステップ４６４におい
ては、光ファイバサンプルが廃棄装置によって廃棄される。ステップ４６６にお
いては、ＲＦタグ書込み装置４２６がＲＦ識別タグ８２にＰＭＤテストの結果を
書き込む。次にコンベア１１８がパレット５０または９０を次のステーションに
搬送する。
【００４５】
図８に示された外観検査ステーション１１４では、作業者が外観でスプール１
０を検査する。ローカルＰＬＣ１２１は、スプール１０が上記したすべてのステ
ーションを通過した後に、パレット５０または９０を外観検査ステーション１１
４を通らせる。スプール１０の検査に加えて、作業者は光ファイバ端末１２ａ，
１２ｂにテープを巻く。パレット５０または９０が外観検査ステーション１１４
を後にしたとき、ＲＦタグ読取り装置１１５がＲＦ識別タグ８２を読み取り、検
査結果を製造ラインに送信して、システム１００からのタイムリーなフィードバ
ックによって製造ラインの修正を可能にする。コンベア１１８はパレット５０ま
たは９０を取外しステーション１１６に搬送する。
０を検査する。ローカルＰＬＣ１２１は、スプール１０が上記したすべてのステ
ーションを通過した後に、パレット５０または９０を外観検査ステーション１１
４を通らせる。スプール１０の検査に加えて、作業者は光ファイバ端末１２ａ，
１２ｂにテープを巻く。パレット５０または９０が外観検査ステーション１１４
を後にしたとき、ＲＦタグ読取り装置１１５がＲＦ識別タグ８２を読み取り、検
査結果を製造ラインに送信して、システム１００からのタイムリーなフィードバ
ックによって製造ラインの修正を可能にする。コンベア１１８はパレット５０ま
たは９０を取外しステーション１１６に搬送する。
【００４６】
図１４に示されているように、取外しステーション１１６は、取外し装置５０
０、不合格列５０２、再検査列５０４、および合格列５０６を備えている。ロー
カルＰＬＣ１２１は、スプール１０が外観検査を受けた後、あるいは上述したテ
ストの一つで不合格になった後、パレット５０または９０を取外しステーション
１１６に導く。パレット５０または９０が取外しステーション１１６に到達する
と、ＰＬＣ１２１は、取外し装置５００に命じて、スプール１０をパレット５０
または９０から取り外させ、スプールを該当する列へ配置させる。空になったパ
レット５０または９０は、次に装填ステーションへ進んで。別のスプールが装填
される。
０、不合格列５０２、再検査列５０４、および合格列５０６を備えている。ロー
カルＰＬＣ１２１は、スプール１０が外観検査を受けた後、あるいは上述したテ
ストの一つで不合格になった後、パレット５０または９０を取外しステーション
１１６に導く。パレット５０または９０が取外しステーション１１６に到達する
と、ＰＬＣ１２１は、取外し装置５００に命じて、スプール１０をパレット５０
または９０から取り外させ、スプールを該当する列へ配置させる。空になったパ
レット５０または９０は、次に装填ステーションへ進んで。別のスプールが装填
される。
【００４７】
本発明においては、本発明の精神および範囲から外れることなしに種々の変更
が可能なことは当業者にとって明らかであろう。したがって、本発明は、特許請
求の範囲およびそれらの均等物の範囲内で、種々の変形変更をカバーすることを
意図するものである。
が可能なことは当業者にとって明らかであろう。したがって、本発明は、特許請
求の範囲およびそれらの均等物の範囲内で、種々の変形変更をカバーすることを
意図するものである。
【図１】
本発明に使用するのに適したスプールを示す図
【図２】
本発明によるパレットの斜視図
【図３】
図３Ａ，３Ｂ，３Ｃおよび３Ｄはそれぞれ、本発明によるパレットの平面図、
正面図、側面図および斜視図
正面図、側面図および斜視図
【図４】
図１のスプールをの載置した図２のパレットの斜視図
【図５】
図１のスプールを載置した本発明の他の実施の形態によるパレットの斜視図
【図６】
図６Ａ，６Ｂ，６Ｃおよび６Ｄはそれぞれ、図５のパレットの平面図、正面図
、側面図および斜視図
、側面図および斜視図
【図７】
図１のスプールを載置した図５のパレットの斜視図
【図８】
本発明による自動化された光ファイバ試験システムの全体図
【図９】
図８のシステムに使用するのに適した準備ステーションの詳細図
【図１０Ａ】
図８のシステムに用いるのに適した光の時間領域反射率および光の分散テスト
ステーションの詳細図
ステーションの詳細図
【図１０Ｂ】
本発明により図１０Ａの光の時間分域反射率および光の分散テストの実施を自
動化する方法のフローチャート
動化する方法のフローチャート
【図１１Ａ】
図８のシステムに用いるのに適したガラス測定および遮断波長テストステーシ
ョンの詳細図
ョンの詳細図
【図１１Ｂ】
本発明により図１１Ａのガラス測定および遮断周波数テストの実施を自動化す
る方法のフローチャート
る方法のフローチャート
【図１１Ｃ】
本発明により図１１Ａのガラス測定および遮断周波数テストの実施を自動化す
る方法のフローチャート
る方法のフローチャート
【図１２Ａ】
図８のシステムに用いるのに適したファイバ偏向テストステーションおよび被
覆ジオミトリーテストステーションの詳細図
覆ジオミトリーテストステーションの詳細図
【図１２Ｂ】
本発明により図１２Ａのファイバ偏向および被覆ジオミトリーテストの実施を
自動化する方法のフローチャート
自動化する方法のフローチャート
【図１３Ａ】
図８のシステムに用いるのに適した偏光モード分散テストステーションの詳細
図
図
【図１３Ｂ】
本発明により図１３Ａの偏光モード分散テストの実施を自動化する方法のフロ
ーチャート
ーチャート
【図１３Ｃ】
本発明により図１３Ａの偏光モード分散テストの実施を自動化する方法のフロ
ーチャート
ーチャート
【図１４】
図８のシステムに用いるのに適した取外しステーションの詳細図
１０ スプール
１２ 光ファイバ
５０，９０ パレット
５４ 基台
６８，７６ フィードフィンガーアセンブリ
７０ ピックオフアセンブリ
７１ クラッチアセンブリ
７２，８１ ファイバガイド
８２ ＲＦ識別タグ
１００ ファイバ測定システム
１１８ コンベアシステム
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考）
Ｇ０２Ｂ 6/00 ３３３ Ｇ０２Ｂ 6/00 ３３３
３３４ ３３４
(81)指定国 ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＣＹ，
ＤＥ，ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，Ｉ
Ｔ，ＬＵ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＡＥ，ＡＧ，Ａ
Ｌ，ＡＭ，ＡＴ，ＡＵ，ＡＺ，ＢＡ，ＢＢ，ＢＧ，ＢＲ
，ＢＹ，ＢＺ，ＣＡ，ＣＨ，ＣＮ，ＣＲ，ＣＵ，ＣＺ，
ＤＥ，ＤＫ，ＤＭ，ＤＺ，ＥＥ，ＥＳ，ＦＩ，ＧＢ，Ｇ
Ｄ，ＧＥ，ＧＨ，ＧＭ，ＨＲ，ＨＵ，ＩＤ，ＩＬ，ＩＮ
，ＩＳ，ＪＰ，ＫＥ，ＫＧ，ＫＰ，ＫＲ，ＫＺ，ＬＣ，
ＬＫ，ＬＲ，ＬＳ，ＬＴ，ＬＵ，ＬＶ，ＭＡ，ＭＤ，Ｍ
Ｇ，ＭＫ，ＭＮ，ＭＷ，ＭＸ，ＭＺ，ＮＯ，ＮＺ，ＰＬ
，ＰＴ，ＲＯ，ＲＵ，ＳＤ，ＳＥ，ＳＧ，ＳＩ，ＳＫ，
ＳＬ，ＴＪ，ＴＭ，ＴＲ，ＴＴ，ＴＺ，ＵＡ，ＵＧ，Ｕ
Ｚ，ＶＮ，ＹＵ，ＺＡ，ＺＷ
(72)発明者 キッシュ，ウィリアム ジェイ
アメリカ合衆国 ノースカロライナ州
28411 ウィルミントン クリーク リッ
ジ ロッド 6808
Ｆターム(参考） 2G086 AA02 BB01 BB02 KK01
2H038 CA01 CA11
Claims (52)
- 【請求項１】 光ファイバの試験を自動化するためのシステムであって、 前記光ファイバの第１端末を第１試験装置に案内し、かつ前記光ファイバに対
し試験を施すの適した少なくとも一つの自動化されたテストステーションと、 前記光ファイバを前記テストステーションへ搬送するのに適した自動化された
コンベアシステムと、 を備えていることを特徴とする前記システム。 - 【請求項２】 前記少なくとも一つのテストステーションが、前記光ファイ
バの第１端末から被覆を剥ぎ取るのにさらに適していることを特徴とする請求項
１記載のシステム。 - 【請求項３】 前記少なくとも一つのテストステーションが、前記光ファイ
バの第２端末から被覆を剥ぎ取り、かつ該光ファイバの第２端末を前記第１試験
装置に案内するのにさらに適していることを特徴とする請求項２記載のシステム
。 - 【請求項４】 前記少なくとも一つのテストステーションが、前記光ファイ
バの第１端末を割断するのにさらに適していることを特徴とする請求項２記載の
システム。 - 【請求項５】 前記少なくとも一つのテストステーションが、前記光ファイ
バの第１端末を清浄にするのにさらに適していることを特徴とする請求項４記載
のシステム。 - 【請求項６】 前記少なくとも一つのテストステーションが、所要の長さの
光ファイバサンプルを取得し、該所要の長さの光ファイバサンプルに対し試験を
施すのにさらに適していることを特徴とする請求項４記載のシステム。 - 【請求項７】 光ファイバの試験を自動化するためのシステムであって、 前記光ファイバが巻回されたスプールと、 前記光ファイバの第１および第２端末から被覆を自動的に剥ぎ取り、前記光フ
ァイバの第１端末および第２端末を自動的に切り取るのに適した第１ステーショ
ンと、 第１試験装置を備えた第２ステーションとを有し、 前記第１または第２ステーションの一方が、前記光ファイバの第１端末および
第２端末を前記第１試験装置に案内し、かつ前記光ファイバに第１試験を施すの
に適しており、 さらに、前記スプールを前記第１ステーションから前記第２ステーションに搬
送するのに適した自動化されたコンベアシステムを備えていることを特徴とする
前記システム。 - 【請求項８】 前記第１ステーションが、前記光ファイバの第１端末および
第２端末を清浄にするのにさらに適しており、前記第２ステーションが、前記光
ファイバの第１端末および第２端末を割断するのにさらに適していることを特徴
とする請求項７記載のシステム。 - 【請求項９】 前記第２ステーションが、 前記光ファイバの第１端末および第２端末を引き出し、 前記第１端末から第１長さの光ファイバを切り取り、 前記第２端末から第２長さの光ファイバを切り取り、 前記第１長さおよび前記２長さの光ファイバを廃棄するのにさらに適している
ことを特徴とする請求項７記載のシステム。 - 【請求項１０】 前記第１試験が、光学的時間領域反射率測定を用いて前記
光ファイバの光学的減衰の測定を判定することを含むことを特徴とする請求項７
記載のシステム。 - 【請求項１１】 前記第１試験が、光学的時間領域反射率測定を用いて前記
光ファイバの光学的分散測定を判定することを含むことを特徴とする請求項７記
載のシステム。 - 【請求項１２】 前記スプールを載置するパレットと、 該パレットに設けられて、スプール識別データ、試験手順指令、および試験結
果を含むデータを格納するのに適した高周波（ＲＦ）タグと、 前記自動化されたコンベアシステムの近傍に配置されて、前記ＲＦタグに対し
データの読取り・書込みを行なうのに適した複数のＲＦタグ装置と、 を備えていることを特徴とする請求項７記載のシステム。 - 【請求項１３】 所要の長さの光ファイバテストサンプルを取得し、該所要
の長さの光ファイバテストサンプルを第２試験装置へ案内し、かつ前記所要の長
さの光ファイバテストサンプルに対し第２試験を施すのに適した第３ステーショ
ンをさらに備え、 前記自動化されたコンベアシステムが、前記スプールを前記第２テストステー
ションから前記第３テストステーションへ搬送するのにさらに適していることを
特徴とする請求項７記載のシステム。 - 【請求項１４】 第１端末および第２端末を備えた光ファイバの試験を自動
化するためのシステムであって、 光ファイバが巻回されたスプールと、 前記光ファイバの第１端末および第２端末を処理し、該光ファイバの第１端末
を第１試験装置へ案内し、前記光ファイバに第１試験を施すのに適した第１テス
トステーションと、 所要の長さの光ファイバテストサンプルを取得し、該所要の長さの光ファイバ
テストサンプルを第２試験装置へ案内し、かつ前記所要の長さの光ファイバテス
トサンプルに第２試験を施すのに適した第２ステーションと、 前記スプールを前記第１テストステーションから前記第２テストステーション
へ搬送するのに適した自動化されたコンベアシステムと、 を備えていることを特徴とする前記システム。 - 【請求項１５】 光ファイバ試験を自動化する方法であって、 光ファイバ保管スプールから光ファイバの少なくとも一方の端末を取得し、該
光ファイバの少なくとも一方の端末を光ファイバ試験装置に案内し、該光ファイ
バ試験装置により前記光ファイバを試験する各ステップを含むことを特徴とする
前記方法。 - 【請求項１６】 前記取得ステップに先立って、光ファイバ保管スプールに
保管された前記光ファイバを、該ファイバが取得されかつ前記試験装置に案内さ
れるべき場所に搬送するステップをさらに含むことを特徴とする請求項１５記載
の方法。 - 【請求項１７】 前記試験装置が光学的時間領域反射率計であることを特徴
とする請求項１５記載の方法。 - 【請求項１８】 前記試験装置が光学的時間領域反射率計であることを特徴
とする請求項１６記載の方法。 - 【請求項１９】 前記少なくとも一方の端末を取得するステップの後でかつ
前記案内ステップに先立って、 前記試験装置により前記光ファイバの少なくとも一方の端末から被覆を剥ぎ取
り、前記試験装置により前記光ファイバの少なくとも一方の端末を割断し、前記
試験装置により前記光ファイバの少なくとも一方の端末を清浄にする各ステップ
をさらに含むことを特徴とする請求項１５記載の方法。 - 【請求項２０】 前記光ファイバを試験した後に、 前記試験装置により前記光ファイバの少なくとも一方の端末から所要の長さの
光ファイバを切り取り、前記試験装置により前記所要の長さの光ファイバを廃棄
する各ステップをさらに含むことを特徴とする請求項１９記載の方法。 - 【請求項２１】 前記スプールとともにデータ格納手段を提供するステップ
をさらに含むことを特徴とする請求項２０記載の方法。 - 【請求項２２】 前記取得ステップが、円筒状マンドレルの周りに前記ファ
イバを自動的に巻き付けるステップを含むことを特徴とする請求項１５記載の方
法。 - 【請求項２３】 前記試験装置がファイバ遮断波長を測定することを特徴と
する請求項２２記載の方法。 - 【請求項２４】 光ファイバの試験を自動化する方法であって、 ファイバ保管スプール上に保管された長尺の光ファイバを、自動化された搬送
システムにより第１テストステーションに搬送し、 試験装置により所要の長さの光ファイバサンプルを取得し、 前記試験装置により前記所要の長さの光ファイバサンプルを光ファイバテスタ
に案内し、 該光ファイバテスタにより、前記光ファイバサンプルを試験する、 各ステップを含むことを特徴とする前記方法。 - 【請求項２５】 前記所要の長さのサンプルを取得するステップの後に、 前記試験装置により、所要の長さの光ファイバサンプルの少なくとも一端から
被覆を剥ぎ取り、 前記試験装置により、前記所要の長さの光ファイバサンプルの少なくとも一端
を割断し、 前記試験装置により、前記所要の長さの光ファイバサンプルの少なくとも一端
を清浄にする、 各ステップをさらに含むことを特徴とする請求項２４記載の方法。 - 【請求項２６】 前記所要の長さのサンプルを試験するステップの後に、該
所要の長さの光ファイバサンプルを廃棄するステップをさらに含むことを特徴と
する請求項２４記載の方法。 - 【請求項２７】 前記試験をするステップの後に、前記ファイバスプールを
第２テストステーションに搬送するステップをさらに含むことを特徴とする請求
項２４記載の方法。 - 【請求項２８】 光ファイバのスプールを載置するのに適したパレットであ
って、 光ファイバのスプールを支持するのに適した取付け装置と、 前記光ファイバの第１端末が該第１端末に対する容易なアクセスを提供する態
様で外方へ延出するように、前記光ファイバの第１端末を支持するのに適した第
１構造と、 を備えていることを特徴とする前記パレット。 - 【請求項２９】 前記光ファイバの第２端末が該第２端末に対する容易なア
クセスを提供する態様で外方へ延出するように、前記光ファイバの第２端末を支
持するのに適した第２構造をさらに備えていることを特徴とする請求項２８記載
のパレット。 - 【請求項３０】 前記第１構造は、前記光ファイバの第２端末を妨害するこ
となしに光ファイバが前記第１端末からほどかれるのを許容するのにさらに適し
ており、かつ 前記第２構造は、前記第１端末を妨害することなしに光ファイバが前記第２端
末からほどかれるのを許容するのにさらに適していることを特徴とする請求項２
９記載のパレット。 - 【請求項３１】 前記第１構造および前記第２構造は、光ファイバが前記第
１端末および前記第２端末から同時にほどかれるのを許容するのにさらに適して
いることを特徴とする請求項３０記載のパレット。 - 【請求項３２】 前記パレットは、前記光ファイバのスプールを光ファイバ
テストステーションへ運ぶのにさらに適していることを特徴とする請求項２８記
載のパレット。 - 【請求項３３】 前記パレットは、自動化された光ファイバ試験システムと
ともに用いるのにさらに適していることを特徴とする請求項２８記載のパレット
。 - 【請求項３４】 前記パレットは、コンベアシステムとともに用いて、前記
光ファイバのスプールを、自動化された第１ステーションから自動化された第２
ステーションへ運ぶのにさらに適していることを特徴とする請求項２８記載のパ
レット。 - 【請求項３５】 前記パレットに設けられた、読取り・書込みに適したデー
タ格納装置をさらに備えていることを特徴とする請求項２８記載のパレット。 - 【請求項３６】 前記データ格納装置は、前記光ファイバのスプールを識別
し、かつ少なくとも一つの試験結果のデータベースを提供することを特徴とする
請求項３５記載のパレット。 - 【請求項３７】 光ファイバのスプールを載置するのに適したパレットであ
って、 基台と、 該基台上に取り付けられて、光ファイバのスプールを支持するのに適したスプ
ール支持装置と、 前記基台に設けられて、前記光ファイバの第１端末を支持するのに適した第１
フィードフィンガーアセンブリと、 前記基台に設けられて、前記光ファイバの第２端末を支持するのに適した第２
フィードフィンガーアセンブリとを備え、 前記パレットは、前記第２端末を妨害することなしに光ファイバが前記第１端
末からほどかれるのを許容し、かつ前記第１端末を妨害することなしに光ファイ
バが前記第２端末からほどかれるのを許容するのに適していることを特徴とする
前記パレット。 - 【請求項３８】 光ファイバのスプールを載置するのに適したパレットであ
って、 基台と、 該基台上に取り付けられて、光ファイバのスプールを支持するのに適したスプ
ール支持装置と、 前記基台上に取り付けられた第１垂直ブラケットと、 前記基台上に取り付けられた第２垂直ブラケットと、 前記第１垂直ブラケットに回転可能に取り付けられて前記光ファイバの第１端
末を支持し、かつ前記光ファイバの第２端末を妨害することなしに光ファイバが
前記第１端末からほどかれるのを許容するのに適した第１フィードフィンガーア
センブリと、 前記第２垂直ブラケットに回転可能に取り付けられて前記光ファイバの第２端
末を支持し、かつ前記第１端末を妨害することなしに光ファイバが前記第２端末
からほどかれるのを許容するのに適した第２フィードフィンガーアセンブリと、
を備えていることを特徴とする前記パレット。 - 【請求項３９】 前記スプール支持装置が一対のローラを含むローラーアセ
ンブリを備えていることを特徴とする請求項３８記載のパレット。 - 【請求項４０】 前記前記第１垂直ブラケットに回転可能に取り付けられた
ピックオフアセンブリと、 前記ピックオフアセンブリから延びて、光ファイバを通すのに適したる輪を備
えた第１リードメータと、 クラッチアセンブリとをさらに備え、 該クラッチアセンブリは、 光ファイバが前記第２端末からほどかれるときには、前記ピックオフアセンブリ
、前記第１リードメータ、および前記クラッチアセンブリが前記スプールと同期
して回転し、かつ光ファイバが前記第１端末からほどかれるときには、前記スプ
ールが実質的に固定状態を保ち、かつ前記ピックオフアセンブリ、前記第１リー
ドメータ、および前記クラッチアセンブリが回転するように前記スプールと係合
する態様で前記ピックオフアセンブリに取り付けられていることを特徴とする請
求項３８記載のパレット。 - 【請求項４１】 前記基台上に取り付けられた、前記光ファイバを案内する
のに適した直立ガイドローラと、 前記第２垂直ブラケットに設けられた、前記光ファイバを案内するのに適した
副ローラと、 前記第２垂直ブラケットから延びて、光ファイバを通すのに適したる輪を備え
た第２リードメータと、 をさらに備えていることを特徴とする請求項４０記載のパレット。 - 【請求項４２】 スプール・パレットシステムであって、 第１端末および第２端末を備えた光ファイバのスプールと、 前記光ファイバの第１端末が該第１端末に対する容易なアクセスを提供する態
様で外方へ延出し、かつ前記光ファイバの第２端末が該第２端末に対する容易な
アクセスを提供する態様で外方へ延出するように光ファイバのスプールを支持す
るパレットと、 を備えていることを特徴とする前記スプール・パレットシステム。 - 【請求項４３】 前記パレットは、前記第２端末を妨害することなしに光フ
ァイバが前記第１端末からほどかれるのを許容し、かつ前記第１端末を妨害する
ことなしに光ファイバが前記第２端末からほどかれるのを許容するのに適してい
ることを特徴とする請求項４２記載のシステム。 - 【請求項４４】 前記パレットは、光ファイバが前記第１端末および前記第
２端末から同時にほどかれるのを許容するのにさらに適していることを特徴とす
る請求項４３記載のシステム。 - 【請求項４５】 前記パレットに設けられた、読取り・書込みに適したデー
タ格納装置をさらに備えていることを特徴とする請求項４２記載のシステム。 - 【請求項４６】 前記スプールは、主バレルと、リードメータバレルと、前
記主バレルと前記リードメータバレルとを隔離する外部フランジとをさらに備え
、前記外部フランジは、前記主バレルと前記リードメータバレルとの間の光ファ
イバ通路を提供するのに適したスロットを備えていることを特徴とする請求項４
２記載のシステム。 - 【請求項４７】 光ファイバのスプールを、該スプールを載置するのに適し
たパレットに装填する方法であって、 前記光ファイバのスプールをパレット上に配置し、 前記光ファイバの第１端末が該第１端末に対する容易なアクセスを提供する態
様で外部に延出するように該第１端末を支持するのに適した第１構造に前記光フ
ァイバの第１端末を通し、 前記光ファイバの第２端末が該第２端末に対する容易なアクセスを提供する態
様で外部に延出するように該第２端末を支持するのに適した第２構造に前記光フ
ァイバの第２端末を通す、 各ステップを含むことを特徴とする前記方法。 - 【請求項４８】 光ファイバのスプールを試験する方法であって、 前記光ファイバの第１および第２端末が該第１および第２端末に対する容易な
アクセスを提供する態様で外部に延出するように前記光ファイバのスプールをパ
レット上に配置し、 該パレットをテストステーションに搬送し、 第１の長さの光ファイバが前記スプールからほどかれるように、前記光ファイ
バの第１端末を試験装置に向かって引き出し、 第２の長さの光ファイバが前記スプールからほどかれるように、前記光ファイ
バの第２端末を試験装置に向かって引き出し、 前記スプールに巻回された前記光ファイバを試験する、 ことを特徴とする光ファイバのスプールの試験方法。 - 【請求項４９】 前記第１端末を引き出すステップが、前記光ファイバの第
２端末を妨害しないことを特徴とする請求項４８記載の方法。 - 【請求項５０】 前記第２端末を引き出すステップが、前記光ファイバの第
１端末を妨害しないことを特徴とする請求項４８記載の方法。 - 【請求項５１】 前記スプールから引き出された前記第１の長さの光ファイ
バの一部を切り取り、かつ前記スプールから引き出された前記第２の長さの光フ
ァイバの一部を切り取る各ステップをさらに含むことを特徴とする請求項４８記
載の方法。 - 【請求項５２】 光ファイバのスプールの試験方法であって、 前記光ファイバの第１端末が該第１端末に対する容易なアクセスを提供する態
様で外部に延出するように前記光ファイバのスプールをパレット上に配置し、 該パレットをテストステーションに搬送し、 第１の長さの光ファイバが前記スプールからほどかれるように、前記光ファイ
バの第１端末を試験装置に向かって引き出し、 前記光ファイバの第１端末を所要の長さの光ファイバサンプルとして切り取り
、 該光ファイバサンプルを試験装置に案内し、 前記光ファイバサンプルに対し試験を施すことを特徴とする前記方法。
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