JPH04308626A - 制御された冷陰極電界誘導電子放出装置 - Google Patents

制御された冷陰極電界誘導電子放出装置

Info

Publication number
JPH04308626A
JPH04308626A JP4030136A JP3013692A JPH04308626A JP H04308626 A JPH04308626 A JP H04308626A JP 4030136 A JP4030136 A JP 4030136A JP 3013692 A JP3013692 A JP 3013692A JP H04308626 A JPH04308626 A JP H04308626A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
insulator layer
disposed
electrically conductive
support substrate
operably coupled
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP4030136A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2922704B2 (ja
Inventor
Robert C Kane
ロバート・シー・ケーン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Motorola Solutions Inc
Original Assignee
Motorola Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Motorola Inc filed Critical Motorola Inc
Publication of JPH04308626A publication Critical patent/JPH04308626A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2922704B2 publication Critical patent/JP2922704B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J21/00Vacuum tubes
    • H01J21/02Tubes with a single discharge path
    • H01J21/06Tubes with a single discharge path having electrostatic control means only
    • H01J21/10Tubes with a single discharge path having electrostatic control means only with one or more immovable internal control electrodes, e.g. triode, pentode, octode
    • H01J21/105Tubes with a single discharge path having electrostatic control means only with one or more immovable internal control electrodes, e.g. triode, pentode, octode with microengineered cathode and control electrodes, e.g. Spindt-type
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J1/00Details of electrodes, of magnetic control means, of screens, or of the mounting or spacing thereof, common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
    • H01J1/02Main electrodes
    • H01J1/30Cold cathodes, e.g. field-emissive cathode
    • H01J1/304Field-emissive cathodes
    • H01J1/3042Field-emissive cathodes microengineered, e.g. Spindt-type
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J9/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
    • H01J9/02Manufacture of electrodes or electrode systems
    • H01J9/022Manufacture of electrodes or electrode systems of cold cathodes
    • H01J9/025Manufacture of electrodes or electrode systems of cold cathodes of field emission cathodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2201/00Electrodes common to discharge tubes
    • H01J2201/30Cold cathodes
    • H01J2201/319Circuit elements associated with the emitters by direct integration

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は一般的には電界誘導電
子放出装置(field−inducedelectr
on  emission  devices)に関し
、より詳細には、アクティブ制御冷陰極電界誘導電子放
出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】冷陰極(cold  cathode)
電界誘導電子放出装置(FED)が技術上知られている
。 FEDは典型的には電子を真空または他の低密度物質環
境内に直接放出するために通常単数または複数の放出部
(emitter)を使用する。電子放出は一般に小さ
な曲率半径の幾何学的に不連続を示す領域における放出
部(単数または複数)に対し適切な電界を印加すること
により引起こされる。幾何学的な不連続は印加された電
界の増強をもたらし、かつ適切な状況の下では電子の放
出部の表面からの通り抜け(tunnelling)を
可能にする。必要とされる電界は適切なアノード、ゲー
ト電極、または直接放出部に電位を印加することにより
得られる。
【0003】単一のFEDおよび多くのFEDのアレイ
の電子放出をアクティブに制御することが望ましい。典
型的には、電流源および/または電圧源が使用されFE
Dを所望の電子放出をもたらすように使用することがで
きる。FED制御のいくつかの従来技術の実施例は、個
別的にあるいはグループで、FEDの放出をアクティブ
に変調するための手段はFED構造内の相互接続ライン
に直接構築されかつ結合されなければならないことを示
している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、FED
またはFEDのアレイが存在する同じ構造内にアクティ
ブ電子放出変調および制御回路を直接設けることができ
る装置構成は示されていない。
【0005】従って、アクティブ電子放出変調ネットワ
ークおよびFED駆動源の一体的な導入を可能にするF
ED構造の必要性が存在する。
【0006】
【課題を解決しようとする手段および作用】この必要性
および他のものは実質的に本発明に係わる電子装置の構
造によって満たされ、該構造は、少なくとも、制御され
た冷陰極電界誘導電子放出装置(FED)を具備し、該
制御された冷陰極FEDは少なくとも、少なくとも第1
の主要面を備えた支持基板、前記支持基板内に実質的に
配設された電流源、少なくとも第1および第2の面から
なる第1の絶縁層であって、該第1の絶縁層の前記少な
くとも第1の面の少なくとも一部は前記支持基板の少な
くとも第1の主要面の少なくとも一部の上に配設され、
前記少なくとも第1の絶縁層は作動可能に前記電流源に
結合されかつ前記第1の絶縁層を通って横断するよう配
置された少なくとも第1の導通経路を有するもの、前記
第1の絶縁層の少なくとも第2の面上に少なくとも部分
的に配設されかつ少なくとも第1の導通経路に動作可能
に結合された、電子放出のための、電子放出部(エミッ
タ)、そして前記電子放出部に関し末端部に配置され、
放出された電子の少なくともいくらかを集めるためのア
ノードを具備する。
【0007】
【実施例】図1は、本発明に係わる制御されたFED構
造の第1の実施例の拡大斜視図を示し、支持基板(10
1)が描かれており、該支持基板には少なくとも部分的
にアクティブでありかつ、もし望むならば、部分的にパ
ッシブな、制御電子ネットワーク(102)が形成され
る。制御電子ネットワーク(102)は典型的には電流
源、電圧源、電流源ドライバおよび選択論理ネットワー
ク、および/または電圧源ドライバおよび選択論理ネッ
トワークからなるアクティブネットワークを具備し、該
アクティブネットワークはさらに所望の回路動作を達成
するために必要に応じてパッシブ構成要素を含むことが
できる。電流源、電圧源、電流源ドライバおよび選択論
理ネットワーク、そして電圧源ドライバおよび選択論理
ネットワークは技術上よく知られかつ理解されており、
従ってここではこれ以上説明しない。これらの発生源お
よびネットワークの任意の好ましい構成を本発明に従っ
て所望の電子装置を得るために用いることができる。
【0008】制御電子ネットワーク(102)は外部環
境にかつFED電極に該制御電子ネットワーク(102
)を支持基板(101)の中に/上に形成された少なく
とも第1の導電ライン(103)に結合することにより
、接続される。少なくとも第1の導電ライン(103)
は典型的には、これに限定されるものではないが、イオ
ン注入および不純物拡散を含む知られた技術によって支
持基板(101)内に形成される。あるいは、該少なく
とも第1の導電ライン(103)は、これに限定される
ものまではないが、スパッタリングおよび蒸着を含む知
られた被着技術によって支持基板(101)上に形成さ
れる。
【0009】典型的には、制御電子ネットワーク(10
2)および少なくとも第1の導電性ライン(103)を
支持基板(101)上にあるいはその中に設けた後、少
なくとも第1の絶縁層(104)が支持基板に実質的に
平行に配設され、この場合該少なくとも第1の絶縁層(
104)の少なくとも第1の面は支持基板の少なくとも
第1の主要面と接触し該支持基板(101)上にあるい
はその中に制御電子ネットワーク(102)および少な
くとも第1の導電性ライン(103)が配置されるよう
になる。少なくとも第1の導電性経路(105)が知ら
れたエッチングおよび被着技術によって少なくとも第1
の絶縁層(104)内に形成され、この場合前記少なく
とも第1の導電性経路(105)が前記少なくとも第1
の絶縁層の第1の面に関し実質的に横断するように少な
くとも第1の絶縁層(104)の厚みを横断し、かつま
た前記少なくとも第1の導電性経路(105)が前記少
なくとも第1の導電性経路(105)を少なくとも第1
の導電性ライン(103)に動作可能に結合するように
する。
【0010】図1はまた、必要であれば、通常前記少な
くとも第1の絶縁層(104)の第2の面上に配設され
、かつ動作可能に前記少なくとも第1の導電性経路(1
05)に結合される少なくとも第1の非絶縁体層(10
6)を示している。電子放出部(エレクトロンエミッタ
:electron  emitter)(107)が
さらに示されており、これは実質的に前記少なくとも第
1の非絶縁体層(106)上に配設されている。 このように構成することにより、支持基板(101)内
にある制御電子ネットワーク(102)が前記少なくと
も第1の介在的な導電性ライン(103)および前記少
なくとも第1の導電性経路(105)を通って動作可能
に結合され、かつ電子放出部(107)から電子放出の
制御を提供する。非絶縁体層(106)は典型的には金
属/半導体材料によって構成される。
【0011】図1はさらに少なくとも第1の開口(10
9)を含む少なくとも第2の絶縁体層(108)を示し
ており、該少なくとも第2の絶縁体層は、もし望むなら
ば、前記少なくとも第1の絶縁体層(104)の少なく
とも第2の面の少なくとも一部の上に配設される。前記
少なくとも第2の絶縁体層(108)は実質的に前記少
なくとも第1の非絶縁体層(106)の少なくとも一部
上に配設され、かつ電子放出部(107)が実質的に前
記少なくとも第2の絶縁体層の少なくとも第1の開口(
109)内に対称に配設されるように構成されている。 必要であれば、前記第2の絶縁体層(108)内の少な
くとも第1の開口(109)に実質的に対応する少なく
とも第1のゲート開口(111)とともに示された、ゲ
ート電極(110)がほぼ前記少なくとも第2の絶縁体
層(108)の少なくとも第2の面の少なくとも一部上
に配設されている。
【0012】単一の層が見られるが、複数の被着および
酸化物成長技術を用いて上に述べた実施例を生み出すこ
とができ、かつそのような技術は明らかに本発明の範囲
内にあることは直ちに明らかである。
【0013】図2は、本発明に係わる単一構造の範囲内
で複数の制御ネットワーク(102)およびFED構成
を有する制御されたFEDの拡大斜視図を示す。図2は
支持基板(101)が複数の制御電子ネットワーク(1
02)を有し、その内の少なくとも第1のものが動作可
能に複数の導電性ラインの少なくとも第1の導電性ライ
ン(103)に結合されている実施例を示す。前に述べ
た実施例と同様に、複数の導電性ラインが全体的に/部
分的に支持基板(101)の中に/上に形成できる。ま
た、前に述べた実施例と同様に、制御電子ネットワーク
(102)は典型的には電流源、電圧源、電流源ドライ
バおよび選択論理ネットワーク、および電流源ドライバ
および選択論理ネットワークの選択された組合わせを備
える。
【0014】少なくとも第1の絶縁体層(104)が示
されており、この実施例では、複数の導電性経路(10
5B)を含む。該少なくとも第1の絶縁体層は実質的に
その中に/その上に制御電子ネッワーク(102)およ
び複数の導電性ライン(103)が配置された支持基板
(101)の少なくとも第1の主要面と実質的に平行に
、かつ実質的に接触して配設されている。典型的には、
複数の導電性経路(105B)の内の少なくともいくつ
かは前記複数の導電性ライン(103)の内の少なくと
もいくつかに動作可能に結合されている。
【0015】図2はさらに、複数の電子放出部(107
A,107B)を示しており、これらの内のいくつか(
107A)は実質的に第1の絶縁体層(104)の少な
くとも第2の面上に配設されかつ前記複数の導電性経路
の内の少なくとも第1の導電性経路(105B)に動作
可能に結合され、かつそのいくつか(107B)は少な
くとも第1の非絶縁体層(106)上にあるものとして
示されており、その少なくとも第1の非絶縁体層(10
6)は実質的に前記少なくとも第1の絶縁体層(104
)の少なくとも第2の面上に配設され、かつその少なく
とも第1の非絶縁体層(106)は前記複数の導電性経
路の内の少なくとも1つの導電性経路(105B)に動
作可能に結合されている。必要であれば、少なくとも第
1および第2の面を有する、少なくとも第2の絶縁体層
(108)が使用され、この場合複数の開口(109)
が形成されかつさらに、図示の如く、少なくとも第1の
導電性経路(105A)を含む。必要であれば、少なく
とも第2の絶縁体層は典型的には少なくとも第1の絶縁
体層(104)の第2の面および少なくとも第1の非絶
縁体層(106)の一面に関し実質的に平行に配設され
かつ実質的に接触し、かつまた典型的には電子放出部(
107)が実質的に前記少なくとも第2の絶縁体層(1
08)の開口(109)内で対称に配置されるよう構成
されている。前記少なくとも第2の絶縁体層(108)
における少なくとも第1の導電経路(105A)は前に
述べたように形成され、かつ前記少なくとも第1の絶縁
体層(104)における複数の導電性経路(105B)
の内の少なくとも1つの導電性経路に動作可能に結合さ
れている。その後、必要であれば、少なくとも第2の非
絶縁体層が前記第2の絶縁体層(108)の少なくとも
第2の面上に選択的にパターン化されかつ配設されその
中にゲート開口(111)が形成されるゲート電極(1
10)のパターンを生成する。この実施例においては、
複数のゲート電極(110)の少なくとも第1のものが
実質的に少なくとも第2の絶縁体層(108)に配置さ
れた少なくとも第1の導電性経路(105A)に動作可
能に結合されている。このように結合することにより、
前記複数のゲート電極(110)の少なくとも第1のも
のが実質的に下層にある支持基板(101)に存在する
制御電子ネットワークによって制御される。選択された
電圧源および電圧源ドライバおよび選択論理ネットワー
クの使用は少なくとも第1の結合されたゲート電極湯1
10)の一体的な制御を可能にし前記少なくとも第1の
ゲート電極(110)に関連する電子放出部(107B
)における電子放出を誘起/禁止する。1つの実施例に
おいては、図2に示されるように、複数のゲート電極(
110)の内のいくつかは制御電子ネットワークの導電
性経路(105A,105B)に動作可能に結合されて
おらず、本発明の外部制御/スイッチングに備えている
ことを示している。必要に応じて、外部制御はまた上に
述べた内部制御電子ネットワーク(102)とともに用
いることができる。
【0016】図2は電流源および/または電圧源をFE
Dの選択された電極/アレイに動作可能に結合しかつ所
望のドライバおよび選択論理ネットワークを用いること
によりFEDの制御を行なうための選択された構成を示
し、これらすべては、必要に応じて、支持基板層(10
1)に導入され、FEDのFED/アレイからの電子放
出を誘起し/禁止し/変調する。図2の構造はさらにい
ずれかの放出された電子の少なくともいくらかを集める
ために電子放出部(107A,107B)に関し末端に
配設されたアノード(201)を示している。
【0017】図3は、本発明に従って相互接続導電性ラ
インを有する電流源および電流源ドライバおよび選択論
理ネットワークの上面図を示し、電流源(302)およ
び電流源ドライバおよび選択論理ネットワーク(303
)を具備する制御電子ネットワークの1実施例を示し、
これらの各要素の各々は選択的に複数の導電性ライン(
103)のいくつかに動作可能に結合され、該導電性ラ
インのすべては実質的に、必要に応じて、FED構造の
支持基板層/介在層として機能する半導体材料層(30
1)内に/上に配設されている。該半導体材料層(30
1)は、これに限定されるものではないが、アモルファ
スポリシリコンの被着、エピタキシャル層成長、および
/または埋込み酸化物層注入を含む、任意の知られた方
法によって形成できる。
【0018】図4は電圧源ドライバを備えた電圧源およ
び選択論理ネットワーク(401)および相互接続導電
性ライン(103)の上面図を示し、本発明に係わるF
EDの制御電子ネットワークの1実施例を示す。電圧源
および電圧源ドライバおよび選択論理(401)は複数
の導電性ライン(103)の少なくとも第1のものに選
択的に動作可能に結合され、これらのすべては、必要に
応じて、FED構造の支持基板層/介在層として機能す
る半導体材料層(301)内に/上に配設されている。 前と同様に、半導体材料層(301)は、これに限定さ
れるものではないが、アモルファス−/ポリシリコン、
エピタキシャル層成長および/または埋込み酸化物層注
入を含む任意の知られた方法によって形成することがで
きる。
【0019】図5は、本発明に係わる制御されたFED
の実施例の第1の選択されたグループを用いた第1の特
定の構造の拡大された側面切断図を示し、図5の(f)
は支持基板(101)を示し、該支持基板(101)に
は電流源、電圧源、電流源ドライバおよび選択論理ネッ
トワーク、電圧源ドライバおよび選択論理ネットワーク
、そして特定のアプリケーションの所望の制御機能を達
成するようにこれらのすべての内の任意の所望の組合わ
せとして構成できる制御電子ネットワーク(102)が
設けられる。複数の導電性ライン(103A,103B
)の内の少なくとも第1の導電性ラインが制御電子ネッ
トワーク(102)に関連して支持基板(101)の少
なくとも第1の主要面上に/中に配置されている。この
実施例では、複数の導電性ラインの内の少なくとも第1
の選択された導電性ラインが支持基板(101)の上に
/中に(103A/103B)配設されている。
【0020】図5の(e)はさらに、少なくとも第1お
よび第2の面を有する、少なくとも第1の絶縁体層(1
04)を示しており、該絶縁体層(104)には複数の
導電性経路(105)の内の少なくとも第1のものが形
成されている。少なくとも第1の絶縁体層(104)は
支持基板(101)の少なくとも第1の主要面に関し実
質的に平行に配設され、かつ該少なくとも第1の主要面
上に実質的に配置された少なくとも第1の面を有し、前
記支持基板(101)は少なくとも第1の制御電子ネッ
トワーク(102)および複数の導電性ラインの内の少
なくとも第1の導電性ラインを含む。複数の導電性経路
(105)の少なくとも第1の導電性経路は支持基板(
101)上に/中に配設された複数の導電性ライン(1
03A,103B)の内の少なくとも第1の導電性ライ
ンに動作可能に結合されている。付加的な複数の導電性
ライン(103)が図示の如く第1の絶縁体層(104
)の第2の面上とともに、いずれかの後続の非絶縁体層
、絶縁体層、または半導体層上に設けられる。
【0021】図5の(d)は少なくとも第1および第2
の面を有しかつ典型的には少なくとも第1の絶縁体層(
104)に関し実質的に平行に配設され、かつさらに前
記少なくとも第2の半導体層(501)の少なくとも第
1の面が実質的に前記第1の絶縁体層(104)の少な
くとも第2の面上に配設されるように配設された介在半
導体層(501)を示している。第2の半導体層(50
1)もまた複数の導電性経路(105)の内の少なくと
も第1の導電性経路、少なくとも第1の一体化制御電子
ネットワーク(102)、そして少なくとも第1の導電
性ライン(103)を具備する。少なくとも第1の導電
性経路(105)が、FED構造の他の層に関連する他
の選択された導電性経路/導電性ライン(105/10
3)に動作可能に結合するよう選択的に配置された、少
なくとも第2の半導体中に実質的に配設されている。 図5は制御電子ネットワークが配設された複数の半導体
層を示しているが、集積度および制御密度を増大するた
めに2つより多くのそのような層を用いた実施例も本発
明の範囲内であることは明らかである。
【0022】図5の(c)は、複数の導電性経路(10
5)の内の少なくとも第1の導電性経路を含む第2の絶
縁体層(502)を示す。該第2の絶縁体層(502)
は典型的には少なくとも第1および第2の面を有しかつ
典型的に第2の半導体層(501)の前記少なくとも第
2の面に関し実質的に平行に配設され、かつ第1の面が
実質的にその上に配設される。複数の導電性ライン(1
03)がほぼ前記第2の絶縁体層(502)の少なくと
も第2の面上に配設され、複数の導電性ライン(103
)の少なくとも第1の導電性ラインが前記複数の導電性
経路(105)の少なくとも第1の導電性経路に動作可
能に結合されている。電子放出部(107)が実質的に
前記複数の導電性ライン(105)の内の少なくとも第
1の導電性ライン上に配設されている。従って、電子放
出部は複数の導電性ラインの内の少なくとも1つの介在
導電性ライン(103)および前記複数の導電性経路(
105)の内の少なくとも第1の導電性経路を介して結
合された下層にある制御電子ネットワーク(102)に
より効果的に制御される。
【0023】図5の(b)は、少なくとも第1および第
2の面を有する、少なくとも第3の絶縁体層(503)
を示し、該絶縁体層(503)は、前に図1および図2
を参照して説明したように、複数の開口(109)を含
み、かつ典型的には前記第2の絶縁体層(502)に関
し平行に配置され、かつ第3の絶縁体層(503)の前
記第1の面は少なくとも部分的に前記第2の絶縁体層(
502)上に配設されている。複数のゲート電極(11
0)として選択的に形成された、非絶縁体層はほぼ前記
少なくとも第3の絶縁体層(503)の少なくとも第2
の面の一部上に配設されている。図5の(a)の延長し
た部分で示されている、アノード(201)はいずれか
の放出された電子の少なくともいくらかを集めるため電
子放出部(107)に関し末端側に配設されている。 さらに、ゲート電極(110)が図2に関して前に説明
したのとほぼ同様にして少なくとも第1の導電性経路(
図示せず)に動作可能に結合され、下層にある少なくと
も第1の一体化制御電子ネットワーク(102)を用い
ることによりゲート電極(110)に印加される電位を
効果的に制御する。
【0024】図6は、本発明に係わる制御されたFED
の第2の選択されたグループを用いた第2の特定の構造
の拡大側面切断図を示し、少なくとも第3の絶縁体層(
503)の少なくとも第2の面の実質的に少なくとも一
部上に配設された半導体層(601)を含む。少なくと
も第1のゲート電極または選択的にパターン化された複
数のゲート電極(110)が半導体層(601)の選択
的な不純物ドーピングにより形成される。ゲート電極(
単数または複数)(110)を具備する半導体層(60
1)の選択的にドープされた領域は、必要に応じて、さ
らに選択的に動作可能に少なくとも第1の導電性経路(
図示せず)に結合され選択された制御電子ネットワーク
(102)による一体化された制御が行なわれる。ある
いは、必要に応じて、前に述べたように、外部制御電子
ネットワークが用いられ、単独で/他の一体化制御電子
ネットワーク(102)と一緒になって動作する。
【0025】この発明に従って、制御されたFEDが提
供され、該制御されたFEDにおいては電子放出が一体
化構造内に設けられるアクティブ制御ネットワークによ
って指令されるように誘起され、変調され、切替えられ
、かつ導かれ、前記一体化構造はさらにそれに対し制御
が行なわれるFED(単数または複数)を含む。これら
のアクティブ制御ネットワークは支持基板内に形成する
と好都合であり、該支持基板は、望むならば、半導体材
料、および/または付加的な半導体層である。多層構造
の各層の間の相互接続は個々の層の厚み部分を横断しか
つ効果的にFED/FEDのアレイの電極を導電性ライ
ンおよび放出制御アクティブネットワークを用いて結合
する導電性経路を用いることにより行なわれる。
【0026】本発明の1つの実施例においては、制御さ
れたFEDが提供され、該制御されたFEDにおいては
電流源または複数の電流源が支持基板層に形成されかつ
引続き構造体の種々の層上にまたは層内に被着されてい
る導電性ラインを介して装置の選択された放出部(単数
または複数)に結合され、かつさらに導電性経路を介し
て介在層を通るよう結合される。
【0027】本発明の別の実施例においては、前に述べ
た実施例のものと同様の構造はさらに増強されたレベル
の一体化制御をFEDに提供するために1つまたはそれ
以上の電流源ドライバおよび選択論理ネットワークを含
む。
【0028】本発明の他の実施例においては、種々の電
流源および電流源ドライバおよび選択論理ネットワーク
が半導体材料の介在層に、かつ、必要であれば、支持基
板内/上に配設される。上に述べた実施例と同様に、制
御ネットワークは、必要に応じて、互いにかつ個々のF
ED/FEDグループの選択された電極に、制御ネット
ワークおよびFEDを複数の導電性ラインの少なくとも
第1のものにかつ、もし必要であれば、少なくとも第1
の導電性経路に動作可能に結合することにより、相互接
続すると好都合である。
【0029】一体的に形成された電流源、電圧源、電流
源ドライバおよび選択論理ネットワーク、および電圧源
ドライバおよび選択論理ネットワークの付加的な組合わ
せを用いて、必要に応じ、増大した制御の一体化を備え
た実施例を提供するために、より大きな数の絶縁体層、
半導体層、および非絶縁体層の利用を含む本発明に係わ
る制御されたFED動作を達成することができる。
【0030】
【発明の効果】本発明によれば、効率的にFED/FE
Dのアレイから電子放出を引起こし/禁止し/変調する
ためにFED構造に対する縦方向に一体化されたアクテ
ィブ制御が提供され、それにより超小型でありかつ無線
周波およびマイクロ波装置、テレビジョン、および数多
くの他の電子的装置にきわめて適した好ましいFED構
造が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わる制御されたFEDの第1の実施
例を示す拡大斜視図である。
【図2】本発明に係わる制御されたFEDの種々の別の
実施例を示す拡大斜視図である。
【図3】本発明に係わる相互接続導電性ラインを備えた
電流源および電流源ドライバおよび選択論理ネットワー
クを示す上面図である。
【図4】本発明に係わる電圧源ドライバを備えた電圧源
および選択論理ネットワークおよび相互接続導電性ライ
ンを示す上面図である。
【図5】本発明に係わる第1の選択されたグループの実
施例の制御されたFEDを用いた第1の特定の構造を示
す拡大側面切断図である。
【図6】本発明に係わる第2の選択されたグループの実
施例の制御されたFEDを用いた第2の特定の構造を示
す拡大側面切断図である。
【符号の説明】
101  支持基板 102  制御電子ネットワーク 103  第1の導電性ライン 104  第1の絶縁体層 105  第1の導電性経路 106  第1の非絶縁体層 107  電子放出部 108  第2の絶縁体層 109  第1の開口 110  ゲート電極 111  第1のゲート開口 201  アノード 301  半導体材料層 302  電流源 303  電流源ドライバおよび選択論理ネットワーク
401  電圧源ドライバおよび選択論理ネットワーク
501  介在半導体層 502  第2の絶縁体層 503  第3の絶縁体層 601  半導体層

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  制御された冷陰極電界誘導放出装置(
    FED)であって、A)少なくとも第1の主要面を備え
    た支持基板、B)前記支持基板内に実質的に配設された
    電流源、C)少なくとも第1および第2の面を有する第
    1の絶縁体層であって、前記第1の絶縁体層の少なくと
    も第1の面の少なくとも一部は前記支持基板の少なくと
    も第1の主要面の少なくとも一部上に配設されており、
    前記少なくとも第1の絶縁体層は前記電流源に動作可能
    に結合されかつ前記第1の絶縁体層を横切って配設され
    ている少なくとも第1の導電性経路を有するもの、D)
    電子を放出するために、少なくとも部分的に前記第1の
    絶縁体層の少なくとも第2の面上に配設されかつ前記少
    なくとも第1の導電性経路に動作可能に結合された電子
    放出部、そしてE)前記電子放出部に関し末端に配設さ
    れ、放出された電子の少なくともいくらかを集めるため
    のアノード、を少なくとも具備することを特徴とする制
    御された冷陰極電界誘導電子放出装置(FED)。
  2. 【請求項2】  さらに、(A)複数の電子放出部であ
    って、各々が少なくとも部分的に前記第1の絶縁体層の
    少なくとも第2の面上に配設されており、前記複数の電
    子放出部の少なくとも第1のものは動作可能に少なくと
    も第1の導電性経路に結合されているもの、(B)前記
    支持基板の少なくとも第1の主要面の一部に配設された
    複数の導電性ラインであって、該複数の導電性ラインの
    少なくともいくつかは動作可能に前記電流源に結合され
    ているもの、(C)複数の導電性ラインであって、その
    少なくともいくつかは実質的に前記支持基板内に配設さ
    れかつ少なくともそのいくつかは動作可能に前記電流源
    に結合されているもの、(D)前記第1の絶縁体層の少
    なくとも第2の面の少なくとも一部上に実質的に配設さ
    れた複数の導電性ラインであって、該複数の導電性ライ
    ンの少なくともいくつかは動作可能に少なくとも第1の
    導電性経路に結合されているもの、(E)前記第1の絶
    縁体層の少なくとも第2の面の少なくとも一部上に実質
    的に配設された少なくとも第1の導電性ラインであって
    、前記少なくとも第1の導電性ラインは動作可能に前記
    少なくとも第1の導電性経路に結合されたもの、および
    前記支持基板の少なくとも第1の主要面の少なくとも一
    部上に実質的に配設された少なくとも第2の導電性ライ
    ンであって、該少なくとも第2の導電性ラインは動作可
    能に前記電流源に結合されているもの、(F)前記第1
    の絶縁体層の前記第2の面の少なくとも一部上に実質的
    に配設された少なくとも1つの導電性ラインであって前
    記少なくとも1つの導電性ラインの内の少なくとも1つ
    の導電性ラインは動作可能に前記少なくとも1つの導電
    性経路の内の少なくとも1つに結合されているもの、お
    よび前記支持基板内に実質的に配設された少なくとも1
    つの導電性ラインであって該少なくとも1つの導電性ラ
    インの内の少なくとも1つは動作可能に前記電流源に結
    合されているもの、そして(G)前記第1の絶縁体層の
    少なくとも第2の面の少なくとも一部上に実質的に配設
    された第2の絶縁体層、および前記少なくとも第2の絶
    縁体層の少なくとも一部上に実質的に配設されかつ前記
    電子放出部に関し実質的に外周的に対称に配設された非
    絶縁ゲート電極層、の内の少なくとも1つを具備するこ
    とを特徴とする請求項1に記載の制御された冷陰極電界
    誘導電子放出装置。
  3. 【請求項3】  制御された冷陰極電界誘導放出装置(
    FED)であって、A)少なくとも第1の主要面を備え
    た支持基板、B)前記支持基板内に実質的に配設された
    電圧源、C)少なくとも第1および第2の面を有する第
    1の絶縁体層であって、前記第1の絶縁体層の少なくと
    も第1の面の少なくとも一部は前記支持基板の少なくと
    も第1の主要面の少なくとも一部上に配設されており、
    前記少なくとも第1の絶縁体層は前記電圧源に動作可能
    に結合されかつ前記第1の絶縁体層を横切って配設され
    ている少なくとも第1の導電性経路を有するもの、D)
    電子を放出するために、少なくとも部分的に前記絶縁体
    層の少なくとも第2の面上に配設されかつ前記少なくと
    も第1の導電性経路に動作可能に結合された電子放出部
    、そしてE)前記電子放出部に関し末端に配設され、放
    出された電子の少なくともいくらかを集めるためのアノ
    ード、を少なくとも具備することを特徴とする制御され
    た冷陰極電界誘導電子放出装置(FED)。
  4. 【請求項4】  さらに、(A)複数の電子放出部であ
    って、各々が少なくとも部分的に前記第1の絶縁体層の
    少なくとも第2の面上に配設されており、前記複数の電
    子放出部の少なくとも第1のものは動作可能に少なくと
    も第1の導電性経路に結合されているもの、(B)前記
    支持基板の少なくとも第1の主要面の一部に実質的に配
    設された複数の導電性ラインであって、該複数の導電性
    ラインの少なくともいくつかは動作可能に前記電圧源に
    結合されているもの、(C)複数の導電性ラインであっ
    て、その少なくともいくつかは実質的に前記支持基板内
    に配設されかつ少なくともそのいくつかは動作可能に前
    記電圧源に結合されているもの、(D)前記第1の絶縁
    体層の少なくとも第2の面の少なくとも一部上に実質的
    に配設された複数の導電性ラインであって、該複数の導
    電性ラインの少なくともいくつかは動作可能に少なくと
    も第1の導電性経路に結合されているもの、(E)前記
    第1の絶縁体層の少なくとも第2の面の少なくとも一部
    上に実質的に配設された少なくとも第1の導電性ライン
    であって、前記少なくとも第1の導電性ラインは動作可
    能に前記少なくとも第1の導電性経路に結合されたもの
    、および前記支持基板の少なくとも第1の主要面の少な
    くとも一部上に実質的に配設された少なくとも第2の導
    電性ラインであって、該少なくとも第2の導電性ライン
    は動作可能に前記電圧源に結合されているもの、(F)
    前記第1の絶縁体層の少なくとも前記第2の面の少なく
    とも一部上に実質的に配設された少なくとも第1の導電
    性ラインであって前記少なくとも第1の導電性ラインは
    動作可能に前記少なくとも第1の導電性経路に結合され
    ているもの、および前記支持基板内に実質的に配設され
    た少なくとも第2の導電性ラインであって該少なくとも
    第2の導電性ラインは動作可能に前記電圧源に結合され
    ているもの、そして(G)前記第1の絶縁体層の少なく
    とも第2の面の少なくとも一部上に実質的に配設された
    第2の絶縁体層、および前記少なくとも第2の絶縁体層
    の少なくとも一部上に実質的に配設されかつ前記電子放
    出部に関し実質的に外周的に対称に配設された非絶縁ゲ
    ート電極層、の内の少なくとも1つを具備することを特
    徴とする請求項3に記載の制御された冷陰極電界誘導電
    子放出装置。
  5. 【請求項5】  制御された冷陰極電界誘導電子放出装
    置(FED)であって、A)少なくとも第1の主要面を
    備えた支持基板、B)前記支持基板に実質的に配設され
    た電流源、C)複数の導電性ラインであって、その少な
    くともいくつかは動作可能に前記電流源に結合されかつ
    前記支持基板の少なくとも第1の主要面の一部上に配設
    されているもの、D)少なくとも第1および第2の面を
    備えた第1の絶縁体層であって、該第1の絶縁体層の少
    なくとも第1の面の少なくとも一部は前記支持基板の少
    なくとも第1の主要面の少なくとも一部上に配設されて
    おり、前記第1の絶縁体層は前記複数の導電性ラインの
    内の少なくとも第1の導電性ラインに動作可能に結合さ
    れかつ前記第1の絶縁体層を横切って配設されている少
    なくとも第1の導電性経路を有するもの、E)前記第1
    の絶縁体層の少なくとも第2の面の少なくとも一部上に
    実質的に配設されかつ動作可能に少なくとも前記第1の
    導電性経路に結合された第1の非絶縁体層、F)電子を
    放出するための、少なくとも部分的に前記非絶縁体層上
    に配設された電子放出部、G)少なくとも第3および第
    4の面を備えた第2の絶縁体層であって、該第2の絶縁
    体層は該第2の絶縁体層を実質的に横切って配設された
    開口を有し、該第2の絶縁体層の少なくとも第3の面は
    少なくとも部分的に前記非絶縁体層上に配設され電子放
    出部が前記開口内に対称的に配設されるように配置され
    ているもの、そしてH)前記第2の絶縁体層の前記第2
    の面の少なくとも一部上に実質的に配設された第2の非
    絶縁体層を備えたゲート電極、を少なくとも具備するこ
    とを特徴とする制御された冷陰極電界誘導電子放出装置
    (FED)。
  6. 【請求項6】  さらに、前記電子放出部に関し末端的
    に配設され、前記放出された電子の少なくともいくらか
    を集めるためのアノードを具備することを特徴とする請
    求項5に記載の制御された冷陰極電界誘導電子放出装置
  7. 【請求項7】  制御された冷陰極電界誘導電子放出装
    置(FED)であって、A)少なくとも第1の主要面を
    備えた支持基板、B)前記支持基板に実質的に配設され
    た電圧源、C)複数の導電性ラインであって、その少な
    くともいくつかは動作可能に前記電圧源に結合されかつ
    その少なくともいくつかは前記支持基板の少なくとも第
    1の主要面の一部上に配設されているもの、D)少なく
    とも第1および第2の面を備えた第1の絶縁体層であっ
    て、該第1の絶縁体層の少なくとも第1の面の少なくと
    も一部は前記支持基板の少なくとも第1の主要面の少な
    くとも一部上に配設されており、前記第1の絶縁体層は
    前記複数の導電性ラインの内の少なくとも第1の導電性
    ラインに動作可能に結合されかつ前記第1の絶縁体層を
    横切って配設されている少なくとも第1の導電性経路を
    有するもの、E)前記第1の絶縁体層の少なくとも第2
    の面の少なくとも一部上に実質的に配設されかつ動作可
    能に少なくとも前記第1の導電性経路に結合された第1
    の非絶縁体層、F)電子を放出するための、少なくとも
    部分的に前記第1の非絶縁体層上に配設された第1の電
    子放出部、G)少なくとも第3および第4の面を備えた
    第2の絶縁体層であって、該第2の絶縁体層は該第2の
    絶縁体層を実質的に横切って配設された開口を有し、該
    第2の絶縁体層の少なくとも第3の面は少なくとも部分
    的に前記第1の非絶縁体層上に配設されかつ前記少なく
    とも第1の電子放出部が前記開口内に対称的に配設され
    るように配置されているもの、そしてH)前記第2の絶
    縁体層の前記少なくとも第2の面の少なくとも一部上に
    実質的に配設された第2の非絶縁体層を備えたゲート電
    極、を少なくとも具備することを特徴とする制御された
    冷陰極電界誘導電子放出装置(FED)。
  8. 【請求項8】  さらに、前記少なくとも第1の電子放
    出部に関し末端的に配設され、前記放出された電子の少
    なくともいくらかを集めるためのアノードを具備するこ
    とを特徴とする請求項7に記載の制御された冷陰極電界
    誘導電子放出装置。
  9. 【請求項9】  電子放出装置であって、該電子放出装
    置は制御された冷陰極電界誘導電子放出装置(FED)
    のアレイを具備し、該アレイは、A)少なくとも第1の
    主要面を備えた支持基板、B)前記支持基板に実質的に
    配設された少なくとも第1の電流/電圧源、C)複数の
    導電性ラインであって、その少なくともいくつかは動作
    可能に前記少なくとも第1の電流/電圧源に結合されか
    つ前記支持基板の少なくとも第1の主要面の一部上に配
    設されているもの、D)少なくとも第1および第2の面
    を備えた第1の絶縁体層であって、該第1の絶縁体層の
    少なくとも第1の面の少なくとも一部は前記支持基板の
    少なくとも第1の主要面の少なくとも一部上に配設され
    ており、前記第1の絶縁体層は前記複数の導電性ライン
    の内の少なくとも第1の導電性ラインに動作可能に結合
    されかつ前記第1の絶縁体層を横切って配設されている
    少なくとも第1の導電性経路を有するもの、E)前記第
    1の絶縁体層の少なくとも第2の面の少なくとも一部上
    に実質的に配設されかつ動作可能に少なくとも前記第1
    の導電性経路に結合された第1の非絶縁体層、F)電子
    を放出するための、各々少なくとも部分的に前記非絶縁
    体層上に配設された複数の電子放出部、G)少なくとも
    第3および第4の面を備えた第2の絶縁体層であって、
    該第2の絶縁体層は該第2の絶縁体層を実質的に横切っ
    て配設された複数の開口を有し、該第2の絶縁体層の少
    なくとも第1の面は少なくとも部分的に前記非絶縁体層
    上に配設されかつ前記複数の電子放出部の少なくともい
    くつかが前記複数の開口の少なくともいくつかの中で実
    質的に対称的に配設されるように配置されているもの、
    そしてH)前記第2の絶縁体層の前記少なくとも第2の
    面の少なくとも一部上に実質的に配設された第2の導電
    層を備えたゲート電極、を少なくとも具備することを特
    徴とする電子放出装置。
  10. 【請求項10】  さらに、前記複数の電子放出部に関
    し末端的に配設され、前記放出された電子の少なくとも
    いくらかを集めるためのアノードを具備することを特徴
    とする請求項9に記載の制御された冷陰極電界誘導電子
    放出装置。
JP3013692A 1991-01-24 1992-01-21 制御された冷陰極電界誘導電子放出装置 Expired - Fee Related JP2922704B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US07/645,523 US5075595A (en) 1991-01-24 1991-01-24 Field emission device with vertically integrated active control
US645,523 1991-01-24

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04308626A true JPH04308626A (ja) 1992-10-30
JP2922704B2 JP2922704B2 (ja) 1999-07-26

Family

ID=24589358

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3013692A Expired - Fee Related JP2922704B2 (ja) 1991-01-24 1992-01-21 制御された冷陰極電界誘導電子放出装置

Country Status (8)

Country Link
US (1) US5075595A (ja)
EP (1) EP0496576B1 (ja)
JP (1) JP2922704B2 (ja)
AT (1) ATE131957T1 (ja)
DE (1) DE69206831T2 (ja)
DK (1) DK0496576T3 (ja)
ES (1) ES2081042T3 (ja)
GR (1) GR3018564T3 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07201273A (ja) * 1993-12-28 1995-08-04 Nec Corp 電界放出冷陰極とこれを用いた電子管
US5994833A (en) * 1996-12-16 1999-11-30 Nec Corporation Field emission cold cathode apparatus having a heater for heating emitters to decrease adsorption of a gas into the emitters
JP2010515217A (ja) * 2006-12-29 2010-05-06 セレックス システミ インテグラティ エッセ. ピ. ア. 高周波、冷陰極、三極管タイプ、フィールドエミッタ真空管チューブおよびその製造方法

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5301284A (en) * 1991-01-16 1994-04-05 Walker-Estes Corporation Mixed-resolution, N-dimensional object space method and apparatus
JP2626276B2 (ja) * 1991-02-06 1997-07-02 双葉電子工業株式会社 電子放出素子
US5155420A (en) * 1991-08-05 1992-10-13 Smith Robert T Switching circuits employing field emission devices
US5536193A (en) 1991-11-07 1996-07-16 Microelectronics And Computer Technology Corporation Method of making wide band gap field emitter
US5679043A (en) * 1992-03-16 1997-10-21 Microelectronics And Computer Technology Corporation Method of making a field emitter
US5763997A (en) * 1992-03-16 1998-06-09 Si Diamond Technology, Inc. Field emission display device
US5543684A (en) 1992-03-16 1996-08-06 Microelectronics And Computer Technology Corporation Flat panel display based on diamond thin films
US5675216A (en) 1992-03-16 1997-10-07 Microelectronics And Computer Technololgy Corp. Amorphic diamond film flat field emission cathode
US5600200A (en) 1992-03-16 1997-02-04 Microelectronics And Computer Technology Corporation Wire-mesh cathode
US5449970A (en) 1992-03-16 1995-09-12 Microelectronics And Computer Technology Corporation Diode structure flat panel display
US6127773A (en) 1992-03-16 2000-10-03 Si Diamond Technology, Inc. Amorphic diamond film flat field emission cathode
US5256888A (en) * 1992-05-04 1993-10-26 Motorola, Inc. Transistor device apparatus employing free-space electron emission from a diamond material surface
US5300862A (en) * 1992-06-11 1994-04-05 Motorola, Inc. Row activating method for fed cathodoluminescent display assembly
US5359256A (en) * 1992-07-30 1994-10-25 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Regulatable field emitter device and method of production thereof
FR2697660B1 (fr) * 1992-10-29 1995-03-03 Pixel Int Sa Ecran à adressage matriciel à prise de contacts lignes et colonnes au travers du support.
EP0681311B1 (en) * 1993-01-19 2002-03-13 KARPOV, Leonid Danilovich Field-effect emitter device
US5313140A (en) * 1993-01-22 1994-05-17 Motorola, Inc. Field emission device with integral charge storage element and method for operation
US5903098A (en) * 1993-03-11 1999-05-11 Fed Corporation Field emission display device having multiplicity of through conductive vias and a backside connector
FR2707787B1 (fr) * 1993-07-16 1995-10-20 Pixel Int Sa Système de connexions électriques externes pour écrans plats de visualisation.
US5340997A (en) * 1993-09-20 1994-08-23 Hewlett-Packard Company Electrostatically shielded field emission microelectronic device
JP2861755B2 (ja) * 1993-10-28 1999-02-24 日本電気株式会社 電界放出型陰極装置
WO1995012835A1 (en) 1993-11-04 1995-05-11 Microelectronics And Computer Technology Corporation Methods for fabricating flat panel display systems and components
FR2718269B1 (fr) * 1994-03-31 1996-06-28 Pixel Int Sa Procédé d'amélioration de la conductivité des conducteurs colonnes des écrans plats à micropointes, et écrans ainsi obtenus.
US6377002B1 (en) * 1994-09-15 2002-04-23 Pixtech, Inc. Cold cathode field emitter flat screen display
JP2897671B2 (ja) * 1995-01-25 1999-05-31 日本電気株式会社 電界放出型冷陰極
US5591352A (en) * 1995-04-27 1997-01-07 Industrial Technology Research Institute High resolution cold cathode field emission display method
US5644327A (en) * 1995-06-07 1997-07-01 David Sarnoff Research Center, Inc. Tessellated electroluminescent display having a multilayer ceramic substrate
JP2001501769A (ja) * 1996-05-03 2001-02-06 マイクロン テクノロジー インコーポレイテッド シールド電界放出ディスプレイ
KR100453187B1 (ko) * 1997-07-23 2004-12-29 삼성에스디아이 주식회사 전자총의음극구조체용전계방출소자
JPH11111156A (ja) * 1997-10-02 1999-04-23 Futaba Corp 電界放出素子
US6897855B1 (en) * 1998-02-17 2005-05-24 Sarnoff Corporation Tiled electronic display structure
US6498592B1 (en) 1999-02-16 2002-12-24 Sarnoff Corp. Display tile structure using organic light emitting materials
US6392355B1 (en) 2000-04-25 2002-05-21 Mcnc Closed-loop cold cathode current regulator
TW200929312A (en) * 2007-12-28 2009-07-01 Tatung Co Active field emission substrate and active field emission display

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01154426A (ja) * 1987-11-06 1989-06-16 Commiss Energ Atom 電子源
JPH0246636A (ja) * 1988-08-08 1990-02-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd 画像表示装置
JPH02503728A (ja) * 1988-03-25 1990-11-01 トムソン‐セーエスエフ 電界放出形ソースの製造方法及びエミッタアレイの製造へのその応用
JPH02309541A (ja) * 1989-05-23 1990-12-25 Seiko Epson Corp 蛍光表示装置

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US490916A (en) * 1893-01-31 Bowling-alley
US3755704A (en) * 1970-02-06 1973-08-28 Stanford Research Inst Field emission cathode structures and devices utilizing such structures
US3789471A (en) * 1970-02-06 1974-02-05 Stanford Research Inst Field emission cathode structures, devices utilizing such structures, and methods of producing such structures
US3812559A (en) * 1970-07-13 1974-05-28 Stanford Research Inst Methods of producing field ionizer and field emission cathode structures
US4020381A (en) * 1974-12-09 1977-04-26 Texas Instruments Incorporated Cathode structure for a multibeam cathode ray tube
US4006383A (en) * 1975-11-28 1977-02-01 Westinghouse Electric Corporation Electroluminescent display panel with enlarged active display areas
SU855782A1 (ru) * 1977-06-28 1981-08-15 Предприятие П/Я Г-4468 Эмиттер электронов
JPS58140781A (ja) * 1982-02-17 1983-08-20 株式会社日立製作所 画像表示装置
US4498952A (en) * 1982-09-17 1985-02-12 Condesin, Inc. Batch fabrication procedure for manufacture of arrays of field emitted electron beams with integral self-aligned optical lense in microguns
FR2568394B1 (fr) * 1984-07-27 1988-02-12 Commissariat Energie Atomique Dispositif de visualisation par cathodoluminescence excitee par emission de champ
GB8621600D0 (en) * 1986-09-08 1987-03-18 Gen Electric Co Plc Vacuum devices
FR2604823B1 (fr) * 1986-10-02 1995-04-07 Etude Surfaces Lab Dispositif emetteur d'electrons et son application notamment a la realisation d'ecrans plats de television
US4721885A (en) * 1987-02-11 1988-01-26 Sri International Very high speed integrated microelectronic tubes
GB2204991B (en) * 1987-05-18 1991-10-02 Gen Electric Plc Vacuum electronic devices
US4874981A (en) * 1988-05-10 1989-10-17 Sri International Automatically focusing field emission electrode
US5012153A (en) * 1989-12-22 1991-04-30 Atkinson Gary M Split collector vacuum field effect transistor
JP2656843B2 (ja) * 1990-04-12 1997-09-24 双葉電子工業株式会社 表示装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01154426A (ja) * 1987-11-06 1989-06-16 Commiss Energ Atom 電子源
JPH02503728A (ja) * 1988-03-25 1990-11-01 トムソン‐セーエスエフ 電界放出形ソースの製造方法及びエミッタアレイの製造へのその応用
JPH0246636A (ja) * 1988-08-08 1990-02-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd 画像表示装置
JPH02309541A (ja) * 1989-05-23 1990-12-25 Seiko Epson Corp 蛍光表示装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07201273A (ja) * 1993-12-28 1995-08-04 Nec Corp 電界放出冷陰極とこれを用いた電子管
US5994833A (en) * 1996-12-16 1999-11-30 Nec Corporation Field emission cold cathode apparatus having a heater for heating emitters to decrease adsorption of a gas into the emitters
JP2010515217A (ja) * 2006-12-29 2010-05-06 セレックス システミ インテグラティ エッセ. ピ. ア. 高周波、冷陰極、三極管タイプ、フィールドエミッタ真空管チューブおよびその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP0496576B1 (en) 1995-12-20
DE69206831T2 (de) 1996-07-11
EP0496576A3 (en) 1993-10-27
US5075595A (en) 1991-12-24
GR3018564T3 (en) 1996-03-31
DK0496576T3 (da) 1996-01-29
DE69206831D1 (de) 1996-02-01
JP2922704B2 (ja) 1999-07-26
ATE131957T1 (de) 1996-01-15
ES2081042T3 (es) 1996-02-16
EP0496576A2 (en) 1992-07-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2922704B2 (ja) 制御された冷陰極電界誘導電子放出装置
CA1131795A (en) Cold cathode semiconductor device
AU621001B2 (en) Switched anode field emission device
JPH0567441A (ja) 一体制御式電界放出フラツト型デイスプレイ装置
JP3568345B2 (ja) 電子発生装置
JPH0635405A (ja) カソードルミネセント表示装置
JP2001084927A5 (ja)
JPS62226530A (ja) 電子ビ−ム発生用半導体デバイス
US5757138A (en) Linear response field emission device
US5770919A (en) Field emission device micropoint with current-limiting resistive structure and method for making same
US5430348A (en) Inversion mode diamond electron source
US5872421A (en) Surface electron display device with electron sink
JPH0963463A (ja) 冷電子放出素子
US5631196A (en) Method for making inversion mode diamond electron source
US5628663A (en) Fabrication process for high-frequency field-emission device
JP3156755B2 (ja) 電界放出型冷陰極装置
JP3104639B2 (ja) 電界放出型冷陰極
US6420827B1 (en) Field emission display
JPH04506435A (ja) 制御し、または制御される非電界放出デバイスを一体的に有する冷陰極電界放出デバイス
JP3026484B2 (ja) 電界放出型冷陰極
US6015324A (en) Fabrication process for surface electron display device with electron sink
JP2697538B2 (ja) 冷陰極
US6163103A (en) Field emission type cold cathode and electron tube
JP2600805B2 (ja) 電子ビーム露光装置及び方法
JP3601275B2 (ja) 電界電子放出素子

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees